JPS6117681U - 集積回路テスト用治具 - Google Patents
集積回路テスト用治具Info
- Publication number
- JPS6117681U JPS6117681U JP10170984U JP10170984U JPS6117681U JP S6117681 U JPS6117681 U JP S6117681U JP 10170984 U JP10170984 U JP 10170984U JP 10170984 U JP10170984 U JP 10170984U JP S6117681 U JPS6117681 U JP S6117681U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- test fixture
- circuit test
- pins
- tester
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例を示す配線図である。
１・・・・・・テスタ、２・・・・・・テスト用治具、
３・・・・・・集積回路、１ ０ａ〜１ ５ａ， １
０ｂ〜１ ５ｂ， ３０ｂ 〜３ ９ ｂ， ３
０ ａ〜３ ９ ａ＝ピン、１０〜１５，２０〜２９．
３０〜３９・・・・・・配線。
３・・・・・・集積回路、１ ０ａ〜１ ５ａ， １
０ｂ〜１ ５ｂ， ３０ｂ 〜３ ９ ｂ， ３
０ ａ〜３ ９ ａ＝ピン、１０〜１５，２０〜２９．
３０〜３９・・・・・・配線。
Claims (1)
- テスタピンと集積回路ピンを接続する配線機能を有する
テスト用治具に於て、テスタからの送出信号で配線を切
換える事により、集積回路ピン数がテスタピン数よｐも
多い場合でも、テスト可能とする事を特徴とする集積回
路テスト用治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10170984U JPS6117681U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 集積回路テスト用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10170984U JPS6117681U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 集積回路テスト用治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6117681U true JPS6117681U (ja) | 1986-02-01 |
Family
ID=30661127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10170984U Pending JPS6117681U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 集積回路テスト用治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6117681U (ja) |
-
1984
- 1984-07-05 JP JP10170984U patent/JPS6117681U/ja active Pending
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