JPS6023787U - 電子時計のテスト端子構造 - Google Patents

電子時計のテスト端子構造

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JPS6023787U
JPS6023787U JP11586683U JP11586683U JPS6023787U JP S6023787 U JPS6023787 U JP S6023787U JP 11586683 U JP11586683 U JP 11586683U JP 11586683 U JP11586683 U JP 11586683U JP S6023787 U JPS6023787 U JP S6023787U
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JP
Japan
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test terminal
terminal structure
electronic clock
clock test
wiring pattern
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JP11586683U
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一廣 中村
守 佐藤
池西　正孝
石島　孝
裕子 佐々木
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セイコーインスツルメンツ株式会社
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来の回路ブロック断面図、第２図は従来の回
路ブロック平面図である。第３図は本考案実施例を示す
平面図、第４図は本考案実施例の平面図を示すものであ
る。 １・・・・・・回路基板、３・・・・・・ＩＣ，５・・
・・・・リードパターン、５ａ・・・・・・テスト端子
用リードパターン、８・・・・・・スルホール、９・・
・・・・受部材又は弾性部材、９ａ・・・・・・端子穴
。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 一方の平面上に集積回路その他複数の電子部品を載置し
    、他方の平面上に配線パターンの一部を形成した回路基
    板から成る回路ブロックにおいて前記回路ブロックと重
    合した受又は弾性部材等の一部を前記配線パターン上方
    に配置し、前記受又は弾性部材に前記配線パターンより
    も径小の穴を形成した事を特徴とする電子時計のテスト
    端子構造。
JP11586683U 1983-07-26 1983-07-26 電子時計のテスト端子構造 Granted JPS6023787U (ja)

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JP11586683U JPS6023787U (ja) 1983-07-26 1983-07-26 電子時計のテスト端子構造

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JPS6023787U true JPS6023787U (ja) 1985-02-18
JPS6319827Y2 JPS6319827Y2 (ja) 1988-06-02

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