JPH03729B2 - - Google Patents
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- JPH03729B2 JPH03729B2 JP4282385A JP4282385A JPH03729B2 JP H03729 B2 JPH03729 B2 JP H03729B2 JP 4282385 A JP4282385 A JP 4282385A JP 4282385 A JP4282385 A JP 4282385A JP H03729 B2 JPH03729 B2 JP H03729B2
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- JP
- Japan
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- switchgear
- value
- time
- main circuit
- opening
- Prior art date
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- Expired
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
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- Keying Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、開閉装置における開閉機構とその寿
命を診断するための開閉装置診断方法に係り、特
に開閉装置としてのしや断器を一般的に高精度に
診断するための開閉装置診断方法に関するもので
ある。
命を診断するための開閉装置診断方法に係り、特
に開閉装置としてのしや断器を一般的に高精度に
診断するための開閉装置診断方法に関するもので
ある。
電力系統に適用されている開閉装置は第3図に
300kVしや断器の最大操作間隔をその例として示
すように、その開閉頻度は一般に極めて小さなも
のとなつている。したがつて、その動作前に開閉
装置の異常を予知することは極めて困難となつて
いるのが実状である。ところで、開閉装置の開閉
機能はその開閉時間特性および主回路接触部分が
正常であれば、一応開閉機能が正常であると推定
し得、このような方法でその異常が予知可能とな
つている。このような方法に係るものとして、例
えば「電気計算」(1983年9月号p65〜66)には
以下のようなものが示されている。
300kVしや断器の最大操作間隔をその例として示
すように、その開閉頻度は一般に極めて小さなも
のとなつている。したがつて、その動作前に開閉
装置の異常を予知することは極めて困難となつて
いるのが実状である。ところで、開閉装置の開閉
機能はその開閉時間特性および主回路接触部分が
正常であれば、一応開閉機能が正常であると推定
し得、このような方法でその異常が予知可能とな
つている。このような方法に係るものとして、例
えば「電気計算」(1983年9月号p65〜66)には
以下のようなものが示されている。
即ち、第4図に二点切ガスしや断器1を示す
が、これには光式ストローク測定装置2が設けら
れるようになつている。二接点油圧駆動のパツフ
アしや断器では油圧操作シリンダ3を上下動させ
ることによつて、絶縁操作棒4を介し消弧室5が
駆動されるようになつているものである。光式ス
トローク測定装置2は油圧操作シリンダ3と絶縁
操作棒4との連結部分に取付されるが、その測定
原理は第5図に示すようである。図示の如く可動
接触子の各イベントに相当する位置に穴が穿たれ
ているシヤツタプレート6を連結棒と同じ動きに
なるように取付し、赤外線投射器7からの光はそ
の穴を介して受光センサ8で受信され、電気信号
に変換されたうえ計測されるものとなつている。
なお、符号9,10は増幅器、安定化直流電源を
それぞれ示す。
が、これには光式ストローク測定装置2が設けら
れるようになつている。二接点油圧駆動のパツフ
アしや断器では油圧操作シリンダ3を上下動させ
ることによつて、絶縁操作棒4を介し消弧室5が
駆動されるようになつているものである。光式ス
トローク測定装置2は油圧操作シリンダ3と絶縁
操作棒4との連結部分に取付されるが、その測定
原理は第5図に示すようである。図示の如く可動
接触子の各イベントに相当する位置に穴が穿たれ
ているシヤツタプレート6を連結棒と同じ動きに
なるように取付し、赤外線投射器7からの光はそ
の穴を介して受光センサ8で受信され、電気信号
に変換されたうえ計測されるものとなつている。
なお、符号9,10は増幅器、安定化直流電源を
それぞれ示す。
この場合、可動接触子のイベントは例えば以下
のように設定される。
のように設定される。
S1:動作開始点
S2:接点の開極位置
S3:定常速度検出用
S4:緩衝検出用
S5:動作終了点
第6図はストロークとS1〜S5が如何に対応する
かをみたオシログラフの例を示したものである。
このストロークより開極時間のバラツキを求める
ことによつて、しや断器の良否が判定されるよう
になつているものである。この他シヤツタープレ
ートの代わりに可動部分にバーコードを張り付
け、光フアイバを介し投・受光を検出してしや断
器のストロークを監視するものが知られている
(虎口他;昭和55年電気学会全国大会、No.939)。
かをみたオシログラフの例を示したものである。
このストロークより開極時間のバラツキを求める
ことによつて、しや断器の良否が判定されるよう
になつているものである。この他シヤツタープレ
ートの代わりに可動部分にバーコードを張り付
け、光フアイバを介し投・受光を検出してしや断
器のストロークを監視するものが知られている
(虎口他;昭和55年電気学会全国大会、No.939)。
しかしながら、これら方法による場合はストロ
ーク計測のために発光、受光部などがしや断器内
部に設けられる必要があるばかりか、しや断器に
よつてはストロークピツチが異なつていることか
ら、全てのしや断器に標準的に適用するには問題
が多く、既設しや断器への適用も困難となつてい
る。また、寿命の診断が行なわれていないものと
なつている。
ーク計測のために発光、受光部などがしや断器内
部に設けられる必要があるばかりか、しや断器に
よつてはストロークピツチが異なつていることか
ら、全てのしや断器に標準的に適用するには問題
が多く、既設しや断器への適用も困難となつてい
る。また、寿命の診断が行なわれていないものと
なつている。
本発明の目的は、開閉装置一般に容易に適用可
とされ、しかも精度良好にして開閉装置の開閉機
構とその寿命を診断し得る開閉装置診断方法を供
するにある。
とされ、しかも精度良好にして開閉装置の開閉機
構とその寿命を診断し得る開閉装置診断方法を供
するにある。
この目的のため本発明は、トリツプの度にトリ
ツプ時における主回路電流のピーク値および開極
時間を求めたうえこれらを乗算したうえそれまで
に得られている累積加算値に加算し、新たに得ら
れた累積加算値が一定以上であるか否かを以て開
閉装置の寿命を判定するようにしたものである。
開極時間からは開閉機能がチエツクされ得るもの
である。
ツプ時における主回路電流のピーク値および開極
時間を求めたうえこれらを乗算したうえそれまで
に得られている累積加算値に加算し、新たに得ら
れた累積加算値が一定以上であるか否かを以て開
閉装置の寿命を判定するようにしたものである。
開極時間からは開閉機能がチエツクされ得るもの
である。
以下、本発明を第1図、第2図により説明す
る。
る。
先ず本発明に係る開閉装置診断回路について説
明すれば、第1図はその一例での構成を示したも
のである。
明すれば、第1図はその一例での構成を示したも
のである。
保護リレー等(図示せず)からトリツプ指令が
与えられると、図示の如くトリツプコイル52T
にはトリツプ時トリツプ電流10が流されるが、
このトリツプ電流10は空隙付鉄心11、パレツ
トスイツチ52aを介し流れるようになつてい
る。したがつて、空隙付鉄心11における空隙部
にホール素子の如き磁界センサ12を設ける場合
は、トリツプ電流10の存在が検出され得るもの
である。この場合パレツトスイツチ52aは開極
されるまでの間閉じられていることから、結局パ
レツトスイツチ52aを介しトリツプ電流10が
流れている間磁界センサ12からはその旨の出力
が得られ、その出力は増幅器13を介し方形波変
換回路14によつて方形波に変換されるものとな
つている。この方形波が得られている間クロツク
信号CLKがアンドゲート15を介しカウンタ1
6でカウントされるようになつているものであ
る。即ち、トリツプ電流10が流れ始めてから主
回路接点が開極し、この接点に機械的に連動して
いるパレツトスイツチ52aが開かれるまでの開
極時間がカウンタ16で計測されるものであり、
この開極時間は後にバツフアレジスタ17に転送
されるようになつている。
与えられると、図示の如くトリツプコイル52T
にはトリツプ時トリツプ電流10が流されるが、
このトリツプ電流10は空隙付鉄心11、パレツ
トスイツチ52aを介し流れるようになつてい
る。したがつて、空隙付鉄心11における空隙部
にホール素子の如き磁界センサ12を設ける場合
は、トリツプ電流10の存在が検出され得るもの
である。この場合パレツトスイツチ52aは開極
されるまでの間閉じられていることから、結局パ
レツトスイツチ52aを介しトリツプ電流10が
流れている間磁界センサ12からはその旨の出力
が得られ、その出力は増幅器13を介し方形波変
換回路14によつて方形波に変換されるものとな
つている。この方形波が得られている間クロツク
信号CLKがアンドゲート15を介しカウンタ1
6でカウントされるようになつているものであ
る。即ち、トリツプ電流10が流れ始めてから主
回路接点が開極し、この接点に機械的に連動して
いるパレツトスイツチ52aが開かれるまでの開
極時間がカウンタ16で計測されるものであり、
この開極時間は後にバツフアレジスタ17に転送
されるようになつている。
一方、その相の変流器(CT)出力情報は補助
CT18、ローパスフイルタ19を介しサンプル
ホールド回路20で所定周期でサンプリングされ
たうえA/D変換器21でデイジタル量に変換さ
れた後、順次バツフアレジスタ22に転送される
ようになつている。バツフアレジスタ22に順次
転送される相電流データは、例えばマイクロコン
ピユータ内においてCPU23による制御下に
RAM24内の所定のエリアに常に最新のものが
一定量格納されるように格納されるが、バツフア
レジスタ17へのデータもその後割込信号によつ
てRAM24の所定エリアに格納されるものとな
つている。しかして、ROM25内に格納されて
いる診断プログラムにもとづき第2図に示す如く
CPU23はRAM24に格納されている相電流デ
ータよりトリツプ時でのその相電流のピーク値Ip
を例えば公知の積演算手法により算出したうえ開
極時間Tppと乗算し、この乗算結果をそれまでに
得られている累積加算値に加算した後、新たに得
られた累積加算値を許容値(設定値)と比較し、
許容値以上である場合にはその旨を警報するとこ
ろとなるものである。これによりしや断器の寿命
が診断可能となるものである。また、開極時間
Tppを監視することによつては従来方法よりも精
度良好にして開極時間の設定値からのずれを検出
し得、開閉機能の不具合兆候も、併せて知れるこ
とになる。なお、以上の例では相電流のピーク値
Ipと開極時間Tppとが乗算されるようになつてい
るが、ピーク値Ipの2乗と開極時間Tppとを乗算
するようにしてもよい。また、第1図中の符号5
2Cは投入用リレーコイルを示す。
CT18、ローパスフイルタ19を介しサンプル
ホールド回路20で所定周期でサンプリングされ
たうえA/D変換器21でデイジタル量に変換さ
れた後、順次バツフアレジスタ22に転送される
ようになつている。バツフアレジスタ22に順次
転送される相電流データは、例えばマイクロコン
ピユータ内においてCPU23による制御下に
RAM24内の所定のエリアに常に最新のものが
一定量格納されるように格納されるが、バツフア
レジスタ17へのデータもその後割込信号によつ
てRAM24の所定エリアに格納されるものとな
つている。しかして、ROM25内に格納されて
いる診断プログラムにもとづき第2図に示す如く
CPU23はRAM24に格納されている相電流デ
ータよりトリツプ時でのその相電流のピーク値Ip
を例えば公知の積演算手法により算出したうえ開
極時間Tppと乗算し、この乗算結果をそれまでに
得られている累積加算値に加算した後、新たに得
られた累積加算値を許容値(設定値)と比較し、
許容値以上である場合にはその旨を警報するとこ
ろとなるものである。これによりしや断器の寿命
が診断可能となるものである。また、開極時間
Tppを監視することによつては従来方法よりも精
度良好にして開極時間の設定値からのずれを検出
し得、開閉機能の不具合兆候も、併せて知れるこ
とになる。なお、以上の例では相電流のピーク値
Ipと開極時間Tppとが乗算されるようになつてい
るが、ピーク値Ipの2乗と開極時間Tppとを乗算
するようにしてもよい。また、第1図中の符号5
2Cは投入用リレーコイルを示す。
以上説明したように本発明による場合は、精度
良好にして開閉装置一般における開閉機能とその
寿命を診断し得るという効果がある。
良好にして開閉装置一般における開閉機能とその
寿命を診断し得るという効果がある。
第1図は、本発明に係る開閉装置診断回路の一
例での構成を示す図、第2図は、本発明に係る診
断処理のフローを示す図、第3図は、しや断器の
開閉頻度が極めて小さいことを説明するためのし
や断器最大操作間隔を示す図、第4図、第5図、
第6図は、これまでの診断方法を説明するための
図である。 11……空隙付鉄心、12……磁界センサ、1
3……増幅回路、14……方形波変換回路、15
……アンドゲート、16……カウンタ、17,2
2……バツフアレジスタ、18……補助CT、2
0……サンプルホールド回路、21……A/D変
換器、23……CPU、52T……トリツプコイ
ル。
例での構成を示す図、第2図は、本発明に係る診
断処理のフローを示す図、第3図は、しや断器の
開閉頻度が極めて小さいことを説明するためのし
や断器最大操作間隔を示す図、第4図、第5図、
第6図は、これまでの診断方法を説明するための
図である。 11……空隙付鉄心、12……磁界センサ、1
3……増幅回路、14……方形波変換回路、15
……アンドゲート、16……カウンタ、17,2
2……バツフアレジスタ、18……補助CT、2
0……サンプルホールド回路、21……A/D変
換器、23……CPU、52T……トリツプコイ
ル。
Claims (1)
- 1 開閉装置がトリツプされる度にトリツプ時で
の主回路電流のピーク値とトリツプ電流が流れ始
めてから主回路接点が開極されるまでの開極時間
とを求め、該時間は設定値との間のずれが監視さ
れる一方、主回路電流のピーク値と乗算されたう
え既に得られている累積加算値に加算された後一
定値と比較されることを特徴とする開閉装置診断
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4282385A JPS61203517A (ja) | 1985-03-06 | 1985-03-06 | 開閉装置診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4282385A JPS61203517A (ja) | 1985-03-06 | 1985-03-06 | 開閉装置診断方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61203517A JPS61203517A (ja) | 1986-09-09 |
JPH03729B2 true JPH03729B2 (ja) | 1991-01-08 |
Family
ID=12646671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4282385A Granted JPS61203517A (ja) | 1985-03-06 | 1985-03-06 | 開閉装置診断方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61203517A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4812375B2 (ja) | 2005-09-07 | 2011-11-09 | ローム株式会社 | 可変式チップ抵抗器 |
US20130073257A1 (en) * | 2011-09-19 | 2013-03-21 | Craig Benjamin Williams | Method, device, and system for monitoring a component |
WO2016035131A1 (ja) | 2014-09-02 | 2016-03-10 | 三菱電機株式会社 | 遮断器特性監視装置 |
-
1985
- 1985-03-06 JP JP4282385A patent/JPS61203517A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61203517A (ja) | 1986-09-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |