JPS6122261A - Measurement of pulse signal - Google Patents

Measurement of pulse signal

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JPS6122261A
JPS6122261A JP14093184A JP14093184A JPS6122261A JP S6122261 A JPS6122261 A JP S6122261A JP 14093184 A JP14093184 A JP 14093184A JP 14093184 A JP14093184 A JP 14093184A JP S6122261 A JPS6122261 A JP S6122261A
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pulse signal
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桜井 保司
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Abstract

PURPOSE:To make it possible to accurately and rapidly measure an impulse speed and a make ratio by a simple counter circuit, by providing two timers for timing the interval of a pulse signal and the period of a pulse. CONSTITUTION:A monitor timer 23 is started by a timer control part 21 corresponding to the measuring demand from a pulse measuring part 31 to perform time monitoring for measuring a pulse. Timers T124, T225 count the clock from a clock generation source 29 for generating a predetermined constant clock and respectively time the zero level period and a pulse cycle in the dial pulse signal TDLPS from an apparatus 10 to be measured. A processor 3 receives the timing result from a timer circuit 2 to calculate the impulse speed, the make ratio and the min. pause time shown by a pulse signal to output the same to a display apparatus 4 and a printer 5.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は、簡単な手法を用いてパルス信号の波形測定を
自動的に行い得るパルス信号測定方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a pulse signal measurement method that can automatically measure the waveform of a pulse signal using a simple technique.

網制御装置(N CU)を備えた装置においては、公衆
回線接続の為のダイヤルパルスを発する機能を備えてい
る。
A device equipped with a network control unit (NCU) has a function of issuing a dial pulse for connection to a public line.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従って、装置出荷前の検査工程においては、このダイヤ
ルパルス発生回路の動作試験が行われる。
Therefore, in the inspection process before shipping the device, an operation test of this dial pulse generation circuit is performed.

従来においては、このNCU部を試験用の公衆回線網に
接続し、その出力パルスをシンクロスコープ等によって
測定するものであった。そしてシンクロスコープ上のパ
ルス波形を試験者の目視によって測定するものであった
Conventionally, this NCU section was connected to a public network for testing, and its output pulses were measured using a synchroscope or the like. The pulse waveform on the synchroscope was then measured visually by the examiner.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述の如〈従来においては、NCU部の動作試験の為の
システムが大がかりのものとなり、コスト高等を招く結
果となっていた。しかもシンクロスコープによって、通
常の回線回線と同様のレベル(例えば−4,8V)を測
定するものであり、少なからす作業者、試験者の取扱い
に十分な配慮を払う必要もある。またパルス信号の測定
は、最終的には試験者による目視に頼るものであり、測
定結果における信頼性の点でも問題があった。
As mentioned above, in the past, the system for testing the operation of the NCU section was large-scale, resulting in high costs. Moreover, the synchroscope measures the same level as a normal line (for example, -4.8V), and it is necessary to pay sufficient attention to the handling of the small number of workers and testers. Furthermore, the measurement of the pulse signal ultimately relies on visual observation by the tester, which poses a problem in terms of reliability of the measurement results.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は上述した問題点を解決する手段を提供すること
を目的としている。そしてその為に、パルス信号の間隔
、即ちパルスの立下りから次のパルスの立上り時間を計
時する第1タイマと、1つのパルスの周期を計時する第
2タイマとを設けて、これらのタイマ出力に基いてパル
ス信号の波形測定を行うよう構成したものである。
The present invention aims to provide means for solving the above-mentioned problems. For this purpose, a first timer that measures the interval between pulse signals, that is, the time from the falling edge of a pulse to the rising edge of the next pulse, and a second timer that measures the period of one pulse are provided, and these timer outputs are provided. The device is configured to measure the waveform of a pulse signal based on the following.

〔作用〕[Effect]

周知の如くパルス信号は、2値(マーク、スペース等)
のレベルを呈すものである。従って第1のタイマにて、
パルス信号のマーク(“L”)レベル期間を計時し、更
に第2のタイマにてそのパルス周期を計時することによ
って、インパルス速度及びメイク率を簡単に求めること
が可能となる。
As is well known, pulse signals are binary (marks, spaces, etc.)
It exhibits a level of Therefore, in the first timer,
By timing the mark (“L”) level period of the pulse signal and further timing the pulse period using the second timer, it is possible to easily determine the impulse speed and make rate.

また、測定するパルス信号が上述したNCU部における
ダイヤルパルスであれば、第1のタイマによって、各桁
間のミニマムポーズ時間をも同時に計時できるものであ
る。
Furthermore, if the pulse signal to be measured is a dial pulse in the NCU section described above, the first timer can simultaneously measure the minimum pause time between each digit.

以下実施例を用いて本発明を詳述する。The present invention will be explained in detail below using Examples.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の一実施例を示す図である。 FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

即ち本実施例では、被測定装置のNCUIOにTTLレ
ベルの+5■電圧源1を印加するものである。2はタイ
マ回路であり、後述の如く3つのタイマを有するプログ
ラマブルの測定回路である。
That is, in this embodiment, a TTL level +5cm voltage source 1 is applied to the NCUIO of the device under test. 2 is a timer circuit, which is a programmable measuring circuit having three timers as described later.

3はプロセッサ(以下CPUと称す)であって、タイマ
回路2からの計時結果を受けて、パルス信号に示される
インパルス速度、メイク率、ミニマムポーズ時間を算出
するもの、4はディスプレイ装置、5はプリンタであり
、CPU3による算出結果が表示或いはプリント出力さ
れるものである。
3 is a processor (hereinafter referred to as CPU) which receives the timing result from the timer circuit 2 and calculates the impulse speed, make rate, and minimum pause time shown in the pulse signal; 4 is a display device; 5 is a display device; This is a printer, and the calculation results by the CPU 3 are displayed or printed out.

第2図は第1図実施例におけるN00部10とタイマ回
路2との接続形態を示す図である。即ちN00部10の
回線接続端子10’、10’には、電圧源1からの出力
端子が接続される。尚抵抗R及びコンデンサCにより、
出力ダイヤルパルス信号におけるチャタリングを防止す
る回路を構成している。タイマ回路2は、+5Vが印加
される出力端子にインバータ6を介して接続される。
FIG. 2 is a diagram showing a connection form between the N00 section 10 and the timer circuit 2 in the embodiment shown in FIG. That is, the output terminal from the voltage source 1 is connected to the line connection terminals 10', 10' of the N00 section 10. Furthermore, due to the resistor R and capacitor C,
A circuit is configured to prevent chattering in the output dial pulse signal. The timer circuit 2 is connected via an inverter 6 to an output terminal to which +5V is applied.

第3図はN00部10より送出されるダイヤルパルスの
一般的な信号波形を示す図である。ダイヤルパルスは、
N00部10による極性検出の後一定時間(図で3秒)
経過後に、各桁のダイヤル番号に対応したパルスが発せ
られる。このダイヤルパルスの信号波形において、パル
ス周期をtQ 。
FIG. 3 is a diagram showing a general signal waveform of a dial pulse sent out from the N00 section 10. The dial pulse is
A certain period of time after polarity detection by N00 unit 10 (3 seconds in the figure)
After the elapsed time, a pulse corresponding to each digit of the dialed number is emitted. In the signal waveform of this dial pulse, the pulse period is tQ.

メイク時間をtxとすると、パルス測定におけるインパ
ルス速度(pps)及びメイク率(%)は以下のように
表される。
When the make time is tx, the impulse speed (pps) and make rate (%) in pulse measurement are expressed as follows.

1(。1(.

更にパルス測定においては、各桁間のダイヤルパルスの
区切り時間(ミニマムポーズ時間)tρも測定される。
Furthermore, in the pulse measurement, the dial pulse separation time (minimum pause time) tρ between each digit is also measured.

第4図は本実施例におけるパルス測定動作を示すタイム
チャート、第5図はこの測定動作を行う為の具体的構成
を示す機能ブロック図である。第5図に示す如く、プロ
セッサ3には上述したインパルス速度、メイク率を演算
するパルス測定部(APL)31が設けられる。一方タ
イマ回路2には、3つのタイマエラー25.タイマ制御
部(TMCNT)21.測定部(TMIRQ)22が設
けられる。第4図において信号’l’TDLPsはイン
バータ6(第2図)を介して得られるパルス信号である
。またTMSTCタイマ制御部TMCNTの持つステッ
プカウンタのカウント値を示すものである。
FIG. 4 is a time chart showing a pulse measurement operation in this embodiment, and FIG. 5 is a functional block diagram showing a specific configuration for performing this measurement operation. As shown in FIG. 5, the processor 3 is provided with a pulse measuring section (APL) 31 that calculates the above-mentioned impulse speed and make rate. On the other hand, the timer circuit 2 has three timer errors 25. Timer control unit (TMCNT) 21. A measuring section (TMIRQ) 22 is provided. In FIG. 4, the signal 'l'TDLPs is a pulse signal obtained via the inverter 6 (FIG. 2). It also shows the count value of the step counter of the TMSTC timer control unit TMCNT.

監視タイマ23は、APL31からの測定要求(命令)
に応じてタイマ制御部21によって起動されるもので、
パルス測定の為の時間監視を行うものである。タイマT
l  (24)は、ダイヤルパルス信号:TDLPSに
おける“0″レベル間を計時する。またタイマT2 (
25)は、同信号*TDLPSにおけるパルス周期を計
時するものである。これら各タイマ23.25は、予め
定められた一定のクロックを発するクロック発生源29
からのクロックをカウントする。
The monitoring timer 23 receives a measurement request (command) from the APL 31.
It is activated by the timer control unit 21 in response to the
This monitors the time for pulse measurement. Timer T
l (24) measures the time between "0" levels in the dial pulse signal: TDLPS. Also, timer T2 (
25) is for measuring the pulse period in the signal *TDLPS. Each of these timers 23, 25 is connected to a clock generation source 29 which emits a predetermined constant clock.
Count the clocks from.

以下第6図乃至第9図のフローチャートに基いて、本実
施例の動作を説明する。第6図及び第7図は、CPU3
のパルス測定部APL31の動作を示すフローチャート
、第8図はタイマ回路2におけるタイマ制御部TMCN
T21の動作をふすフローチャート第9図は同じく測定
部TMIRQ22の動作フローチャートである。
The operation of this embodiment will be explained below based on the flowcharts shown in FIGS. 6 to 9. Figures 6 and 7 show CPU3
FIG. 8 is a flowchart showing the operation of the pulse measurement unit APL31 in the timer control unit TMCN in the timer circuit 2.
Flowchart showing the operation of T21 FIG. 9 is also a flowchart of the operation of the measurement unit TMIRQ22.

まずパルス測定部APL31は、ディスプレイ4の画面
上に第1)図に示す如きバイヤルパルスの測定開始メソ
セージTSLAIIを表示する(ステップ601〜60
3)。尚第1)図において記号SPはスペースを表わす
。次にAPL31は、自己の管理するステップカウンタ
CTMEをクリアしくステップ604)、メツセージ表
示行データを表示行レジスタKA I SUUに一時格
納する。
First, the pulse measurement unit APL31 displays a vial pulse measurement start message TSLAII as shown in FIG. 1) on the screen of the display 4 (steps 601 to 60
3). In Figure 1), the symbol SP represents a space. Next, the APL 31 clears the step counter CTME that it manages (step 604), and temporarily stores the message display line data in the display line register KA I SUU.

そして、キーボード(図示せず)からのパルス測定開始
の指示入力を待つ(ステップ606〜607)。この指
示入力があれば、パルス測定部APL3)は、測定タイ
マ値を格納するアドレス値TIMMEMをインデックス
レジスタIXにセットするとともにタイマ制御部TMC
NT21を起動するマクロ命令を発する。このマクロ命
令は、第10図(alに示す如く、測定すべき時間を指
定するパラメータTMPARを含む。即ちこのタイマー
回路2は、第10図(a)に示す如く、各種の時間測定
が可能である。従って本実施例では、このパラメータT
MPARを45(16進)と設定する。
Then, it waits for an instruction to start pulse measurement to be input from a keyboard (not shown) (steps 606 to 607). If this instruction is input, the pulse measurement unit APL3) sets the address value TIMMEM for storing the measurement timer value in the index register IX, and also sets the timer control unit TMC.
Issue a macro command to start NT21. This macro instruction includes a parameter TMPAR that specifies the time to be measured, as shown in FIG. Therefore, in this embodiment, this parameter T
Set MPAR to 45 (hexadecimal).

このマクロ命令に従って、タイマ制御部21及び測定部
22が、ダイヤルパルス波形における各種時間を測定す
る(即ち第8図、第9図にそれぞれ示す動作を行う)。
According to this macro command, the timer control section 21 and the measurement section 22 measure various times in the dial pulse waveform (that is, perform the operations shown in FIGS. 8 and 9, respectively).

タイマ回路2による時間測定の終了は、第10図(bl
に示す如く終了情報TMEIFとしてCPU3に通知さ
れる(ステップ610)。そして測定が正しく行われた
場合、CRU3のパルス測定部31は、第7図に示すサ
ブルーチンDLPSSに移り(テップ61))、インパ
ルス速度、メイク率、ポーズ時間を計算し、その計算結
果を順次表示データに変換する(ステップ612,61
3)。尚、レジスタMEMO5は表示データバッファ、
MEMO3は表示桁バッファを示す。
The end of time measurement by the timer circuit 2 is shown in FIG.
The CPU 3 is notified as termination information TMEIF as shown in (step 610). If the measurement is performed correctly, the pulse measurement unit 31 of the CRU 3 moves to the subroutine DLPSS shown in FIG. 7 (step 61), calculates the impulse speed, make rate, and pause time, and displays the calculation results in sequence. Convert to data (steps 612, 61
3). Note that register MEMO5 is a display data buffer,
MEMO3 indicates a display digit buffer.

計算結果の表示が終了すると、パルス測定部31はステ
ップカウンタCTMEのカウント値をカウントアツプし
、次のパルス測定に移る。即ち本実施例では、ステップ
カウンタCTMEはOO〜05までカウントアツプされ
る。そしてカウント値がOO〜02までは10ppsの
ダイヤルパルスのインパルス速度(00)、メイク率(
01)。
When the display of the calculation results is completed, the pulse measuring section 31 increments the count value of the step counter CTME and moves on to the next pulse measurement. That is, in this embodiment, the step counter CTME is counted up from OO to 05. When the count value is from OO to 02, the impulse speed (00) of the dial pulse of 10 pps, the make rate (
01).

及びポーズ時間(02)の演算を指示する。カウント値
03〜05は、20ppsのインパルス速度(03)、
メイク率(04)、及びポーズ時間(05)の演算を指
示する。
and instructs calculation of pause time (02). Count values 03 to 05 are impulse speeds of 20 pps (03),
Instructs calculation of makeup rate (04) and pause time (05).

次に第8図及び第9図を用いてタイマ回路2の動作を説
明する。上述の如<CPU3からのマクロ命令(第10
図(a))によってタイマ回路2は起動される。まずタ
イマ制御部TMCNT21は、自己のステップカウンタ
TMSTCをクリアする(ステップ801)とともに、
マクロ命令で与えられたパラメータTMPARを読込む
(ステップ802)。そしてこのパラメータTMPAR
によって指示される処理を判別する(同803)。尚第
8図及び第9図では、ダイヤルパルス測定が指定された
場合のみ動作を示し、他の処理についてはその説明を詳
述する。
Next, the operation of the timer circuit 2 will be explained using FIGS. 8 and 9. As mentioned above, the macro command from CPU3 (10th
The timer circuit 2 is started according to the diagram (a). First, the timer control unit TMCNT21 clears its own step counter TMSTC (step 801), and
The parameter TMPAR given by the macro instruction is read (step 802). And this parameter TMPAR
803). In FIGS. 8 and 9, operations are shown only when dial pulse measurement is specified, and other processes will be explained in detail.

タイマ制御部21は、自己のステップカウンタTMST
Cの値、即ち第4図で示した値00−06に応じて、各
タイマ動作を制御する(ステップ804.808,80
9,815)。つまり、カウンタTMSTCが値00の
もとで監視タイマ23を起動する(ステップ807)。
The timer control unit 21 has its own step counter TMST.
Each timer operation is controlled according to the value of C, that is, the value 00-06 shown in FIG. 4 (steps 804, 808, 80
9,815). That is, the monitoring timer 23 is started with the counter TMSTC having a value of 00 (step 807).

次にパルス信号1kDLPsがOレベルに落ちたか否か
をチェックする(同810)。極性検出の後は、最初の
ダイヤルパルスの立上りを検出する(ステップ81))
。そしてダイヤルパルスの立下りによって、タイマT1
及びTz  (24,25)を起動する(ステップ81
2〜814)。
Next, it is checked whether the pulse signal 1kDLPs has fallen to the O level (810). After detecting the polarity, detect the rise of the first dial pulse (step 81))
. Then, at the falling edge of the dial pulse, timer T1
and Tz (24, 25) (step 81
2-814).

次に、ダイヤルパルスの立上りにより測定部TMIRQ
22が起動される(ステップ901,902)。そして
、ステップカウンタTM−3TCの値に応じて(同90
3,904)各タイマT1゜Tzの読出しが行われる(
同905.!306,909)、これら各タイマの読出
しは各サブルーチンTISTRM、T2STRMにて実
行され、インデックスレジスタlX12格納されたアド
レスに対応した領域に、そのタイマ値が格納される(同
917)。以上によりタイマ回路2による各時間測定が
行われる。
Next, due to the rising edge of the dial pulse, the measurement unit TMIRQ
22 is activated (steps 901, 902). Then, according to the value of the step counter TM-3TC (90
3,904) Each timer T1°Tz is read (
905. ! 306, 909), reading of each of these timers is executed in each subroutine TISTRM and T2STRM, and the timer value is stored in the area corresponding to the address stored in the index register IX12 (917). As described above, each time measurement is performed by the timer circuit 2.

この結果、第10図(C1に示す如く、メモリの所定ア
ドレス上に、メイク、周期、ポーズの各時間がカウンタ
のカウント値としてセントされCPU3に通知されるこ
とになる。CPU3のパルス測定部31は、上述の如く
、カウンタ回路2からの終了情報TME I Fにより
、各測定値を読出す。
As a result, as shown in FIG. 10 (C1), each time of make, period, and pause is written as a count value of the counter on a predetermined address of the memory and is notified to the CPU 3.The pulse measurement unit 31 of the CPU 3 As described above, each measured value is read out based on the termination information TMEIF from the counter circuit 2.

即ち第7図に示す如く、自己のステップカウンタCTM
Eの値に応じて(ステップ701〜704)インパルス
速度(同707)、メイク率(同7I4)、ポーズ時間
(同71))を計算し、表示データに変換することにな
る。
That is, as shown in FIG.
In accordance with the value of E (steps 701 to 704), the impulse speed (707), make rate (7I4), and pause time (71) are calculated and converted into display data.

〔発明の効果〕 以上の如く本発明によれば、簡単なカウンタ回路を用い
て、パルス信号の波形測定をより正確に且つ迅速に行う
ことができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the waveform of a pulse signal can be measured more accurately and quickly using a simple counter circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図は実施例の
要部構成図、第3図はダイヤルパルス信号の一般的波形
を示す図、第4図は本実施例の動作タイムチャート、第
5図は機能ブロック図、第6図乃至第9図はその動作フ
ローチャート、第10図1a)〜(flt)は動作フロ
ーチャートにおけるデータフォーマットを示す図8第1
)図は表示メソセージ例を示ず図である。 2はタイマ回路、3はプロセッサ(CPU)。 4はディスプレイ、21はタイマ制御部、22は測定部
、23〜25はタイマ、31はパルス測定部をそれぞれ
示す。
Fig. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a diagram showing the main part of the embodiment, Fig. 3 is a diagram showing a general waveform of a dial pulse signal, and Fig. 4 is an operation of this embodiment. FIG. 5 is a functional block diagram, FIGS. 6 to 9 are operation flowcharts, and FIG. 10 1a) to (flt) are data formats in the operation flowcharts.
) The figure does not show an example of a displayed message. 2 is a timer circuit, and 3 is a processor (CPU). 4 is a display, 21 is a timer control section, 22 is a measurement section, 23 to 25 are timers, and 31 is a pulse measurement section.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)信号送出装置の発するパルス信号波形測定を行う
装置において、パルス信号の測定開始指示によって起動
され一定の時間を計時する監視タイマと、上記パルス信
号の立下りから立上りまでの時間を計時する第1のタイ
マと、パルス信号の周期を計時する第2のタイマとを備
え、第1及び第2のタイマの出力値に基いて上記パルス
信号の波形測定を行うことを特徴とするパルス信号測定
方法。
(1) In a device that measures the waveform of a pulse signal emitted by a signal sending device, there is a monitoring timer that is activated by an instruction to start measurement of the pulse signal and measures a certain period of time, and a monitoring timer that measures the time from the fall to the rise of the pulse signal. Pulse signal measurement characterized by comprising a first timer and a second timer that measures the period of the pulse signal, and measuring the waveform of the pulse signal based on the output values of the first and second timers. Method.
(2)上記信号送出装置は複数桁から成るダイヤルパル
スを発生するものであり、上記第1のタイマは、各桁に
おけるパルス間隔を計時するとともに、各桁間のミニマ
ムポーズ時間を計時する特許請求の範囲第(1)項記載
のパルス信号測定方法。
(2) The signal sending device generates dial pulses consisting of multiple digits, and the first timer measures the pulse interval in each digit and the minimum pause time between each digit. The pulse signal measuring method according to the range (1) above.
JP14093184A 1984-07-06 1984-07-06 Measurement of pulse signal Granted JPS6122261A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4824446A (en) * 1988-05-23 1989-04-25 Applied Automation, Inc. Gas chromatography simulation

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5796269A (en) * 1980-12-08 1982-06-15 Nec Home Electronics Ltd Pulse signal measurement device

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