JPS61153932A - X線管装置の回転機構評価方法およびそれに用いる装置 - Google Patents

X線管装置の回転機構評価方法およびそれに用いる装置

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JPS61153932A
JPS61153932A JP27373384A JP27373384A JPS61153932A JP S61153932 A JPS61153932 A JP S61153932A JP 27373384 A JP27373384 A JP 27373384A JP 27373384 A JP27373384 A JP 27373384A JP S61153932 A JPS61153932 A JP S61153932A
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JP
Japan
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ray tube
vibration
frequency component
vibration sensor
frequency
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JP27373384A
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Hiroshi Takahashi
宏 高橋
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/66Circuit arrangements for X-ray tubes with target movable relatively to the anode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/08Anodes; Anti cathodes
    • H01J35/10Rotary anodes; Arrangements for rotating anodes; Cooling rotary anodes

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野〕 この発明は回転陽極形X線管装置の回転機構の評価方法
、およびこの評価方法の実施に直接使用する評価装置に
関する。
〔発明の技術的背景〕
回転陽極形X線管装置は、第8図および第9図に示すよ
うにX線管1−1がその真空容器12の内部に回転陽極
ターゲット13および陰極構体14が相対向して設けら
れてなる。陽極ターゲット13はロータ75に支持され
、このロータ15は一対のボールベアリング16.17
を介して陽極支柱18のシリンダ一部19に回転可能に
支持されている。陽極支柱18の端面には固定用の雌ネ
ジ20が穿設されている。このX線管ノー1は、ハクベ
と称されるX線管収容容器2−1内に、陰極側が3個の
ホルダ22.22・・・により保持固定され、陽極支柱
18が硬質プラスチック製ホルダ23にボルト24でネ
ジ止めされている。このホルダ23は3本の支持脚25
.25・・・を有し、これがハウベの内側7ランジ26
.26・・・にネジにより固定されている。
なお、ロータの外周に対応してステータ27が配置され
、外部から供給される駆動電力によりロータおよび陽極
ターゲットが例えば110000rpで回転させられる
ようになっている。
ところでこのようなX線管装置は、医療分野でCTスキ
ャナーのようなX線撮影装置として使用される。このよ
うな分野ではこの装置が常に正常に動作することが必須
である。X線管装置の故障が予測外の時に生ずることは
、その交換等のために一定期間稼動しえなくなるため避
けなければならない。一方、回転陽極形X線管装置は、
前述のようにボールベアリングを有し、高速回転がくり
返し行なわれることと、ターゲットからの熱伝導のため
、ベアリングの摩耗はさけられない。このためベアリン
グを中心とする回転機構の劣化がこの装置の故障の重要
な要因の1つである。したがって、このX線管装置の回
転機構の潤滑状態、回転各部の間1!i(クリアランス
)や予圧機構の状態などを使用経過の任意つ時に評価、
判定できる方法とそれに用いる評価装置が望まれている
。七うすれば医療装置として一般置後も、X線管回転機
構の摩耗状態を常に把握しながら使用でき、また寿命予
測もでき、装置の効果的で信頼性の高い運転が可能とな
る。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、以上の事情に鑑みて表されたもので
、精度の高い回転陽極形X線管装置の回転機構の評価方
法、およびこの評価方法の実施に直接用いる評価装置を
提供することである0 〔発明の概要〕 この発明は、回転陽極形X線管装置の、使用当初の回転
撮動の周波数特性を振動センサにより測定してこの振動
周波数特性を記憶又は記憶しておき、次に同一のX線管
装置の使用経過中又は使用経過後に同様の振動周波数特
性を測定し、これを当初の特性と比較しそれらの間にお
ける特性差からXa管装置の回転機構の劣化状態を検出
、評価することを特徴とする回転機構評価方法である。
また、この評価を行なうための装置は、X線管収容容器
内に固定された回転陽極形X線管に取付けられた振動セ
ンサと、この振動センサから得らねる電気信号を受けて
その周波数成分を計測する周波数成分測定器と、この周
波数成分測定器の出力を記憶又は記憶するデータ格納装
置と、このデータ格納装置から振動周波数成分を導出し
て表示するデータ比較・表示装置とを具備してなる回転
機構評価装置である。
〔発明の実施例〕
以下図面を参照してその実施例を説明する。
なお、同一部分は同一符号であられす。
第1図に示す実施例は、回転陽極形X線管装置の陽極支
柱18を保持する絶縁体製ホルダ23の一部に1プラス
チツク製の振動伝達ブロック31を介して振動センサ3
2を振動工学的に密に結合しである。この振動セ/す2
3は振動レベルを電気信号としてとり出すことができる
センサである。振動センサ23の出力信号はリード線3
3によりノ・ウベの外へ導出され、評価装置の周波数成
分測定器34に伝えられる。
評価装置はさら釦データ格納装置35、およびデータ比
較・表示装置36を備えている。評価装置の構成例を第
2図に示す。振動センサ32からの出力信号はアンプ3
7および電気的フィルタ38を介して周波数成分測定装
置39に入力される。ここで撮動の周波数成分がディジ
タルデータとしてデータマルチプレクサ4oを通してデ
ィジタルデータ記憶装置41に格納される。ところで、
振動の周波数成分を陽極ターゲットの回転開始時から最
大回転到達時まで、時系列的に検出するため、その間の
一定時間ごとのデータを個別に記憶又は記録しておく。
この目的のため回転起動を基準としてクロック42が作
動して起動後の所定時間別に振動周波数成分のデータを
データマルチプレフタ4oで時系列的に撮り分け、複数
の記憶素子41 a 、 41a・・・K格納されるよ
うになっている。なお、ターゲットの最大回転数に到達
したあと、さらに回転駆動電源を切って回転数が減少す
る過程でも同様にデータを測定、記憶又は記録しておく
ようにしてもよい○そして各時間ごとの振動周波数成分
の信号を各記憶素子からとり出し、振動特性図構成装置
43を介してディスプレイ44又はデータ比較装置45
に入力するようになっている。
まず、あるX線管装置について、その使用開始時の陽極
ターゲットの回転起動から所定の最大回転数までの各時
間毎の振動周波数成分を測定する。その得られたデータ
の例を第3図に示す。同図(、)は回転起動直後の振動
周波数特性図であり、横軸に周波数成分子1縦軸に振動
レベルをあられしている。同図(b)は回転開始から一
定時間経過後の特性図、同図(、)はさらにそれから一
定時間経過後の特性図、同図(d)はターゲット回転数
が最大となったときの特性図である。
各図で振動レベルと周波数成分は異なり、各時間毎の回
転数に対応する共振振動周波数fO+f1 、f、、f
、で共振による最大振動レベルがあられれている。なお
、同図を評価すれば、ベアリンーグの回転機構各部のク
リアランスや潤滑が良好なので、回転数に対応する共振
周波数付近では急峻な振動レベルをあられし、それ以外
の周波数成分でのレベルは比較的小さいという特徴があ
られれている。
これに対し、X線管装置をある期間使用したあとでは、
回転機構の各部の摩耗がすすみ、それが回転振動の周波
数成分の特性にあられれることは当然予測される。そこ
で本発明者が種々分析した典形的な回転機構劣化状態で
のデータを第4図および第5図に示す。第4図(、)乃
至(d)はベアリングの過熱でベアリングボールと内外
レースとの間の間隙が過少となり回転の摩擦が正常な場
合よりも上昇して不具合となった場合の特性(実線曲線
)である。なお、比較のために第3図に相当する当初の
正常な回転機構部の特性を点線曲線であられしている。
両特性を比較すると、ターゲットの各回転数に対応する
周波数f。? f l ・・・で振動レベルが当初のレ
ベルよりも低くなるとともにその周波数成分を中心に広
い周波数範囲で逆に高いレベルの振動が観察される特徴
がある。他方、第5図(a)乃至(d)に示す特性図は
、潤滑剤の消耗によりベアリングドールとレースとの間
のクリアランスが必要板とに大きくなってしまった場合
(実線曲線)でちる。この場合は当初の特性(点線曲線
)に比(て毎時間とも低い周波数成分の撮動を伴なっC
あられれる特徴を示す。
このように、回転機構の種々の劣化状態にお:する振動
周波数成分の特徴を把握することが可能であり、これを
あらかじめ認識あるいけデータ比較装置に記憶させてお
き、当初の特性と任意時点の特性データとを比較してそ
の差から劣化原因を分析し、予測することができる。そ
して、X線管装置に個別にデータを記憶、保存しておき
、定期的に上述の特性を比較するようにすれば、回転機
構の状態変化を高い精度で把握できる。また、X1Ii
l管装置が故障に至る前に寿命を予測して医療診断等に
支障にならない時期に交換することもできる。
なお、第4図あるいは第5図に示すデータに関して、こ
れらの比較特性図は両比較特性曲線とも同じ回転同期周
波数f、、f、、f、、f。
となった時点での特性を対比したものであるが、実際に
はターゲットの回転起動開始から例えば周波数f、に相
当する回転数に至るまでの経過時間は、回転機構の劣化
状態によって異なる。
したがって回転起動から一定時間経過毎の回転同期の振
動周波数の当初データとの比較情報も、回転機構の劣化
原因の予測精度を高めうる1つのパラメータとなる。つ
まり例えば回転機構の摩擦が大きくなった場合は、ター
ゲットの起動からある一定時間の経過時の回転数は当初
データよりも低い回転数となってあられれるので、この
差を劣化原因の予測の一要素に加えることができるわけ
である。また、これらの劣化原因の予測は、以上のよう
な種々の情報をコンピュータにより処理して自動的に判
定・表示させるように構成しうろことはいうまでもない
振動センサの装着位置は、X線管装置の振動機構の振動
状態をより忠実にこの振動センサに伝えるため、陽極支
柱に直接又はその近傍にとりつけることが望ましい。ま
た、ノ・ウペ中に充填された絶縁油やハクベ内壁の鉛板
の存在のために、陽極支柱から遠く離れた位置に振動セ
ンサを装着すると低周波成分が著しく減衰してしまい忠
実な測定ができない。したがって、この場合は陽極支柱
と撮動センサとの間に前記実施例の場合のような摂動伝
達部材を介在させることが望ましい。
第6図に示す実施例は、ハクベ2−1の外部に振動セン
サ32を装着したものである。この場合、ハクペの一部
に振動板51を接合し、その内側に振¥Jh伝達ブロッ
ク3ノを設けこれによりホルダ23を介して陽極支柱1
8に振動伝達可能に接続しである。
第7図に示す実施例は、ハウベ2−IK加振器52をホ
ルダ脚部25の外側に当接し、これを周波数可変電源5
3で駆動して外部から振動をX線管に与えながら回転機
構の振動特性を振動センサ3−2で検出し測定するよう
に構成したものである。そして、振動センサ32の出力
信号と周波数可変電源53からのトリガ信号とを測定器
34に与えて検出する。この場合は振動源をターゲット
の回転に求めず、加振器からの振動入力によりX線管装
置の振動特性を測定・評価することができる。
なおこの発明は、回転陽櫃形X線管をハウベにとりつけ
た状態で振動特性を測定する場合に限られず、X線管単
体のみで測定・分析することが可能である。
〔発明の効果〕
この発明によれば、以上説明したようにX線管装置の回
転機構の状態、例えばその劣化原因などを高い確率で推
定でき、また、寿命予測をすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す装置の概略構成図、
第2図はその評価装置の一例を示すブロック図、第3図
(a)乃至(d)は使用当初の回転振動周波数成分の一
例を示す特性図、第4図及び第5図は同じく比較特性図
、第6図はこの発明の他の実施例を示す要部断面図、第
7図は同L1・・・X線管、13川陽極ターゲツト、ノ
8・・・陽極支柱、23・・・ホルダ、3ノ・・・振動
伝達部材、32・・・振動センサ、34・・・周波数成
分測定器、35・・・データ格納装置、36・・・デー
タ比較・表示装置、52・・・加振器。 出願人代理人 弁理士  鈴 江 武 彦−r全 Δ′/) 第4図 第5図 第6図 第7図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)回転陽極形X線管装置の、使用当初の回転振動の
    周波数特性を振動センサにより測定してこの振動周波数
    特性を記憶又は記録しておき、 次に上記同一のX線管装置の使用経過中又 は使用経過後に同様の振動周波数特性を測定し、 これを前記当初の特性と比較し、それらの 間における特性差から上記X線管装置の回転機構の劣化
    状態を検出、評価することを特徴とする回転陽極形X線
    管装置の回転機構評価方法。
  2. (2)X線管収容容器内に固定された回転陽極形X線管
    に、直接又は他の部材を介して取付けられた振動センサ
    と、 この振動センサから得られる電気信号を受 けてその周波数成分を計測する周波数成分測定器と、 この周波数成分測定器の出力を記憶又は記 録するデータ格納装置と、 このデータ格納装置から振動周波数成分を 導出して表示するデータ比較・表示装置とを具備してな
    る回転陽極形X線管装置の回転機構評価装置。
  3. (3)振動センサは、X線管の陽極支柱に直接又はこの
    陽極支柱をX線管収容容器に保持する保持部材に固定し
    てなる特許請求の範囲第2項記載の回転陽極形X線管装
    置の回転機構評価装置。
JP27373384A 1984-12-27 1984-12-27 X線管装置の回転機構評価方法およびそれに用いる装置 Pending JPS61153932A (ja)

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