JPS61214139A - 光学式ヘッド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、光学的に情報を記録もしくは再生する光学式
記録再生装置のヘッド装置に関する。

〔従来技術〕

近年レーザ光を使用した光学式ディスク装置は、コンビ
ーータ用外部メモリ、ビデオ、オーディオ装置等の多方
面に使用されるようになってきた。

このような装置に使用される記録もしくは再生ヘッド装
置は、情報記録媒体であるディスクに対し、相対的に移
動する必要があり、また、精密な位置の制御とともにフ
ォーカス制御やトラッキング制御等の制御も行なわれ、
ヘッド装置自体を小型で軽量にする必要があるとともに
、光学系には高い位置精度及び芯出し精度が要求される
。

次に、このような光学式読取用ヘッド装置の従来例を第
７図に基づいて説明する。図示しないＨｅ−Ｎｅレーザ
等の光源からのビームは機枠の開口１０２を通して直進
し、ハーフミラ−１０３で直角に曲げられ、さらに全反
射鏡１０４で直角【反射され、回転によりトラッキング
を行なうようにした可動反射＠　１０５で直角に垂直上
方向に曲げられる。そして、光学素子取付用のブロック
体１１１の機枠上の２次元方向対物レンズ用駆動アクチ
ュエータに取り付けられたビーム集束装置１０６を通し
て高速でモータ１１０によ多回転される記録情報媒体の
ディＣスフ１０７の表面をスポット光で照射するように
構成されている。このディスク１０７の表面からの反射
光は再びビーム集束装置１０６を通ってコリメートされ
て平行ビームとなシ、可動反射鏡１０５．全反射鏡１０
４でそれぞれ反射された後、ハーフミラ−１０３の半透
過面を透過して光検出器１０８に入射させるようになっ
ている。上述のプリズム１ｏ３．ミラー１０４．可動反
射鏡１０５．ビーム集束装置１０６および光検知器１０
８はこれらを取り付けたブロック体と一体化してブロッ
クを構成してヘッド装置を形成している。

このような光学式記録再生装置のヘッド装置では、光学
素子を沢山使用しているため各光学素子の芯出調整なら
びに位置調整を正確にして製作することは大変手間のか
かるものであり、殊に記録可能なプレーヤや機能を沢山
追加した多機能の高級機のヘッド装置においては、上記
のように再生だけのヘッド装置に比べてプリズム等の光
学素子数も多くなり、各部におけるユニットの温度によ
るずれが生じてディスク面上で非点収差やコマ収差が発
生する不都合が生じてしまう。また、光学部材が分離し
ていると、組立調整に多くの時間がかかシ製造コストも
高くなる等の欠点を有していた。

〔目的〕

本発明の目的は、上記の点に鑑みなされたもので、ヘッ
ド装置のブロック本体に光学素子を取り付ける際に、接
着剤で貼シ付けるだけの簡単な作業だけで容易に芯出調
整および位置調整がとれ。

しかも軽量で製造容易なヘッド装置を提供するにある。

〔概要〕

本発明の光学式記録再生装置のヘッド装置は、ダイカス
ト等で一体成形されたブロック本体からなり、光学素子
の取付座もしくは反射面の傾斜角度や平行度を予め基準
ブロックを使って検査しておき、このブロック本体に光
学素子を接着剤による簡単な貼付作業もしくは反射面を
形成するだけで容易に製作できるようにしたものである
。さらにブロック体に切欠き部や、穴部を設けて迷光の
影響を避けながら合せて軽量になるように構成したもの
である。

〔実施例〕

本発明の光学記録再生装置のヘッド装置の一実施例を第
１図に基づいて説明する。

光学ヘッド装置１０のブロック本体１１は１合成樹脂又
はダイカスト等で一体成形されたもので、中央には半透
過面を有するプリズム１の取付座１２が、その左右には
それぞれ所望の傾斜角度で全反射鏡２および臨界角プリ
ズム３を取付けるための取付座１３　、１４か相対向す
るように設けられ、その中間部分は凹状の切欠き部１５
　、１５が形成されている。また、上記臨界角プリズム
３の背部には外部と連通ずる貫通穴１６が、また全反射
鏡２の背部には切欠き部１７がそれぞれ設けられている
。そして、上記の取付座１２，１３．１４にはプリズム
１．全反射鏡２および臨界角プリズム３がそれぞれ接着
剤により貼シ付は固定されるようになっている。

ブロック本体１１の反射鏡２の上方には図示しない２次
元方向対物レンズ用駆動アクチュエータの機枠に取付け
られる対物レンズ５とλ４板６が。

同じくプリズム１の上方にはコリメータレンズ４１２／
２板９および半導体レーザ７が、同じく臨、界角プリズ
ム３の上方には光検出器８がそれぞれ配設されて取付け
られる。

今、半導体レーザ７からレーザ光が発射されると、この
光２０はコリメータレンズ４によす平行光にされ、′／
！板９を通りプリズム１の４５度傾　　　、斜した半透
過面で直角に右方向【反射され、全反射鏡２で垂直上方
向だ直角【曲げられ、′／４板６を通シ対物レンズ５に
より収束されて、スポット光としてディスク２３の面上
を照射するようになっている。そして、このディスク２
３から反射した光２１は再び対物レンズ５によシコリメ
ートされて平行光となり、′／４板６を通って全反射鏡
２で直角に左方向に曲げられ、プリズム１の半透過面を
透過して臨界角プリズム３に入射する。この臨界角プリ
ズム３内で３回のくり返し反射した後〜その射出面から
平行光として光検出器８に射出し、同光検出器８で光電
変換された信号は４ｉ出力信号やフォーカシング誤差信
号等として出力されるようになっている。

ヘッド装置は、情報の記録または再生のために、ディス
ク２３に対し相対的に移動するように構成しなければな
らず、軽量小形であることが要求されるとともに、光学
素子が芯出しされて精度よく取シ付けられていなければ
ならない。

したがって、本発明ではブロック体１１のプリズム１９
反射鏡２および臨界角プリズム３の各光学素子の取付座
１２，１３．１４は、平行度および傾斜角度が正確に形
成されている。

また、ブロック体１１は、臨界角プリズム３の背部に貫
通穴１６を設け、空胴にして臨界角プリズム３から生ず
る迷光を容易に発散できるようにしている。さらに、プ
リズム１．３および反射鏡２を接着剤で貼り付けて固定
する際、それらを取シ付は易くするために、切欠き部１
５，１６．１７を形成し、合せてブロック体１１を軽量
になるようにしている。

次に、第２図に基づき１本発明のヘッド装置の第２の実
施例について説明する。本実施例においては上記第１図
と共通する部材は同一符号を付し、その説明は省略する
。

第１図の実施例においては、光検出器８側の臨界角プリ
ズム３に３回反射するプリズムを使用したが、この例で
は１回反射の臨界角プリズム３′を使用した点および全
反射鏡２の代りに全反射プリズム２′を使用した点で異
なっている。この例でも、ブロック体の相対向する位置
に設ける全反射プリズム２′および臨界角プリズム３′
の取付座１３．１４の傾斜角およびプリズム１の取付座
１２の平行度は正確に形成されている。

さらに、第３図に基づき、本発明のヘッド装置の第３の
実施例を説明する。この場合も上記第１図と共通する部
材は同一符号を付し、その説明は省略する。

上記第１図、第２図に示す各実施例では対物レンズ５側
の全反射鏡２．全反射プリズム２′をそれぞれ貼り付け
て構成したが、この例ではブロック体１１の傾斜面に直
接多層膜反射面をコートして反射鏡ｉとした点、および
第１図および第２図の例では臨界角プリズム３，３′の
背部に貫通穴１６を設けて迷光を発散させるように形成
していたが、この例では切欠き部１６′の底部を小さな
凸凹の散光面からなる発散面とし、臨界角プリズム３”
によって生ずる迷光を発散させるように形成した点で相
違している。

次に、このように形成されたヘッド装置１０のブロック
体１１の検査方法を第４図に基づいて説明する。

基準ブロック３０は光学ガラスで、ブロック体１１の上
面上の凹部形状に充当する台形状に形成され、上下面は
完全に平行で、臨界角プリズムの傾斜角の面３０；ａｌ
と全反射鏡の傾斜角の面３０ｂとを正確に角度出しされ
て形成されている。そして面３０ａ側の上部の面に反射
鏡３１が取り付けられている。

今、この基準ブロック３０をヘッド装置１０のブロック
体１１の中央の凹状部に挿入し、傾斜面３０ｂに上方か
ら半導体レーザ３３からの光をコリメートレンズ３２で
平行光だして入射させる。すると、この光束は傾斜面３
０ｂで直角に左方向に反射し、さらに傾斜面３０ａで垂
直上方向に曲げられて反射鏡３１に入射する。そして反
射ｆｉ３１からの反射光は再び傾斜面３０ａ、３０ｂで
反射しコリメータレンズ３２を通って半導体レーザ３３
にモニター光として戻ってくる。この光を半導体レーザ
３３の光軸上の背部にあるモニター光検出器３４で検出
することにより、オートコリメーシコンの原理で判別す
る。即ち精度が完全に出ている場合【は、このモニター
光検出器３４の出力が最大となるので。

これにより判別できる。

例えば、プリズム取付座１２が少し上方に出張った状態
であるとすると、基準ブロック３０は完全に挿入されず
に浮くような状に態となりモニター光の位置ずれが生じ
るからである。また、傾斜面３０ａ　、　３０ｂの角度
は基準ブロック３０により機械的光学的に測定される。

このような簡単な方法でブロック体１１をす速く検査す
ることができ、取付座の位置や角度の正確に形成されて
いるブロック体１１にプリズム等の光学素子を接着剤で
貼るだけ、もしくは反射面を形成することによって、芯
出しされて位置調整された精度のよいヘッド装置を容易
に製作することができる。

上記の検査方法は、半導体レーザ３３に戻る光によって
生ずる自己結合効果を利用したものであるが、光検出器
３４を半導体レーザ３３とは別の位置に配置して行って
もよい。この例を第５図に基づいて説明する。基準ブロ
ック４０のプリズム取付座１２に対応する中央部に半透
過面４０ｃが設けられている点以外は基準ブロック４０
の構成は第４図のものと同じである。そして、この半透
過面４０ｃの上部にモニター光検出器３４を配置する。

今、この基準ブロック４０をブロック体１１の凹状部に
挿入し、半導体レーザ３３からの光をコリメートレンズ
３２で平行光にして傾斜面４０ｂに入射させると、傾斜
面４０ｂで直角′に左方向に曲げられた光束は半透過面
４０ｃを透過し、さらに傾斜面４０ａで垂直上方向に反
射して反射鏡３１に平行光として入射する。この反射鏡
３１からの反射光束は再び傾斜面４０ａで右方向に曲げ
られ半透過面４０ｃで反射され、直角に垂直方向の下側
に向い、プリズム取付座１２に設けられた穴１９を通っ
て、ブロック体１１の底部に配設された反射鏡３５で反
射され、再び半透過面４０ｃを透過してモニター光検出
器３４に入射し、同検出器３４に測定される。

上記の例は、いずれも第２図、第３図に示すブロック体
１１の測定方法について述べたが、第１図に示す３回反
射の臨界角プリズムの場合でも基準ブロックを基準の傾
斜角や大きさに作ることに形例を第６図の概略斜視図に
基づいて説明する。

この例ではブロック本体５１にコリメータレンズ４５は
ブロック本体５１０角隅部を斜めの壁面に形成し、この
壁面部に直接多層膜のコーティングを施して反射面４５
とするものである。そうするとブロック本体５１０反射
面４５の背部の角隅部は斜めに切シ殺された形状となる
ので、ヘッド装置はその分だけ軽量小形化が図られ、霊
験を減らすことができる。なお、この反射面４５はプロ
ソ本体５１の角隅部を斜めに構成して反射鏡を貼シ付け
て作ってもよい。

〔発明の効果〕

上記のように、本発明の光学記録再生装置のヘッド装置
はダイカスト等で一体成形したブロック本体に臨界角プ
リズムもしくは全反射鏡の傾斜角の面が同一ブロック内
に配設されているため、芯出しおよび位置の調整が極め
て容易となり、光学素子を貼り付けるか、もしくは多層
膜反射面をコートするだけで簡単に製作でき、さらに軽
量小型化が図られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の第１実施例を示すヘッド装置の概略
断面図、 第２図は、本発明の第２実施例を示すヘッド装置の概略
断面図、 第３図は、本発明の第３実施例を示すヘッド装置の概略
断面図、 第４図は１本発明のヘッド装置の検査方法を説明するた
めの検査装置の概略断面図、 第５図は、上記第４図と異なる検査方法を説明するため
の検査装置の概略断面図、 第６図は、本発明のヘッド装置の変形例を示す概略斜視
図。 第７図は、従来のヘッド装置を示す概略斜視図である。 １・・・・・半透過プリズム ２・・・・・反射鏡 ３・・・・・臨界角プリズム ５１１１１＠１１１＋対物レンズ ７・・・・・半導体レーザ １０・ｅｌＩＩＩ・ヘッド装置 １１・・・・・ブロック体 １２．１３，１４・・・・・取付座 特許出願人　　オリンパス光学工業株式会社　、。 代　理　　人　　藤　　　川　　　七　　　でセｙと［
〃　　ホ由１）を 馬３図 馬４区

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 半導体レーザと反射面と対物レンズ等の光学素子を有し
   、記録媒体上に微小光スポットを形成し、光学的に情報
   を記録もしくは再生するヘッド装置において、 上記光学素子を固定するブロック本体に、臨界角の傾斜
   角と全反射の傾斜角とをなす面の取付座もしくは反射面
   が同一ブロック内に設けられたことを特徴とする光学式
   記録再生装置のヘッド装置。