JPS6119264B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6119264B2 JPS6119264B2 JP52018496A JP1849677A JPS6119264B2 JP S6119264 B2 JPS6119264 B2 JP S6119264B2 JP 52018496 A JP52018496 A JP 52018496A JP 1849677 A JP1849677 A JP 1849677A JP S6119264 B2 JPS6119264 B2 JP S6119264B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- reference material
- aperture
- detector
- radiation source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 20
- 239000012925 reference material Substances 0.000 claims description 13
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は被写体の所定断面における放射線吸
収率分布の画像を得るいわゆるコンピユータ断層
撮影装置に関する。
収率分布の画像を得るいわゆるコンピユータ断層
撮影装置に関する。
このコンピユータ断層撮影装置はすでに知られ
ているようにX線、r線等の放射線ビームを被写
体の断面内のあらゆる方向から照射し各透過放射
線強度に関するデータを収集し、このデータをコ
ンピユータにより演算処理することによつて前記
被写体の断面における放射線吸収率分布の画像を
構成するものである。
ているようにX線、r線等の放射線ビームを被写
体の断面内のあらゆる方向から照射し各透過放射
線強度に関するデータを収集し、このデータをコ
ンピユータにより演算処理することによつて前記
被写体の断面における放射線吸収率分布の画像を
構成するものである。
この発明は放射線ビームのスキヤニング最中に
同時に放射線検出器の感度校正を行うことができ
る断層撮影装置を提供することを目的とする。
同時に放射線検出器の感度校正を行うことができ
る断層撮影装置を提供することを目的とする。
以下本発明の一実施例について図面を参照しな
がら説明する。第1図においてX線管1より焦点
Fを中心として扇形に広がるX線が発射される。
このX線は図示しないコリメータ装置により多数
本の細いビームとされる。この多数本のX線ビー
ムは焦点Fから一つの平面内に広がる扇形をなし
ている。各X線ビームを入射すべく多数の放射線
検出器が焦点Fを中心とする円弧状に1列に配置
されて放射線検出器列2が形成されている。この
X線管1と検出器列2との間に円筒形の中空部3
が形成されており、この中に人体などの被写体4
が配置される。すなわち人体の体軸がX線ビーム
の作る平面にほぼ直角に配置され、体軸に直角な
断面の断層像が得られる。
がら説明する。第1図においてX線管1より焦点
Fを中心として扇形に広がるX線が発射される。
このX線は図示しないコリメータ装置により多数
本の細いビームとされる。この多数本のX線ビー
ムは焦点Fから一つの平面内に広がる扇形をなし
ている。各X線ビームを入射すべく多数の放射線
検出器が焦点Fを中心とする円弧状に1列に配置
されて放射線検出器列2が形成されている。この
X線管1と検出器列2との間に円筒形の中空部3
が形成されており、この中に人体などの被写体4
が配置される。すなわち人体の体軸がX線ビーム
の作る平面にほぼ直角に配置され、体軸に直角な
断面の断層像が得られる。
この被写体4の外に(この実施例では中空部3
の外縁に接して)回転中心Oをおき、この点Oを
中心としてX線管1及び検出器列2を一体的にほ
ぼ180゜または360゜回転させる。すると扇形ビー
ムの作る平面内であらゆる方向からのX線ビーム
の被写体4に対するスキヤニングが行われたこと
になり、各検出器から断層像の構成に必要なデー
タを採集することができる。なお、被写体4が回
転中常にX線ビームの扇形の範囲の外に出ないよ
うにするため、この実施例では被写体4が中空部
3に丁度一致する場合も考慮して、いかなる回転
角度においても中空部3が扇形X線ビームの範囲
外に出ないようにしている(第2図参照)。
の外縁に接して)回転中心Oをおき、この点Oを
中心としてX線管1及び検出器列2を一体的にほ
ぼ180゜または360゜回転させる。すると扇形ビー
ムの作る平面内であらゆる方向からのX線ビーム
の被写体4に対するスキヤニングが行われたこと
になり、各検出器から断層像の構成に必要なデー
タを採集することができる。なお、被写体4が回
転中常にX線ビームの扇形の範囲の外に出ないよ
うにするため、この実施例では被写体4が中空部
3に丁度一致する場合も考慮して、いかなる回転
角度においても中空部3が扇形X線ビームの範囲
外に出ないようにしている(第2図参照)。
一方、X線管1と検出器列2との間には開口6
を有する所定厚さの基準物質5が配置されてい
る。そしてこの開口6を通つたビームのみが被写
体4を通過するようにこの実施例では開口6の端
部と焦点Fとを結ぶ線が円筒形中空部3の外縁に
接するようになつている。すなわちこの開口6を
通らず、従つて被写体4を通らないX線ビームは
基準物質5を通つて検出器に達する。X線管1及
び検出器列2が回転するとともに基準物質5もま
た、ともに回転する。例えば左方向(矢印に示す
反時計回り方向)に回転した場合は第2図に示す
状態をへて180゜回転して第3図のようになる。
この際、これらの図に示す本実施例では回転の最
初(第1図)と最後(第3図)で開口6を通らず
基準物質5を通つたX線ビームが照射する検出器
は少くとも半分以上あるので(回転途中(第2
図)では焦点Fよりみた円筒形中空部3の角度が
大きくなり、それにつれて開口6も広くなるの
で、基準物質5を通つたX線ビームが照射する検
出器は半分以下である)、各検出器は基準物質5
を通過したX線ビームを少なくとも1回以上入射
することになる。
を有する所定厚さの基準物質5が配置されてい
る。そしてこの開口6を通つたビームのみが被写
体4を通過するようにこの実施例では開口6の端
部と焦点Fとを結ぶ線が円筒形中空部3の外縁に
接するようになつている。すなわちこの開口6を
通らず、従つて被写体4を通らないX線ビームは
基準物質5を通つて検出器に達する。X線管1及
び検出器列2が回転するとともに基準物質5もま
た、ともに回転する。例えば左方向(矢印に示す
反時計回り方向)に回転した場合は第2図に示す
状態をへて180゜回転して第3図のようになる。
この際、これらの図に示す本実施例では回転の最
初(第1図)と最後(第3図)で開口6を通らず
基準物質5を通つたX線ビームが照射する検出器
は少くとも半分以上あるので(回転途中(第2
図)では焦点Fよりみた円筒形中空部3の角度が
大きくなり、それにつれて開口6も広くなるの
で、基準物質5を通つたX線ビームが照射する検
出器は半分以下である)、各検出器は基準物質5
を通過したX線ビームを少なくとも1回以上入射
することになる。
このようにスキヤニング動作中に全検出器の感
度検正を同時に行うことができるので、特に図に
示したような多数の検出器を有する断層撮影装置
に有効である。何故なら一般に多数の検出器の感
度はそれぞれバラついており、感度を均一に調整
することは非常に煩雑でかつ困難なものであるか
らである。データ採取時に非常に近接した時期に
1回の断層撮影ごとに校正値を得ることができる
ためその校正値の信頼性は高く、画質向上に大き
く貢献できる。
度検正を同時に行うことができるので、特に図に
示したような多数の検出器を有する断層撮影装置
に有効である。何故なら一般に多数の検出器の感
度はそれぞれバラついており、感度を均一に調整
することは非常に煩雑でかつ困難なものであるか
らである。データ採取時に非常に近接した時期に
1回の断層撮影ごとに校正値を得ることができる
ためその校正値の信頼性は高く、画質向上に大き
く貢献できる。
なお本発明が上述の実施例に限られず、各検出
器が回転中1回は被写体を通らないで基準物質を
通る放射線ビームを入射するようにすればよいた
め、開口6を伸縮させないで固定としたり、或い
は開口の端部と焦点Fとを結ぶ直線が被写体4の
外縁に接するように開口6を伸縮させるよう構成
してもよい。
器が回転中1回は被写体を通らないで基準物質を
通る放射線ビームを入射するようにすればよいた
め、開口6を伸縮させないで固定としたり、或い
は開口の端部と焦点Fとを結ぶ直線が被写体4の
外縁に接するように開口6を伸縮させるよう構成
してもよい。
また基準物質5は種々の厚さのものを用意し、
異なる放射線吸収率での感度校正を行うようにし
てもよい。
異なる放射線吸収率での感度校正を行うようにし
てもよい。
第1図は本発明の1実施例を模式的に示す図、
第2図及び第3図は第1図の動作を説明するため
の回転した他の状態をそれぞれ示す模式図であ
る。 1……X線管、2……検出器列、3……円筒形
中空部、4……被写体、5……基準物質、6……
開口、F……X線ビームの焦点、O……回転中
心。
第2図及び第3図は第1図の動作を説明するため
の回転した他の状態をそれぞれ示す模式図であ
る。 1……X線管、2……検出器列、3……円筒形
中空部、4……被写体、5……基準物質、6……
開口、F……X線ビームの焦点、O……回転中
心。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一つの平面上で扇形に広がる多数の放射線ビ
ームを発生する放射線源と、各放射線ビームを検
出すべく1列に配置された多数の放射線検出器か
らなる検出器列とを有し、この両者の間に被写体
を配置し、どの検出器も回転中少くとも1回はこ
の被写体を通らないビームが入射されるように被
写体外に回転中心をおいて前記放射線源と検出器
列とを前記平面上で回転させるとともに、前記放
射線源と検出器列との間に被写体を通らない放射
線ビームのみが通過するように基準物質を配置し
たことを特徴とする断層撮影装置。 2 基準物質は開口を有し、この開口を通つた放
射線ビームのみが被写体を通過するよう開口端と
放射線焦点とを結ぶ線が被写体の配置領域外縁に
接するようにして前記放射線源と検出器列と基準
物質とを回転させることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の断層撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1849677A JPS53103391A (en) | 1977-02-21 | 1977-02-21 | Tomograph |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1849677A JPS53103391A (en) | 1977-02-21 | 1977-02-21 | Tomograph |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS53103391A JPS53103391A (en) | 1978-09-08 |
JPS6119264B2 true JPS6119264B2 (ja) | 1986-05-16 |
Family
ID=11973219
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1849677A Granted JPS53103391A (en) | 1977-02-21 | 1977-02-21 | Tomograph |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS53103391A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55122537A (en) * | 1979-03-15 | 1980-09-20 | Tokyo Shibaura Electric Co | Xxray computeddtomography device |
-
1977
- 1977-02-21 JP JP1849677A patent/JPS53103391A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS53103391A (en) | 1978-09-08 |
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