JPS61170642A - ストロボ方式x線透視装置 - Google Patents

ストロボ方式x線透視装置

Info

Publication number
JPS61170642A
JPS61170642A JP60011868A JP1186885A JPS61170642A JP S61170642 A JPS61170642 A JP S61170642A JP 60011868 A JP60011868 A JP 60011868A JP 1186885 A JP1186885 A JP 1186885A JP S61170642 A JPS61170642 A JP S61170642A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
shutter
observed
electronic flash
rays
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60011868A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsuyuki Ihara
井原 惇行
Genzaburo Watanabe
渡辺 源三郎
Susumu Shinoda
篠田 進
Minoru Omino
尾美野 穣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60011868A priority Critical patent/JPS61170642A/ja
Publication of JPS61170642A publication Critical patent/JPS61170642A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子部品等の内部構造検査や故障解析に使用さ
れるX線透視装置に関するものである。
〔従来の技術〕
一般に電子部品はその性能を維持するために、ケース等
に封入したり、モールドされる場合が多く、内部構造を
非破壊で観察するためにはX線で透視してみる場合が多
い。
従来、この種のX線透視装置は第2図に示すように、ワ
ークテーブル3上に被観察物12を設置し、上部に設け
られたX線発生器2から発生したX線を被測定物に照射
し、得られた透視像をX線テレヒカメラ4にて撮像し、
その像をテレビモニター11にて写し出し、内部形状を
観察するものであった。
9はX線発生器2の電源である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の装置を用いた観察像はいずれも被測定物が無負荷
状態であった。
一方、電子部品、特に内部に可動部を有するリレー、ス
イッチ等において、動作状態で内部を観察できれば、極
めて重要な情報を得ることができる。すなわち、これら
の電子部品においては、動作時のバネの変形状態、反発
、接点の接触順序等、その後の信頼性を決定するような
重要な情報は、動的観察のみによって得られるが、従来
装置にはこのような情報が得られる装置はなく、あくま
で 。
停止状態での観察しかできないという欠点があったO 本発明は動作状態での内部透視ができるようにした装置
を提供するものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明はX線発生器と被観察物との間のX線照射路中に
ストロボシャッターを配設するとともに、被観察物を動
作させる駆動部と、ストロボシャッター及び駆動部を同
期させて動作させるコンドローラードf:有し、ストロ
ボシャッターと駆動部とを同期動作させて、被観察物を
透視したストロボ像を得ることを特徴とするストロボ方
式X線透視装置である。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図である。
本装置は、第1図に示すように、防X線暗箱型のキャビ
ネット1内に、X線発生器2とワークテーブル3とX線
テレビカメラ4が収納されている。
前記X線発生器2とワークテーブル3の間には、X線を
間欠的に遮蔽するストロボシャッター5が設けられてい
る。外部制御装置として、ストロボシャッター5を間欠
動作させるシャッター制御盤6と、被観察物を外部から
動作させる駆動部7とが装備され、かつ制御盤6と駆動
部7とを同期させて動作させるコ/トローラ−8を有し
ている。
尚、ストロボシャッター5は機械式、電気式いずれのも
のでも良い。
実施例において、被観察物12は駆動部7からの信号に
より動作した状態で、前記シャッター5の開放状態にお
いて、X線が照射される。このようにX線はシャッター
制御により時分割で被観察物12に照射され、X線テレ
ビカメラ4に被観察物12の動作状態でのストロボ像が
得られる。
尚、X線信号は微弱となるため、画像処理部IOにて処
理され、テレビモニター11に写し出される。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、被観察物の動作状態にお
いて任意の動作時点で、その形状等を静止画像として観
察することができ、しかも非破壊試験法であることから
、その利用効果は極めて大である。例えば、製品のスク
リーニング法としても活用できる他、長期信頼性試験で
の時系列的な観測や設計検討評価への活用等極めて多方
面に利用することができる。特に被観察物としてのリー
ドスイッチ、有極リレー、プリンタヘッド、メカニカル
フィルタ、水晶振動子等を動的観察できるばかりでなく
、その他の受動部品や能動部品に対しても有効な情報が
得られる。さらには、例えばバイアス印加時の熱膨張に
よる変形推移の観察や、外部応力による変形の観察等、
その用途は極めて広い領域に及ぶ。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のストロボ方式X線透視装置の構成図、
第2図は従来方式のX線装置の構成図である。 1・・・キャビネット   2・・・X線発生器3・・
・ワークテーブル  4・・・X線テレビカメラ5・・
・ストロボシャッター  6・・・シャッター制御盤7
・・・被観察物の駆動部 8・・・コントローラー10
・・・画像処理部    11・・・テレビモニター1
2・・・被観察物

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)X線により被観察物を透視し、その内部を非破壊
    で観察するX線透視装置において、X線発生器と被観察
    物との間に形成されたX線照射路中にストロボシャッタ
    ーを配設するとともに、被観察物を動作させる駆動部と
    、ストロボシャッター及び駆動部を同期させて動作させ
    るコントローラーとを有し、ストロボシャッターと、駆
    動部とを同期動作させることにより、被観察物を透視し
    たストロボ像を得ることを特徴とするストロボ方式X線
    透視装置。
JP60011868A 1985-01-25 1985-01-25 ストロボ方式x線透視装置 Pending JPS61170642A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60011868A JPS61170642A (ja) 1985-01-25 1985-01-25 ストロボ方式x線透視装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60011868A JPS61170642A (ja) 1985-01-25 1985-01-25 ストロボ方式x線透視装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61170642A true JPS61170642A (ja) 1986-08-01

Family

ID=11789698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60011868A Pending JPS61170642A (ja) 1985-01-25 1985-01-25 ストロボ方式x線透視装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61170642A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0215965A (ja) * 1988-07-01 1990-01-19 Kouyoushiya:Kk 研削装置
CN105877769A (zh) * 2016-03-13 2016-08-24 朱宪增 封闭式全方位放射诊断装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0215965A (ja) * 1988-07-01 1990-01-19 Kouyoushiya:Kk 研削装置
CN105877769A (zh) * 2016-03-13 2016-08-24 朱宪增 封闭式全方位放射诊断装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3253397B2 (ja) プリント回路基板の検査のための方法および装置
US3924133A (en) Device for measuring density of substances by penetrating rays
JPS5953500B2 (ja) X線透視検査装置
KR960005926A (ko) 모니터 장치 및 모니터 방법
JP2004145504A (ja) 画像処理システム
JP2696471B2 (ja) 基板半田付け状態検査装置
JPS61170642A (ja) ストロボ方式x線透視装置
JP2525056B2 (ja) 結晶欠陥検査装置
US3679823A (en) Differential time television system
JPH11218503A (ja) X線透過検査装置
US2584175A (en) Photographic waveform recorder for cathode-ray tube indicators
WO2020017546A1 (ja) 撮像装置と撮像方法
JP3136655B2 (ja) 画像検査装置
JPS61170641A (ja) ストロボ方式x線透視装置
JP2003161707A (ja) X線透視検査装置
JP2863374B2 (ja) 半導体素子不良解析装置
JPH06160054A (ja) 画像処理装置
US11630144B2 (en) In-situ monitoring method and apparatus for power electronic device explosion
JPS55150676A (en) Picture synthesizing unit
JP2660310B2 (ja) X線テレビジョン透視装置
JP2002009500A (ja) プリント基板の目視検査方法および装置
JPH01219538A (ja) 試験片亀裂観察装置
GB2027538A (en) Evaluating mechanical deformation characteristics
JP2951709B2 (ja) X線による缶巻締部計測検査方法
JP2001153817A (ja) X線断層撮像装置