JPS61203517A - 開閉装置診断方法 - Google Patents

開閉装置診断方法

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JPS61203517A
JPS61203517A JP4282385A JP4282385A JPS61203517A JP S61203517 A JPS61203517 A JP S61203517A JP 4282385 A JP4282385 A JP 4282385A JP 4282385 A JP4282385 A JP 4282385A JP S61203517 A JPS61203517 A JP S61203517A
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JP
Japan
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switchgear
trip
time
value
opening
Prior art date
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JP4282385A
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JPH03729B2 (ja
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佐野 和汪
瀬尾 一夫
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、開閉装置における開閉機構とその寿命を診断
する友めの開閉装置診断方法に係り、特に開閉装置とし
てのしゃ断器を一般的に高精度に診断するtめの開閉装
置診断方法に関するものである。
〔発明の背景〕
電力系統に適用されている開閉装置は第3図に300°
kVl、や断器の最大操作間隔をその例として示すよう
に、その開閉頻度は一般に極めて小さなものとなってい
る。し九がって、その動作前に開閉装置の異常を予知す
ることは極めて困難となっているのが実状でおる。とこ
ろで、開閉装置の開閉機能はその開閉時間特性および主
回路接触部分が正常であれば、一応開閉機能が正常であ
ると推定し得、このような方法でその異常が予知可能と
なっている。このような方法に係るものとして、例えば
「電気計算J(1983年9月号p65〜66)には以
下のようなものが示されている。
即ち、第4図に二点切ガスしゃ断器1を示すが、これに
は光弐ストローク測定装置2が設けられるようになって
いる。二接点油圧駆動のバッファしゃ断器では油圧操作
シリンダ3を上下動させることによって、絶縁操作棒4
を介し消弧室5が駆動されるようになっているものであ
る。光ストローク測定装置2は油圧操作シリンダ3と絶
縁操作棒4との連結部分に取付されるが、その測定原理
は第5図に示すようである。図示の如く可動接′触子の
各イベントに相当する位置に穴が穿すれているシャツタ
ブノートロを連絡棒と同じ動きになるように取付し、赤
外線投射器7からの光はその穴を介して受光センサ8で
受信され、電気信号に変換され良うえ計測されるものと
なっている。なお、符号9.10は増幅器、安定化直流
電源をそれぞれ示す。
この場合、可動接触子のイベントは例えば以下のように
設定される。
、St:4b作開始点 S2 :接点の開極位置 Ss :定常速度検出用 S4 :緩衝検出用 Ss :動作終了点 第6図はストロークと5L−8sが如何に対応するかを
みたオシログラフの例を示し友ものである。このストロ
ークより開極時間のバラツキを求めることによって、し
ゃ断器の良否が判定されるようになっているものである
。この他シャツタープv−トの代わりに可動部分にバー
コードを張り付け、光ファイバを介し投・受光を検出し
てしゃ断器のストロークを監視するものが知られている
(虎口他;昭和55年電気学会全国大会、A939)。
しかしながら、これら方法による場合はストローク計測
の九めに発光、受光部などがしゃ断器内部に設けられる
必要がめるばかりか、しゃ断器によってはストロークピ
ッチが異なっていることから、全てのしゃ断器に標準的
に適用するには問題が多く、既設しゃ断器への適用も困
難となっている。ま友、寿命の診断が行なわれていない
ものとなっている。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、開閉装置一般に容易に適用可とされ、
しかも精度良好にして開閉装置の開閉機構とその寿命を
診断し得る開閉装置診断方法を供するにある。
〔発明の概要〕
この目的の定め本発明は、トリップの度にトリップ時に
おける主回路電流のピーク値および開極時間を求め几う
えこれらを乗算し几うえそれまでに得られている累積加
算値に加算し、新たに得られ九累積加算値が一定以上で
あるか否かを似て開閉装置の寿命を判定するようにした
ものである。
開極時間からは開閉機能がチェックされ得るものである
〔発明の実施例〕
以下、本発明を第1図、第2図により説明する。
先ず本発明に係る開閉装置診断回路について説明すれば
、第1図はその一例での構成を示したものである。
保護IJ V−等(図示せず)からトリップ指令が与え
られると、図示の如くトリップコイル52Tにはトリッ
プ時トリップ電流10が流されるが、このトリップ電流
10は空隙付鉄心11、パレットスイッチ52aを介し
流れるようになっている。
し九がって、空隙付鉄心11における空隙部にホール素
子の如き磁界上/す12を設ける場合は、トリップ指令
10の存在が検出され得るものである。この場合パレッ
トスイッチ52aは開極されるまでの間閉じられている
ことから、結局パレットスイッチ52aを介しトリップ
電流10が流れている開磁界センサ12からはその旨の
出力が得られ、その出力は増幅器13を介し方形波変換
回路14によって方形波に変換されるものとなっている
。この方形波が得られている間クロック信号CLKがア
ンドゲート15を介しカウンタ16でカウントされるよ
うになっているものである。即ち、トリップ電流10が
流れ始めてから主回路接点が開極し、この接点に機械的
に連動しているパレットスイッチ52aが開かれるまで
の開極時間がカウンタ16で計測されるもので69、こ
の開極時間は後にバッファレジスタ17に転送されるよ
うになっている。
一方、その相の変流器(CT)出力情報は補助CT18
、ローパスフィルタ19を介しサンプルホールド回路2
0で所定周期でサンプリングされたうえA/D変換器2
1でディジタル量に変換され友後、順次バッファレジス
タ22に転送されるようになっている。バッファレジス
タ22に順次転送される相電流データは、例えばマイク
ロコンピユータ内においてCPU23による制御下にR
AM24内の所定エリアに常に最新のものが一定量格納
されるように格納されるが、バッファレジスタ17への
データもその後割込信号によってRAM24の所定エリ
アに格納されるものとなっている。しかして、ROM2
5内に格納されている診断プログラムにもとづき第2図
に示す如くCPU23はR,AM24に格納されている
相電流データよりトリップ時でのその相電流のピーク値
工、を例えば公知の積演算手法により算出したうえ開極
時間T、、と乗算し、この乗算結果をそれまでに得られ
ている累積加算値に加算しt後、新九に得られ友累積加
算値を許容値(設定値)と比較し、許容値以上でおる場
合にはその旨を警報するところとなるものである。これ
によりしゃ断器の寿命が診断可能となるものである。ま
九、開極時間TIPを監視することによっては従来方法
よりも精度良好にして開極時間の設定値からのずれを検
出し得、開閉機能の不具合兆候も、′、併せて知れるこ
とになる。なお、以上の例では相電流のピーり値工、と
開極時間T、、とが乗算されるようになっているが、ピ
ーク値工、の2乗と開極時間Toyとを乗算するように
してもよい。ま念、第1図中の符号52Cは投入用リレ
ーコイルを示す。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明てよる場合は、精度良好にし
て開閉装置一般における開閉機能とその寿命を診断し得
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る開閉装置診断回路の一例での構
成を示す図、第2図は、本発明に係る診断処理のフロー
を示す図、第3図は、しゃ断器の開閉頻度が極めて小さ
いことを説明するためのしゃ断器最大操作間隔を示す図
、第4図、第5図。 第6図は、これまでの診断方法を説明するための図でお
る。 11・・・空隙付鉄心、12・・・磁界センサ、13・
・・増幅回路、14・・・方形波変換回路、15・・・
アンドゲート、16・・・カウンタ、17.22・・・
バッファレジスタ、18・・・補助CT、20・・・サ
ンプルホールド回路、21・・・A/D変換器、23・
・・CPU。 52T・・・トリップコイル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、開閉装置がトリップされる度にトリップ時での主回
    路電流のピーク値とトリップ電流が流れ始めてから主回
    路接点が開極されるまでの開極時間とを求め、該時間は
    設定値との間のずれが監視される一方、主回路電流のピ
    ーク値と乗算されたうえ既に得られている累積加算値に
    加算された後一定値と比較されることを特徴とする開閉
    装置診断方法。
JP4282385A 1985-03-06 1985-03-06 開閉装置診断方法 Granted JPS61203517A (ja)

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JP4282385A JPS61203517A (ja) 1985-03-06 1985-03-06 開閉装置診断方法

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JP4282385A JPS61203517A (ja) 1985-03-06 1985-03-06 開閉装置診断方法

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Publication Number Publication Date
JPS61203517A true JPS61203517A (ja) 1986-09-09
JPH03729B2 JPH03729B2 (ja) 1991-01-08

Family

ID=12646671

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JP (1) JPS61203517A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7782172B2 (en) 2005-09-07 2010-08-24 Rohm Co., Ltd. Variable chip resistor
JP2013065556A (ja) * 2011-09-19 2013-04-11 General Electric Co <Ge> コンポーネントを監視するための方法、装置及びシステム
US10224165B2 (en) 2014-09-02 2019-03-05 Mitsubishi Electric Corporation Circuit breaker characteristic monitoring device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7782172B2 (en) 2005-09-07 2010-08-24 Rohm Co., Ltd. Variable chip resistor
JP2013065556A (ja) * 2011-09-19 2013-04-11 General Electric Co <Ge> コンポーネントを監視するための方法、装置及びシステム
US10224165B2 (en) 2014-09-02 2019-03-05 Mitsubishi Electric Corporation Circuit breaker characteristic monitoring device

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JPH03729B2 (ja) 1991-01-08

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