JPS61198481A - 磁気デイスク装置の検査方法 - Google Patents
磁気デイスク装置の検査方法Info
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- JPS61198481A JPS61198481A JP3798385A JP3798385A JPS61198481A JP S61198481 A JPS61198481 A JP S61198481A JP 3798385 A JP3798385 A JP 3798385A JP 3798385 A JP3798385 A JP 3798385A JP S61198481 A JPS61198481 A JP S61198481A
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- JP
- Japan
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- magnetic
- head
- alloy
- arm
- gimbal
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- Pending
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- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
- Supporting Of Heads In Record-Carrier Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は微細なヘッドタッチを検出できる磁気ディスク
の検査方法に関する。
の検査方法に関する。
磁気ディスクはアルミニウム合金などの非磁性円板上に
磁性記録媒体がスピンコード法、真空蒸着法、メッキ法
などの手法により薄膜化して形成したものである。
磁性記録媒体がスピンコード法、真空蒸着法、メッキ法
などの手法により薄膜化して形成したものである。
すなわち記録媒体が三二酸化鉄(γ−Fe203)のよ
うな酸化物から構成されるものについては主としてスピ
ンコード法が用いられており、一方ニッケル・コバルト
・燐(Ni (:o−P)やコバルト・クローム(Co
−Cr)のような磁性合金膜を用いるものについては真
空蒸着法、スパッタ法、メッキ法などにより磁性膜が形
成されている。
うな酸化物から構成されるものについては主としてスピ
ンコード法が用いられており、一方ニッケル・コバルト
・燐(Ni (:o−P)やコバルト・クローム(Co
−Cr)のような磁性合金膜を用いるものについては真
空蒸着法、スパッタ法、メッキ法などにより磁性膜が形
成されている。
また、磁気ヘッドはフェライトを主体として形成されて
おり、高速で回転する磁気ディスクより揚力を受け、微
少な間隙を隔てて浮上し、磁気ディスクに情報の記録或
いは再生を行うよう構成されている。
おり、高速で回転する磁気ディスクより揚力を受け、微
少な間隙を隔てて浮上し、磁気ディスクに情報の記録或
いは再生を行うよう構成されている。
すなわち磁気ディスクは例えば3600PPMの回転数
で回転しており、これは50m/secの周速に相当す
る。
で回転しており、これは50m/secの周速に相当す
る。
そしてこれに伴って生ずる風により磁気ヘッドは揚力を
受け、0.5μm下の高さを保って浮上ししている。
受け、0.5μm下の高さを保って浮上ししている。
然し磁気ディスクに微少な凹凸や塵埃の付着があると風
向の変動によって磁気ヘッドは動揺し、磁気ディスクへ
の接触(ヘッドタッチ)を生ずると共に甚だしい場合は
磁気ディスクへの衝突(ヘッドクラッシュ)を起こし、
致命的な損傷を与えることになる。
向の変動によって磁気ヘッドは動揺し、磁気ディスクへ
の接触(ヘッドタッチ)を生ずると共に甚だしい場合は
磁気ディスクへの衝突(ヘッドクラッシュ)を起こし、
致命的な損傷を与えることになる。
そのため磁気ディスクは装置への組立に当たって厳重な
検査を行い、不良品の除去が行われている。
検査を行い、不良品の除去が行われている。
本発明は装置組立を行い、外MCディスクエンクローシ
ア)を被せる前に行うディスクの検査方法に関するもの
である。
ア)を被せる前に行うディスクの検査方法に関するもの
である。
第2図は磁気ディスク装置に装着した磁気ディスク1と
磁気へンド2との関係を示すもので、複数の磁気ディス
ク1はスペーサ3と円板押さえ4とによりスピンドルハ
ブ5に装着し、ネジ6によって固定されている。
磁気へンド2との関係を示すもので、複数の磁気ディス
ク1はスペーサ3と円板押さえ4とによりスピンドルハ
ブ5に装着し、ネジ6によって固定されている。
一方複数の磁気ヘッド2はジンバル7の先端に設けられ
、アーム8の先端部に設けたジンバル取りつけ位置にス
ペーサ9を介してネジ止めされている。
、アーム8の先端部に設けたジンバル取りつけ位置にス
ペーサ9を介してネジ止めされている。
そしてアーム8は第1図(A)に類似した構造をしてお
り、アーム固定軸用穴lOはアーム固定軸11に固定さ
れており、アーム8は磁気ディスク1の間隙に挿入され
、アーム8の上下に備えた複数個の磁気ヘッド2によっ
て情報の記録と再生とが行われている。
り、アーム固定軸用穴lOはアーム固定軸11に固定さ
れており、アーム8は磁気ディスク1の間隙に挿入され
、アーム8の上下に備えた複数個の磁気ヘッド2によっ
て情報の記録と再生とが行われている。
磁気ディスクlは先に記したようにこのような磁気ディ
スク装置に組み立てる前に単板試験を行い不良品を除い
た後に装置に組立られている。
スク装置に組み立てる前に単板試験を行い不良品を除い
た後に装置に組立られている。
その方法はアーム8の先端でジンバル7が設けられてい
る位置になるべく近くチタン酸ジルコン酸鉛(PbTi
O3−PbZr03一般名PZT)を用いた弾性波素子
〔略称AE素子(Acoustic Emission
素子)〕を設置し、かかる圧電素子を備えた磁気ヘッド
によってヘッドタッチの有無を検出している。
る位置になるべく近くチタン酸ジルコン酸鉛(PbTi
O3−PbZr03一般名PZT)を用いた弾性波素子
〔略称AE素子(Acoustic Emission
素子)〕を設置し、かかる圧電素子を備えた磁気ヘッド
によってヘッドタッチの有無を検出している。
すなわちヘッドタッチ或いはヘッドクラッシュが起こる
とAH素子に圧電信号が発生し、これを増幅器を用いて
増幅することによって信号を検出している。
とAH素子に圧電信号が発生し、これを増幅器を用いて
増幅することによって信号を検出している。
然しなから、この方法は単板試験に対して適用できるも
のであって、第2図に示すように装置として組立た磁気
ディスクに対して使用することはできない。
のであって、第2図に示すように装置として組立た磁気
ディスクに対して使用することはできない。
この理由はAE素子はジンバル7の設置位置の近傍に設
けなければ検出信号が減衰して検出できないが、磁気デ
ィスク間の間隔が狭<、AH素子が挿入できないこと、
およびアーム8には複数個の磁気ヘッド2が設けられて
いるため、どの磁気ヘッド2でヘッドタッチが発生した
のか識別できないからである。
けなければ検出信号が減衰して検出できないが、磁気デ
ィスク間の間隔が狭<、AH素子が挿入できないこと、
およびアーム8には複数個の磁気ヘッド2が設けられて
いるため、どの磁気ヘッド2でヘッドタッチが発生した
のか識別できないからである。
このように従来は磁気ディスクの装置組立を行った後は
ヘッド浮上性試験を行うことができなかった。
ヘッド浮上性試験を行うことができなかった。
然し、単板試験後に塵埃の付着や汚染などが生じて組立
後にヘッドタッチ現象を起こすことがあ゛す、信頷性確
保の点から装置組立後においても厳密な浮上評価試験を
行う必要があった。
後にヘッドタッチ現象を起こすことがあ゛す、信頷性確
保の点から装置組立後においても厳密な浮上評価試験を
行う必要があった。
以上説明したように磁気ディスクは装置への組立に先立
って単板試験が行われているが、組立後においてはスペ
ース的な制限から浮上評価試験を行うことができないこ
とが信乾性確保の点から問題であった。
って単板試験が行われているが、組立後においてはスペ
ース的な制限から浮上評価試験を行うことができないこ
とが信乾性確保の点から問題であった。
上記の問題は複数の磁気ヘッドを搭載したアームの端部
に複数のAH素子を設置すると共にクリープ特性の優れ
た金属よりなる埋め込むみ線路により各ジンバル取りつ
け位置と各AH素子とを結び、該AE素子を用いて埋込
み線路を通じて伝達される磁気ヘッドの振動波形を個別
に検出することにより解決することができる。
に複数のAH素子を設置すると共にクリープ特性の優れ
た金属よりなる埋め込むみ線路により各ジンバル取りつ
け位置と各AH素子とを結び、該AE素子を用いて埋込
み線路を通じて伝達される磁気ヘッドの振動波形を個別
に検出することにより解決することができる。
本発明はアーム固定用穴の近くにAH素子を設け、これ
とジンバル取付は位置とをクリープ特性の優れた金属で
連絡するもので、これにより磁気ヘッドの位置で生じた
機械的振動を少ない減衰量でAH素子にまで導き、圧電
信号を発生させるものである。
とジンバル取付は位置とをクリープ特性の優れた金属で
連絡するもので、これにより磁気ヘッドの位置で生じた
機械的振動を少ない減衰量でAH素子にまで導き、圧電
信号を発生させるものである。
また複数個の各磁気ヘッドに対応してそれぞれAH素子
を設けるあるのでヘッドタッチ或いはヘッドクラッシュ
を生じた磁気ディスクの位置を容易に検出できるもので
ある。
を設けるあるのでヘッドタッチ或いはヘッドクラッシュ
を生じた磁気ディスクの位置を容易に検出できるもので
ある。
第1図(A)は本発明を実施したアーム12の平面図、
同図(B)はこの断面図、また同図(C)はx−x ’
位置における断面図である。
同図(B)はこの断面図、また同図(C)はx−x ’
位置における断面図である。
すなわち本発明はアーム固定軸用穴10の近(に複数の
へE取付は位置13をもつと共にジンバル取付は位置1
4とAE爪取付位置13とを繋いでクリープ特性の優れ
た金属からなる振動通路15を設けるもので、この通路
は同図(B)及び(C)に示すようにアーム12に切削
溝を設け、これに挿入し接着剤等により固定されている
。
へE取付は位置13をもつと共にジンバル取付は位置1
4とAE爪取付位置13とを繋いでクリープ特性の優れ
た金属からなる振動通路15を設けるもので、この通路
は同図(B)及び(C)に示すようにアーム12に切削
溝を設け、これに挿入し接着剤等により固定されている
。
ここでクリープ特性の優れた金属としてはマグネシウム
銅(Mg−Cu)合金、亜鉛−銅(Zn−Cu)合金や
ニッケル(Ni)金属などがあり、少ない減衰量で振動
を伝送することができる。
銅(Mg−Cu)合金、亜鉛−銅(Zn−Cu)合金や
ニッケル(Ni)金属などがあり、少ない減衰量で振動
を伝送することができる。
第1図の実施例においてはアーム12はアルミニウム(
AI)合金で形成されており、これに幅3MI1m。
AI)合金で形成されており、これに幅3MI1m。
厚さ1mのMgCu合金からなる振動通路15が埋込ま
れており、AE爪取付位置13とジンバル取付は位置1
4も同様にMgCu合金により形成されている。
れており、AE爪取付位置13とジンバル取付は位置1
4も同様にMgCu合金により形成されている。
なおAE爪取付位置13の大きさは8w X 5 aで
あり、また振動通路の長さは約13Onである。
あり、また振動通路の長さは約13Onである。
また磁気ヘッドはアーム12の表裏に設けられることか
ら振動通路15はアーム12の表裏に設け、本実施例に
おいてはAH取付は位置にまで導いた後、裏面側の振動
通路15はアーム12を貫通して表面にまで導いてAI
!素子に連絡しているが、そのまま裏面に設け、AH素
子を表面と裏面にそれぞれ設けても差支えない。
ら振動通路15はアーム12の表裏に設け、本実施例に
おいてはAH取付は位置にまで導いた後、裏面側の振動
通路15はアーム12を貫通して表面にまで導いてAI
!素子に連絡しているが、そのまま裏面に設け、AH素
子を表面と裏面にそれぞれ設けても差支えない。
このように磁気ヘッドに対応してへE素子を設けると、
各磁気ヘッド毎のヘッドタッチを明瞭に検出することが
でき、これにより磁気ディスク装置の信顛性を向上す為
ことができる。
各磁気ヘッド毎のヘッドタッチを明瞭に検出することが
でき、これにより磁気ディスク装置の信顛性を向上す為
ことができる。
なおAE素子はそのままアーム12に接着しておく必要
はなく、磁気ディスクの浮上試験終了後にアーム12よ
り剥離し、その後ディスクエンクロージャを被せて出荷
すればよい。
はなく、磁気ディスクの浮上試験終了後にアーム12よ
り剥離し、その後ディスクエンクロージャを被せて出荷
すればよい。
以上記したように本発明の実施により磁気ディスクを組
立てて装置構成が終わった後においても浮上評価試験を
行うことができ、これにより磁気ディスク装置の信鯨性
を格段に増加させることが可能となる。
立てて装置構成が終わった後においても浮上評価試験を
行うことができ、これにより磁気ディスク装置の信鯨性
を格段に増加させることが可能となる。
第1図は本発明を実施したアームを示すもので、同図(
A)は平面図、同図(B)は側断面図、また同図(C)
はX−X ”位置における断面図、第2図は磁気ディス
ク装置の断面構成図、である。 図において、 1は磁気ディスク、 2は磁気ヘッド、7はジンバル
、 8,12はアーム、11はアーム固定軸、
13はAE爪取付位置、14はジンバル取付は位置
、 15は振動通路、 である。 二]; 兇 1 図 亮 21!I
A)は平面図、同図(B)は側断面図、また同図(C)
はX−X ”位置における断面図、第2図は磁気ディス
ク装置の断面構成図、である。 図において、 1は磁気ディスク、 2は磁気ヘッド、7はジンバル
、 8,12はアーム、11はアーム固定軸、
13はAE爪取付位置、14はジンバル取付は位置
、 15は振動通路、 である。 二]; 兇 1 図 亮 21!I
Claims (1)
- 複数の磁気ヘッドを搭載したアームの端部に複数の弾性
波素子を設置すると共にクリープ特性の優れた金属より
なる埋込み線路により各ジンバル取付け位置と各弾性波
素子とを結び、該弾性波素子を用いて埋込み線路を通じ
て伝達される磁気ヘッドの振動波形を個別に検出するこ
とを特徴とする磁気ディスク装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3798385A JPS61198481A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 磁気デイスク装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3798385A JPS61198481A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 磁気デイスク装置の検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61198481A true JPS61198481A (ja) | 1986-09-02 |
Family
ID=12512799
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3798385A Pending JPS61198481A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 磁気デイスク装置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61198481A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989008307A1 (en) * | 1988-02-26 | 1989-09-08 | Quest Technology Corporation | Ceramic support arm for movably positioning transducers |
US5668684A (en) * | 1996-08-06 | 1997-09-16 | International Business Machines Corporation | Electrical interconnect for a head/arm assembly of computer disk drives |
US6101453A (en) * | 1997-10-08 | 2000-08-08 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for analyzing vibration of housing of disk device |
-
1985
- 1985-02-27 JP JP3798385A patent/JPS61198481A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989008307A1 (en) * | 1988-02-26 | 1989-09-08 | Quest Technology Corporation | Ceramic support arm for movably positioning transducers |
US4949194A (en) * | 1988-02-26 | 1990-08-14 | Quest Technology Corporation | Ceramic support arm for movably positioning transducers |
US5668684A (en) * | 1996-08-06 | 1997-09-16 | International Business Machines Corporation | Electrical interconnect for a head/arm assembly of computer disk drives |
US6101453A (en) * | 1997-10-08 | 2000-08-08 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for analyzing vibration of housing of disk device |
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