JPH0793796A - 複合プリズム、複合検出器、及びそれを用いた光学ヘッド - Google Patents
複合プリズム、複合検出器、及びそれを用いた光学ヘッドInfo
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- JPH0793796A JPH0793796A JP5239435A JP23943593A JPH0793796A JP H0793796 A JPH0793796 A JP H0793796A JP 5239435 A JP5239435 A JP 5239435A JP 23943593 A JP23943593 A JP 23943593A JP H0793796 A JPH0793796 A JP H0793796A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ビームピッチの調整を5ミクロン程度の精度で
行うことが可能な光学ヘッドを提供することを目的とす
る。 【構成】半導体レーザ1から出射されたレーザ光を対物
レンズ9を介して光ディスク10に照射し、その反射光を
複合検出プリズム11内を通過させて第1および第2の光
検出器16,17 に導くことにより、光ディスク10に対する
情報の記録・再生を行う光学ヘッドにおいて、複合検出
プリズム11は、透過面から入射したレーザ光の一部を通
過させるとともに、入射したレーザ光の一部をその光軸
に対して直交方向に反射可能なハーフミラー面13と、こ
の反射光を前記光軸と平行方向に導くためのミラー面15
とを有し、光軸と平行に設けられた第2の透過面14上で
第2の多角柱22が接合されていることを特徴とする。
行うことが可能な光学ヘッドを提供することを目的とす
る。 【構成】半導体レーザ1から出射されたレーザ光を対物
レンズ9を介して光ディスク10に照射し、その反射光を
複合検出プリズム11内を通過させて第1および第2の光
検出器16,17 に導くことにより、光ディスク10に対する
情報の記録・再生を行う光学ヘッドにおいて、複合検出
プリズム11は、透過面から入射したレーザ光の一部を通
過させるとともに、入射したレーザ光の一部をその光軸
に対して直交方向に反射可能なハーフミラー面13と、こ
の反射光を前記光軸と平行方向に導くためのミラー面15
とを有し、光軸と平行に設けられた第2の透過面14上で
第2の多角柱22が接合されていることを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光媒体にレーザ光を照
射して情報を記録・再生する光学式情報記録再生装置に
組み込まれる光学ヘッド、またこの光学ヘッドに用いる
複合プリズム、複合検出器に関する。
射して情報を記録・再生する光学式情報記録再生装置に
組み込まれる光学ヘッド、またこの光学ヘッドに用いる
複合プリズム、複合検出器に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、光記録媒体の開発に伴い、その再
生装置や記録装置に用いられる光学ヘッドの開発が活発
に行われるようになってきた。そして、光学ヘッドを製
造する上で重要な光学部品の位置決めや調整方法,接着
方法などにも様々な工夫がなされている。特に装置の小
形化に対しての強い要求により、プリズム等の光学素子
の複合化が進んでいる。
生装置や記録装置に用いられる光学ヘッドの開発が活発
に行われるようになってきた。そして、光学ヘッドを製
造する上で重要な光学部品の位置決めや調整方法,接着
方法などにも様々な工夫がなされている。特に装置の小
形化に対しての強い要求により、プリズム等の光学素子
の複合化が進んでいる。
【0003】以下に、この種の光学ヘッドの従来例につ
いて説明する。図14は従来の光学ヘッドの構成図で、半
導体レーザ101 より照射されたレーザ光は複合プリズム
102 の第1の凸レンズ103 を通り、ハーフミラー面104
でレーザ光の一部は透過し第2の凸レンズ105 を通り、
フロントAPC(Automatic Power Control )用フォト
ディテクタ106 上に集光される。フロントAPC用フォ
トディテクタ106 の出力によりレーザダイオードの電流
を制御し、レーザ光の強度を一定に保つ働きをしてい
る。
いて説明する。図14は従来の光学ヘッドの構成図で、半
導体レーザ101 より照射されたレーザ光は複合プリズム
102 の第1の凸レンズ103 を通り、ハーフミラー面104
でレーザ光の一部は透過し第2の凸レンズ105 を通り、
フロントAPC(Automatic Power Control )用フォト
ディテクタ106 上に集光される。フロントAPC用フォ
トディテクタ106 の出力によりレーザダイオードの電流
を制御し、レーザ光の強度を一定に保つ働きをしてい
る。
【0004】一方、ハーフミラー面104 で反射したレー
ザ光は複合プリズム102 を出て、第3の凸レンズ107 を
通過する。第3の凸レンズ107 を通過することにより、
レーザ光は平行光になる。第3の凸レンズ107 を通過し
たレーザ光は、立ち上げミラー108 で直角に向きを変
え、対物レンズ109 を通って光ディスク110 上に照射さ
れ、情報を記録または再生するために焦点を結ぶ。
ザ光は複合プリズム102 を出て、第3の凸レンズ107 を
通過する。第3の凸レンズ107 を通過することにより、
レーザ光は平行光になる。第3の凸レンズ107 を通過し
たレーザ光は、立ち上げミラー108 で直角に向きを変
え、対物レンズ109 を通って光ディスク110 上に照射さ
れ、情報を記録または再生するために焦点を結ぶ。
【0005】光ディスク媒体110 面に照射されたレーザ
光は反射し逆に対物レンズ109 、立ち上げミラー108 を
通り、複合プリズム102 を通り、ビームスプリッタ111
に達する。ビームスプリッタ111 のハーフミラー面112
で一部のレーザ光は反射され、ビームスプリッタ111 に
入射されたレーザ光の光軸と直交する方向に射出され
る。そのレーザ光はミラー113 で再び反射され、ビーム
スプリッタ111 に入射されたレーザ光の光軸と平行にな
り、第1のフォトディテクタ114 の中の光検出部115 に
入射する。
光は反射し逆に対物レンズ109 、立ち上げミラー108 を
通り、複合プリズム102 を通り、ビームスプリッタ111
に達する。ビームスプリッタ111 のハーフミラー面112
で一部のレーザ光は反射され、ビームスプリッタ111 に
入射されたレーザ光の光軸と直交する方向に射出され
る。そのレーザ光はミラー113 で再び反射され、ビーム
スプリッタ111 に入射されたレーザ光の光軸と平行にな
り、第1のフォトディテクタ114 の中の光検出部115 に
入射する。
【0006】一方ハーフミラー面112 を透過したレーザ
光はそのままビームスプリッタ111に入射したレーザ光
の光軸と平行な光として、ビームスプリッタ111 を出
て、第2のフォトディテクタ116 の光検出部117 に入射
する。第1のフォトディテクタ114 の光検出部115 は焦
点位置より後側に配置され、第2のフォトディテクタ11
6 の光検出部117 は焦点位置より手前に配置されてい
る。
光はそのままビームスプリッタ111に入射したレーザ光
の光軸と平行な光として、ビームスプリッタ111 を出
て、第2のフォトディテクタ116 の光検出部117 に入射
する。第1のフォトディテクタ114 の光検出部115 は焦
点位置より後側に配置され、第2のフォトディテクタ11
6 の光検出部117 は焦点位置より手前に配置されてい
る。
【0007】それぞれの光検出部116,117 の焦点までの
距離はほぼ同じに設定されているため、各光検出部116,
117 上に照射されるビーム径は図15に示すように同じ大
きさになっている。
距離はほぼ同じに設定されているため、各光検出部116,
117 上に照射されるビーム径は図15に示すように同じ大
きさになっている。
【0008】このように構成された従来技術によれば、
対物レンズ109 がフォーカス方向に移動するとその移動
量に応じて一方の光検出部上のビーム径が大きくなり他
方の光検出部上のビーム径が小さくなる。光検出部は例
えば図15に示すようにそれぞれ3分割されているので、
次式のように信号出力を計算することにより、フォーカ
ス方向の対物レンズのズレ量にほぼ比例した信号が得ら
れる。
対物レンズ109 がフォーカス方向に移動するとその移動
量に応じて一方の光検出部上のビーム径が大きくなり他
方の光検出部上のビーム径が小さくなる。光検出部は例
えば図15に示すようにそれぞれ3分割されているので、
次式のように信号出力を計算することにより、フォーカ
ス方向の対物レンズのズレ量にほぼ比例した信号が得ら
れる。
【0009】
【数1】 {(A+C)−E}−{(D+F)−B} …(1) 式(1) により得られる信号を利用し、光ディスク媒体面
上にレーザ光の焦点が結ぶように対物レンズ109 の位置
制御を行うことができる。また、次式の信号出力を計算
することにより、光ディスク媒体面上にあるピット信号
を検出することができる。
上にレーザ光の焦点が結ぶように対物レンズ109 の位置
制御を行うことができる。また、次式の信号出力を計算
することにより、光ディスク媒体面上にあるピット信号
を検出することができる。
【0010】
【数2】 A+B+C+D+E+F …(2) 上述した従来の光学系の構成は、比較的大きなスペース
が許される場合に用いられたものであった。しかし、装
置の小形化に対する要求が高まり、図16に示すような構
成の光学系の構成も提案されている。すなわち、図14に
示したビームスプリッタ111 ,ミラー113 ,第1のフォ
トディテクタ114 ,第2のフォトディテクタ116 を一つ
の複合検出器118 にまとめて小形化を図ろうとするもの
である。
が許される場合に用いられたものであった。しかし、装
置の小形化に対する要求が高まり、図16に示すような構
成の光学系の構成も提案されている。すなわち、図14に
示したビームスプリッタ111 ,ミラー113 ,第1のフォ
トディテクタ114 ,第2のフォトディテクタ116 を一つ
の複合検出器118 にまとめて小形化を図ろうとするもの
である。
【0011】複合検出器118 は図17に示すように、複合
検出プリズム120 とフォトディテクタ121 とで構成され
ている。複合検出プリズム120 に達したレーザ光の一部
は、複合検出プリズム120 のハーフミラー119 面で反射
され、複合検出プリズム120に入射されたレーザ光の光
軸と直交する方向に導かれる。この反射光は複合検出プ
リズム120 のミラー面122 で再び反射される。ここで、
ミラー面122 とハーフミラー面119 とは平行な関係に配
置されているため、ミラー面122 で反射されたレーザ光
は複合検出プリズム120 に入射されたレーザ光の光軸と
平行になり、フォトディテクタ121 中の第1の光検出部
123 に入射する。
検出プリズム120 とフォトディテクタ121 とで構成され
ている。複合検出プリズム120 に達したレーザ光の一部
は、複合検出プリズム120 のハーフミラー119 面で反射
され、複合検出プリズム120に入射されたレーザ光の光
軸と直交する方向に導かれる。この反射光は複合検出プ
リズム120 のミラー面122 で再び反射される。ここで、
ミラー面122 とハーフミラー面119 とは平行な関係に配
置されているため、ミラー面122 で反射されたレーザ光
は複合検出プリズム120 に入射されたレーザ光の光軸と
平行になり、フォトディテクタ121 中の第1の光検出部
123 に入射する。
【0012】一方複合検出プリズム120 に達したレーザ
光の一部は、複合検出プリズム120のハーフミラー119
面を透過し、複合検出プリズム120 に入射したレーザ光
の光軸と平行な光としてフォトディタクタ121 中の第2
の光検出部124 に入射する。
光の一部は、複合検出プリズム120のハーフミラー119
面を透過し、複合検出プリズム120 に入射したレーザ光
の光軸と平行な光としてフォトディタクタ121 中の第2
の光検出部124 に入射する。
【0013】それぞれの光検出部123,124 に導かれるレ
ーザ光の光路差に応じ、第1の光検出部123 は焦点位置
より後側に配置され、第2の光検出部124 は焦点位置よ
り手前に配置されている。それぞれの光検出部123,124
の焦点までの距離はほぼ同じに設定されているため、各
光検出部123,124 上に照射されるビーム径は図18に示す
ように同じ大きさになっている。
ーザ光の光路差に応じ、第1の光検出部123 は焦点位置
より後側に配置され、第2の光検出部124 は焦点位置よ
り手前に配置されている。それぞれの光検出部123,124
の焦点までの距離はほぼ同じに設定されているため、各
光検出部123,124 上に照射されるビーム径は図18に示す
ように同じ大きさになっている。
【0014】このように構成された従来技術によれば、
図14に示した光検出装置と同様の動作を得ることができ
る。即ち、対物レンズ109 がフォーカス方向に移動する
とその移動量に応じて一方の光検出部上のビーム径が大
きくなり他方の光検出部上のビーム径が小さくなる。光
検出部は例えば図18に示すようにそれぞれ3分割されて
いるので、前述の式(1) のように信号出力を計算するこ
とにより、光ディスク媒体面上にレーザ光の焦点が結ぶ
ように対物レンズ109 の位置制御を行うことができ、ま
た式(2) のように信号出力を計算することにより、光デ
ィスク媒体面上にあるピット信号を検出することができ
る。
図14に示した光検出装置と同様の動作を得ることができ
る。即ち、対物レンズ109 がフォーカス方向に移動する
とその移動量に応じて一方の光検出部上のビーム径が大
きくなり他方の光検出部上のビーム径が小さくなる。光
検出部は例えば図18に示すようにそれぞれ3分割されて
いるので、前述の式(1) のように信号出力を計算するこ
とにより、光ディスク媒体面上にレーザ光の焦点が結ぶ
ように対物レンズ109 の位置制御を行うことができ、ま
た式(2) のように信号出力を計算することにより、光デ
ィスク媒体面上にあるピット信号を検出することができ
る。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の複合検出器には、以下に述べるような問題があ
った。即ち、ハーフミラー面119 およびミラー面122 で
反射して第1の光検出部123に到達するレーザ光と、ハ
ーフミラー面119 を透過して第2の光検出部124 に到達
するレーザ光とのピッチ(光路差)Lは、ハーフミラー
面119 とミラー面122のピッチ(間隔)Dで一意的に定
まる。このため、複合プリズム118 を図17中実線の位置
から破線の位置にずらしてもピッチLが変化することは
ない。
た従来の複合検出器には、以下に述べるような問題があ
った。即ち、ハーフミラー面119 およびミラー面122 で
反射して第1の光検出部123に到達するレーザ光と、ハ
ーフミラー面119 を透過して第2の光検出部124 に到達
するレーザ光とのピッチ(光路差)Lは、ハーフミラー
面119 とミラー面122のピッチ(間隔)Dで一意的に定
まる。このため、複合プリズム118 を図17中実線の位置
から破線の位置にずらしてもピッチLが変化することは
ない。
【0016】装置の小形化を図る場合には、第1および
第2の光検出部123,124 でのビーム径を50ミクロン程度
の大きさにする必要がある。そのため、ビームピッチの
調整には5ミクロン程度の精度が要求されることにな
る。
第2の光検出部123,124 でのビーム径を50ミクロン程度
の大きさにする必要がある。そのため、ビームピッチの
調整には5ミクロン程度の精度が要求されることにな
る。
【0017】受光側であるフォトディテクタ121 は、第
1の光検出部123 と第2の光検出部124 が同一基板上に
構成されてなるため、マスクパターンの精度でそのピッ
チは定まる。そのため、1ミクロン以内の精度が保証で
きる。
1の光検出部123 と第2の光検出部124 が同一基板上に
構成されてなるため、マスクパターンの精度でそのピッ
チは定まる。そのため、1ミクロン以内の精度が保証で
きる。
【0018】しかしながら、複合プリズム118 はその断
面が直角2等辺三角形の三角柱125とその断面が45度の
内角を有する平行四辺形の四角柱126 のプリズムを貼り
合わせて構成されている。そのため、ハーフミラー面11
9 とミラー面122 のピッチDは四角柱126 の製作精度で
一意的に定まる。四角柱126 の製作精度は研磨工程で得
られる精度としての50ミクロン程度が限界であり、必要
とされる5ミクロン程度の精度を満足することができな
かった。
面が直角2等辺三角形の三角柱125とその断面が45度の
内角を有する平行四辺形の四角柱126 のプリズムを貼り
合わせて構成されている。そのため、ハーフミラー面11
9 とミラー面122 のピッチDは四角柱126 の製作精度で
一意的に定まる。四角柱126 の製作精度は研磨工程で得
られる精度としての50ミクロン程度が限界であり、必要
とされる5ミクロン程度の精度を満足することができな
かった。
【0019】そこで本発明は、このような従来技術の有
する問題を解決し、ビームピッチの調整を5ミクロン程
度の精度で行うことが可能な複合プリズム、複合検出
器、及びそれを用いた光学ヘッドを提供することを目的
とする。
する問題を解決し、ビームピッチの調整を5ミクロン程
度の精度で行うことが可能な複合プリズム、複合検出
器、及びそれを用いた光学ヘッドを提供することを目的
とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに本発明は、レーザ光を入射可能な透過面と、前記透
過面から入射したレーザ光の一部を通過させるととも
に、入射したレーザ光の一部をその光軸に対して直交方
向に反射可能なハーフミラー面と、この反射光をさらに
反射させて前記光軸と平行方向に導く反射面と、を有し
た複合プリズムにおいて、前記ハーフミラー面と前記反
射面との間には、前記光軸と直交方向に伸びる第2の透
過面が配置され、少なくとも前記反射面と前記第2の透
過面とを備えたプリズムが前記第2の透過面にて接合さ
れてなることを特徴とする複合プリズムとした。
めに本発明は、レーザ光を入射可能な透過面と、前記透
過面から入射したレーザ光の一部を通過させるととも
に、入射したレーザ光の一部をその光軸に対して直交方
向に反射可能なハーフミラー面と、この反射光をさらに
反射させて前記光軸と平行方向に導く反射面と、を有し
た複合プリズムにおいて、前記ハーフミラー面と前記反
射面との間には、前記光軸と直交方向に伸びる第2の透
過面が配置され、少なくとも前記反射面と前記第2の透
過面とを備えたプリズムが前記第2の透過面にて接合さ
れてなることを特徴とする複合プリズムとした。
【0021】また、基板上に設けられた複数の光検出器
と、これら検出器上に固定された複合プリズムとを備
え、出射されたレーザ光を前記複合プリズム内を通過さ
せて前記複数の光検出器に導いてなる複合検出器におい
て、前記複合プリズムは、レーザ光を入射する透過面
と、前記透過面から入射したレーザ光の一部を通過させ
るとともに、入射したレーザ光の一部をその光軸に対し
て直交方向に反射可能なハーフミラー面と、この反射光
をさらに反射させて前記光軸と平行方向に導く反射面
と、を有するとともに、前記ハーフミラー面と前記反射
面との間には、前記光軸と直交方向に伸びる第2の透過
面が配置され、少なくとも前記反射面と前記第2の透過
面とを備えたプリズムが前記第2の透過面にて接合され
てなることを特徴とする複合検出器とした。
と、これら検出器上に固定された複合プリズムとを備
え、出射されたレーザ光を前記複合プリズム内を通過さ
せて前記複数の光検出器に導いてなる複合検出器におい
て、前記複合プリズムは、レーザ光を入射する透過面
と、前記透過面から入射したレーザ光の一部を通過させ
るとともに、入射したレーザ光の一部をその光軸に対し
て直交方向に反射可能なハーフミラー面と、この反射光
をさらに反射させて前記光軸と平行方向に導く反射面
と、を有するとともに、前記ハーフミラー面と前記反射
面との間には、前記光軸と直交方向に伸びる第2の透過
面が配置され、少なくとも前記反射面と前記第2の透過
面とを備えたプリズムが前記第2の透過面にて接合され
てなることを特徴とする複合検出器とした。
【0022】また、光源から出射されたレーザ光を対物
レンズを介して光媒体に照射し、その反射光を複合プリ
ズム内を通過させて複数の光検出器に導くことにより、
前記光媒体に対する情報の記録・再生を行う光学ヘッド
において、前記複合プリズムは、レーザ光を入射する透
過面と、前記透過面から入射したレーザ光の一部を通過
させるとともに、入射したレーザ光の一部をその光軸に
対して直交方向に反射可能なハーフミラー面と、この反
射光をさらに反射させて前記光軸と平行方向に導く反射
面と、を有するとともに、前記ハーフミラー面と前記反
射面との間には、前記光軸と直交方向に伸びる第2の透
過面が配置され、少なくとも前記反射面と前記第2の透
過面とを備えたプリズムが前記第2の透過面にて接合さ
れてなることを特徴とする光学ヘッドとした。
レンズを介して光媒体に照射し、その反射光を複合プリ
ズム内を通過させて複数の光検出器に導くことにより、
前記光媒体に対する情報の記録・再生を行う光学ヘッド
において、前記複合プリズムは、レーザ光を入射する透
過面と、前記透過面から入射したレーザ光の一部を通過
させるとともに、入射したレーザ光の一部をその光軸に
対して直交方向に反射可能なハーフミラー面と、この反
射光をさらに反射させて前記光軸と平行方向に導く反射
面と、を有するとともに、前記ハーフミラー面と前記反
射面との間には、前記光軸と直交方向に伸びる第2の透
過面が配置され、少なくとも前記反射面と前記第2の透
過面とを備えたプリズムが前記第2の透過面にて接合さ
れてなることを特徴とする光学ヘッドとした。
【0023】
【作用】上記のように構成された本発明によれば、ハー
フミラー面で通過するレーザ光と反射するレーザ光との
ビームピッチは、第2の透過面上で前記プリズムを移動
することで容易に調整することができる。しかも、光学
部品製作精度でなくの位置決め精度に応じたビームピッ
チの調節が可能になるため、必要とされる5ミクロン程
度の精度を満足することができる。
フミラー面で通過するレーザ光と反射するレーザ光との
ビームピッチは、第2の透過面上で前記プリズムを移動
することで容易に調整することができる。しかも、光学
部品製作精度でなくの位置決め精度に応じたビームピッ
チの調節が可能になるため、必要とされる5ミクロン程
度の精度を満足することができる。
【0024】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。図1は本発明に係る光学ヘッドの構成図で、
この光学ヘッドに用いられる複合検出プリズムの拡大断
面図が図2に示されている。
説明する。図1は本発明に係る光学ヘッドの構成図で、
この光学ヘッドに用いられる複合検出プリズムの拡大断
面図が図2に示されている。
【0025】半導体レーザ1より照射されたレーザ光は
第1の複合プリズム2の第1の凸レンズ3を通り、ハー
フミラー面4でレーザ光の一部は透過し第2の凸レンズ
5を通り、フロントAPC用フォトディテクタ6上に集
光される。フロントAPC用フォトディテクタ6の出力
によりレーザダイオードの電流を制御し、レーザ光の強
度を一定に保つ働きをしている。
第1の複合プリズム2の第1の凸レンズ3を通り、ハー
フミラー面4でレーザ光の一部は透過し第2の凸レンズ
5を通り、フロントAPC用フォトディテクタ6上に集
光される。フロントAPC用フォトディテクタ6の出力
によりレーザダイオードの電流を制御し、レーザ光の強
度を一定に保つ働きをしている。
【0026】一方、ハーフミラー面4で反射した光は第
1の複合プリズム2を出て、第3の凸レンズ7を通過す
る。第3の凸レンズ7を通過することにより、レーザ光
は平行光になる。第3の凸レンズ7を通過した光は、立
ち上げミラー8で直角に向きを変え、対物レンズ9を通
って光ディスク10上に照射され、情報を記録または再生
するために焦点を結ぶ。
1の複合プリズム2を出て、第3の凸レンズ7を通過す
る。第3の凸レンズ7を通過することにより、レーザ光
は平行光になる。第3の凸レンズ7を通過した光は、立
ち上げミラー8で直角に向きを変え、対物レンズ9を通
って光ディスク10上に照射され、情報を記録または再生
するために焦点を結ぶ。
【0027】光ディスク媒体10面に照射されたレーザ光
は反射し逆に対物レンズ9、立ち上げミラー8を通り、
第1の複合プリズム2を通り、複合検出プリズム11に達
する。
は反射し逆に対物レンズ9、立ち上げミラー8を通り、
第1の複合プリズム2を通り、複合検出プリズム11に達
する。
【0028】複合検出プリズム11に達したレーザ光は、
第1の透過面12より複合検出プリズム11中に入射する。
入射光の一部はハーフミラー面13で反射され、複合検出
プリズム11に入射されたレーザ光の光軸と直交する方向
に反射される。この反射光は複合検出プリズム11の第2
の透過面14を通過し、さらにミラー面15で反射される。
第1の透過面12より複合検出プリズム11中に入射する。
入射光の一部はハーフミラー面13で反射され、複合検出
プリズム11に入射されたレーザ光の光軸と直交する方向
に反射される。この反射光は複合検出プリズム11の第2
の透過面14を通過し、さらにミラー面15で反射される。
【0029】ここで、ミラー面15とハーフミラー面13と
は互いに平行となるように配置されている。ミラー面15
で反射したレーザ光は第3の透過面16を通り複合検出プ
リズム11を出て、ホルダ45に位置決めされたフォトディ
テクタ17中の第1の光検出部18に入射する。
は互いに平行となるように配置されている。ミラー面15
で反射したレーザ光は第3の透過面16を通り複合検出プ
リズム11を出て、ホルダ45に位置決めされたフォトディ
テクタ17中の第1の光検出部18に入射する。
【0030】一方、ハーフミラー面13を透過したレーザ
光はそのまま第4の透過面19を出て複合検出プリズム11
に入射したレーザ光の光軸と平行な光として、フォトデ
ィテクタ17中の第2の光検出部20に入射する。
光はそのまま第4の透過面19を出て複合検出プリズム11
に入射したレーザ光の光軸と平行な光として、フォトデ
ィテクタ17中の第2の光検出部20に入射する。
【0031】ここで、複合検出プリズム11は、第1の多
角柱21と、第2の多角柱22と、第3の多角柱23とから構
成されている。第1の多角柱21は第1の透過面12とハー
フミラー面13と第2の透過面14を側面とし、第2の多角
柱22は第2の透過面14とミラー面15と第3の透過面16を
側面とし、第3の多角柱23はハーフミラー面13と第4の
透過面19を側面としている。これら多角柱のうち、第1
の多角柱21と第3の多角柱23は同一形状をなし、第2の
多角柱22は他の多角柱21,23 と相似形状ながら、やや小
さな断面形状をなしている。
角柱21と、第2の多角柱22と、第3の多角柱23とから構
成されている。第1の多角柱21は第1の透過面12とハー
フミラー面13と第2の透過面14を側面とし、第2の多角
柱22は第2の透過面14とミラー面15と第3の透過面16を
側面とし、第3の多角柱23はハーフミラー面13と第4の
透過面19を側面としている。これら多角柱のうち、第1
の多角柱21と第3の多角柱23は同一形状をなし、第2の
多角柱22は他の多角柱21,23 と相似形状ながら、やや小
さな断面形状をなしている。
【0032】なお、ここでは第1の多角柱21と第3の多
角柱23からなる断面正方形の光学部品をプリズムユニッ
ト30と称することにする。第1の光検出部18は焦点位置
より後側に配置され、第2の光検出部20は焦点位置より
手前に配置されている。
角柱23からなる断面正方形の光学部品をプリズムユニッ
ト30と称することにする。第1の光検出部18は焦点位置
より後側に配置され、第2の光検出部20は焦点位置より
手前に配置されている。
【0033】それぞれの光検出部18,20 の焦点までの距
離はほぼ同じに設定されているため、各光検出部18,20
に照射されるビーム径は図3に示すように同じ大きさに
なっている。
離はほぼ同じに設定されているため、各光検出部18,20
に照射されるビーム径は図3に示すように同じ大きさに
なっている。
【0034】このように構成された本発明によれば、対
物レンズ9がフォーカス方向に移動するとその移動量に
応じて一方の光検出部上のビーム径が大きくなり他方の
光検出部上のビーム径が小さくなる。光検出部18,20 は
図3に示すようにそれぞれ3分割されているので、前述
の式(1) のように信号出力を計算することにより、光デ
ィスク媒体10面上にレーザ光の焦点が結ぶように対物レ
ンズ9の位置制御を行うことができ、また式(2) のよう
に信号出力を計算することにより、光ディスク媒体10面
上にあるピット信号を検出することができる。
物レンズ9がフォーカス方向に移動するとその移動量に
応じて一方の光検出部上のビーム径が大きくなり他方の
光検出部上のビーム径が小さくなる。光検出部18,20 は
図3に示すようにそれぞれ3分割されているので、前述
の式(1) のように信号出力を計算することにより、光デ
ィスク媒体10面上にレーザ光の焦点が結ぶように対物レ
ンズ9の位置制御を行うことができ、また式(2) のよう
に信号出力を計算することにより、光ディスク媒体10面
上にあるピット信号を検出することができる。
【0035】次に、このように構成された本発明による
レーザ光のピッチの調整方法を説明する。図4に示すよ
うに、プリズムユニット30に対して第2の多角柱22を、
第2の透過面14に沿ってdLだけ平行移動したとする。す
ると、ハーフミラー面13とミラー面15のピッチLをdLだ
け破線の位置まで移動させることができる。つまり、第
2の光検出部20に入射するレーザ光の照射位置を変化さ
せずに第1の光検出部18に入射するレーザ光の照射位置
をdLだけ移動することができる。
レーザ光のピッチの調整方法を説明する。図4に示すよ
うに、プリズムユニット30に対して第2の多角柱22を、
第2の透過面14に沿ってdLだけ平行移動したとする。す
ると、ハーフミラー面13とミラー面15のピッチLをdLだ
け破線の位置まで移動させることができる。つまり、第
2の光検出部20に入射するレーザ光の照射位置を変化さ
せずに第1の光検出部18に入射するレーザ光の照射位置
をdLだけ移動することができる。
【0036】また、第2の多角柱22をZ軸周りに回転移
動することにより、ハーフミラー面13を反射して第1の
光検出部18に出射される光ビームのY軸方向(XY面内
方向)の傾きを調整することができる。
動することにより、ハーフミラー面13を反射して第1の
光検出部18に出射される光ビームのY軸方向(XY面内
方向)の傾きを調整することができる。
【0037】ここで、第2の透過面14が入射光の光軸に
対して平行な関係にある場合、ミラー面15とハーフミラ
ー面13とのなす角度をθとすると、dXとdLの関係は次式
のように表される。
対して平行な関係にある場合、ミラー面15とハーフミラ
ー面13とのなす角度をθとすると、dXとdLの関係は次式
のように表される。
【0038】
【数3】 dL =dX・tan θ …(3) 式(3) からも明かなように、Z軸周りの回転移動による
Y軸方向の傾き調整と、X軸方向の平行移動によるピッ
チLの調整は独立事象であり、dXおよびdLの調整を容易
に行うことができる。
Y軸方向の傾き調整と、X軸方向の平行移動によるピッ
チLの調整は独立事象であり、dXおよびdLの調整を容易
に行うことができる。
【0039】このような調整方法が可能であることか
ら、従来はプリズムの研磨による製作精度がそのままビ
ームピッチの精度を決定していたものの、本発明によれ
ば、複合検出プリズムの移動(位置決め)によりビーム
ピッチの精度を決定することができる。本発明によれ
ば、位置決めをXYテーブルなどにより容易に実行する
ことができるため、5ミクロン程度の精度を実現するこ
とが可能となる。
ら、従来はプリズムの研磨による製作精度がそのままビ
ームピッチの精度を決定していたものの、本発明によれ
ば、複合検出プリズムの移動(位置決め)によりビーム
ピッチの精度を決定することができる。本発明によれ
ば、位置決めをXYテーブルなどにより容易に実行する
ことができるため、5ミクロン程度の精度を実現するこ
とが可能となる。
【0040】続いて、本発明に係る複合検出プリズム11
の製作方法について説明する。複合検出プリズム11の製
作方法としては、図5に示すように長尺に形成された複
合プリズムブロック50を適当な長さにカットして製作す
る方法と、予め所定の長さにカットされた第1の多角柱
21,第2の多角柱22,第3の多角柱23を接着してアッセ
ンブリする方法とがある。
の製作方法について説明する。複合検出プリズム11の製
作方法としては、図5に示すように長尺に形成された複
合プリズムブロック50を適当な長さにカットして製作す
る方法と、予め所定の長さにカットされた第1の多角柱
21,第2の多角柱22,第3の多角柱23を接着してアッセ
ンブリする方法とがある。
【0041】まず、図6乃至図9を参照して、複合プリ
ズムブロック50を所定の長さにカットして複合検出ブロ
ック11を製作する方法(第1の製作方法)を説明する。
最終製品における第1の多角柱21,第2の多角柱22,第
3の多角柱23に相当する素材を、図5に示すようにそれ
ぞれ第1の多角柱ブロック31,第2の多角柱ブロック3
2,第3の多角柱ブロック33とする。第1の多角柱ブロ
ック31と第3の多角柱ブロック33とはハーフミラー面13
を境に接着固定されており、プリズムブロック34を構成
している。プリズムブロック34と第2の多角柱ブロック
32とは第2の透過面14にて接着固定(例えば光硬化接着
剤等を用いて)され、複合プリズムブロック50が形成さ
れる。
ズムブロック50を所定の長さにカットして複合検出ブロ
ック11を製作する方法(第1の製作方法)を説明する。
最終製品における第1の多角柱21,第2の多角柱22,第
3の多角柱23に相当する素材を、図5に示すようにそれ
ぞれ第1の多角柱ブロック31,第2の多角柱ブロック3
2,第3の多角柱ブロック33とする。第1の多角柱ブロ
ック31と第3の多角柱ブロック33とはハーフミラー面13
を境に接着固定されており、プリズムブロック34を構成
している。プリズムブロック34と第2の多角柱ブロック
32とは第2の透過面14にて接着固定(例えば光硬化接着
剤等を用いて)され、複合プリズムブロック50が形成さ
れる。
【0042】なお、プリズムブロック34をカットしたも
のがプリズムユニット30であり、複合プリズムブロック
50をカットしたものが複合検出ブロック11である。プリ
ズムブロック34と第2の多角柱ブロック32との接合のた
めの治具は図6,図7に示されるものを使用している。
治具は第1のチャッキング治具37と第2のチャッキング
治具39とからなっている。
のがプリズムユニット30であり、複合プリズムブロック
50をカットしたものが複合検出ブロック11である。プリ
ズムブロック34と第2の多角柱ブロック32との接合のた
めの治具は図6,図7に示されるものを使用している。
治具は第1のチャッキング治具37と第2のチャッキング
治具39とからなっている。
【0043】まず、第1のチャッキング治具37の基準面
38に対してプリズムブロック34の第4の透過面19を押し
付け、例えばバキュームチャック等の手段により仮固定
する。一方、第2の多角柱ブロック32のミラー面15を第
2のチャッキング治具39の斜面に仮固定する。
38に対してプリズムブロック34の第4の透過面19を押し
付け、例えばバキュームチャック等の手段により仮固定
する。一方、第2の多角柱ブロック32のミラー面15を第
2のチャッキング治具39の斜面に仮固定する。
【0044】第1のチャッキング治具37は図7,図8に
示すように、ベースブロック41とガラス板42で構成され
ている。ベースブロック41には図示のような2個の穴部
43が設けられ、その穴部43を覆うようにプリズムブロッ
ク34およびガラス板42が配置される。そして穴部43の内
部を図示しないポンプによって減圧することにより、プ
リズムブロック34の第4の透過面19を基準面38に対して
仮固定可能となる。同様に第2のチャッキング治具39も
その長手方向両端部から穴部を減圧することにより、斜
面に対向配置されたミラー面15を介して第2の多角柱ブ
ロック32を仮固定可能となる。
示すように、ベースブロック41とガラス板42で構成され
ている。ベースブロック41には図示のような2個の穴部
43が設けられ、その穴部43を覆うようにプリズムブロッ
ク34およびガラス板42が配置される。そして穴部43の内
部を図示しないポンプによって減圧することにより、プ
リズムブロック34の第4の透過面19を基準面38に対して
仮固定可能となる。同様に第2のチャッキング治具39も
その長手方向両端部から穴部を減圧することにより、斜
面に対向配置されたミラー面15を介して第2の多角柱ブ
ロック32を仮固定可能となる。
【0045】プリズムブロック34と第2の多角柱ブロッ
ク32との接着調整の工程は、図8,図9に示す調整器具
により行われる。ここでは、プリズムブロック34の長手
方向に対して直交する関係に光軸が設けられるように、
かつプリズムブロック34の両端付近に光ビームが照射さ
れるように、第1の検出装置35および第2の検出装置36
が配置されている。
ク32との接着調整の工程は、図8,図9に示す調整器具
により行われる。ここでは、プリズムブロック34の長手
方向に対して直交する関係に光軸が設けられるように、
かつプリズムブロック34の両端付近に光ビームが照射さ
れるように、第1の検出装置35および第2の検出装置36
が配置されている。
【0046】第1および第2の検出装置35,36 は、半導
体レーザ24,コリメートレンズ25,収束レンズ26,およ
び調整用のフォトディテクタ27から構成されている。半
導体レーザ24から出射された光ビームはコリメートレン
ズ25を通り平行光になり、収束レンズ26を通って収束さ
れる。この収束光は調整用フォトディテクタ27内の光検
出部28,40 にそれぞれ照射され、図10に示すように光ビ
ームの照射状態がモニタされるようになっている。
体レーザ24,コリメートレンズ25,収束レンズ26,およ
び調整用のフォトディテクタ27から構成されている。半
導体レーザ24から出射された光ビームはコリメートレン
ズ25を通り平行光になり、収束レンズ26を通って収束さ
れる。この収束光は調整用フォトディテクタ27内の光検
出部28,40 にそれぞれ照射され、図10に示すように光ビ
ームの照射状態がモニタされるようになっている。
【0047】まず、プリズムブロック34と第2の多角柱
ブロック32が無い状態で、第1の検出装置35の光ビーム
が調整用フォトディテクタ27の第1の光検出部28の中央
にそのビームスポットを照射するように調整する。即
ち、図10に示すように、4分割された第1の光検出部28
の各セルA,B,C,Dの出力が等しくなるように調整
する。
ブロック32が無い状態で、第1の検出装置35の光ビーム
が調整用フォトディテクタ27の第1の光検出部28の中央
にそのビームスポットを照射するように調整する。即
ち、図10に示すように、4分割された第1の光検出部28
の各セルA,B,C,Dの出力が等しくなるように調整
する。
【0048】図6,図7に示した2個の穴部43および平
行ガラス板42の位置は、ちょうど第1および第2の検出
装置35,36 の半導体レーザ24から照射されるレーザ光が
通過する位置となっており、通過後の光ビームはそれぞ
れの第1の光検出部28に入射される。そして、平行ガラ
ス板42が固定されるベースブロック41の取り付け面が、
半導体レーザ24より照射される光ビームに対し垂直にな
るように予め調整しておくことにより、ベースブロック
41とフォトディテクタ17との接合面に相当する第4の透
過面19の角度が入射光に対して垂直な状態に設定するこ
とができ、フォトディテクタ17でのビームシフト量を保
証することができる。
行ガラス板42の位置は、ちょうど第1および第2の検出
装置35,36 の半導体レーザ24から照射されるレーザ光が
通過する位置となっており、通過後の光ビームはそれぞ
れの第1の光検出部28に入射される。そして、平行ガラ
ス板42が固定されるベースブロック41の取り付け面が、
半導体レーザ24より照射される光ビームに対し垂直にな
るように予め調整しておくことにより、ベースブロック
41とフォトディテクタ17との接合面に相当する第4の透
過面19の角度が入射光に対して垂直な状態に設定するこ
とができ、フォトディテクタ17でのビームシフト量を保
証することができる。
【0049】そして、第2の多角柱ブロック32とプリズ
ムブロック34とを、第2の透過面14にて図中Z向に押し
付けることにより位置決めし、複合プリズムブロック50
を仮形成する。
ムブロック34とを、第2の透過面14にて図中Z向に押し
付けることにより位置決めし、複合プリズムブロック50
を仮形成する。
【0050】複合プリズムブロック50を仮形成した状態
では、半導体レーザ24から出射された光ビームはハーフ
ミラー面13で一部反射され、さらにミラー面15で反射さ
れて第2の光検出部40付近でビームスポットを結ぶよう
になる。
では、半導体レーザ24から出射された光ビームはハーフ
ミラー面13で一部反射され、さらにミラー面15で反射さ
れて第2の光検出部40付近でビームスポットを結ぶよう
になる。
【0051】第2の光検出部40は図10に示すように、Z
方向に2分割されたセルE,Fを有している。そして、
第1の光検出部28と第2の光検出部40のZ方向のピッチ
(間隔)は、フォトディテクタ27の第1の光検出部18と
第2の光検出部20のピッチと等しく設定されている。
方向に2分割されたセルE,Fを有している。そして、
第1の光検出部28と第2の光検出部40のZ方向のピッチ
(間隔)は、フォトディテクタ27の第1の光検出部18と
第2の光検出部20のピッチと等しく設定されている。
【0052】なお、この方法では1つのフォトディテク
タ27内に2つの光検出部28,40 が形成されている例を示
しているが、異なるフォトディテクタにそれぞれ光検出
部を設けてそのピッチを例えばXYテーブルにて調整し
てもよい。
タ27内に2つの光検出部28,40 が形成されている例を示
しているが、異なるフォトディテクタにそれぞれ光検出
部を設けてそのピッチを例えばXYテーブルにて調整し
てもよい。
【0053】第2のチャッキング治具39は図6中X方向
への平行移動とZ軸周りの回転移動が可能に構成されて
いる。つまり、プリズムブロック34と第2の多角柱ブロ
ック32とを位置決めする際に生ずる、第2の透過面14上
でのすべりに起因する位置決め誤差を、ちょうど第2の
チャッキング治具39の自由度で吸収することができるよ
うに構成されている。
への平行移動とZ軸周りの回転移動が可能に構成されて
いる。つまり、プリズムブロック34と第2の多角柱ブロ
ック32とを位置決めする際に生ずる、第2の透過面14上
でのすべりに起因する位置決め誤差を、ちょうど第2の
チャッキング治具39の自由度で吸収することができるよ
うに構成されている。
【0054】そして、第2のチャッキング治具39のX方
向への平行移動とZ軸周りの回転移動を調整することに
より、第1の検出装置35と第2の検出装置36における光
検出部28,40 の出力が等しくなるように調整することが
できる。
向への平行移動とZ軸周りの回転移動を調整することに
より、第1の検出装置35と第2の検出装置36における光
検出部28,40 の出力が等しくなるように調整することが
できる。
【0055】これにより、複合プリズムブロック50のあ
らゆる位置において、ハーフミラー面13とミラー面15の
ピッチLと、第1および第2の検出装置35,36 の第1お
よび第2の光検出部28,40 のピッチに等しくすることが
できる。結果として、フォトディテクタ17の第1の光検
出部18と第2の光検出部20のピッチに等しくすることが
できる。
らゆる位置において、ハーフミラー面13とミラー面15の
ピッチLと、第1および第2の検出装置35,36 の第1お
よび第2の光検出部28,40 のピッチに等しくすることが
できる。結果として、フォトディテクタ17の第1の光検
出部18と第2の光検出部20のピッチに等しくすることが
できる。
【0056】そして、このように位置決めされた状態で
プリズムブロック34と第2の多角柱ブロック32とを例え
ば光(紫外線)硬化性接着剤等により接着して固定する
ことにより、複合プリズムブロック50が形成され完成す
る。
プリズムブロック34と第2の多角柱ブロック32とを例え
ば光(紫外線)硬化性接着剤等により接着して固定する
ことにより、複合プリズムブロック50が形成され完成す
る。
【0057】また、基準面38に対向配置されていたプリ
ズムブロック34の第4の透過面19をフォトディテクタ17
との接合面とし、フォトディテクタ17の複合検出プリズ
ム11との接合面44をフォトディテクタ17を保持するホル
ダ45との接合面とすることにより、実装される光学ヘッ
ドにおける光軸と第4の透過面19との直交性が保証で
き、結果として図2に示すように、第1の光検出部18と
第2の光検出部20に入射する光ビームのピッチずれを少
なくすることが可能になる。
ズムブロック34の第4の透過面19をフォトディテクタ17
との接合面とし、フォトディテクタ17の複合検出プリズ
ム11との接合面44をフォトディテクタ17を保持するホル
ダ45との接合面とすることにより、実装される光学ヘッ
ドにおける光軸と第4の透過面19との直交性が保証で
き、結果として図2に示すように、第1の光検出部18と
第2の光検出部20に入射する光ビームのピッチずれを少
なくすることが可能になる。
【0058】次に、予め所定の長さにカットされた第1
の多角柱21,第2の多角柱22,第3の多角柱23を接着し
てアッセンブリする方法(第2の製作方法)を説明す
る。この場合には図11に示すように、一組の検出装置47
を用いる。検出装置47の構成は、基本的には図9に示し
た検出装置35,36 と同一である。しかしながら、検出装
置35,36 と検出装置47とは、図11に示されたように光検
出部40が4分割されている点で相違する。そして、接着
調整時には第2のチャッキング治具39のX方向の調整と
Z軸周りの調整を行い、次の2つの式が同時に成立する
ように調整を行う。
の多角柱21,第2の多角柱22,第3の多角柱23を接着し
てアッセンブリする方法(第2の製作方法)を説明す
る。この場合には図11に示すように、一組の検出装置47
を用いる。検出装置47の構成は、基本的には図9に示し
た検出装置35,36 と同一である。しかしながら、検出装
置35,36 と検出装置47とは、図11に示されたように光検
出部40が4分割されている点で相違する。そして、接着
調整時には第2のチャッキング治具39のX方向の調整と
Z軸周りの調整を行い、次の2つの式が同時に成立する
ように調整を行う。
【0059】
【数4】 (G+H)=(E+F) and (G+E)=(H+F) …(4) ここで、第2の透過面14を複合検出プリズム11に入射す
る光ビームの光軸と平行にすることにより、X方向の調
整はほぼ(G+H)と(E+F)のバランスにのみ影響
を与え、Z軸周りの調整は(G+E)と(H+F)のバ
ランスにのみ影響を与えるようにすることができる。そ
のため、本製作方法は極めて有用な方法であると言うこ
とができる。
る光ビームの光軸と平行にすることにより、X方向の調
整はほぼ(G+H)と(E+F)のバランスにのみ影響
を与え、Z軸周りの調整は(G+E)と(H+F)のバ
ランスにのみ影響を与えるようにすることができる。そ
のため、本製作方法は極めて有用な方法であると言うこ
とができる。
【0060】次に、複合検出プリズム11とフォトディテ
クタ17との接着調整工程を説明する。上述した2つの製
作方法により、複合検出プリズム11の製作時にビームピ
ッチ(光路差)Lはすでに保証されている。しかしなが
ら、ハーフミラー面13で反射し、第2の透過面14を通過
し、ミラー面15で反射して第3の透過面16より出射され
る光ビームは、ハーフミラー13を透過して第4の透過面
19より出射される光ビームに対して円弧状の関係とな
る。すなわち、図13に示すように、第2の光検出部20に
入射する光に対して第1の光検出部18に照射されるべき
光ビームは、図中一点鎖線で示すように半径L(=ビー
ムピッチ)の円弧上に位置することになる。
クタ17との接着調整工程を説明する。上述した2つの製
作方法により、複合検出プリズム11の製作時にビームピ
ッチ(光路差)Lはすでに保証されている。しかしなが
ら、ハーフミラー面13で反射し、第2の透過面14を通過
し、ミラー面15で反射して第3の透過面16より出射され
る光ビームは、ハーフミラー13を透過して第4の透過面
19より出射される光ビームに対して円弧状の関係とな
る。すなわち、図13に示すように、第2の光検出部20に
入射する光に対して第1の光検出部18に照射されるべき
光ビームは、図中一点鎖線で示すように半径L(=ビー
ムピッチ)の円弧上に位置することになる。
【0061】円弧上での光ビーム位置は、フォトディテ
クタ17に対する複合検出プリズム11のX軸周りの相対回
転角度により一意的に定まる。そのため、図示しない治
具を用いて予め所定の角度で接着固定しておけば、光ヘ
ッドへの組み込み時にはハーフミラー面13を透過する光
ビームを第2の光検出部20の中心に設定することによ
り、ハーフミラー面13を反射した光ビームが自動的に第
1の光検出部18の中心に位置決めされる。なお、この場
合には複合検出プリズム11とフォトディテクタ17のY,
Z平面内における厳密な位置精度は要求されない。
クタ17に対する複合検出プリズム11のX軸周りの相対回
転角度により一意的に定まる。そのため、図示しない治
具を用いて予め所定の角度で接着固定しておけば、光ヘ
ッドへの組み込み時にはハーフミラー面13を透過する光
ビームを第2の光検出部20の中心に設定することによ
り、ハーフミラー面13を反射した光ビームが自動的に第
1の光検出部18の中心に位置決めされる。なお、この場
合には複合検出プリズム11とフォトディテクタ17のY,
Z平面内における厳密な位置精度は要求されない。
【0062】また本実施例では、前述のように、第2の
多角柱22は第1の多角柱21と第3の多角柱23と相似形状
ながら、やや小さな断面形状をなしている。そのため図
2に示されるように、第4の透過面19が第3の透過面16
より常にフォトディテクタ17側に突出した位置に設定さ
れている。このように第1の多角柱21と第2の多角柱22
と第3の多角柱23の寸法を調整マージンを含め定めてあ
るため、第4の透過面19とフォトディテクタ17の接合面
44との接合時の傾き発生を防ぐことができる。
多角柱22は第1の多角柱21と第3の多角柱23と相似形状
ながら、やや小さな断面形状をなしている。そのため図
2に示されるように、第4の透過面19が第3の透過面16
より常にフォトディテクタ17側に突出した位置に設定さ
れている。このように第1の多角柱21と第2の多角柱22
と第3の多角柱23の寸法を調整マージンを含め定めてあ
るため、第4の透過面19とフォトディテクタ17の接合面
44との接合時の傾き発生を防ぐことができる。
【0063】さらに、上述した第3の透過面16と第4の
透過面19との段差を0.1mm 以上に設定すれば、接着時に
おける接着剤のはみ出しによって第3の透過面16より出
射される光ビームの品質の劣化を防止することができ
る。
透過面19との段差を0.1mm 以上に設定すれば、接着時に
おける接着剤のはみ出しによって第3の透過面16より出
射される光ビームの品質の劣化を防止することができ
る。
【0064】そして、このような接着調整方法によって
第1の光検出部18に入射するビームの位置を調整するこ
とにより、第1の光検出部18に入射するレーザ光のビー
ムピッチを第2の光検出部20に入射するレーザ光のビー
ムピッチに対して、例えば5ミクロン程度の精度で一致
させることができる。なお、本発明はその主旨を逸脱し
ない範囲で種々変形して実施することができることは言
うまでもない。
第1の光検出部18に入射するビームの位置を調整するこ
とにより、第1の光検出部18に入射するレーザ光のビー
ムピッチを第2の光検出部20に入射するレーザ光のビー
ムピッチに対して、例えば5ミクロン程度の精度で一致
させることができる。なお、本発明はその主旨を逸脱し
ない範囲で種々変形して実施することができることは言
うまでもない。
【0065】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ハ
ーフミラー面で通過するレーザ光と反射するレーザ光と
のビームピッチは、光軸に対して直交方向に複合プリズ
ムを移動することで容易に調整することができる。しか
も、光学部品製作精度でなくの位置決め精度に応じたビ
ームピッチの調節が可能になるため、必要とされる5ミ
クロン程度の精度を満足することができる。
ーフミラー面で通過するレーザ光と反射するレーザ光と
のビームピッチは、光軸に対して直交方向に複合プリズ
ムを移動することで容易に調整することができる。しか
も、光学部品製作精度でなくの位置決め精度に応じたビ
ームピッチの調節が可能になるため、必要とされる5ミ
クロン程度の精度を満足することができる。
【図1】本発明に係る光学ヘッドを示す構成図。
【図2】本発明の光学ヘッドに用いられる複合検出プリ
ズムの拡大断面図。
ズムの拡大断面図。
【図3】光検出部に照射される光ビームの状態を示す
図。
図。
【図4】複合検出プリズムの具体的な調整方法を説明す
るための図。
るための図。
【図5】複合検出プリズムを構成する複合プリズムブロ
ックを示す斜視図。
ックを示す斜視図。
【図6】第1および第2のチャッキング治具を示す断面
図。
図。
【図7】第1および第2のチャッキング治具を示す分解
斜視図。
斜視図。
【図8】複合検出プリズムとフォトディテクタとの位置
決め固定方法(第1の製作方法)を示す側面図。
決め固定方法(第1の製作方法)を示す側面図。
【図9】複合検出プリズムとフォトディテクタとの位置
決め固定方法(第1の製作方法)を示す平面図。
決め固定方法(第1の製作方法)を示す平面図。
【図10】光検出部に照射される光ビームの状態を示す
図。
図。
【図11】複合検出プリズムとフォトディテクタとの位置
決め固定方法(第2の製作方法)を示す平面図。
決め固定方法(第2の製作方法)を示す平面図。
【図12】光検出部に照射される光ビームの状態を示す
図。
図。
【図13】光検出部に照射される光ビームの調整方法を示
す図。
す図。
【図14】従来の光学ヘッドを示す構成図。
【図15】光検出部に照射される光ビームの状態を示す
図。
図。
【図16】従来の別の光学ヘッドを示す構成図。
【図17】従来の複合検出プリズムの拡大断面図。
【図18】光検出部に照射される光ビームの状態を示す
図。
図。
1…半導体レーザ(光源) 9…対物レンズ 10…光ディスク(光媒体) 11…複合検出プリズム 12…ハーフミラー面 13,14 …反射面 15…フォトディテクタ 16,17 …光検出部(光検出器)
Claims (3)
- 【請求項1】レーザ光を入射可能な透過面と、 前記透過面から入射したレーザ光の一部を通過させると
ともに、入射したレーザ光の一部をその光軸に対して直
交方向に反射可能なハーフミラー面と、 この反射光をさらに反射させて前記光軸と平行方向に導
く反射面と、 を有した複合プリズムにおいて、 前記ハーフミラー面と前記反射面との間には、前記光軸
と直交方向に伸びる第2の透過面が配置され、少なくと
も前記反射面と前記第2の透過面とを備えたプリズムが
前記第2の透過面にて接合されてなることを特徴とする
複合プリズム。 - 【請求項2】基板上に設けられた複数の光検出器と、こ
れら検出器上に固定された複合プリズムとを備え、出射
されたレーザ光を前記複合プリズム内を通過させて前記
複数の光検出器に導いてなる複合検出器において、 前記複合プリズムは、レーザ光を入射する透過面と、 前記透過面から入射したレーザ光の一部を通過させると
ともに、入射したレーザ光の一部をその光軸に対して直
交方向に反射可能なハーフミラー面と、 この反射光をさらに反射させて前記光軸と平行方向に導
く反射面と、を有するとともに、 前記ハーフミラー面と前記反射面との間には、前記光軸
と直交方向に伸びる第2の透過面が配置され、少なくと
も前記反射面と前記第2の透過面とを備えたプリズムが
前記第2の透過面にて接合されてなることを特徴とする
複合検出器。 - 【請求項3】光源から出射されたレーザ光を対物レンズ
を介して光媒体に照射し、その反射光を複合プリズム内
を通過させて複数の光検出器に導くことにより、前記光
媒体に対する情報の記録・再生を行う光学ヘッドにおい
て、 前記複合プリズムは、レーザ光を入射する透過面と、 前記透過面から入射したレーザ光の一部を通過させると
ともに、入射したレーザ光の一部をその光軸に対して直
交方向に反射可能なハーフミラー面と、 この反射光をさらに反射させて前記光軸と平行方向に導
く反射面と、を有するとともに、 前記ハーフミラー面と前記反射面との間には、前記光軸
と直交方向に伸びる第2の透過面が配置され、少なくと
も前記反射面と前記第2の透過面とを備えたプリズムが
前記第2の透過面にて接合されてなることを特徴とする
光学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5239435A JPH0793796A (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 複合プリズム、複合検出器、及びそれを用いた光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5239435A JPH0793796A (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 複合プリズム、複合検出器、及びそれを用いた光学ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0793796A true JPH0793796A (ja) | 1995-04-07 |
Family
ID=17044737
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5239435A Pending JPH0793796A (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 複合プリズム、複合検出器、及びそれを用いた光学ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0793796A (ja) |
-
1993
- 1993-09-27 JP JP5239435A patent/JPH0793796A/ja active Pending
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