JPS61222289A - レ−ザ装置 - Google Patents
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- JPS61222289A JPS61222289A JP60061876A JP6187685A JPS61222289A JP S61222289 A JPS61222289 A JP S61222289A JP 60061876 A JP60061876 A JP 60061876A JP 6187685 A JP6187685 A JP 6187685A JP S61222289 A JPS61222289 A JP S61222289A
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- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
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- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
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- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
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- H01S5/4087—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar emitting more than one wavelength
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は2つの波長成分を含むレーザ光を発生すること
ができるレーザ装置に関する。
ができるレーザ装置に関する。
(従来技術)
特定波長のレーザ光がある種の気体に吸収され易いこと
を利用して気体の有無を検出できることが知られており
、この原理を応用したセンシング技術が工業計測、公害
監視などに広く用いられている。 −例として、He−
Neレーザにより発生されるレーザ光の3.39μm帯
には真空波長が3.3922μm(λ1)と3.391
2μmれない。そこでこの2つの波長成分を含むレーザ
光を使ってメタンの有無を感度よく検出することが可能
である。メタンは都市ガスの主成分であるのでメタンガ
スの検出によって都市ガスの漏洩が検知できる。
を利用して気体の有無を検出できることが知られており
、この原理を応用したセンシング技術が工業計測、公害
監視などに広く用いられている。 −例として、He−
Neレーザにより発生されるレーザ光の3.39μm帯
には真空波長が3.3922μm(λ1)と3.391
2μmれない。そこでこの2つの波長成分を含むレーザ
光を使ってメタンの有無を感度よく検出することが可能
である。メタンは都市ガスの主成分であるのでメタンガ
スの検出によって都市ガスの漏洩が検知できる。
第7図は2台のレーザを用いてメタンを検知する従来の
メタン検知システムの概略構成を示しており、光源部1
と、受光部2と、信号処理部3とにより構成されている
。光源部1は3.3922μmのレーザ光を発光するH
e−Neレーザ1aと、3.3912μmのレーザ光を
発光するHe−Neレーザ1bと、ガイド用の赤色光(
0,6328μm>を発光するHe−N13レーザ1C
とを含み、レーザ1aおよび1bからのレーザ光を異な
る周波数で変調するメカニカルチョッパー1dおよび1
eとを有する。レーザ1Cからの赤色光およびレーザ1
a11bからの変調されたレーザ光はミラーM11M2
1M32M4およびハーフミラ−HMlおよびHM2に
より監視領域りに向けて発射され道路や壁などの障害物
4で反射され受光部2で受光される。
メタン検知システムの概略構成を示しており、光源部1
と、受光部2と、信号処理部3とにより構成されている
。光源部1は3.3922μmのレーザ光を発光するH
e−Neレーザ1aと、3.3912μmのレーザ光を
発光するHe−Neレーザ1bと、ガイド用の赤色光(
0,6328μm>を発光するHe−N13レーザ1C
とを含み、レーザ1aおよび1bからのレーザ光を異な
る周波数で変調するメカニカルチョッパー1dおよび1
eとを有する。レーザ1Cからの赤色光およびレーザ1
a11bからの変調されたレーザ光はミラーM11M2
1M32M4およびハーフミラ−HMlおよびHM2に
より監視領域りに向けて発射され道路や壁などの障害物
4で反射され受光部2で受光される。
受光部2では入射したレーザ光を受光部2a。
2bで反射し集光させて受光センサ2Cで電気信号に変
換する。受光センサ2Cの出力は信号処理部3のプリア
ンプ3aでまず増幅され、次に光源部1のメカニカルチ
ョッパー1dおよび1eの変調周波数に同期させたロッ
クインアンプ3bおよび3Cで分離されレコーダ3dに
より記録される。
換する。受光センサ2Cの出力は信号処理部3のプリア
ンプ3aでまず増幅され、次に光源部1のメカニカルチ
ョッパー1dおよび1eの変調周波数に同期させたロッ
クインアンプ3bおよび3Cで分離されレコーダ3dに
より記録される。
この記録された2つの信号の差から監視領域りにメタン
が存在しているか否かを知ることができる。
が存在しているか否かを知ることができる。
このような構成のメタン検知システムは多数のミラーや
ハーフミラ−を用いるため光学系が複雑で大きな体積を
要するだけでなく光軸調整が危介であり、レーザ光の損
失が大きい。また信号処理が複雑な上メカニカルチョッ
パーの動作上の限界から高周波変調ができずSN比の点
で不利であるなど多くの問題がある。
ハーフミラ−を用いるため光学系が複雑で大きな体積を
要するだけでなく光軸調整が危介であり、レーザ光の損
失が大きい。また信号処理が複雑な上メカニカルチョッ
パーの動作上の限界から高周波変調ができずSN比の点
で不利であるなど多くの問題がある。
一方、米国特許第4,059,356号には、レーザ共
振器内に大気循環用セルを設け、監視したい場所にその
レーザをもっていけばその場所の大気がレーザ共振器内
に入るのでレーザの発振波長により大気中のメタンの有
無を検知することができるようにした気体検知器が開示
されている。
振器内に大気循環用セルを設け、監視したい場所にその
レーザをもっていけばその場所の大気がレーザ共振器内
に入るのでレーザの発振波長により大気中のメタンの有
無を検知することができるようにした気体検知器が開示
されている。
この検知器では上述した問題はないが、遠隔検知は不可
能である。
能である。
(発明の目的および構成)
本発明は上記の点にかんがみてなされたもので、気体検
知システムの構成を簡潔にし遠隔、広域での気体検知を
可能にするための発振レーザ装置を提案することを目的
とし、この目的を達成するために、2波長成分を含むレ
ーザ光を発振するレーザを用い、2波長成分の利得をほ
ぼ等しくし、共振器長りを 上で微小変調させ且つその結果2波長成分の出力が同時
に変調され且つその出力の和の変調成分がOになるよう
に共振器長を自動制御するように構成した。
知システムの構成を簡潔にし遠隔、広域での気体検知を
可能にするための発振レーザ装置を提案することを目的
とし、この目的を達成するために、2波長成分を含むレ
ーザ光を発振するレーザを用い、2波長成分の利得をほ
ぼ等しくし、共振器長りを 上で微小変調させ且つその結果2波長成分の出力が同時
に変調され且つその出力の和の変調成分がOになるよう
に共振器長を自動制御するように構成した。
(実施例)
以下本発明を図面に基づいて説明する。以下に例示する
2波長発振レーザ装置はメタン検知用として説明するが
、本発明はこれに限定されるものでないことはもちろん
である。
2波長発振レーザ装置はメタン検知用として説明するが
、本発明はこれに限定されるものでないことはもちろん
である。
第1図はメタン検知を目的とした本発明による2波長発
振レーザ装置の一実施例を示しており、10はHe−N
e放電管11はメタンガスを含むメタンセル、12.1
3はミラーであり、これらによりHe−Neレーザが構
成されている。ミラー13は電歪素子14により所定の
振動数で振動し、これにより両ミラー12.13間の共
振器長しが変調されるようになっている。15はHe
−Neレーザから発生するレーザ光の光軸中に配置され
たハーフミラ−116はInASなどの光センサ、17
は発振器18の周波数に同期して変化する光センサ16
の出力成分を検出するロックインアンプ、19はロック
インアンプ17の出力を−積分する積分器、20は積分
器19の出力と発振器18の出力を混合して高電圧に増
幅する高電圧アンプで、電歪素子14はこの高電圧によ
り駆動される。
振レーザ装置の一実施例を示しており、10はHe−N
e放電管11はメタンガスを含むメタンセル、12.1
3はミラーであり、これらによりHe−Neレーザが構
成されている。ミラー13は電歪素子14により所定の
振動数で振動し、これにより両ミラー12.13間の共
振器長しが変調されるようになっている。15はHe
−Neレーザから発生するレーザ光の光軸中に配置され
たハーフミラ−116はInASなどの光センサ、17
は発振器18の周波数に同期して変化する光センサ16
の出力成分を検出するロックインアンプ、19はロック
インアンプ17の出力を−積分する積分器、20は積分
器19の出力と発振器18の出力を混合して高電圧に増
幅する高電圧アンプで、電歪素子14はこの高電圧によ
り駆動される。
He−Neレーザには真空波長が3.3922μm(λ
1)と3.3912μm(λ2)の近接した2つの発振
線があるが、通常の条件下では波長λ1の成分の方が波
長λ2の成分より利得が大きいために競合の結果波長λ
1構成のみが発振し、波長λ2は発振しない。ところが
本He−Neレーザ装置には共振器内にλ1の光を吸収
するメタンセル11が設けられてい、るので、波長λ1
成分の総合利得は減少し、メタン圧を適当に選ぶと、波
長λ2構成の利得とほぼ等しくなり第2図および第3図
に示すように21とλ2の2波長同時発振が可能になる
。この場合、メタンセル11による波長λ1成分の吸収
はメタン圧力により第3図に示すように変化するので適
当な圧力(たとえば1、3rorr)に調整することが
必要である。
1)と3.3912μm(λ2)の近接した2つの発振
線があるが、通常の条件下では波長λ1の成分の方が波
長λ2の成分より利得が大きいために競合の結果波長λ
1構成のみが発振し、波長λ2は発振しない。ところが
本He−Neレーザ装置には共振器内にλ1の光を吸収
するメタンセル11が設けられてい、るので、波長λ1
成分の総合利得は減少し、メタン圧を適当に選ぶと、波
長λ2構成の利得とほぼ等しくなり第2図および第3図
に示すように21とλ2の2波長同時発振が可能になる
。この場合、メタンセル11による波長λ1成分の吸収
はメタン圧力により第3図に示すように変化するので適
当な圧力(たとえば1、3rorr)に調整することが
必要である。
次に共振器長と発振出力との関係について考えると、一
般にガスレーザの場合、その利得曲線はレーザ媒質固有
の中心周波数のまわりにドツプラー広がりをしており、
その中で共振器により共振条件ν、=nC/21(Lは
共振器長、Cは光速度、nは整数)を満足する周波数ν
、のみが発振する(第2図参照)。この場合ν、が中心
周波数に近ければ出力は大きくなり、中心周波数から離
れると出力は小さくなる。共振器長しが変るとシーよ次
々と中心周波数を横切るので、共振器長しの変化に対し
て発振強度は周期的に変化することになる。
般にガスレーザの場合、その利得曲線はレーザ媒質固有
の中心周波数のまわりにドツプラー広がりをしており、
その中で共振器により共振条件ν、=nC/21(Lは
共振器長、Cは光速度、nは整数)を満足する周波数ν
、のみが発振する(第2図参照)。この場合ν、が中心
周波数に近ければ出力は大きくなり、中心周波数から離
れると出力は小さくなる。共振器長しが変るとシーよ次
々と中心周波数を横切るので、共振器長しの変化に対し
て発振強度は周期的に変化することになる。
2波長発振の場合は、それぞれの波長成分がこのように
変化するが、 を満たすように共振器長りを選べば、その近辺で共振器
長しの変化に対して、第4図のように21とλ2の出力
最大点B、Cは互いの中間点に位置するようになる。
変化するが、 を満たすように共振器長りを選べば、その近辺で共振器
長しの変化に対して、第4図のように21とλ2の出力
最大点B、Cは互いの中間点に位置するようになる。
そこで共振器長りをある値L0を中心にして周波数fに
よりΔ1の振幅で変化(変調)させるとす泰と、2波長
都、λ2のレーザ光の出力をそれぞれ1.I(第4図に
おいて鎖線および破線で示す)とし、全出力をI(第4
図において実線で示す)とすると、次のように表わせる
。
よりΔ1の振幅で変化(変調)させるとす泰と、2波長
都、λ2のレーザ光の出力をそれぞれ1.I(第4図に
おいて鎖線および破線で示す)とし、全出力をI(第4
図において実線で示す)とすると、次のように表わせる
。
・Δj sin 2πft+高次成分
・Δ41 Sin 2πft+高次成分I=11 +l
2=11 (Lo) +I2 (Lo) +・Δj!
Sin 2yrrt十高次成分そこで、全出力Iの変調
周波数f成分をロックインアンプ17(第1図参照)に
より位相検波し、その出力を誤差信号として高電圧アン
プ20を介して電歪素子14にフィードバックをかける
と、を満足するように共振器長の変調の中心1oが自動
制御される。この場合誤差信号の位相を適当に選択する
ことにより を満足するように自動制御しなければならない。
2=11 (Lo) +I2 (Lo) +・Δj!
Sin 2yrrt十高次成分そこで、全出力Iの変調
周波数f成分をロックインアンプ17(第1図参照)に
より位相検波し、その出力を誤差信号として高電圧アン
プ20を介して電歪素子14にフィードバックをかける
と、を満足するように共振器長の変調の中心1oが自動
制御される。この場合誤差信号の位相を適当に選択する
ことにより を満足するように自動制御しなければならない。
第1図に示したセンサ16、ロックインアンプ17、積
分器19、高電圧アンプ20でフィードバック回路を構
成しており、レーザ光の全出力Iが赤外光センサ16に
より検出され、そのうち変調周波数成分がロックインア
ンプ17により検波され、積分器19により積分されて
高電圧アンプ20のバイアス電圧を決定する。その結果
、高電圧アンプ20はそのバイアス電圧を中心にして発
振器18の発振周波数で変動する高電圧を出力し電歪素
子14を駆動する。フィードバック効果により変調波成
分がなくなったときは積分器19がそのとき保持してい
る積分値により高電圧アンプ20のバイアス電圧が保持
され、その出力高電圧が一定に保持されて発振が継続さ
れる。動作中に温度変化などにより共振器長りが変化し
たときはフィードバック回路によるフィードバック作用
により修正される。
分器19、高電圧アンプ20でフィードバック回路を構
成しており、レーザ光の全出力Iが赤外光センサ16に
より検出され、そのうち変調周波数成分がロックインア
ンプ17により検波され、積分器19により積分されて
高電圧アンプ20のバイアス電圧を決定する。その結果
、高電圧アンプ20はそのバイアス電圧を中心にして発
振器18の発振周波数で変動する高電圧を出力し電歪素
子14を駆動する。フィードバック効果により変調波成
分がなくなったときは積分器19がそのとき保持してい
る積分値により高電圧アンプ20のバイアス電圧が保持
され、その出力高電圧が一定に保持されて発振が継続さ
れる。動作中に温度変化などにより共振器長りが変化し
たときはフィードバック回路によるフィードバック作用
により修正される。
このように自動制御されたときHe−Neレーザから発
生する波長ハ、λ構成分の出力は互に180°ずれて変
調されているが全出力は変調されていない。このレーザ
光がメタンを含む大気中 ゛を通過すると、波長λ1成
分が吸収され全強度は変調成分をもつことになる。これ
によりメタンの検知が可能になる。波長λ1成分がメタ
ンに完全に吸収されたときの変調成分出力は 第5図は共振器長683m、放電電流6TrLA、Ne
ガス圧力0.4TOrrS@eガス圧力2rorr、メ
タンセルの長ざ42am、メタンガス圧力2 Torr
のHe−Neレーザ装置を用いて実験した結果を示して
おり、横軸は電歪素子14に印加される電圧で100V
増すごとに共振器長は約1μm減少する。また縦軸は(
イ)がレーザ装置の全出力、(ロ)が波長λ1成分、(
ハ)が波長λ2構成である。この図かられかるように、
He−Neレーザの一方のミラー13に固定された電歪
素子14に印加する電圧をたとえば点Aと点Bとの間で
変化させて共振器長を変調すると、各波長成分は約0.
5mWの変調を受けるが、全出力は一定である。
生する波長ハ、λ構成分の出力は互に180°ずれて変
調されているが全出力は変調されていない。このレーザ
光がメタンを含む大気中 ゛を通過すると、波長λ1成
分が吸収され全強度は変調成分をもつことになる。これ
によりメタンの検知が可能になる。波長λ1成分がメタ
ンに完全に吸収されたときの変調成分出力は 第5図は共振器長683m、放電電流6TrLA、Ne
ガス圧力0.4TOrrS@eガス圧力2rorr、メ
タンセルの長ざ42am、メタンガス圧力2 Torr
のHe−Neレーザ装置を用いて実験した結果を示して
おり、横軸は電歪素子14に印加される電圧で100V
増すごとに共振器長は約1μm減少する。また縦軸は(
イ)がレーザ装置の全出力、(ロ)が波長λ1成分、(
ハ)が波長λ2構成である。この図かられかるように、
He−Neレーザの一方のミラー13に固定された電歪
素子14に印加する電圧をたとえば点Aと点Bとの間で
変化させて共振器長を変調すると、各波長成分は約0.
5mWの変調を受けるが、全出力は一定である。
上記実施例では、He−Neレーザから出力する2波長
のレーザ光の利得を等しくするのに一方の波長のみを適
度に吸収するセルを共振器内に配置したが、セルを用い
る代りに共振器を構成するミラーの反射率に波長特性を
もたせてもよいし、両者を組合せてもよい。
のレーザ光の利得を等しくするのに一方の波長のみを適
度に吸収するセルを共振器内に配置したが、セルを用い
る代りに共振器を構成するミラーの反射率に波長特性を
もたせてもよいし、両者を組合せてもよい。
また、2波長のそれぞれの強度変調幅を大きくとるため
に第6図(イ)に示すように鋭い中心周波数依存性をも
つ吸収物質(中心周波数νC+Δν)を有する気体吸収
セルを共振器内に配置する。第6図(イ)において、上
の波形はレーザ媒質の利得の周波数特性を示しており、
下の波形は吸収物質の吸収の周波数特性を示しており、
総合的な利得が同図(ロ)に示すように周波数のわずか
な変化で大きく変るようにすることができる。
に第6図(イ)に示すように鋭い中心周波数依存性をも
つ吸収物質(中心周波数νC+Δν)を有する気体吸収
セルを共振器内に配置する。第6図(イ)において、上
の波形はレーザ媒質の利得の周波数特性を示しており、
下の波形は吸収物質の吸収の周波数特性を示しており、
総合的な利得が同図(ロ)に示すように周波数のわずか
な変化で大きく変るようにすることができる。
上記実施例ではメタンがこのような吸収物質としても機
能している。
能している。
このような方法による変調幅の大幅な増大は上記実施例
のような2波長発振レーザ装置のみならず単波長発振レ
ーザ装置にも適用することができる。
のような2波長発振レーザ装置のみならず単波長発振レ
ーザ装置にも適用することができる。
本発明はHe−Neレーザに限らずCO2レーザなどの
ガスレーザ、ざら、には液体レーザ、固体レーザ、半導
体レーザなとでも2波長を発振するレーザならば用いる
ことができる。たとえば、CO2レーザの場合は、アン
モニアに強く吸収される波長9.380534μmのR
(2)線トアンモニアに吸収されない波長9.4288
57μmのP(4)線の2波長発振に応用できる。
ガスレーザ、ざら、には液体レーザ、固体レーザ、半導
体レーザなとでも2波長を発振するレーザならば用いる
ことができる。たとえば、CO2レーザの場合は、アン
モニアに強く吸収される波長9.380534μmのR
(2)線トアンモニアに吸収されない波長9.4288
57μmのP(4)線の2波長発振に応用できる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明においては、比較的近い2
波長成分を含むレーザ光を発振するレーザを用い、2波
長成分の利得をほぼ等しくし、共に選んで微小変調させ
且つその結果骨られるレーザ光の全出力の変調成分がO
になるように共振−長の変調にフィードバックをかける
ようにすると2波長成分の出力が交互に強弱を繰り返す
2波長発振レーザ装置が実現できる。
波長成分を含むレーザ光を発振するレーザを用い、2波
長成分の利得をほぼ等しくし、共に選んで微小変調させ
且つその結果骨られるレーザ光の全出力の変調成分がO
になるように共振−長の変調にフィードバックをかける
ようにすると2波長成分の出力が交互に強弱を繰り返す
2波長発振レーザ装置が実現できる。
本発明による2波長発振レーザ装置を用いて気体検知シ
ステムを構成すれば、1台のレーザですむので使用する
ミラーやハーフミラ−が少なくなって光学系が簡潔にな
り光損失が減少するとともに光軸調整の煩わしさが減少
する。また、共振器長の変調を電気的に行なっているの
で、従来のメカニカルチョッパーより高い周波数での変
調が可能になりSN比を改善することができる。また、
2波長を分離して検出する必要がないために測定系(た
とえばロックインアンプを含む信号処理系)が極めて簡
潔になる。
ステムを構成すれば、1台のレーザですむので使用する
ミラーやハーフミラ−が少なくなって光学系が簡潔にな
り光損失が減少するとともに光軸調整の煩わしさが減少
する。また、共振器長の変調を電気的に行なっているの
で、従来のメカニカルチョッパーより高い周波数での変
調が可能になりSN比を改善することができる。また、
2波長を分離して検出する必要がないために測定系(た
とえばロックインアンプを含む信号処理系)が極めて簡
潔になる。
ざらに、本発明によるレーザ装置を用い発振レーザ光を
光ファイバーで導けば遠隔、広域での気体検知が可能に
なり、ガス漏れ検知をはじめとして工業計測や公害監視
などその応用分野は極めて広いと考えられる。
光ファイバーで導けば遠隔、広域での気体検知が可能に
なり、ガス漏れ検知をはじめとして工業計測や公害監視
などその応用分野は極めて広いと考えられる。
第1図は本発明による2波長発振レーザ装置の一実施例
の概略線図、第2図は本発明による2波長発振レーザ装
置により発振される2波長レーザ光の利得と共振周波数
の関係を示す図、第3図はメタンセルによるl−1e−
Neレーザの2波長出力の変化を示す図、第4図は本発
明による2波長発振レーザ装置の共振器長と発振出力と
の関係を示す図、第5図は本発明による2波長発振レー
ザ装置の実験による出力変化を示す図、第6図は第1図
に示した実施例の変形例における変調幅増大の効果を説
明する図、第7図は従来のメタン検知システムの概略線
図である。 1O−He−Neレーザ、11−・・メタンセル、12
.13・・・ミラー、14・・・電歪素子、15・・・
ハーフミラ−116・・・センサ、17・・・ロックイ
ンアンプ、18・・・発概器、19・・・積分器、20
・・・高電圧アンプ。 特許出願人 東京、瓦斯株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 弘 男 第1図 第2図 第3図 第4図 矢鴇東り 第5図 電歪系与への仲加電圧(v) WJ6vjJ (イ) 第7図
の概略線図、第2図は本発明による2波長発振レーザ装
置により発振される2波長レーザ光の利得と共振周波数
の関係を示す図、第3図はメタンセルによるl−1e−
Neレーザの2波長出力の変化を示す図、第4図は本発
明による2波長発振レーザ装置の共振器長と発振出力と
の関係を示す図、第5図は本発明による2波長発振レー
ザ装置の実験による出力変化を示す図、第6図は第1図
に示した実施例の変形例における変調幅増大の効果を説
明する図、第7図は従来のメタン検知システムの概略線
図である。 1O−He−Neレーザ、11−・・メタンセル、12
.13・・・ミラー、14・・・電歪素子、15・・・
ハーフミラ−116・・・センサ、17・・・ロックイ
ンアンプ、18・・・発概器、19・・・積分器、20
・・・高電圧アンプ。 特許出願人 東京、瓦斯株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 弘 男 第1図 第2図 第3図 第4図 矢鴇東り 第5図 電歪系与への仲加電圧(v) WJ6vjJ (イ) 第7図
Claims (3)
- (1)2波長成分を含むレーザ光を発振するレーザと、
前記2波長成分の利得をほぼ等しく調整する利得調整手
段と、前記レーザの共振器長を周期的に変調させる共振
器長変調手段と、前記レーザ光の変調された2波長成分
の出力の和がほぼ一定となるように前記共振器長変調手
段の変調中心を制御する制御手段とを有することを特徴
とするレーザ装置。 - (2)前記利得調整手段がレーザの共振器内に設けられ
た特定波長を吸収する気体である特許請求の範囲第1項
に記載のレーザ装置。 - (3)前記共振器長変調手段が電歪素子を有する特許請
求の範囲第1項に記載のレーザ装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60061876A JPS61222289A (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | レ−ザ装置 |
US06/841,913 US4745606A (en) | 1985-03-28 | 1986-03-20 | Dual-wavelength laser apparatus |
EP86302174A EP0196856B1 (en) | 1985-03-28 | 1986-03-25 | Dual-wavelength laser apparatus |
DE8686302174T DE3676530D1 (de) | 1985-03-28 | 1986-03-25 | Zweiwellenlaengen-laservorrichtung. |
CA000505030A CA1261046A (en) | 1985-03-28 | 1986-03-25 | Dual-wavelength laser apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60061876A JPS61222289A (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | レ−ザ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61222289A true JPS61222289A (ja) | 1986-10-02 |
JPH0562832B2 JPH0562832B2 (ja) | 1993-09-09 |
Family
ID=13183769
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60061876A Granted JPS61222289A (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | レ−ザ装置 |
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Country | Link |
---|---|
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EP (1) | EP0196856B1 (ja) |
JP (1) | JPS61222289A (ja) |
CA (1) | CA1261046A (ja) |
DE (1) | DE3676530D1 (ja) |
Cited By (2)
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US5015099A (en) * | 1989-03-23 | 1991-05-14 | Anritsu Corporation | Differential absorption laser radar gas detection apparatus having tunable wavelength single mode semiconductor laser source |
JPH04151546A (ja) * | 1990-10-15 | 1992-05-25 | Anritsu Corp | ガス検出装置 |
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US4868833A (en) * | 1987-08-10 | 1989-09-19 | Hughes Aircraft Company | Raman cavity dump laser |
DE3819333A1 (de) * | 1988-06-07 | 1989-12-14 | Siemens Ag | Laseranordnung mit hoher frequenz- und intensitaetsstabilitaet der laserstrahlung |
US4932030A (en) * | 1989-06-05 | 1990-06-05 | At&T Bell Laboratories | Frequency stabilization of long wavelength semiconductor laser via optogalvanic effect |
US5091913A (en) * | 1990-04-10 | 1992-02-25 | Tsinghua Unversity | Quartz crystal tuning he-ne double frequency laser |
US5181212A (en) * | 1991-12-31 | 1993-01-19 | The United State Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method of emitting on a specific wavelength Fraunhofer line using a neodymium doped laser transmitter |
JP3564705B2 (ja) * | 1992-03-02 | 2004-09-15 | ソニー株式会社 | レーザ光発生装置 |
US5276695A (en) * | 1992-10-26 | 1994-01-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Multifrequency, rapidly sequenced or simultaneous tunable laser |
AUPM316293A0 (en) * | 1993-12-24 | 1994-07-28 | Electro Optic Systems Pty Limited | Improved laser cavity assembly |
DE4402054A1 (de) * | 1994-01-25 | 1995-07-27 | Zeiss Carl Fa | Gaslaser und Gasnachweis damit |
US6141368A (en) * | 1998-05-13 | 2000-10-31 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method of controlling lasing wavelength(s) |
US6295308B1 (en) | 1999-08-31 | 2001-09-25 | Corning Incorporated | Wavelength-locked external cavity lasers with an integrated modulator |
US6595920B2 (en) | 2001-05-21 | 2003-07-22 | The Ohio State University | Non-contact instrument for measurement of internal optical pressure |
CN101557076B (zh) * | 2009-05-22 | 2011-06-01 | 中国科学院国家授时中心 | 抗振外腔半导体激光器 |
CN101958505B (zh) * | 2010-07-31 | 2011-09-07 | 山西大学 | 双波长外腔共振系统的频率锁定装置 |
GB201214899D0 (en) | 2012-08-21 | 2012-10-03 | Stfc Science & Technology | Method and apparatus for external cavity laser absorption spectroscopy |
CN104682194A (zh) * | 2014-11-02 | 2015-06-03 | 北京工业大学 | 用于产生太赫兹波、微波的双共振垂直腔面发射激光器结构 |
CN104409960B (zh) * | 2014-11-26 | 2017-08-11 | 山西大学 | 一种自动激光稳频装置及方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4504950A (en) * | 1982-03-02 | 1985-03-12 | California Institute Of Technology | Tunable graded rod laser assembly |
US4434490A (en) * | 1982-03-31 | 1984-02-28 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Spectrophone stabilized laser with line center offset frequency control |
US4489239A (en) * | 1982-09-24 | 1984-12-18 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Portable remote laser sensor for methane leak detection |
US4606031A (en) * | 1984-07-17 | 1986-08-12 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Device for frequency modulation of a laser output spectrum |
-
1985
- 1985-03-28 JP JP60061876A patent/JPS61222289A/ja active Granted
-
1986
- 1986-03-20 US US06/841,913 patent/US4745606A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-03-25 CA CA000505030A patent/CA1261046A/en not_active Expired
- 1986-03-25 EP EP86302174A patent/EP0196856B1/en not_active Expired
- 1986-03-25 DE DE8686302174T patent/DE3676530D1/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0196856B1 (en) | 1990-12-27 |
EP0196856A3 (en) | 1988-06-15 |
US4745606A (en) | 1988-05-17 |
JPH0562832B2 (ja) | 1993-09-09 |
EP0196856A2 (en) | 1986-10-08 |
DE3676530D1 (de) | 1991-02-07 |
CA1261046A (en) | 1989-09-26 |
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