JPS61227220A - 磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置 - Google Patents
磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置Info
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- JPS61227220A JPS61227220A JP6714285A JP6714285A JPS61227220A JP S61227220 A JPS61227220 A JP S61227220A JP 6714285 A JP6714285 A JP 6714285A JP 6714285 A JP6714285 A JP 6714285A JP S61227220 A JPS61227220 A JP S61227220A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
磁気ヘッドに搭載され、磁気ヘッドと磁気ディスク間の
接触により発生する弾性波を検出するＡＥセンサからの
検出信号を増幅器にて増幅後、磁気ヘッドのスライダの
形状に対応したカットオフ周波数を有する狭帯域のバン
ドパスフィルタを介して導出することでＳ／Ｎの向上し
た磁気ディスク装置のヘッド異常接触検出装置。
接触により発生する弾性波を検出するＡＥセンサからの
検出信号を増幅器にて増幅後、磁気ヘッドのスライダの
形状に対応したカットオフ周波数を有する狭帯域のバン
ドパスフィルタを介して導出することでＳ／Ｎの向上し
た磁気ディスク装置のヘッド異常接触検出装置。
本発明は、磁気ディスク装置の磁気ヘッドの異常検出装
置に係り、更に詳細には磁気ディスクと磁気ヘッドが接
触した際にＡＥセンサにて検出される信号をＳ／Ｎ比を
改善させた状態で取り出すＡＥセンサからの信号検出構
成に関する。
置に係り、更に詳細には磁気ディスクと磁気ヘッドが接
触した際にＡＥセンサにて検出される信号をＳ／Ｎ比を
改善させた状態で取り出すＡＥセンサからの信号検出構
成に関する。
電磁変換素子を設けたスライダからなる磁気へラドを、
表面に磁性膜を形成した磁気ディスク上に設置し、この
磁気ディスクを高速で回転させることで、スライダと磁
気ディスク間に空気流を発生させ、この空気流によって
磁気ヘッドを磁気ディスクから浮上させ、磁気ヘッドの
ギャップ層と磁気ディスクの磁性膜間の漏れ磁界によっ
て情報の記録、再生を行う磁気ディスク装置は周知であ
る。
表面に磁性膜を形成した磁気ディスク上に設置し、この
磁気ディスクを高速で回転させることで、スライダと磁
気ディスク間に空気流を発生させ、この空気流によって
磁気ヘッドを磁気ディスクから浮上させ、磁気ヘッドの
ギャップ層と磁気ディスクの磁性膜間の漏れ磁界によっ
て情報の記録、再生を行う磁気ディスク装置は周知であ
る。
このような磁気ディスク装置については、磁気ディスク
と磁気ヘッドが接触した状態が続いて損傷するヘッドク
ラッシュ現象を事前に検知することが必要である。
と磁気ヘッドが接触した状態が続いて損傷するヘッドク
ラッシュ現象を事前に検知することが必要である。
ここで一般的な磁気ディスク装置について第５図の模式
図、および第６図に示す第５図の要部平面図、第７図に
示す第５図の側面図を用いて説明する。
図、および第６図に示す第５図の要部平面図、第７図に
示す第５図の側面図を用いて説明する。
第５図に示すように、スピンドルモータ１によって回転
する回転軸２には、所定の間隔を隔てて多数の磁気ディ
スク３が積層して配設され、この磁気ディスク３上には
、矢印Ａに示す左右の方向に移動するキャリッジ４より
延びるアーム５に設置された磁気ヘッド６が設置されて
いる。この磁気へ７ド６は第６図、および第７図に示す
ように、弾力性の鋼材よりなる薄板状部材よりなるジン
バル構造体７に設置されており、コアを設けたスライダ
８にて構成され、このジンバル構造体７はアーム５より
延びるバネ板９に設置されている。
する回転軸２には、所定の間隔を隔てて多数の磁気ディ
スク３が積層して配設され、この磁気ディスク３上には
、矢印Ａに示す左右の方向に移動するキャリッジ４より
延びるアーム５に設置された磁気ヘッド６が設置されて
いる。この磁気へ７ド６は第６図、および第７図に示す
ように、弾力性の鋼材よりなる薄板状部材よりなるジン
バル構造体７に設置されており、コアを設けたスライダ
８にて構成され、このジンバル構造体７はアーム５より
延びるバネ板９に設置されている。
この磁気ディスク３上には微少な塵等が付着することが
あり、この塵の上にスライダ（磁気ヘッド）８が接触し
て磁気ヘッド８と磁気ディスク３が接触し、この接触が
多数回繰り返されると、磁気ディスク３と磁気ヘッド８
が共に損傷するヘッドクラッシュ現象が発生する。
あり、この塵の上にスライダ（磁気ヘッド）８が接触し
て磁気ヘッド８と磁気ディスク３が接触し、この接触が
多数回繰り返されると、磁気ディスク３と磁気ヘッド８
が共に損傷するヘッドクラッシュ現象が発生する。
このヘッドクラッシュ現象が発生すると、装置全体を取
り替える必要が起こるので、第７図に示すようにスライ
ダ８の磁気ディスク３と対向する面の背面側にＡＥセン
サ１０を固着して磁気ディスクと磁気ヘッドの接触を検
知する方法が考えられている。
り替える必要が起こるので、第７図に示すようにスライ
ダ８の磁気ディスク３と対向する面の背面側にＡＥセン
サ１０を固着して磁気ディスクと磁気ヘッドの接触を検
知する方法が考えられている。
このＡＥセンサ１０のＡＥは、Ａｃｏｕｓｔｉｃ Ｅ
ａｉｓｓｉＯｎの略称であり、音の放出を意味しており
、固体材料が変形や破壊をする時に解放される歪みエネ
ルギーが弾性波としての音となり放出される現象である
。ＡＥはその周波数が数１０ＫＨ２から数ＭＨｚにわた
る弾性波（いわゆる超音波）であることが多く、このよ
うなＡＥ波を検出するＡＥセンサはチタン酸鉛（ＰｂＴ
ｉＯａ ）等の圧電素子を用いている。
ａｉｓｓｉＯｎの略称であり、音の放出を意味しており
、固体材料が変形や破壊をする時に解放される歪みエネ
ルギーが弾性波としての音となり放出される現象である
。ＡＥはその周波数が数１０ＫＨ２から数ＭＨｚにわた
る弾性波（いわゆる超音波）であることが多く、このよ
うなＡＥ波を検出するＡＥセンサはチタン酸鉛（ＰｂＴ
ｉＯａ ）等の圧電素子を用いている。
ところでこのようなＡＥセンサ１０は通常金属ケースに
密封シールドされ、このＡＥセンサの検出信号を導出す
る信号線も同軸ケーブルの如きシールドされた線路でロ
ーノイズアンプにて増幅されている。
密封シールドされ、このＡＥセンサの検出信号を導出す
る信号線も同軸ケーブルの如きシールドされた線路でロ
ーノイズアンプにて増幅されている。
然し、磁気ヘッドに搭載されるＡＥセンサ１０は小型で
かつ軽量化を図る必要があるので容器に収容し難く、ま
た信号線は磁気ヘッドのアーム５に取りつけられている
ので、可撓性を持たす必要がある。そのため、金属箔等
を用いてジンバル構造体７、或いはアーム５上に固着し
て完全にシールドすることが困難で電気的ノイズを拾い
易い問題があった。
かつ軽量化を図る必要があるので容器に収容し難く、ま
た信号線は磁気ヘッドのアーム５に取りつけられている
ので、可撓性を持たす必要がある。そのため、金属箔等
を用いてジンバル構造体７、或いはアーム５上に固着し
て完全にシールドすることが困難で電気的ノイズを拾い
易い問題があった。
またジンバル構造体７から発生する機械的なノイズも大
である。このため増幅器の後段には、従来より１００Ｋ
Ｈｚ〜１．２ ＭＨｚの広帯域幅のバンドパスフィルタ
を用いてノイズを除去していたが、前記した理由により
、ＡＥセンサ１０からの検出信号はＳ／Ｎ比が悪い状態
でしか得られず、そのため、ＡＥセンサ１０より得られ
る信号のうち、磁気ヘッド８と磁気ディスク３の接触に
起因するＡＥセンサからの信号のみを検出することが困
難であった。
である。このため増幅器の後段には、従来より１００Ｋ
Ｈｚ〜１．２ ＭＨｚの広帯域幅のバンドパスフィルタ
を用いてノイズを除去していたが、前記した理由により
、ＡＥセンサ１０からの検出信号はＳ／Ｎ比が悪い状態
でしか得られず、そのため、ＡＥセンサ１０より得られ
る信号のうち、磁気ヘッド８と磁気ディスク３の接触に
起因するＡＥセンサからの信号のみを検出することが困
難であった。
第１図は本発明の磁気ディスク装置のヘッド異常接触検
出装置の信号処理構成を示す回路ブロック図で、図示す
るようにＡＥセンサ２１により検知された信号は、フレ
キシブルプリント基板２３に集められ、更にプリント基
板２４を介して増幅器２５に導入される。更にこの検知
信号は、磁気ヘッドのスライダの形状、或いは材質に対
応したカットオフ周波数を有するバンドパスフィルタ２
６に依ってその信号のＳ／Ｎ比を高めた状態で外部に取
り出される。
出装置の信号処理構成を示す回路ブロック図で、図示す
るようにＡＥセンサ２１により検知された信号は、フレ
キシブルプリント基板２３に集められ、更にプリント基
板２４を介して増幅器２５に導入される。更にこの検知
信号は、磁気ヘッドのスライダの形状、或いは材質に対
応したカットオフ周波数を有するバンドパスフィルタ２
６に依ってその信号のＳ／Ｎ比を高めた状態で外部に取
り出される。
即ち、本発明の磁気ディスク装置のヘッド異常接触検出
装置の信号処理は、一般に電気的なノイズは使用するフ
ィルタの帯域を狭くする程低下する現象があり、ジンバ
ル構造体８等より発生される機械的ノイズは、２００
ＫＨｚ以下の周波数帯域でゲインが大となり２００ＫＨ
２を越えるとゲインが急激に低下する狭周波数帯域で発
生する現象を利用する。
装置の信号処理は、一般に電気的なノイズは使用するフ
ィルタの帯域を狭くする程低下する現象があり、ジンバ
ル構造体８等より発生される機械的ノイズは、２００
ＫＨｚ以下の周波数帯域でゲインが大となり２００ＫＨ
２を越えるとゲインが急激に低下する狭周波数帯域で発
生する現象を利用する。
また磁気ヘッドと磁気ディスクが接触した時に発生する
ＡＥセンサからの信号は、低周波数帯域より高周波数帯
域まで帯域が広く、ＡＥセンサ、が搭載されるスライダ
の形状、或いは材質によって特異の周波数にピークを発
生する。このことより、用いる磁気ヘッドのスライダの
形状、或いは材質に対応するように特異の周波数のピー
クに合わせて超狭帯域のバンドパスフィルタを用い、Ａ
Ｅセンサからの検出信号のＳ／Ｎ比を改善して、磁気ヘ
ッドと磁気ディスク間の接触現象を容易に検出できるよ
うにしたものである。
ＡＥセンサからの信号は、低周波数帯域より高周波数帯
域まで帯域が広く、ＡＥセンサ、が搭載されるスライダ
の形状、或いは材質によって特異の周波数にピークを発
生する。このことより、用いる磁気ヘッドのスライダの
形状、或いは材質に対応するように特異の周波数のピー
クに合わせて超狭帯域のバンドパスフィルタを用い、Ａ
Ｅセンサからの検出信号のＳ／Ｎ比を改善して、磁気ヘ
ッドと磁気ディスク間の接触現象を容易に検出できるよ
うにしたものである。
以下、図面を用いながら本発明の一実施例につき詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の磁気ディスク装置のヘッド異常接触検
出装置の要部を示すブロック図で、第２図は同ヘッドの
異常接触検出部の模式図である。
出装置の要部を示すブロック図で、第２図は同ヘッドの
異常接触検出部の模式図である。
第１図、及び第２図に示すように多数の磁気ヘッド２０
に搭載されているＡＥセンサ２１の電極より、導出され
る信号がパラレル接続の形で導出され、可動部である磁
気ヘッドのアーム２２に設置されているフレキシブルプ
リント基板２３に導出される。
に搭載されているＡＥセンサ２１の電極より、導出され
る信号がパラレル接続の形で導出され、可動部である磁
気ヘッドのアーム２２に設置されているフレキシブルプ
リント基板２３に導出される。
このフレキシブルプリント基板２３から導出される信号
がパラレル接続の形で導出され、磁気ディスク装置の非
可動部に設置されているプリント基板２４に導入される
。
がパラレル接続の形で導出され、磁気ディスク装置の非
可動部に設置されているプリント基板２４に導入される
。
このプリント基板２４より導出される信号は増幅器２５
に導かれ、更に磁気ヘッド２０のスライダの形状、或い
は材質に対応したカットオフ周波数を有するバンドパス
フィルタ、例えばカットオフ周波数が４００にＨｚのバ
ンドパスフィルタ２６を通じて外部に導出される。
に導かれ、更に磁気ヘッド２０のスライダの形状、或い
は材質に対応したカットオフ周波数を有するバンドパス
フィルタ、例えばカットオフ周波数が４００にＨｚのバ
ンドパスフィルタ２６を通じて外部に導出される。
ここで前記した如く、バンドパスフィルタ２６のカット
オフ周波数は、磁気ヘッドのスライダの形状、或いは材
質によって変化させる必要がある。
オフ周波数は、磁気ヘッドのスライダの形状、或いは材
質によって変化させる必要がある。
例えば、５．６鶴（長さ”）Ｘ４．Ｏ鰭（＠） Ｘ２．
Ｏｍ（厚さ）のフェライトのスライダでは、バンドパス
フィルタ２６のカントオフ周波数は、２００ＫＨｚとす
るとＳ／Ｎ比の大きいＡＥセンサがらの検出信号が得ら
れる。
Ｏｍ（厚さ）のフェライトのスライダでは、バンドパス
フィルタ２６のカントオフ周波数は、２００ＫＨｚとす
るとＳ／Ｎ比の大きいＡＥセンサがらの検出信号が得ら
れる。
更に、例えば、４．６削（長さ） Ｘ３．２ Ｍ （＠
）Ｘｌ、６ ｗ （厚さ）のフェライトのスライダでは
、バンドパスフィルタ２６のカットオフ周波数は４００
ＫＨｚとするとＡＥセンナからの検出信号がＳ／Ｎ比の
大きい状態で得られることが実験的に確認されている。
）Ｘｌ、６ ｗ （厚さ）のフェライトのスライダでは
、バンドパスフィルタ２６のカットオフ周波数は４００
ＫＨｚとするとＡＥセンナからの検出信号がＳ／Ｎ比の
大きい状態で得られることが実験的に確認されている。
ここでカットオフ周波数が４００ＫＨｚのバンドパスフ
ィルタを１５個の磁気ヘッドの設置数に対応する１５個
のＡＥセンサに挿入した本発明のヘッドの異常接触検出
装置の信号波形を第３図に示す。
ィルタを１５個の磁気ヘッドの設置数に対応する１５個
のＡＥセンサに挿入した本発明のヘッドの異常接触検出
装置の信号波形を第３図に示す。
また第３図と比較するために従来の装置にょるＡＥセン
サの検出信号波形を第４図に示す。
サの検出信号波形を第４図に示す。
第３図に示すようにノイズレベルの値Ｎは、第４図に示
すノイズレベルＮ’に比して大幅に減少しており、ＡＥ
センサからの検出信号がＳ／Ｎ比を大きくした状態で得
られることが実験的に確かめられ、これによってＡＥセ
ンサからの検出信号のピーク値Ｐは雑音レベルより突出
しており、そのため高信頼度で、磁気ディスクと磁気ヘ
ッドの接触した時の信号が明確に検知できることが判る
。
すノイズレベルＮ’に比して大幅に減少しており、ＡＥ
センサからの検出信号がＳ／Ｎ比を大きくした状態で得
られることが実験的に確かめられ、これによってＡＥセ
ンサからの検出信号のピーク値Ｐは雑音レベルより突出
しており、そのため高信頼度で、磁気ディスクと磁気ヘ
ッドの接触した時の信号が明確に検知できることが判る
。
これに反して第４図に示すように従来の構成ではノイズ
レベルＮ１とＡＥセンサからの検出信号のピーク値Ｐ′
が区別できにくい。
レベルＮ１とＡＥセンサからの検出信号のピーク値Ｐ′
が区別できにくい。
以上述べたように本発明の磁気ディスク装置のヘッド異
常接触検出装置によれば、磁気ヘッドのスライダの形状
を予め調べて、その形状よりバンドパスフィルタのカン
トオフ周波数を実験的に定め、超狭帯域のバンドパスフ
ィルタを増幅器の後段に、あるいは中段に設置するのみ
で、ＡＥセンサより導出される検知信号のＳ／Ｎ比を大
幅に改善する効果がある。
常接触検出装置によれば、磁気ヘッドのスライダの形状
を予め調べて、その形状よりバンドパスフィルタのカン
トオフ周波数を実験的に定め、超狭帯域のバンドパスフ
ィルタを増幅器の後段に、あるいは中段に設置するのみ
で、ＡＥセンサより導出される検知信号のＳ／Ｎ比を大
幅に改善する効果がある。
第１図は本発明の磁気ディスク装置のヘッド異常接触検
出装置に用いる回路ブロック図、第２図は本発明の装置
構成を示す模式図、第３は本発明によるＡＥ検出信号波
形を示す図、第４図は従来の装置によるＡＥ検出信号波
形を示す図、 第５図は一般的な磁気ディスク装置の模式図、第６図は
第５図の要部を示す平面図、 第７図は第５図の要部を示す側面図である。 第１図乃至第３図に於いて、 ２０は磁気ヘッド、２１はＡＥセンサ、２２はアーム、
２３はフレキシブルプリント基板、２４はプリント基板
、２５は増幅器、２６はバンドパスフィルタ、Ｎはノイ
ズレベル、Ｐは信号のはピーク値を示す。 第２ｒＭ 本に１月のＡＥｍ出イ客号鴻ω杉 第 ３図 ｉ束／１遣乏δ丁のＡＦ＝７φ士社イ６号、ｆヂ５１１
！４ 因 一匍［６９ｔ、を刃域＠テ）スフｉｉ／）荊（戊し］第
５圀 第６図 第 ７ 図
出装置に用いる回路ブロック図、第２図は本発明の装置
構成を示す模式図、第３は本発明によるＡＥ検出信号波
形を示す図、第４図は従来の装置によるＡＥ検出信号波
形を示す図、 第５図は一般的な磁気ディスク装置の模式図、第６図は
第５図の要部を示す平面図、 第７図は第５図の要部を示す側面図である。 第１図乃至第３図に於いて、 ２０は磁気ヘッド、２１はＡＥセンサ、２２はアーム、
２３はフレキシブルプリント基板、２４はプリント基板
、２５は増幅器、２６はバンドパスフィルタ、Ｎはノイ
ズレベル、Ｐは信号のはピーク値を示す。 第２ｒＭ 本に１月のＡＥｍ出イ客号鴻ω杉 第 ３図 ｉ束／１遣乏δ丁のＡＦ＝７φ士社イ６号、ｆヂ５１１
！４ 因 一匍［６９ｔ、を刃域＠テ）スフｉｉ／）荊（戊し］第
５圀 第６図 第 ７ 図
Claims (2)
- （１）磁気ヘッドに搭載されたＡＥセンサ（２１）によ
り、磁気ヘッドと磁気ディスク間の接触で発生した弾性
波を検出し、該検出信号を増幅後、前記磁気ヘッドのス
ライダの形状、或いは材質に対応したカットオフ周波数
を有するバンドパスフィルタ（２６）を介して導出し、
磁気ヘッドと磁気ディスクの異常接触を検出することを
特徴とする磁気ディスク装置のヘッド異常接触検出装置
。 - （２）前記バンドパスフィルタ（２６）が、カットオフ
周波数のハイパス側とローパス側との定数が一致した狭
帯域バンドパスフィルタであることを特徴とする特許請
求の範囲第（１）項に記載の磁気ディスク装置のヘッド
異常接触検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6714285A JPH0680557B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6714285A JPH0680557B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61227220A true JPS61227220A (ja) | 1986-10-09 |
| JPH0680557B2 JPH0680557B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=13336356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6714285A Expired - Lifetime JPH0680557B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680557B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5488857A (en) * | 1991-11-22 | 1996-02-06 | Hitachi Electronic Engineering Co., Ltd. | Protrusion sensor for sensing protrusion on a disc |
| JPH08297816A (ja) * | 1995-04-27 | 1996-11-12 | Nec Corp | 磁気ヘッド用テスタ装置 |
| US5824920A (en) * | 1995-10-27 | 1998-10-20 | Fujitsu Limited | Apparatus for evaluating magnetic recording medium |
| US6181520B1 (en) | 1997-07-04 | 2001-01-30 | Fujitsu Limited | Head slider and disk unit having contact detection means |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6714285A patent/JPH0680557B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5488857A (en) * | 1991-11-22 | 1996-02-06 | Hitachi Electronic Engineering Co., Ltd. | Protrusion sensor for sensing protrusion on a disc |
| JPH08297816A (ja) * | 1995-04-27 | 1996-11-12 | Nec Corp | 磁気ヘッド用テスタ装置 |
| US5824920A (en) * | 1995-10-27 | 1998-10-20 | Fujitsu Limited | Apparatus for evaluating magnetic recording medium |
| US6181520B1 (en) | 1997-07-04 | 2001-01-30 | Fujitsu Limited | Head slider and disk unit having contact detection means |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0680557B2 (ja) | 1994-10-12 |
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