JPS61148630A - 光デイスク装置の光軸ずれ補正方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスク装置に係）、特にフォーカス・ト
ラックアクチュエータと固定された光学系を分離し、ア
クチュエータのみでアクセスを行なう方式を用いる光デ
ィスク装置の光軸ずれ補正方式に関する。

〔従来の技術〕

光ダイスフ装置においては、光学系から光ビームを出射
し、アクチュエータにより、光ディスク上の光点の位置
、焦点を制御して、光ディスク上への記録の再生、消去
、書き込み等を行う。

このような制御は、高速性が要求されることがら、アク
チュエータの高速動作が要求される。高速動作のために
は、制御される対象の重量は軽い方が適する。

通常、光学系とアクチュエータとが一体化されて光学ヘ
ッドが構成されるが、上記の軽量化を目的として、最近
、光学系とアクチュエータを分離することが提案された
（第４５回応用物理学会学術講演予稿集第５２頁１３ａ
−ＦＪ−５「小型光磁気ディスク装置用アクチュエータ
分離ヘッドＪ　１９８４年１０角）。

第８図にこの光ヘッドの概略構成を示す。

本図において、１はトラッキングアクチュエータ、２は
焦点合せアクチュエータ、８はキャリッジ、４はベアリ
ング、５はレー／ｌ／、６は光学系。

７はグイヌクである。

トップキング用アクチュエータｌと焦点合せ用アクチュ
エータ２がキャリッジ８に取付けられ、キャリッジ３は
ベアリング４を介してレー／Ｉ／６ニ支持されている。

キャリッジ８の両横側にコイμが取付けられておシ、こ
こに発生する電磁力によってキャリッジ８を駆動する。

光学系６は固定されてお）、キャリフジ８と光学系６と
は平行光束によって結ばれている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

このように、アクチュエータと光学系を分離する方式で
は、アクチュエータのアクセス動作に伴なう光軸ずれの
影響で光点制御特性が劣化し、これに起因して記録、再
生、消去等の特性が悪化する恐れがある。

このような光軸ずれの原因としては、次の様なものが考
えられる。

第１に、もともとの入射光軸がわずかでも傾いていれば
、アクセス時の光路変化に伴って反射光がずれてしまう
。

第２に、入射光軸とアクチュエータのアクセス軌道がず
れていても同様である。

第８に、装置の熱変動に伴って、装置の種々の部分の熱
特性の相違の影響により、光軸ずれが生じる。

これらのことから、光軸ずれに伴う補正が必要となる。

本発明は、このようなアクチュエータと光学系が分離し
ている方式における有効な光軸補正方式を提供するもの
である。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、光学系からアクチュエータに入る光ビームの
入射光を２つく分離し、一方を通常の記録・再生・消去
を行なうビームとし、他方をアクチュエータ内で反射さ
せ、この反射量とディスクからの反射光とを再度同一光
路を通過させたのち、固定光重系内で両反射ビームを分
離し、後者の反射ビームから光軸ずれを検出し、前者ビ
ーム−Ａ−ら検出された光点制御信号に補正をかけ、光
軸ずれの影響を除去するようにしたものである。

〔作用〕

すなわち、光ディスクに照射する光とは別に、光軸ずれ
を検出するための光ビームを分離し、アクチュエータ自
身の一部で反射して、光軸ずれを検出可能として補正す
るようにしたものである。

〔実施例〕

第１図は、本発明の実施例である。

図において、ｌＯは光学系、１１はレーザダイオード、
１２はコリメートレンズ、１Ｂはビームスプリフタ、１
４鵜偏光に’−ム７−７”！Ｊフッタ１５はｌ／４板、
１６はミラー、１７はアクチュエータ、１Ｂはビームス
プリッタ、１９はλ／４板、２０．２１はミラー、２２
は対物レンズ、２Ｂはディスク、２４はスピンド／ｌ／
、２６．２７はレンズ、２８．２９はグチフタでちる。

光学系１０は固定され、レーザダイオード１１からレー
ザ光を発生する。レーザ光は、ビーム光として、コリメ
ートレンズ１２．ビームスプリフタ１８．偏光ビームス
プリッタ１４．Ｘ／４板１５を通ってミラー１６で反射
され、アクチュエータ１７に入射する。

アクチュエータ１７は図示しないＶＣＭ（ボイスコイμ
モータ）でディスク２８の半径方向に駆動され、アクセ
ス動作を行う。

更に、ビームスプリフタ１８を通過したビーム光は、ミ
ラー２１．対物レンズ２２を経てディスク２８に至る。

一方、ビームスプリッタ１８で分離されたビーム光は、
ｌ／４板１９を通過してミラー２０で反射される。

グイヌク２８によって反射された第１ビームとミラー２
０で反射された第２ビームは、ビームスプリフタ１８で
再度合成されて光学系１ｏｉｃ戻る。

ここＫＳＳグイスフ２からの反射光は、ｌ／４板１９を
２度通ることで開先部が９０度回転して偏光ビームスグ
リツタ１４で反射され、レンズ２・を経てデテクタ２９
に至る。このデ゛テクタ２９゛フォーカスエフー信号、
トラックエフ−（Ｆｌ、１生傷号等の、グイヌクに係る
補正信号が得られ詞かかる補正信号を得るための手段は
、公知でお−のでここでは詳述しない。

一方、ミラー２０で反射されたビーム光は、し４板１９
１．λ／４板１板金５度ずつ通ることで、偏光面がもと
に戻シ、偏光ビームスプリッタ１４を通過する。このビ
ーム光はビームスプリッタ１３で筐射され、レンズ２６
からｆテクタ２８に至２ことに、デテクタ２８からは、
アクセス動作に伴う光軸ずれだけが検出される。

デテクタ２８．２９は同様の溝成で足シるが、テ゛テク
タ２８における検出の方法の一例を示す。

デ°テクタ２８は、４分割されたフォトダイオードを含
んでなシ、このそれぞれに照射するビーム光の面積によ
って光の閤りを検出する。

７　　　　４分割されたフォトダイオードにそれぞれ照
射Ｓ・　　　する光の面積をａ、ｂ、ｃ、ｄとすると、
例えば’　　　　　（ａ＋ｂ）−（Ｃ十〇）が垂直方向
、（ａ＋１−（ｔ）＋ｄ）がディスクの半径方向のｇＩ
Ｉυを表わす信号となる。

第２図に、デテクタ２８．２９による出力信号′　　　
を用いて補正信号を得るための回路ブロック図を示す。

Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄは、ｆ７−クタ２９を購成する４分割フ
ォトダイオードのそれぞれに照射されるビーム光の面積
を表わす。

本図において８１，８２，８８．８４．８５，８６は差
動増幅器、８７　、ａ８は増幅器、８９．４０はそれぞ
れフォーカスコイμ、トフックコイμでおる。

差動増幅！！！８１．８２は４分割フォトダイオ−′パ
ン　　また、差動増幅１ｉ８ａ、８４は同じく、光軸ず
（′シ；″。

れとして、垂直方向、グイヌクの半径方向の＠９の信号
を得る。

差動増幅器８５．３６はそれぞれフォーカスエラー信号
と垂直方向の偏シの信号、トラックエフ−信号とグイヌ
クの半径方向の偏シの信号から、光軸ずれの補正のため
の信号を得るものである。

そして、増幅器８７．ｆ３８を介してフォーカスコイＴ
ｈａ９．トラックコイ／Ｉ／４０に信号を与え、光軸ず
れを含め友補正するものである。

〔発明の効果〕

本発明によれば、光点制御の光軸ずれに対する信頼性が
向上し、配録、再生、消去の各特性が大幅に向丘し、分
離方式を実用性の高いものとすることができる。

従って、分離方式の特徴である高速アクセス性２　を持
つ、信頼性の高い光ンイスク装置を提供する第１図、第
２図は本発明の実施例、第８図は本２は焦点合せアクチ
ュエータ、３はキャリッジ、４はベアリング、５はレー
ル、６は光学系、７はグイヌクである。

ま九、１０は光学系、１１はレーザダイオード、１２は
コリメートレンズ、１８はビームスプリフタ、１４は偏
光ビームスプリッタ、１５はλ／４板、１６はミラー、
１７はアクチュエータ、１８はビームスグリツタ、１９
はλ／４板、２０．２１はミラー、２２は対物レンズ、
２８はグイヌク、２４はスピンド＊ｑ２６．．２７はレ
ンズ、２８゜２９はデテクタである。

Δ−　　　　Δ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光点の焦点、位置制御を行うためのアクチュエータと光
   ビームを入出力するための光学系を分離した光ディスク
   装置の光軸ずれ補正方式において、該光学系より出射し
   た光ビームをアクチュエータ内で分離し、一方は光ディ
   スクへの照射を行い、他方は該アクチュエータ内の固定
   部により反射させるとともに、前記一方及び他方の光ビ
   ームの反射光を前記光学系に導き、光ビーム分離手段に
   より分離し、前記一方の光ビームの反射光より得られた
   光点の焦点、位置ずれ信号と、前記他方の光ビームの反
   射光より得られた光軸ずれ信号の両者から前記光ビーム
   の補正信号を得て、光軸ずれの補正を含めた補正をする
   ことを特徴とする光ディスク装置の光軸ずれ補正方式。