JPS61151450A - Nmr断層撮像装置の画像感度補正方法 - Google Patents
Nmr断層撮像装置の画像感度補正方法Info
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- JPS61151450A JPS61151450A JP59279727A JP27972784A JPS61151450A JP S61151450 A JPS61151450 A JP S61151450A JP 59279727 A JP59279727 A JP 59279727A JP 27972784 A JP27972784 A JP 27972784A JP S61151450 A JPS61151450 A JP S61151450A
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- Japan
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- nmr
- coil
- magnetic field
- gradient magnetic
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/58—Calibration of imaging systems, e.g. using test probes, Phantoms; Calibration objects or fiducial markers such as active or passive RF coils surrounding an MR active material
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- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、核磁気共鳴現象(以下核磁気共鳴をNMRと
略称する)を利用して対象物の内部組織をf17iI!
像として観察するNMR断層躍像装置における画像の改
良に関するものである。
略称する)を利用して対象物の内部組織をf17iI!
像として観察するNMR断層躍像装置における画像の改
良に関するものである。
(従来の技術)
NMR断層断層撮画装置いて、90’パルス印加により
生ずるNMR信号を受信する受信コイルのS/N比は次
のように表わされる。
生ずるNMR信号を受信する受信コイルのS/N比は次
のように表わされる。
ここに、K :受信コイルの形状により定まる定数
η :フィリングファクタ(filliingract
or ) Vc:コイル容積 Q :クオリティファクタ(qua I i tyfa
ctor) k :ボルッマンの定数 Tc:コイルの温度 Δf:周波数帯域幅 Fn:受信コイルのノイズファクタ そして受信コイルのS/N比をよくするためにはフィリ
ングファクタηを大きくする等の対策が講じられる。フ
ィリングファクタηを大きくしようとした場合、受信コ
イルは必然的に対象物に接近することになる。
or ) Vc:コイル容積 Q :クオリティファクタ(qua I i tyfa
ctor) k :ボルッマンの定数 Tc:コイルの温度 Δf:周波数帯域幅 Fn:受信コイルのノイズファクタ そして受信コイルのS/N比をよくするためにはフィリ
ングファクタηを大きくする等の対策が講じられる。フ
ィリングファクタηを大きくしようとした場合、受信コ
イルは必然的に対象物に接近することになる。
(発明が解決しようとする問題点)
また、一般的に受信コイルとして用いられているくら形
コイルは梗々のパラメータを考慮し設計されているが、
径方向及び長さ方向共に感度にムラがあり、特にコイル
近傍では大きくなっている。
コイルは梗々のパラメータを考慮し設計されているが、
径方向及び長さ方向共に感度にムラがあり、特にコイル
近傍では大きくなっている。
その他、同様の形のコイルを用いている送信コイルの感
度ムラや、磁場が不均一なことから生じるもの等により
、NMR断層m像装置の画像は均一な物質をIll像し
た場合であっても、濃淡の変化(シェーディングという
)を生じる。これは、画質を大きく劣化させ、特に臨床
で用いる場合には読影を困難にし誤診を招く要因ともな
る。
度ムラや、磁場が不均一なことから生じるもの等により
、NMR断層m像装置の画像は均一な物質をIll像し
た場合であっても、濃淡の変化(シェーディングという
)を生じる。これは、画質を大きく劣化させ、特に臨床
で用いる場合には読影を困難にし誤診を招く要因ともな
る。
これに対し、理論的に予めシェーディングを求めておき
、元のf−夕を補正するという方法が考えられるが、こ
れには限界があり、装置固有のバラツキ等には対応しき
れないという問題がある。
、元のf−夕を補正するという方法が考えられるが、こ
れには限界があり、装置固有のバラツキ等には対応しき
れないという問題がある。
本発明の目的は、この様な点に鑑み、簡単な方法で画像
に生じるシェーディングを補正し、画質の向上を図るこ
とのできる感度補正方法を提供することにある。
に生じるシェーディングを補正し、画質の向上を図るこ
とのできる感度補正方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
この様な目的を達成するために本発明では、対象物のス
キャンと同一条件で、均一なファントムをスキャンし、
そのデータを用いて画像のシェーディング補正を行うよ
うにしたことを特徴とするものである。
キャンと同一条件で、均一なファントムをスキャンし、
そのデータを用いて画像のシェーディング補正を行うよ
うにしたことを特徴とするものである。
(実施例)
以下図面を用いて本発明の詳細な説明する。第1図は本
発明を実施するためのNMR断層撮像装置の要部構成図
である。図において、マグネットアセンブリ1は、被検
体に一定の磁場を印加する静磁場コイル2と、原子核の
スピンを励起するための高周波パルスを与える励磁コイ
ル3と、被検体の位置の情報を信号に反映させるための
勾配磁場を印加する勾配磁場コイル4 (x、y、z軸
方向に個別に勾配磁場を発生することができるように構
成されたX勾配磁場コイル、y勾配磁場コイル、2勾配
磁場コイルを有する。)と、被検体内からのNMR信号
を検出する検出コイル5を備えている。第1図ではこれ
らの各コイルの一部を略示的に示しである。
発明を実施するためのNMR断層撮像装置の要部構成図
である。図において、マグネットアセンブリ1は、被検
体に一定の磁場を印加する静磁場コイル2と、原子核の
スピンを励起するための高周波パルスを与える励磁コイ
ル3と、被検体の位置の情報を信号に反映させるための
勾配磁場を印加する勾配磁場コイル4 (x、y、z軸
方向に個別に勾配磁場を発生することができるように構
成されたX勾配磁場コイル、y勾配磁場コイル、2勾配
磁場コイルを有する。)と、被検体内からのNMR信号
を検出する検出コイル5を備えている。第1図ではこれ
らの各コイルの一部を略示的に示しである。
11は静磁場コイル2用の静磁場電源、12は勾配Ij
場ココイルを駆動するための勾配磁場駆動回路で、シー
ケンスメモリ回路20により制御されるようになってい
る。30はシーケンスメモリ回路20を制御llするた
めの制御計算機である。
場ココイルを駆動するための勾配磁場駆動回路で、シー
ケンスメモリ回路20により制御されるようになってい
る。30はシーケンスメモリ回路20を制御llするた
めの制御計算機である。
21は測定しようとする原子核のNMR条件に対応する
周波数(例えばプロトンでは、42.6M +−1z
、/ T )の信号を発生するRF発振器で、その出力
はシーケンスメモリ回路20からの信号によって開閉が
制御されるゲート・変調回路22およびパワーアンプ2
3を介して励磁コイル3に印加されている。24は検出
コイル5から得られるNMR信号を増幅する増幅器、2
5は位相検波回路である。26は位相検波された増幅器
24からの信号を記憶するデータ記憶装置で、A 、/
D変換器を含んでいる。28はデータ記1!装置から
の信号をインタフェース27を介して受取り所定の信号
処理を施して断層像を得るデータ処理計算機である。
周波数(例えばプロトンでは、42.6M +−1z
、/ T )の信号を発生するRF発振器で、その出力
はシーケンスメモリ回路20からの信号によって開閉が
制御されるゲート・変調回路22およびパワーアンプ2
3を介して励磁コイル3に印加されている。24は検出
コイル5から得られるNMR信号を増幅する増幅器、2
5は位相検波回路である。26は位相検波された増幅器
24からの信号を記憶するデータ記憶装置で、A 、/
D変換器を含んでいる。28はデータ記1!装置から
の信号をインタフェース27を介して受取り所定の信号
処理を施して断層像を得るデータ処理計算機である。
29は得られた断層像を表示するテレビジョン七二夕の
ような表示器である。
ような表示器である。
この様な構成における動作を次に説明する。ここでは−
例として飽和回復法(SR法)でしかもスピンエコー法
(SE法)である場合を例にとって説明する。
例として飽和回復法(SR法)でしかもスピンエコー法
(SE法)である場合を例にとって説明する。
シーケンスメモリ回路20の制御により第2図に示すよ
うなシーケンスで動作する。
うなシーケンスで動作する。
静磁場電源11から静磁場用コイル2に電流を流し、被
検体(被検体は各コイルの円筒内に設置)に静磁場1」
。を与えた状態において、シーケンスメモリ回路20よ
りゲート・変調回路22を開き、所定の形に変調された
(例えばガウス形)RF信号を増幅器23を経て励磁コ
イル3に与え、被検体に90°パルスを与える。
検体(被検体は各コイルの円筒内に設置)に静磁場1」
。を与えた状態において、シーケンスメモリ回路20よ
りゲート・変調回路22を開き、所定の形に変調された
(例えばガウス形)RF信号を増幅器23を経て励磁コ
イル3に与え、被検体に90°パルスを与える。
続いて勾配磁場コイル3を付勢し、第2図の(0)、(
ハ)に示すように、スライス面を決定するための2勾配
磁場と、プロジェクション用のx J5よびy勾配磁場
をそれぞれ印加する。
ハ)に示すように、スライス面を決定するための2勾配
磁場と、プロジェクション用のx J5よびy勾配磁場
をそれぞれ印加する。
90’パルス印加より所定の時間後に励磁コイル3を付
勢し被検体に180°パルスを与える。この180゛パ
ルス印加期間中はXおよびy勾配磁場は印加しない。
勢し被検体に180°パルスを与える。この180゛パ
ルス印加期間中はXおよびy勾配磁場は印加しない。
前記180゛パルス印加の後、再びXおよびy勾配磁場
を与える。これにより同図(ニ)に示すように生じるエ
コー信号を検出コイル5で検出し、増幅器24、位相検
波回路25を介してデータ記憶装置26に取込む。
を与える。これにより同図(ニ)に示すように生じるエ
コー信号を検出コイル5で検出し、増幅器24、位相検
波回路25を介してデータ記憶装置26に取込む。
以下同様に180°パルス印加並びにX及びy勾配磁場
印加とNMR信号の測定をくりかえす。X及びy勾配磁
場は各ビューごとにその大きさを変えている。
印加とNMR信号の測定をくりかえす。X及びy勾配磁
場は各ビューごとにその大きさを変えている。
このようにして、所定のnビューにわたってNM R(
+8号を測定する。
+8号を測定する。
計n@2Bでは、検出したNMR信号から対象物の断層
画像を再構成する。この再構成画像を八とする。
画像を再構成する。この再構成画像を八とする。
次に対象物と同一条件で、対象物より大きいファントム
をスキャンし、画像を1qる。この画像をBとする。
をスキャンし、画像を1qる。この画像をBとする。
次に、計算機28で、画像の各ビクセルごとに△÷Bの
値を求め、これをCとする。この画像Cは、画像Bで補
正されシェーディングがなくなった画像である。
値を求め、これをCとする。この画像Cは、画像Bで補
正されシェーディングがなくなった画像である。
このような手法により、シェーディングの補正された画
像を得ることができるが、その手法はこれに限らず上記
概念を基本した各種の手法が可能である。
像を得ることができるが、その手法はこれに限らず上記
概念を基本した各種の手法が可能である。
例えばより実際的な次のような手法をとってもよい。
■前記と同等の動作により画IAと画像Bを得る。
■画−Bにスムージング(ノイズ分を滑かにする)をか
けて、画像Bsmを得る。
けて、画像Bsmを得る。
■画像Bsmの中心ビクセルの値をaとし、その値を基
準に各ビクセルごとに補正値を求める。
準に各ビクセルごとに補正値を求める。
すなわち、あるビクセルの値がXであるとき、補正1m
S xは次式により求められる。ただし、αはスパン
調整計数である。
S xは次式により求められる。ただし、αはスパン
調整計数である。
α((1−x)
Sx−+1
ただし、αはスパン調整計数
このようにして求められた画像をSとする。
■画像Sと画像Aとを掛合わせるとシェーディングが補
正された画像Cが得られる。
正された画像Cが得られる。
すなわち、画mAにおける対応ビクセルの値がX′であ
れば、求める画1gICのそのビクセル値CX′は、 となる。
れば、求める画1gICのそのビクセル値CX′は、 となる。
ここでα=x/x’ (画1mAとBにおける同じビ
クセルのレベル比ンなら、CX’ −a+ (x’−X
)となり、このビクセル値により構成された画像Cはシ
ェーディングの補正された画像である。
クセルのレベル比ンなら、CX’ −a+ (x’−X
)となり、このビクセル値により構成された画像Cはシ
ェーディングの補正された画像である。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではない。
例えば、次に列挙するような構成ないし手法を採るよう
にしてもよい。
にしてもよい。
■データ処理計算機28で求める補正ファイルは1スキ
ヤンごとに限る必要はない。同一条件のスキャンに対し
ては同一補正ファイルを校正画像として用いることがで
きる。
ヤンごとに限る必要はない。同一条件のスキャンに対し
ては同一補正ファイルを校正画像として用いることがで
きる。
■ファントムは必ずしも均一でなくてもよい。必要に応
じて部分的に縦緩和時間、横緩和FR間及び密度等の異
なる物質を用いた方がよい場合もある。
じて部分的に縦緩和時間、横緩和FR間及び密度等の異
なる物質を用いた方がよい場合もある。
縦緩和時間、横緩和時間及び密度等が異なるとシェーデ
ィングも異なる。
ィングも異なる。
■補正ファイルは1つの補正に1つでなくてよい。
つまり、1つの画像を補正するのに部分的あるいは重畳
的に2つ以上の補正ファイルを用いることもできる。
的に2つ以上の補正ファイルを用いることもできる。
■ファントムを使用せず、自分自身の画像を十分に処理
し補正するようにしてもよい。
し補正するようにしてもよい。
■本手法は、スピンエコー法のシーケンスによるスキャ
ン結果に対してのみ適用し得るものではなく、他の例え
ばプロジェクション法、スピンワープ法等のどのような
シーケンスによるスキャン結果に対しても適用可能であ
る。
ン結果に対してのみ適用し得るものではなく、他の例え
ばプロジェクション法、スピンワープ法等のどのような
シーケンスによるスキャン結果に対しても適用可能であ
る。
■補正用の画像は、元の画像に限ることはなく、スムー
ジングやその他必要に応じた加工を施した画像としても
よい。
ジングやその他必要に応じた加工を施した画像としても
よい。
■予め3次元での感度分布を求めてJ5けば、そのデー
タから汗意の断面でのシェーディングの起り方を知り、
サジタル、コロナルをはじめあらゆるスライス面に対し
て補正を行うことができる。
タから汗意の断面でのシェーディングの起り方を知り、
サジタル、コロナルをはじめあらゆるスライス面に対し
て補正を行うことができる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、NMR断層11
ti 1iGl装置において、その対象物のスキャンと
同一の条件で均一なファントムを両像しそこから得られ
た画像を用いて対象物の画像を補正することにより、種
々の原因から生じるシェーディングを容易に除去するこ
とができ、実用に供してその効果は大きい。
ti 1iGl装置において、その対象物のスキャンと
同一の条件で均一なファントムを両像しそこから得られ
た画像を用いて対象物の画像を補正することにより、種
々の原因から生じるシェーディングを容易に除去するこ
とができ、実用に供してその効果は大きい。
第1図は本発明を実施するためのNMR断層踊像両像装
要部構成図、第2図は本発明に係るシーケンスを示す動
作波形図である。 1・・・マグネットアセンブリ、2・・・静磁場コイル
、3・・・励磁コイル、4・・・勾配磁場コイル、5・
・・検出コイル、11・・・静磁場電源、12・・・勾
配磁場駆動回路、20・・・シーケンスメモリ回路、2
1・・・発振器、22・・・ゲート・変調回路、23.
24・・・増幅器、25・・・位相検波回路、26・・
・データ記憶装置、27・・・インタフェース、28・
・・データ処理計算機、2つ・・・表示装置、30・・
・制御計算機。
要部構成図、第2図は本発明に係るシーケンスを示す動
作波形図である。 1・・・マグネットアセンブリ、2・・・静磁場コイル
、3・・・励磁コイル、4・・・勾配磁場コイル、5・
・・検出コイル、11・・・静磁場電源、12・・・勾
配磁場駆動回路、20・・・シーケンスメモリ回路、2
1・・・発振器、22・・・ゲート・変調回路、23.
24・・・増幅器、25・・・位相検波回路、26・・
・データ記憶装置、27・・・インタフェース、28・
・・データ処理計算機、2つ・・・表示装置、30・・
・制御計算機。
Claims (1)
- NMR断層撮像装置において、対象物の画像と同様にし
てファントムの画像を得るようにすると共に、それらの
画像について画像間演算を行うことができる機能を有す
る処理手段を備え、対象物とファントムとを同一条件で
スキャンしてそれぞれの画像を得、その後この対象物の
画像とファントムの画像について各ピクセルごとにレベ
ル比を求めてこれを新たな画像データとすることにより
、対象物の元の画像のシェーディングを補正することが
できるようにしたNMR断層撮像装置の画像感度補正方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59279727A JPS61151450A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | Nmr断層撮像装置の画像感度補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59279727A JPS61151450A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | Nmr断層撮像装置の画像感度補正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61151450A true JPS61151450A (ja) | 1986-07-10 |
JPH0311225B2 JPH0311225B2 (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=17615038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59279727A Granted JPS61151450A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | Nmr断層撮像装置の画像感度補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61151450A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6321048A (ja) * | 1986-07-16 | 1988-01-28 | 横河メディカルシステム株式会社 | 核磁気共鳴画像の歪み補正方法 |
JP2016013484A (ja) * | 2010-08-06 | 2016-01-28 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージングシステム |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61148358A (ja) * | 1984-12-24 | 1986-07-07 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメ−ジング装置 |
-
1984
- 1984-12-25 JP JP59279727A patent/JPS61151450A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61148358A (ja) * | 1984-12-24 | 1986-07-07 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメ−ジング装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6321048A (ja) * | 1986-07-16 | 1988-01-28 | 横河メディカルシステム株式会社 | 核磁気共鳴画像の歪み補正方法 |
JP2016013484A (ja) * | 2010-08-06 | 2016-01-28 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージングシステム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0311225B2 (ja) | 1991-02-15 |
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