JPS61176829A - 光学式トルク検出装置 - Google Patents
光学式トルク検出装置Info
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- JPS61176829A JPS61176829A JP1759385A JP1759385A JPS61176829A JP S61176829 A JPS61176829 A JP S61176829A JP 1759385 A JP1759385 A JP 1759385A JP 1759385 A JP1759385 A JP 1759385A JP S61176829 A JPS61176829 A JP S61176829A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L3/00—Measuring torque, work, mechanical power, or mechanical efficiency, in general
- G01L3/02—Rotary-transmission dynamometers
- G01L3/04—Rotary-transmission dynamometers wherein the torque-transmitting element comprises a torsionally-flexible shaft
- G01L3/10—Rotary-transmission dynamometers wherein the torque-transmitting element comprises a torsionally-flexible shaft involving electric or magnetic means for indicating
- G01L3/12—Rotary-transmission dynamometers wherein the torque-transmitting element comprises a torsionally-flexible shaft involving electric or magnetic means for indicating involving photoelectric means
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光学式トルク検出装置に関する0本発明による
装置は、例えば自動車のハンドルを操舵するとき、タイ
ヤの接地抵抗等の原因により発生する反動のハンドルト
ルク等を検出するために用いられる。
装置は、例えば自動車のハンドルを操舵するとき、タイ
ヤの接地抵抗等の原因により発生する反動のハンドルト
ルク等を検出するために用いられる。
従来技術、および発明が解決しようとする問題点トルク
検出器としては、ひずみによる検出とねじれ角による検
出が一般的である。ひずみによる検出としては例えばひ
ずみゲージがあるが、ひずみゲージの接着法、温度特性
等に問題がある。一方、ねじれ角による検出法として、
第12図に示すような方式が一般的である。11は内燃
機関(図示せず)とクラッチ(図示せず)と連結したシ
ャフト、19はトーションバー、12.13は強磁性体
歯車、14.15は強磁性体歯車13の回転による磁束
密度の変化を検出するマグネットピンクアップ、16.
17はマグネットピックアップ14.15からの出力を
それぞれ矩形波に整形する波形整形回路、1日は波形整
形回路16゜17からの矩形波の位相差を検出してトル
クを検出する検出回路である。この構成のトルクセンサ
においては、シャフト11の回転にともない強磁性体歯
車12.13が回転し、マグネ・7トピソクアンプ14
.15から周期的な出力が発生する。
検出器としては、ひずみによる検出とねじれ角による検
出が一般的である。ひずみによる検出としては例えばひ
ずみゲージがあるが、ひずみゲージの接着法、温度特性
等に問題がある。一方、ねじれ角による検出法として、
第12図に示すような方式が一般的である。11は内燃
機関(図示せず)とクラッチ(図示せず)と連結したシ
ャフト、19はトーションバー、12.13は強磁性体
歯車、14.15は強磁性体歯車13の回転による磁束
密度の変化を検出するマグネットピンクアップ、16.
17はマグネットピックアップ14.15からの出力を
それぞれ矩形波に整形する波形整形回路、1日は波形整
形回路16゜17からの矩形波の位相差を検出してトル
クを検出する検出回路である。この構成のトルクセンサ
においては、シャフト11の回転にともない強磁性体歯
車12.13が回転し、マグネ・7トピソクアンプ14
.15から周期的な出力が発生する。
これらを波形整形回路16.17によりそれぞれの出力
は矩形波に整形される。
は矩形波に整形される。
第13図は発生した矩形波を表わす。S (16)は波
形整形回路16から得られる矩形波であり、S (17
)は波形整形回路17から得られる矩形波である。トル
クが発生したとき、トーションバー19にねじれが発生
し、矩形波S (16)と矩形波S (17)の間には
位相差t0が生ずることになる。この位相差を検出回路
18により検出して、トルク検出を行う。この方法では
、強磁性体歯車12.13の回転にともなう出力を利用
するため、静止時に発生したトルクの検出は不可能とな
る。従って、ハンドルを回し始めの時等に発生するトル
クの検出は不可能となる。また、回転数の変化する2つ
の矩形波の微小位相差を検出するには、その検出回路が
複雑かつ高価なものになる。
形整形回路16から得られる矩形波であり、S (17
)は波形整形回路17から得られる矩形波である。トル
クが発生したとき、トーションバー19にねじれが発生
し、矩形波S (16)と矩形波S (17)の間には
位相差t0が生ずることになる。この位相差を検出回路
18により検出して、トルク検出を行う。この方法では
、強磁性体歯車12.13の回転にともなう出力を利用
するため、静止時に発生したトルクの検出は不可能とな
る。従って、ハンドルを回し始めの時等に発生するトル
クの検出は不可能となる。また、回転数の変化する2つ
の矩形波の微小位相差を検出するには、その検出回路が
複雑かつ高価なものになる。
本発明の目的は、前述の従来形における問題点口鑑み、
トーションバーを内蔵するシャフト、トルク発生時該ト
ーションバーのねじれ量検出用の互いに対向して配置さ
れた発光素子および1チップ2素子構成の受光素子、お
よび該受光素子からの信号を受ける信号処理回路を用い
、該信号処理回路において温度変化にともなう発光素子
の光量変化、受光素子の感度変化及び受光素子の暗電流
の影響を受けない出力を発生させ、静止時にもトルク検
出を行うことができる光学式トルク検出装置を提供する
ことにある。
トーションバーを内蔵するシャフト、トルク発生時該ト
ーションバーのねじれ量検出用の互いに対向して配置さ
れた発光素子および1チップ2素子構成の受光素子、お
よび該受光素子からの信号を受ける信号処理回路を用い
、該信号処理回路において温度変化にともなう発光素子
の光量変化、受光素子の感度変化及び受光素子の暗電流
の影響を受けない出力を発生させ、静止時にもトルク検
出を行うことができる光学式トルク検出装置を提供する
ことにある。
問題点を解決するための手段、および作用本発明におい
ては、トーションバー、該トーションバーの一端に固定
された発光素子、該トーションバーの他端に固定され該
発光素子に対向して配置された1チップ2素子構成の受
光素子、該発光素子を駆動する駆動手段、および該受光
素子の2つの出力電圧(V+ 、VZ )を処理してト
ルクに対応した出力を発生する信号処理手段を具備し、
該信号処理手段は該受光素子の2つの出力電圧の比を求
める信号処理を行うようになっていることを特徴とする
光学式トルク検出装置が提供される。
ては、トーションバー、該トーションバーの一端に固定
された発光素子、該トーションバーの他端に固定され該
発光素子に対向して配置された1チップ2素子構成の受
光素子、該発光素子を駆動する駆動手段、および該受光
素子の2つの出力電圧(V+ 、VZ )を処理してト
ルクに対応した出力を発生する信号処理手段を具備し、
該信号処理手段は該受光素子の2つの出力電圧の比を求
める信号処理を行うようになっていることを特徴とする
光学式トルク検出装置が提供される。
本発明による装置においては、検出回路は、それぞれの
受光素子の出力の比をとることでトルクに対応した出力
に変換する。トルクが働いていない時は、発光素子の発
光スポットはデュアルの受光素子の中央に位置するため
、デュアルの受光素子の出力はバランスされる。トルク
が働くと、発光素子と受光素子の相対的位置が変化し、
デュアルの受光素子の出力はアンバランスされ、出力差
を生じる。この出力差がトルクに対応した信号になるわ
けであるが、実際には発光素子の発光量が温度によって
大きく増減する。そこでこの発光素子の温度特性とさら
に受光素子の温度特性も含めて)態度補償を行うため、
それぞれの受光素子の出力の比をとうてトルクに対応し
た出力に変換する。
受光素子の出力の比をとることでトルクに対応した出力
に変換する。トルクが働いていない時は、発光素子の発
光スポットはデュアルの受光素子の中央に位置するため
、デュアルの受光素子の出力はバランスされる。トルク
が働くと、発光素子と受光素子の相対的位置が変化し、
デュアルの受光素子の出力はアンバランスされ、出力差
を生じる。この出力差がトルクに対応した信号になるわ
けであるが、実際には発光素子の発光量が温度によって
大きく増減する。そこでこの発光素子の温度特性とさら
に受光素子の温度特性も含めて)態度補償を行うため、
それぞれの受光素子の出力の比をとうてトルクに対応し
た出力に変換する。
実施例
本発明の一実施例としての光学式トルク検出装置が第1
図に示される。第1図装置は例えばラックアンドピニオ
ン式ステアリングギヤに装着したトルクセンサとして示
される。2は上部をハンドル(図示せず)、下部をラッ
ク(図示せず)と結合するシャフト部、241はラック
(図示せず)とシャフト部2を結合するステアリングギ
ヤハウジングロア、251はステアリングギヤハウジン
グアッパ、252はシャフト部2の回転を自由にし、ス
テアリングギヤアッパ251とシャフト部2を結合する
ベアリング、27はステアリングギヤハウジングロア2
41とステアリングギヤハウジングアッパ251を接続
する変換フランジ、3は発光部、4は受光部、5はブラ
シ、6は発光部3、受光部4へ電力を供給し、受光部4
からの信号を処理する信号処理回路である。
図に示される。第1図装置は例えばラックアンドピニオ
ン式ステアリングギヤに装着したトルクセンサとして示
される。2は上部をハンドル(図示せず)、下部をラッ
ク(図示せず)と結合するシャフト部、241はラック
(図示せず)とシャフト部2を結合するステアリングギ
ヤハウジングロア、251はステアリングギヤハウジン
グアッパ、252はシャフト部2の回転を自由にし、ス
テアリングギヤアッパ251とシャフト部2を結合する
ベアリング、27はステアリングギヤハウジングロア2
41とステアリングギヤハウジングアッパ251を接続
する変換フランジ、3は発光部、4は受光部、5はブラ
シ、6は発光部3、受光部4へ電力を供給し、受光部4
からの信号を処理する信号処理回路である。
第1図装置におけるシャフト部2の構成が第2図に示さ
れる。シャフト部2はトーションバー22を内蔵し、上
部はシャフト21と結合し、下部はビニオンシャフト2
3と結合している。ピニオンシャフト23には、ステア
リングギャハウジングロア241と結合するためヘアリ
ング242が打込まれている。トルクが発生するとトー
ションバー22がねじれ、それにともないシャフト21
とピニオンシャフト23は互いにトーションバー22の
ねじれ量だけ軸方向に回転する。トーションバー22の
ねしれ量がある値に達するとシャフト21とピニオンシ
ャフト23は互いに接触し、ねじれ量がそれ以上になら
ないような構造を有している。
れる。シャフト部2はトーションバー22を内蔵し、上
部はシャフト21と結合し、下部はビニオンシャフト2
3と結合している。ピニオンシャフト23には、ステア
リングギャハウジングロア241と結合するためヘアリ
ング242が打込まれている。トルクが発生するとトー
ションバー22がねじれ、それにともないシャフト21
とピニオンシャフト23は互いにトーションバー22の
ねじれ量だけ軸方向に回転する。トーションバー22の
ねしれ量がある値に達するとシャフト21とピニオンシ
ャフト23は互いに接触し、ねじれ量がそれ以上になら
ないような構造を有している。
第1図に示されるように、ピニオンシャフト23には受
光部4、シャツ)21には発光部3が固定されている。
光部4、シャツ)21には発光部3が固定されている。
受光部4はホルダ40.1チップ2素子構成の(デュア
ルの)受光素子41を設置し印刷配線された例えばセラ
ミックスの基板42、デュアルの受光素子41への電力
供給及び2つの信号を取り出すためブラシ5により外部
との接続を可能にする3つの回転電極43,44.45
、基板42と回転電極43,44.45を接続するピン
46.47、回転電極43,44,45、基板42の互
いの絶縁を保つ絶縁体480,481゜482.483
で構成される。ピニオンシャフト23へはホルダ40に
より固定される。発光部3はシャツ1−21へ固定され
るホルダ30、例えば発光ダイオードのような発光素子
31及びデュアルの受光素子41と発光素子31の距離
を調整するスペーサ32を設置し、印刷配線された例え
ばセラミックスの基板33、受光素子31への電力供給
をブラシ5により可能にする回転電極34゜35、基板
33と回転電極34.35を接続するピン37.38、
回転電極34.35及び基板33の互いの絶縁を保つ絶
縁体360,361,362により構成される。第3図
はデュアルの受光素子41の正面図、第4図はデュアル
の受光素子41の断面図である。デュアルの受光素子4
1は例えばPIN型の構造を有したフォトダイオード2
素子を1チップで取扱ったものであり、例えばN型を有
した半導体層417と例えば高抵抗率を有した半導体層
416を共通とし、例えばP型を有した半導体領域41
1,412のみが分離した構造となっている。半導体領
域411,412を有する面と反対側の面には電源電極
418が付され前述の基板42の印刷配線と例えば半田
付により接続されている。半4体層417を有する面と
反対の面には電極413,414がそれぞれの半導体領
域411.412へ反射防止膜415に形成された穴を
通して接続されている。電極413゜414はそれぞれ
例えばA1線などにより前述の基板42上の印刷配線と
接続されている。
ルの)受光素子41を設置し印刷配線された例えばセラ
ミックスの基板42、デュアルの受光素子41への電力
供給及び2つの信号を取り出すためブラシ5により外部
との接続を可能にする3つの回転電極43,44.45
、基板42と回転電極43,44.45を接続するピン
46.47、回転電極43,44,45、基板42の互
いの絶縁を保つ絶縁体480,481゜482.483
で構成される。ピニオンシャフト23へはホルダ40に
より固定される。発光部3はシャツ1−21へ固定され
るホルダ30、例えば発光ダイオードのような発光素子
31及びデュアルの受光素子41と発光素子31の距離
を調整するスペーサ32を設置し、印刷配線された例え
ばセラミックスの基板33、受光素子31への電力供給
をブラシ5により可能にする回転電極34゜35、基板
33と回転電極34.35を接続するピン37.38、
回転電極34.35及び基板33の互いの絶縁を保つ絶
縁体360,361,362により構成される。第3図
はデュアルの受光素子41の正面図、第4図はデュアル
の受光素子41の断面図である。デュアルの受光素子4
1は例えばPIN型の構造を有したフォトダイオード2
素子を1チップで取扱ったものであり、例えばN型を有
した半導体層417と例えば高抵抗率を有した半導体層
416を共通とし、例えばP型を有した半導体領域41
1,412のみが分離した構造となっている。半導体領
域411,412を有する面と反対側の面には電源電極
418が付され前述の基板42の印刷配線と例えば半田
付により接続されている。半4体層417を有する面と
反対の面には電極413,414がそれぞれの半導体領
域411.412へ反射防止膜415に形成された穴を
通して接続されている。電極413゜414はそれぞれ
例えばA1線などにより前述の基板42上の印刷配線と
接続されている。
第5図は発光素子31とデュアルの受光素子41の位置
関係を示した図である。発光素子31とデュアルの受光
素子41は互いに対向し発光素子31から発せられた光
スポット31Aはデュアルの受光素子41上に照射され
る位置関係にある。
関係を示した図である。発光素子31とデュアルの受光
素子41は互いに対向し発光素子31から発せられた光
スポット31Aはデュアルの受光素子41上に照射され
る位置関係にある。
第6図は信号処理回路6、発光素子31、およびデュア
ルの受光素子41の接続関係を示す回路図である。63
1は例えば非安定マルチバイブレークで構成された発振
回路、632は発振回路631からの出力により発光素
子31のオン・オフを制御する例えばトランジスタのよ
うなスイッチング素子、61はデュアルの受光素子41
からの2つの出力のうち発振回路631からの出力によ
りタイミングをとり光電流だけを検出する検出回路、6
2は検出回路61からの2つのオドダイ検出回路61は
発光素子31のオン時タイミングを発生する例えば単安
定マルチバイブレークのようなタイミング回路613、
ノットゲートを前段に有し発光素子31のオフ時にタイ
ミングを発生させる例えば単安定マルチバイブレークの
ようなタイミング回路614、前記タイミング回路61
3からのタイミングにより発光素子31のオン時のデュ
アルの受光素子41の2つの出力をそれぞれ検出するサ
ンプルホールド回路615゜616、前記タイミング回
路614からのタイミングにより発光素子31のオフ時
のデュアルの受光素子4工の2つの出力をそれぞれ検出
するサンプルホールド回路617,618、発光素子3
1のオン時の出力及びオフ時のデュアルの受光素子41
のそれぞれの差をとる減算回路611,612で構成さ
れている。サンプルホールド回路は例えばCR−BOX
(7)LXO25を使用する。
ルの受光素子41の接続関係を示す回路図である。63
1は例えば非安定マルチバイブレークで構成された発振
回路、632は発振回路631からの出力により発光素
子31のオン・オフを制御する例えばトランジスタのよ
うなスイッチング素子、61はデュアルの受光素子41
からの2つの出力のうち発振回路631からの出力によ
りタイミングをとり光電流だけを検出する検出回路、6
2は検出回路61からの2つのオドダイ検出回路61は
発光素子31のオン時タイミングを発生する例えば単安
定マルチバイブレークのようなタイミング回路613、
ノットゲートを前段に有し発光素子31のオフ時にタイ
ミングを発生させる例えば単安定マルチバイブレークの
ようなタイミング回路614、前記タイミング回路61
3からのタイミングにより発光素子31のオン時のデュ
アルの受光素子41の2つの出力をそれぞれ検出するサ
ンプルホールド回路615゜616、前記タイミング回
路614からのタイミングにより発光素子31のオフ時
のデュアルの受光素子4工の2つの出力をそれぞれ検出
するサンプルホールド回路617,618、発光素子3
1のオン時の出力及びオフ時のデュアルの受光素子41
のそれぞれの差をとる減算回路611,612で構成さ
れている。サンプルホールド回路は例えばCR−BOX
(7)LXO25を使用する。
第7図は発振回路631の出力S (631)と、それ
に対応して発生するタイミング回路613からの出力S
(613)及びタイミング回路614からの出力S
(614)の関係を示した図である。発振回路631の
オン時には、第7図(2)のごとくタイミング回路61
3からサンプルホールド回路615゜616へサンプル
信号S (613)が送られ、その時、すなわち発光素
子31のオン時の受光素子41の出力が検出される。一
方、発振回路631のオフ時には第7図(2)のごとく
、タイミング回路614からサンプルホールド回路61
7,618へサンプル信号S (614)が送られ、発
光素子31のオフ時の受光素子41の出力が検出される
。
に対応して発生するタイミング回路613からの出力S
(613)及びタイミング回路614からの出力S
(614)の関係を示した図である。発振回路631の
オン時には、第7図(2)のごとくタイミング回路61
3からサンプルホールド回路615゜616へサンプル
信号S (613)が送られ、その時、すなわち発光素
子31のオン時の受光素子41の出力が検出される。一
方、発振回路631のオフ時には第7図(2)のごとく
、タイミング回路614からサンプルホールド回路61
7,618へサンプル信号S (614)が送られ、発
光素子31のオフ時の受光素子41の出力が検出される
。
このような信号処理回路6を使用すれば発光素子31に
より発生したデュアルの受光素子41の2つの出力の出
力比を検出することが可能となる。
より発生したデュアルの受光素子41の2つの出力の出
力比を検出することが可能となる。
第8図は前記検出回路の別の実施例を示す。デュアルの
受光素子41には逆バイアスが印加されているため、そ
の出力は常に正となるが、検出回路610におけるコン
デンサ611,612によより変動出力、すなわち発光
素子31による出力を検出するものである。このような
構成の検出回路610を使用しても前記と同様の効果を
期待できる。
受光素子41には逆バイアスが印加されているため、そ
の出力は常に正となるが、検出回路610におけるコン
デンサ611,612によより変動出力、すなわち発光
素子31による出力を検出するものである。このような
構成の検出回路610を使用しても前記と同様の効果を
期待できる。
第9図は暗電流が出力に比べ充分無視し得る程度微小な
ときに使用可能な一実施例である。検出部610′は出
力を適当に増幅する増幅回路で構成され、割算回路62
により出力比をとる。
ときに使用可能な一実施例である。検出部610′は出
力を適当に増幅する増幅回路で構成され、割算回路62
により出力比をとる。
このような構成のトルク検出器において、トルクが発生
していない場合、第1θ図のごとく光スポット31Aが
デュアルの受光素子41上に例えば均等に照らされてい
るとする。次に、トルクが発生するとトーションバー2
2がねじれ、それにともない前述のごとくシャフト21
とピニオンシャフト23は軸方向に回転移動し、それに
ともない、光スポラ)31Aはデュアルの受光素子上を
第11図のごとく移動する。これにより、各素子上の光
量変化が発生し、出力変化が起こることになる。この光
量変化を検出すればトルク検出が可能であり静止時にも
トルク検出可能となる。
していない場合、第1θ図のごとく光スポット31Aが
デュアルの受光素子41上に例えば均等に照らされてい
るとする。次に、トルクが発生するとトーションバー2
2がねじれ、それにともない前述のごとくシャフト21
とピニオンシャフト23は軸方向に回転移動し、それに
ともない、光スポラ)31Aはデュアルの受光素子上を
第11図のごとく移動する。これにより、各素子上の光
量変化が発生し、出力変化が起こることになる。この光
量変化を検出すればトルク検出が可能であり静止時にも
トルク検出可能となる。
この検出法では単体の受光素子でもトルク検出は可能で
あるが、電源電圧の変動等による発光素子の光量変化及
び温度変化による出力の変動の影響を受ける。この影響
をなくすには光量比の変化を検出すればよい。本発明の
実施例による装置においてはデュアルの受光素子41を
使用しているため、特性がそろっている。このため、そ
の出力は前述の影響を受けずに光量比の変化を容易に検
出することが可能となる。また、デュアルの受光素子4
1には前述のごとく逆バイアスを印加するため暗電流が
発生する。特にそれは高温で顕著となる。また、発光素
子以外の光の影響も受けやすい。したがって、単にデュ
アルの受光素子41の出力をそのまま検出しただけでは
誤差を生ずることになる。本発明においては検出回路6
1により発光素子31の光量分だけを検出する構成とな
っており、前述の問題点は解決されている。
あるが、電源電圧の変動等による発光素子の光量変化及
び温度変化による出力の変動の影響を受ける。この影響
をなくすには光量比の変化を検出すればよい。本発明の
実施例による装置においてはデュアルの受光素子41を
使用しているため、特性がそろっている。このため、そ
の出力は前述の影響を受けずに光量比の変化を容易に検
出することが可能となる。また、デュアルの受光素子4
1には前述のごとく逆バイアスを印加するため暗電流が
発生する。特にそれは高温で顕著となる。また、発光素
子以外の光の影響も受けやすい。したがって、単にデュ
アルの受光素子41の出力をそのまま検出しただけでは
誤差を生ずることになる。本発明においては検出回路6
1により発光素子31の光量分だけを検出する構成とな
っており、前述の問題点は解決されている。
本発明の実施例におけるトルクセンサを用いれば簡単な
回路構成で、静止時にも検出可能で、温度特性等の出力
変動の影響を受けずにトルクの検出が可能となる。
回路構成で、静止時にも検出可能で、温度特性等の出力
変動の影響を受けずにトルクの検出が可能となる。
本発明の実施例による装置においては、第10図のごと
くトルクの発生しない状態で光スポット31Aをデュア
ルの受光素子41上に均等に照らしたが、これは出力変
化の領域であればどこを基準としてもよい、また、第1
0図、第11図における光スポットの大きさは、トルク
検出が可能であればどのような大きさ、形状でもよい。
くトルクの発生しない状態で光スポット31Aをデュア
ルの受光素子41上に均等に照らしたが、これは出力変
化の領域であればどこを基準としてもよい、また、第1
0図、第11図における光スポットの大きさは、トルク
検出が可能であればどのような大きさ、形状でもよい。
第7図(1)において発振回路631からの出力波形を
矩形波により実施例を説明したが、出力が常に07以上
で、オン時とオフ時が検出可能であれば波形はどのよう
なものでもよい。
矩形波により実施例を説明したが、出力が常に07以上
で、オン時とオフ時が検出可能であれば波形はどのよう
なものでもよい。
発明の効果
本発明によれば、トーションバーを内蔵するシャフト、
トルク発生時酸トーションバーのねじれ量検出用の互い
に対向して配置された発光素子および1チンプ2素子構
成の受光素子、および該受光素子からの信号を受ける信
号処理回路を用い、該信号処理回路に°おいて温度変化
にともなう発光素子の光量変化、受光素子の感度変化及
び受光素子の暗電流の影響を受けない出力を発生させる
ことができ、静止時にもトルク検出を行うことができる
光学式トルク検出装置が得られる。
トルク発生時酸トーションバーのねじれ量検出用の互い
に対向して配置された発光素子および1チンプ2素子構
成の受光素子、および該受光素子からの信号を受ける信
号処理回路を用い、該信号処理回路に°おいて温度変化
にともなう発光素子の光量変化、受光素子の感度変化及
び受光素子の暗電流の影響を受けない出力を発生させる
ことができ、静止時にもトルク検出を行うことができる
光学式トルク検出装置が得られる。
第1図は、本発明の一実施例としての光学式トルク検出
装置を示す図、 第2図は、第1図装置におけるシャフト部の構成図、 第3図は、第1図装置におけるデュアルの受光素子の正
面図、 第4図は、第1図装置におけるデュアルの受光素子の断
面図、 第5図は、第1図装置における発光素子とデュアルの受
光素子の位置関係を示す図、 第6図は、第1図装置における信号処理回路の構成を示
す図、 第7図は第6図回路における発振回路の出力と2つのタ
イミング回路からサンプルホールド回路へ送られる出力
との関係を示す図、 第8図は、第6図装置における検出回路の別の例を示す
図、 第9図は、暗電流が出力に比べ十分微小であるとき使用
可能な信号処理回路の例を示す図、第10図、第11図
はいずれもトルクと光スポットの位置との関係を説明す
る図、 第12図は従来のトルクセンサの一例を示す図、第13
図は、第12図のトルクセンサの2つの波形整形器から
発生する出力の波形を示す波形図である。 2・・・シャフト部、21・・・シャフト、22・・・
トーシヨンバー、23・・・ピニオンシャフト、251
・・・ベアリング、241・・・ステアリングギヤハウ
ジングロア、242・・・ベアリング、251・・・ス
テアリングギヤハウジングアッパ、27・・・変換フラ
ンジ、3・・・発光部、4・・・受光部、5・・・ブラ
シ、6・・・信号処理回路。 第3図 摺へ 5 a】 iA 31A41 31A 41 第12図 噛13図 一一十−t。
装置を示す図、 第2図は、第1図装置におけるシャフト部の構成図、 第3図は、第1図装置におけるデュアルの受光素子の正
面図、 第4図は、第1図装置におけるデュアルの受光素子の断
面図、 第5図は、第1図装置における発光素子とデュアルの受
光素子の位置関係を示す図、 第6図は、第1図装置における信号処理回路の構成を示
す図、 第7図は第6図回路における発振回路の出力と2つのタ
イミング回路からサンプルホールド回路へ送られる出力
との関係を示す図、 第8図は、第6図装置における検出回路の別の例を示す
図、 第9図は、暗電流が出力に比べ十分微小であるとき使用
可能な信号処理回路の例を示す図、第10図、第11図
はいずれもトルクと光スポットの位置との関係を説明す
る図、 第12図は従来のトルクセンサの一例を示す図、第13
図は、第12図のトルクセンサの2つの波形整形器から
発生する出力の波形を示す波形図である。 2・・・シャフト部、21・・・シャフト、22・・・
トーシヨンバー、23・・・ピニオンシャフト、251
・・・ベアリング、241・・・ステアリングギヤハウ
ジングロア、242・・・ベアリング、251・・・ス
テアリングギヤハウジングアッパ、27・・・変換フラ
ンジ、3・・・発光部、4・・・受光部、5・・・ブラ
シ、6・・・信号処理回路。 第3図 摺へ 5 a】 iA 31A41 31A 41 第12図 噛13図 一一十−t。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、トーションバー、該トーションバーの一端に固定さ
れた発光素子、該トーションバーの他端に固定され該発
光素子に対向して配置された1チップ2素子構成の受光
素子、該発光素子を駆動する駆動手段、および該受光素
子の2つの出力電圧(V_1、V_2)を処理してトル
クに対応した出力を発生する信号処理手段を具備し、該
信号処理手段は該受光素子の2つの出力電圧の比を求め
る信号処理を行うようになっていることを特徴とする光
学式トルク検出装置。 2、該駆動手段により該発光素子を断続的に発光するよ
うにし、該受光素子の2つの信号の発光時の出力電圧(
V_1、V_2)と非発光時の出力電圧(V_0_1、
V_0_2)から(V_1−V_0_1)/(V_2−
V_0_2)の信号処理を行うようになっている特許請
求の範囲第1項記載の装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1759385A JPS61176829A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 光学式トルク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1759385A JPS61176829A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 光学式トルク検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61176829A true JPS61176829A (ja) | 1986-08-08 |
Family
ID=11948191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1759385A Pending JPS61176829A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 光学式トルク検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61176829A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5182953A (en) * | 1990-07-13 | 1993-02-02 | Simmonds Precision Products, Inc. | Method and apparatus for shaft torque measurement with temperature compensation |
WO1995024612A1 (de) * | 1994-03-07 | 1995-09-14 | International Business Machines Corporation | Verfahren und vorrichtung zur schnellen interpolation von zwischenwerten aus periodischen phasenverschobenen signalen und zur erkennung von defekten in einem drehkörper |
DE19833359C1 (de) * | 1998-07-24 | 2000-06-08 | Mannesmann Vdo Ag | Drehmomentsensor |
-
1985
- 1985-01-31 JP JP1759385A patent/JPS61176829A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5182953A (en) * | 1990-07-13 | 1993-02-02 | Simmonds Precision Products, Inc. | Method and apparatus for shaft torque measurement with temperature compensation |
WO1995024612A1 (de) * | 1994-03-07 | 1995-09-14 | International Business Machines Corporation | Verfahren und vorrichtung zur schnellen interpolation von zwischenwerten aus periodischen phasenverschobenen signalen und zur erkennung von defekten in einem drehkörper |
DE19833359C1 (de) * | 1998-07-24 | 2000-06-08 | Mannesmann Vdo Ag | Drehmomentsensor |
US6513394B1 (en) | 1998-07-24 | 2003-02-04 | Siemens Vdo Automotive Ag | Torque sensor |
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