JPS6135344A - 磁気デイスクの検査方法 - Google Patents
磁気デイスクの検査方法Info
- Publication number
- JPS6135344A JPS6135344A JP15823484A JP15823484A JPS6135344A JP S6135344 A JPS6135344 A JP S6135344A JP 15823484 A JP15823484 A JP 15823484A JP 15823484 A JP15823484 A JP 15823484A JP S6135344 A JPS6135344 A JP S6135344A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- magnetic disk
- head
- recording medium
- disk
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気ディスクの検査方法に関する。
磁気ディスクはアルミニウム合金などの非磁性円板上に
磁性記録媒体がスピンコード法、真空蒸着法、メッキ法
などの手法により薄膜化して形成されている。
磁性記録媒体がスピンコード法、真空蒸着法、メッキ法
などの手法により薄膜化して形成されている。
すなわち記録媒体が三二酸化鉄(γ−Fe 203)の
ような酸化物から構成されるものについてはスピンコー
ド法が主として用いられており、一方ニッケル・コバル
ト・燐(Ni −Co ・P)やコバルト・クローム
(CO−Cr)のような磁性合金膜を用いるものについ
ては真空蒸着法、スパッタ法、メッキ法などを用いて磁
性膜が形成されている。
ような酸化物から構成されるものについてはスピンコー
ド法が主として用いられており、一方ニッケル・コバル
ト・燐(Ni −Co ・P)やコバルト・クローム
(CO−Cr)のような磁性合金膜を用いるものについ
ては真空蒸着法、スパッタ法、メッキ法などを用いて磁
性膜が形成されている。
また磁気ディスクに11報の記録或いは情報の再生を行
う磁気ヘッドはフェライトで構成されており、高速で回
転する磁気ディスクより0.5 μm程度の微少な間隙
を隔て\浮上して使用されるが、この浮上は磁気ディス
クが高速回転する際に、これに伴って生ずる空気流より
浮揚力を得るものであって、記録あるいは再生中は一定
の間隙を隔て一安定して浮上していることが必要である
。
う磁気ヘッドはフェライトで構成されており、高速で回
転する磁気ディスクより0.5 μm程度の微少な間隙
を隔て\浮上して使用されるが、この浮上は磁気ディス
クが高速回転する際に、これに伴って生ずる空気流より
浮揚力を得るものであって、記録あるいは再生中は一定
の間隙を隔て一安定して浮上していることが必要である
。
然し、磁気ヘッドの形状構造が不良であったり、磁気デ
ィスクの表面状態が不良であったり、或いは表面に塵埃
が存在すると磁気ヘッドが浮上しなかったり或いは磁気
ヘッドの落下衝突すなわちへッドクラソシュを生じて磁
気ディスクの損傷が起こる。
ィスクの表面状態が不良であったり、或いは表面に塵埃
が存在すると磁気ヘッドが浮上しなかったり或いは磁気
ヘッドの落下衝突すなわちへッドクラソシュを生じて磁
気ディスクの損傷が起こる。
ここで磁気ヘッドは型成形されているため不良品の発生
頻度は少ないが、磁気ディスクは表面状態が微妙に影響
するため表面粗度のような静的な検査と共に浮上検査が
必要である。
頻度は少ないが、磁気ディスクは表面状態が微妙に影響
するため表面粗度のような静的な検査と共に浮上検査が
必要である。
磁気ディスクの浮上検査法として従来は磁気ヘッドを支
えているジンバルにPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)な
どからなる圧電素子を装着し、これよりの信号によりヘ
ッドクラッシュの有無を検査していた。
えているジンバルにPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)な
どからなる圧電素子を装着し、これよりの信号によりヘ
ッドクラッシュの有無を検査していた。
すなわち、ヘッドクラッシュが起こるとその機械的衝撃
により圧電素子に電圧が発生するが、この電圧を観測す
ることによりヘッドクラッシュの有無を判定する。
により圧電素子に電圧が発生するが、この電圧を観測す
ることによりヘッドクラッシュの有無を判定する。
然し、ヘッドクラッシュ以外にジンバルの振動によって
も電圧が発生し、また圧電素子の取り付は条件によって
感度が著しく異なるなど正確にヘッドクラッシュ発生の
有無を検査できないと云う問題があった。
も電圧が発生し、また圧電素子の取り付は条件によって
感度が著しく異なるなど正確にヘッドクラッシュ発生の
有無を検査できないと云う問題があった。
以上記したように磁気ディスクの動的検査に当たってヘ
ッドクラッシュ発生の有無を正確に検出できないことが
問題である。
ッドクラッシュ発生の有無を正確に検出できないことが
問題である。
上記の問題点は高速で回転することにより磁気ヘッドに
揚力を与えて浮上せしめ、情報の記録と再生を行う磁気
ディスクに予め記録媒体層のないトランクを設けておき
、一方センタレールに記録媒体層と等しい厚さの導体層
を備えた磁気ヘッドを使用して該トラック上を走行せし
め、該磁気ヘッドの導電層と磁気ディスク基板との間に
電圧を加え、導通の有無により磁気ディスクの良否を判
断する磁気ディスクの検査方法をとることにより解決す
ることができる。
揚力を与えて浮上せしめ、情報の記録と再生を行う磁気
ディスクに予め記録媒体層のないトランクを設けておき
、一方センタレールに記録媒体層と等しい厚さの導体層
を備えた磁気ヘッドを使用して該トラック上を走行せし
め、該磁気ヘッドの導電層と磁気ディスク基板との間に
電圧を加え、導通の有無により磁気ディスクの良否を判
断する磁気ディスクの検査方法をとることにより解決す
ることができる。
本発明は磁気ディスク上に設けられている記録媒体への
情報の記録或いは再生は複数個の磁気ヘッドを用いて行
われており、また磁気ディスクの全面に互って情報の記
録が行われるのではなく、記録が行われない領域(トラ
ック)が存在することから、この領域に検査用トラック
を設け、専用の磁気ヘッドを使用してヘッドクラッシュ
の有無を検査するものである。
情報の記録或いは再生は複数個の磁気ヘッドを用いて行
われており、また磁気ディスクの全面に互って情報の記
録が行われるのではなく、記録が行われない領域(トラ
ック)が存在することから、この領域に検査用トラック
を設け、専用の磁気ヘッドを使用してヘッドクラッシュ
の有無を検査するものである。
第1図(A>は本発明を実施する磁気ヘッドの側面図、
同図(B)は正面図である。
同図(B)は正面図である。
すなわち磁気ヘッド1はスライダ2とコイルが巻回され
ているコア3の二つの部分から構成されており、コア3
の下端部には記録ギャップ4が設けられ、情報の記録に
際してはコア3のコイル5に信号電流を通じて磁気ヘッ
ド1を磁化せしめ、その際に記録ギャップ4を通る漏れ
磁束の一部が磁気ディスクを通過するのを利用して情報
の記録を行い、逆に既に磁化している磁気ディスクの磁
区からの磁力線がコイル5を通ることにより発生する起
電力を利用して再生が行われている。
ているコア3の二つの部分から構成されており、コア3
の下端部には記録ギャップ4が設けられ、情報の記録に
際してはコア3のコイル5に信号電流を通じて磁気ヘッ
ド1を磁化せしめ、その際に記録ギャップ4を通る漏れ
磁束の一部が磁気ディスクを通過するのを利用して情報
の記録を行い、逆に既に磁化している磁気ディスクの磁
区からの磁力線がコイル5を通ることにより発生する起
電力を利用して再生が行われている。
ここで磁気ヘッド1は空気流から浮揚力を得るため空気
流が流入するスライダ2の流入端にテーバ6が付けられ
ていて浮上刃を得るよう構成されている。
流が流入するスライダ2の流入端にテーバ6が付けられ
ていて浮上刃を得るよう構成されている。
ここで磁気ヘッドには正圧形と負圧形とがあるが、正圧
形を例にとると正面図は第1図(B)のようで、スライ
ダ2の下側中央にはセンタレール7が設けられている。
形を例にとると正面図は第1図(B)のようで、スライ
ダ2の下側中央にはセンタレール7が設けられている。
本発明はこのセンタレール7の上にメッキ処理などによ
り磁気ディスクの記録媒体層の厚さく約1μl11)に
等しい導体層8を設ける。
り磁気ディスクの記録媒体層の厚さく約1μl11)に
等しい導体層8を設ける。
−力筒2図に示す磁気ディスク9の記録媒体1゜の不使
用領域に写真食刻技術(ホトリソグラフィ)を使って記
録媒体の無い空きトラック11を設けておく、ここで空
きトラック11は複数個設けても差支えない。
用領域に写真食刻技術(ホトリソグラフィ)を使って記
録媒体の無い空きトラック11を設けておく、ここで空
きトラック11は複数個設けても差支えない。
そして第1図に示したような検査用磁気ヘッド1を使用
し、空きトランク11を使用して動的検査を行う。
し、空きトランク11を使用して動的検査を行う。
第3図は磁気ヘッド1と磁気ディスク9との関係を示す
部分拡大図で、両者は電源12に回路接続されており、
ヘッドクラッシュが生じた場合すなわち磁気ヘッド1が
磁気ディスク9の記録媒体10に接触した場合はセンタ
レール7の先端に設けられている導体層8が磁気ディス
ク9の基板と接触するよう構成されているので検知器1
3により検出することができる。
部分拡大図で、両者は電源12に回路接続されており、
ヘッドクラッシュが生じた場合すなわち磁気ヘッド1が
磁気ディスク9の記録媒体10に接触した場合はセンタ
レール7の先端に設けられている導体層8が磁気ディス
ク9の基板と接触するよう構成されているので検知器1
3により検出することができる。
すなわち磁気ヘッド1はマンガン・亜鉛・フェライト
(Mn −Znフェライト)からなることが多く、こ
の材料は約105Ωcfflの比抵抗を持っており、こ
のセンタレール7の上に厚さ約1μmの金(Au )メ
ッキが施されている。
(Mn −Znフェライト)からなることが多く、こ
の材料は約105Ωcfflの比抵抗を持っており、こ
のセンタレール7の上に厚さ約1μmの金(Au )メ
ッキが施されている。
また磁気ディスク9の空きトラックの部分には下地のア
ルミニウム合金基板が露出している。
ルミニウム合金基板が露出している。
それ故に電源12より100 V程度の電圧を印加して
おけばヘッドクラッシュが生じた場合に検知が可能とな
る。
おけばヘッドクラッシュが生じた場合に検知が可能とな
る。
以上の方法により従来検出が不完全であったヘッドクラ
ッシュを正確に検出できる。
ッシュを正確に検出できる。
以上記したように従来のジンバルに圧電素子を設けた場
合と較べ本発明を実施することにより、確実にヘッドク
ラッシュを検出することが可能となる。
合と較べ本発明を実施することにより、確実にヘッドク
ラッシュを検出することが可能となる。
第1図本発明を実施する磁気ヘッドで、同図(A)は側
面図、同図(B)は正面図、 第2図は本発明を実施する磁気ディスクの平面図、 第3図は磁気ヘッドと磁気ディスクの部分拡大図である
。 図において 1は磁気ヘッド、 7はセンタレール、8は導
体層、 9は磁気ディスク、10は記録媒
体、 11は空きトランク、13は検知器、 である。
面図、同図(B)は正面図、 第2図は本発明を実施する磁気ディスクの平面図、 第3図は磁気ヘッドと磁気ディスクの部分拡大図である
。 図において 1は磁気ヘッド、 7はセンタレール、8は導
体層、 9は磁気ディスク、10は記録媒
体、 11は空きトランク、13は検知器、 である。
Claims (1)
- 高速で回転することにより磁気ヘッドに揚力を与えて浮
上せしめ、情報の記録と再生を行う磁気ディスクに部分
的に記録媒体層のないトラックを設けておき、一方セン
タレールに記録媒体層とほぼ等しい厚さの導体層を備え
た磁気ヘッドを使用して該トラック上を走行せしめ、該
磁気ヘッドの導電層と磁気ディスク基板との間に電圧を
加え、導通の有無により磁気ディスクの良否を判断する
ことを特徴とする磁気ディスクの検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15823484A JPS6135344A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | 磁気デイスクの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15823484A JPS6135344A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | 磁気デイスクの検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6135344A true JPS6135344A (ja) | 1986-02-19 |
Family
ID=15667204
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15823484A Pending JPS6135344A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | 磁気デイスクの検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6135344A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63122866A (ja) * | 1986-11-11 | 1988-05-26 | 戸田建設株式会社 | 橋脚打設用自動昇降型枠装置 |
JP2009009756A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Panasonic Electric Works Co Ltd | マイクロリレー |
-
1984
- 1984-07-28 JP JP15823484A patent/JPS6135344A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63122866A (ja) * | 1986-11-11 | 1988-05-26 | 戸田建設株式会社 | 橋脚打設用自動昇降型枠装置 |
JPH0663363B2 (ja) * | 1986-11-11 | 1994-08-22 | 戸田建設株式会社 | 橋脚打設用自動昇降型枠装置 |
JP2009009756A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Panasonic Electric Works Co Ltd | マイクロリレー |
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