JPS6118173A - トランジスタ - Google Patents

トランジスタ

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Publication number
JPS6118173A
JPS6118173A JP13850384A JP13850384A JPS6118173A JP S6118173 A JPS6118173 A JP S6118173A JP 13850384 A JP13850384 A JP 13850384A JP 13850384 A JP13850384 A JP 13850384A JP S6118173 A JPS6118173 A JP S6118173A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
collector
current
transistor
base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13850384A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidekazu Ishii
英一 石井
Ryuichi Kioka
喜岡 隆一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP13850384A priority Critical patent/JPS6118173A/ja
Publication of JPS6118173A publication Critical patent/JPS6118173A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/72Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
    • H01L29/73Bipolar junction transistors
    • H01L29/732Vertical transistors
    • H01L29/7322Vertical transistors having emitter-base and base-collector junctions leaving at the same surface of the body, e.g. planar transistor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は大きな出力電流を取9出すのに最適なトランジ
スタの構造に関するものである。
(従来の技術) 従来よりI ”L (Integrated Inje
ction Logic)と呼ばれる論理回路が知られ
ている。一方、同じく論理回路の出力回路としてオープ
ンコレクタ回路と呼ばれる回路も知られている。両者を
組み合わせて用いた回路の例を第1図に示す。
第1図において入力端子1はPNPトランジスタ2の;
レクタとNPNトランジスタ30ベースとに接続され、
PNPトランジスタ2のエミッタは電流源4に接続され
、NPNトランジスタ3のエミッタは電流源5に接続さ
れるとともに、出カドランジスタロのベースにも接続さ
れ、出カドランジスタロのコレクタは出力端子7へ接続
されPNPトランジスタ20ペースとNPN)ランジス
タ3のコレクタと出カドランジスタロのエミッタは基準
電位へ接続されている。ここでNPNF9ンジスタ3は
逆トランジスタとして動作している。
かかる酸m回路において、入力端子lK印加される入力
電圧が高いとNPNト5ンジスタ3は導通状態となシ、
電流源5の電流はNPN)ランジスタ3に流れ出カドラ
ンジスタロはOFFとなシ出カドランジスタロのコレク
タには電流は流れない〇 一方、かかる論理回路において入力端子1に印加される
入力電圧が低いとNPN)ランジスタ3は遮断状態とな
シ、出カドランジスタロのベースに電流源5の電流が流
れ、出カドランジスタロのコレクタよシ出力電流が取り
出されていた。
(発明が解決しようとする問題点) ■!Lによる論理回路では消費電力を押さえるため動作
電流は小きく設定されている。このため電流源5の値も
小さな値に設定されているので結局逆トランジスタとし
て動作する出カドランジスタロよシ取シ出すことのでき
る電流も小さなものとなってしまう欠点があった。この
出カドランジスタロは逆動作トランジスタであるので増
幅率も小さく、出力電流はこの点で゛も更に小さいもの
しか得られなかった。
このため、大きな出力電流が必要な場合にはさらに増幅
回路が必要となる欠点があった。
本発明の目的は、以上述べたような欠点を除いて、大き
な出力電流を取シ出すことのできる出カド′:)/ジス
タの構造を得ることにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明によれば、コレクタ領域にコレクタコンタクト領
域とベース領域とが形成され、ベース領域にエミッタ領
域が形成されたトランジスタにおいてコレクタ電極はコ
レクタコンタクト領域とベース領域との間のコレクタ領
域およびコレクタコンタクト領域に接続されたトランジ
スタを得る。
(実施例)    ゛ 次に、図面を参照して本発明による出力トランジスタを
より詳細に説明する。
本発明の一実施例を示す第2図において、P型の半導体
基板8に選択的にN+型埋込層9t−拡散した上にN−
型の半導体エピタキシャル層10が成長させられており
、このN−エピタキシャル層10はP型絶縁領域11に
て区切られ、この区切られた領域内にP型不純物が選択
的に拡散されたベース領域12とN型不純物が選択的に
拡散されてコレクタのオーミック性を確保されたコレク
タコンタクト領域13とが設けられており、さらにベー
ス領域12の中くけN型不純物が選択的に拡散めれてエ
ミッタ領域13が設けらnている。表面はシリコン酸化
膜14にて被覆されておシこのシリコン醸化膜14にあ
けられた穴を介して金属配線15にて電気的に接続が行
なわれている。又シリコン酸化膜14にはコレクターコ
ンタクト領域13とベース領域12の中間にもコンタ、
クト穴16があけられておシ、「型エピタキシャル層l
Oと金属配線15との間にも接続されている。
またコレクト穴16は金属配線でコレクタコンタクト領
域13と接縁されている。このようにコンタクト穴16
の部分ではシせトキバリャダイオードが構成さnている
また、P型中導体基板8はP型絶縁領域11を介して基
準電位点へ接続されている。
本発明による出力トランジスタは第2図に示すような構
造となっているため微少なコレクタ電流しか流さない動
作点では出力トランジスタのコレクタ領域内の電位勾配
が小さく、コンタクト穴16での71ツトキバリヤダイ
オードが導通しないため、通常の出力トランジスタと同
じ動作を行なう。
一方、コレクタ電流が大きくなると出力トランジスタの
コレクタ領域内に電位勾配が発生して、コンタクト穴1
6でのショットキーバリャダイオードが導通するので出
力トランジスタのコレクタ領域に正孔が注入される。そ
して注入された正孔のほとんどはP型絶縁領域11を介
して基準電位点へ流れるが、一部はベース領域12へも
流れることになる。
従って出力トランジスタへのベース電流が増加したこと
と等価となりその結果出力トランジスタのコレクタに流
れる電流は増加することになシ結局大きな出力電流が得
られる。
次に、この出力電流の増大する様子を従来例と比較して
説明する。
第1図に示した従来の回路において、電流源5の電流値
をlOマイクロアンペア、出力トランジスタ6の電流増
幅率t−100とすると、最大に出カドランジスタロに
流せるコレクタ電流は1ミリアンペアとなる。
次に第2図に、よる本発明の出力トランジスタを用いた
場合には、電流源5の電流値を第1図の従来の回路と同
様にlOマイクロアンペアとし、出カドランジスタロの
電流増幅率を100として、出力トランジスタ、6に流
れるコレクタ電流が1ミリアンペア未満でコンタクト穴
16でのショットキバリアダイオードが導通するように
N 型エピタキシャル層上のシリコン酸化膜14にあけ
られたコンタクト穴16の位置を設定する。すなわち、
コレクタコンタクト13とベース領域12の間には電位
勾配があるため、コレクタコンタクト13とベース領域
12の中間のエピタキシャル領域では、コレクタコンタ
クト13側が最も電位が高く、ベース領域12側に近ず
く程電位が下がる。そのため、コンタクト穴16をベー
ス領域12に近ずけるようにするとより少ないコレクタ
電流でショットキバリアダイオードが導通するようにな
る。
ここでコレクタ電流の大きい領域では出力電流はほとん
どショットキバリアダイオードを介して流れるようにな
る。これはコレクタコンタクト13と穴16の間のエピ
タキシャル領域の電位差が大きくなってショットキバリ
アダイオードの順方向電圧よプも大きくなるからである
ショットキバリアダイオードを介して出カドランジスタ
ロのコレクタ領域に注入された電流の1パーセントがベ
ース値域12へ流れるとすると、ベース電流は出力電流
が1ミリアンペアの時に10マイクロアンペアが電流源
5の電流値10マイクロアンペアに加算されて計20マ
イクロアシペア流れる。このため、さらに大きな出力電
流が流せるようになる。トランジスタ6の電流増幅率が
100であって、出力電流が増加すれば、ベース電流に
加算される電流も1パーセント増えるのでこの状態では
無限大に出力電流が増えることになるが、実際にはコレ
クタ電流が大きな領域ではコレクタ電流の増加に伴なっ
て電流増幅率が低下するため、限度がある。
また、導通している出カドランジスタロを遮断させるた
めには、本発明の出力トランジスタの構造を用いた場合
には、加算された電流を含めたベース電流をトランジス
タ3で吸収する必要がある。
この点を設計上留意する必要があるが、従来の回路にお
ける出力電流に対して本発明の出力トランジスタの構造
を用いた回路では2〜5倍程度大きな出力電流を流すこ
とができ、定電流源の電流の増加が無いため、出力電流
がゼロの時の回路の消費電力の増加も無いものである。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明のトランジスタによれば半
導体基板上のエピタキシャル層を絶縁領域で区切シ、こ
の区切られた領域内に選択的に形成されたベース領域と
コレクタコンタクト領域が設けられ、前記ベース領域の
中にはエミッタ領域が形成されてなり、表面にはシリコ
ン酸化膜が被覆されて、このシリコン酸化膜に選択的に
あけられたコンタクト穴を介して金属配線により各電極
の電気的な接続が行なわれ、さらに、コレクタコンタク
ト領域とベース領域の中間のエピタキシャル層上のシリ
コン酸化膜にコンタクト穴を設け、かかるコンタクト穴
とコレクタコンタクト領域とを金属配線で接続して諭る
ので、消費電力の増加や特殊な製造プロセスを用いるこ
となく論理回路の出力電流を増大させることができるも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来より用いられている論理回路の回路図、第
2図は本発明の一実施例によるトランジスタの構造を説
明するための略断面図である。 1・・・・・・入力端子、2・・・・・・PNP トラ
ンジスタ、3・・・・・・NPN)ランジスタ、4.5
・・・・・・電流源、6・・・・・・出力トランジスタ
、7・・・・・・出力端子、8・・・・・・半導体基板
、9・・・・・・埋込層、10・・・・・・エピタキシ
ャル層、11・・・・・・絶縁領域、12・・・・・・
ベース領域、13・・・・・・エミッタ領域、14・・
・・・・シリコン酸化膜、15・・・・・・金属配線、
16・・・・・・コンタクト穴。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一導電型のコレクタ領域と、該コレクタ領域内に形成さ
    れた他の導電型のベース領域と、該コレクタ領域内に該
    ベース領域とは別に設けられた前記一導電型のコレクタ
    コンタクト領域と、前記ベース領域内に形成された前記
    一導電型のエミッタ領域とを有するトランジスタに於い
    て、コレクタ電極は前記コレクタコンタクト領域と前記
    ベース領域との間の前記コレクタ領域および前記コレク
    タコンタクト領域に接続されていることを特徴とするト
    ランジスタ。
JP13850384A 1984-07-04 1984-07-04 トランジスタ Pending JPS6118173A (ja)

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JP13850384A JPS6118173A (ja) 1984-07-04 1984-07-04 トランジスタ

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JPS6118173A true JPS6118173A (ja) 1986-01-27

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ID=15223646

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JP13850384A Pending JPS6118173A (ja) 1984-07-04 1984-07-04 トランジスタ

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