JPS61161868A - 密着型イメ−ジセンサ - Google Patents
密着型イメ−ジセンサInfo
- Publication number
- JPS61161868A JPS61161868A JP60003514A JP351485A JPS61161868A JP S61161868 A JPS61161868 A JP S61161868A JP 60003514 A JP60003514 A JP 60003514A JP 351485 A JP351485 A JP 351485A JP S61161868 A JPS61161868 A JP S61161868A
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- JP
- Japan
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- insulating substrate
- light
- original
- substrate
- transparent protective
- Prior art date
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- Granted
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/30—Hydrogen technology
- Y02E60/50—Fuel cells
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は原稿等を読み取る光学レンズ系を用いない完全
密着型イメージセンサに関するものである。
密着型イメージセンサに関するものである。
従来の技術
代表的従来例の断面図を第4図に示す。耐熱性のガラス
基板14の上にOrの遮光金属膜16を透光窓21を除
いて形成しその上1c Sin、の透明絶縁膜16を形
成し、更にその上に048−Case光導電膜を用いた
プレナー型の受光素子17と配線部18を形成する。配
線部18は04S−8sとオーミック接触するMior
の対向電極と同時に形成する。
基板14の上にOrの遮光金属膜16を透光窓21を除
いて形成しその上1c Sin、の透明絶縁膜16を形
成し、更にその上に048−Case光導電膜を用いた
プレナー型の受光素子17と配線部18を形成する。配
線部18は04S−8sとオーミック接触するMior
の対向電極と同時に形成する。
また透光窓2oを受光素子1アに対応して複数個設ける
。移動する原稿6と受光素子17の間に厚み約100μ
のマイクロシートガラス19を配置して受光素子17を
保護する。LIDアレイ等の“光源6の光をガラス基板
14の裏面より透光窓21゜20を通して原稿面に照射
し原稿面の乱反射による黒白の画像を受光素子17で感
知する。
。移動する原稿6と受光素子17の間に厚み約100μ
のマイクロシートガラス19を配置して受光素子17を
保護する。LIDアレイ等の“光源6の光をガラス基板
14の裏面より透光窓21゜20を通して原稿面に照射
し原稿面の乱反射による黒白の画像を受光素子17で感
知する。
発明が解決しようとする問題点
従来例は基板の裏面から光を入れるため受光素子に直接
光が入らないよう遮光金属膜16の蒸着工程と60μ×
90μ程度の複数の透光窓21のフォトエツチング工程
および透明絶縁膜16の蒸着工程の3工程が必要である
。また受光素子17に用いるCd5−CdSeは活性化
のため550’(:〜660℃の熱処理が必要であり、
ガラス基板17は耐熱性のホウケイ酸ガラスを用い基板
コストが高いのが第2の欠点である。マイクロシートガ
ラス19は厚み約100μで高価で破損し易く原稿面と
の摩擦でキズがつき易いのが第3の欠点である。第4の
欠点はマイクロシートガラス19の厚みが約100μと
大きいため線状に分割して配置した複数の受光素子間の
分解能が8本/薗従って126μピッチ以上細かくする
ことはできない。
光が入らないよう遮光金属膜16の蒸着工程と60μ×
90μ程度の複数の透光窓21のフォトエツチング工程
および透明絶縁膜16の蒸着工程の3工程が必要である
。また受光素子17に用いるCd5−CdSeは活性化
のため550’(:〜660℃の熱処理が必要であり、
ガラス基板17は耐熱性のホウケイ酸ガラスを用い基板
コストが高いのが第2の欠点である。マイクロシートガ
ラス19は厚み約100μで高価で破損し易く原稿面と
の摩擦でキズがつき易いのが第3の欠点である。第4の
欠点はマイクロシートガラス19の厚みが約100μと
大きいため線状に分割して配置した複数の受光素子間の
分解能が8本/薗従って126μピッチ以上細かくする
ことはできない。
分解能を上げるため10μ程度の硬質透明保護層のみを
受光素子17の上に設はマイクロシートガラス19を除
く構造も考えられるが、面積の小さい透光窓21.20
から入った光は原稿と受光素子が接近すると受光素子に
入る光量が著しく小さくなる。本発明は従来例の4つの
欠点をすべて解決するものである。
受光素子17の上に設はマイクロシートガラス19を除
く構造も考えられるが、面積の小さい透光窓21.20
から入った光は原稿と受光素子が接近すると受光素子に
入る光量が著しく小さくなる。本発明は従来例の4つの
欠点をすべて解決するものである。
問題点を解決するための手段
本発明は曲面を持つ絶縁性基板と原稿面との接線の近傍
に沿って透明保護膜を介して受光素子を配列した完全密
着型イメージセンサであり、基板と原稿の間にできたす
き間すなわち受光素子アレイの側面より読み取り用の光
を入射する構成である。絶縁性基板は透明でも不透明で
も良いが反射 −性の表面を持つ方が光の利用
効率は高(Sin、コートしたアルミニウム、ステンレ
ス、ポリエステルやポリイミドフィルム等の可撓性基板
を曲げて凸面を形成しても良いし、また円筒や端部が曲
面を持つセラミック、ガラス、SiO□ コートした金
属等の凸面を用いても良い。受光素子は、プラズマOv
Dで200℃〜300℃の低温で製膜した水素化アモル
ファスシリコン、水素化アモルファスゲルマニウム、あ
るいはそれらの混合系材料を用イフレナー型の光導電素
子や、サンドイッチ型のPIN接合光起電力素子、ショ
ットキー接合光起電力素子、MI8構造光起篭力素子を
形成してレーティングにより10μ以下の厚みで蒸着し
、耐摩耗性保護膜として機能する。
に沿って透明保護膜を介して受光素子を配列した完全密
着型イメージセンサであり、基板と原稿の間にできたす
き間すなわち受光素子アレイの側面より読み取り用の光
を入射する構成である。絶縁性基板は透明でも不透明で
も良いが反射 −性の表面を持つ方が光の利用
効率は高(Sin、コートしたアルミニウム、ステンレ
ス、ポリエステルやポリイミドフィルム等の可撓性基板
を曲げて凸面を形成しても良いし、また円筒や端部が曲
面を持つセラミック、ガラス、SiO□ コートした金
属等の凸面を用いても良い。受光素子は、プラズマOv
Dで200℃〜300℃の低温で製膜した水素化アモル
ファスシリコン、水素化アモルファスゲルマニウム、あ
るいはそれらの混合系材料を用イフレナー型の光導電素
子や、サンドイッチ型のPIN接合光起電力素子、ショ
ットキー接合光起電力素子、MI8構造光起篭力素子を
形成してレーティングにより10μ以下の厚みで蒸着し
、耐摩耗性保護膜として機能する。
作用
受光素子の側面より入射した大部分の光は原稿面と絶縁
性基板の間で反射をくり返しながら受光素子の近傍に集
まっていくため読み取りの照度が大きくなり、透明保護
膜の10μ以下の厚みで受光素子と原稿が近接しても十
分な照度が得られる。
性基板の間で反射をくり返しながら受光素子の近傍に集
まっていくため読み取りの照度が大きくなり、透明保護
膜の10μ以下の厚みで受光素子と原稿が近接しても十
分な照度が得られる。
実施例
第1図は本発明による実施例の断面図である。
可撓性の絶縁性基板1の上に300’C以下でプラズマ
cvnにより形成した非晶質半導体薄膜からなる光導電
素子を24&/lImすなわち46μのピッチで1次元
に配列した対向電極を持つ受光素子2を設け、この上に
透明保護膜4を蒸着して積層一体化した。透明保護膜4
を省略した基板上の受光素子部の平面図は第2図である
。絶縁性基板1を曲げることによりスイッチング素子等
の集積回路1・2と配線部3を一つの基板上に設けて接
続することができる。LRDアレイ等の光源6を受光素
子の側面部に第1図の様に配置し、原稿面に光を照射す
る。透明保護膜4は硬質で原稿面との接触面積が小さく
滑りが良いしまた厚みが10μ以下であるため、原稿と
受光素子が接近し分解能が10μ程度まで向上すること
ができる。
cvnにより形成した非晶質半導体薄膜からなる光導電
素子を24&/lImすなわち46μのピッチで1次元
に配列した対向電極を持つ受光素子2を設け、この上に
透明保護膜4を蒸着して積層一体化した。透明保護膜4
を省略した基板上の受光素子部の平面図は第2図である
。絶縁性基板1を曲げることによりスイッチング素子等
の集積回路1・2と配線部3を一つの基板上に設けて接
続することができる。LRDアレイ等の光源6を受光素
子の側面部に第1図の様に配置し、原稿面に光を照射す
る。透明保護膜4は硬質で原稿面との接触面積が小さく
滑りが良いしまた厚みが10μ以下であるため、原稿と
受光素子が接近し分解能が10μ程度まで向上すること
ができる。
183図は本発明による別の実施例であり、セラミック
、ガラス等の基板27の端部に曲面を設けて受光素子2
を形成し、光源23、スイッチング素子等の集積回路2
!5.26を同じ基板27の上に固定し接続したもので
ある。24は光源の支持体である。
、ガラス等の基板27の端部に曲面を設けて受光素子2
を形成し、光源23、スイッチング素子等の集積回路2
!5.26を同じ基板27の上に固定し接続したもので
ある。24は光源の支持体である。
一般に耐熱性の劣る可撓性基板1を用いた第1・図の実
施例は、非晶質半導体薄膜を低温でプラズマCVDによ
り連続蒸着ができ平面状にできるためフォトエツチング
も容易である。
施例は、非晶質半導体薄膜を低温でプラズマCVDによ
り連続蒸着ができ平面状にできるためフォトエツチング
も容易である。
発明の効果
本発明によれば、従来例の4つの欠点をすべて解決し遮
光膜等の工程無しに完全密着型イメージセンサが可能で
あり、原稿面の照度を低下させずに受光素子を接近させ
て分解能が向上でき、耐熱ガラスやマイクロシートガラ
ス等のコストや破損の心配もない。更に可撓性基板を曲
げる構造の場合、量産的であるほか曲面が弾性体の働き
をし原稿送りに対する密着性を確保できる効果も発揮す
ることができる。
光膜等の工程無しに完全密着型イメージセンサが可能で
あり、原稿面の照度を低下させずに受光素子を接近させ
て分解能が向上でき、耐熱ガラスやマイクロシートガラ
ス等のコストや破損の心配もない。更に可撓性基板を曲
げる構造の場合、量産的であるほか曲面が弾性体の働き
をし原稿送りに対する密着性を確保できる効果も発揮す
ることができる。
第1図は本発明による一実施例のセンナの断面図、第2
図は第1図の受光素子部の概略平面図、第3図は本発明
による別の実施例のセンサの断面図、第4図は従来のセ
ンサの断面図である。 1・・・・・・絶縁性基板、2・・・・・・受光素子、
4・・・・・・透明保護膜、5.23・・・・・・光源
、6・・・・・・原稿。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図
図は第1図の受光素子部の概略平面図、第3図は本発明
による別の実施例のセンサの断面図、第4図は従来のセ
ンサの断面図である。 1・・・・・・絶縁性基板、2・・・・・・受光素子、
4・・・・・・透明保護膜、5.23・・・・・・光源
、6・・・・・・原稿。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図
Claims (2)
- (1)絶縁性基板の凸面に複数の薄膜受光素子と透明保
護膜を積層し、この透明保護膜を介して、前記薄膜受光
素子の近傍と接する原稿面と前記基板の凸面で形成され
るすき間より読み取り用の光を前記原稿面に入射するこ
とを特徴とする密着型イメージセンサ。 - (2)基板として可撓性基板を用いこの上に非晶質半導
体から成る薄膜受光素子を設け、前記基板を曲げて凸面
を形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の密着型イメージセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60003514A JPS61161868A (ja) | 1985-01-11 | 1985-01-11 | 密着型イメ−ジセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60003514A JPS61161868A (ja) | 1985-01-11 | 1985-01-11 | 密着型イメ−ジセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61161868A true JPS61161868A (ja) | 1986-07-22 |
JPH051665B2 JPH051665B2 (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=11559467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60003514A Granted JPS61161868A (ja) | 1985-01-11 | 1985-01-11 | 密着型イメ−ジセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61161868A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01245562A (ja) * | 1988-03-26 | 1989-09-29 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 炭素膜がコートされた光電変換装置の作製方法 |
JP2007255929A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Kyoto Univ | 焦電型赤外線センサ |
-
1985
- 1985-01-11 JP JP60003514A patent/JPS61161868A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01245562A (ja) * | 1988-03-26 | 1989-09-29 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 炭素膜がコートされた光電変換装置の作製方法 |
JP2007255929A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Kyoto Univ | 焦電型赤外線センサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH051665B2 (ja) | 1993-01-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |