JPS61145769A - 光デイスク装置 - Google Patents

光デイスク装置

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JPS61145769A
JPS61145769A JP26736784A JP26736784A JPS61145769A JP S61145769 A JPS61145769 A JP S61145769A JP 26736784 A JP26736784 A JP 26736784A JP 26736784 A JP26736784 A JP 26736784A JP S61145769 A JPS61145769 A JP S61145769A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sector
data
address
determining means
optical disk
Prior art date
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Pending
Application number
JP26736784A
Other languages
English (en)
Inventor
Narimoto Tenmiyo
天明 成元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP26736784A priority Critical patent/JPS61145769A/ja
Publication of JPS61145769A publication Critical patent/JPS61145769A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は、光ディスク装置にかかり、とくに、経年変化
等で信頼性が低下しているセクタを判別して、データ記
録の信頼性を向上できる光ディスク装置に関する。
[従来技術] 近年、円盤状に成形した光反応記録材料からなる光ディ
スクを記憶媒体として用いる光ディスク装置を、電算機
システムの補助記憶装置等に使用とする提案がある。
この光ディスクは、表面上に螺旋状の1本の記録トラッ
クが約1.5μmのトラックピッチで形成されており、
このトラックに、記憶する情報に応じて約0.5μm径
のピットが、約1μmの微小径に絞ったレーザスポット
により直接書き込まれる6また。
例えば直径約30cmの光ディスクには、1枚あたり1
011〜1012ビツト程度のデータを記憶させること
ができる。
また、記憶データは固定長のセクタに区切られて記録ト
ラック上に記録される。この各セクタには、その先頭部
にセクタの始まりを検出するためのセクタ同期信号SS
とセクタを識別するためのセクタアドレスSAが複数個
連続して形成されるプリフォーマット領域が配置されて
いる(第2図参照)。
このように、セクタ同期信号SSおよびセクタアドレス
SAを複数連続させることで、セクタ検出の確率を向上
している。さらに、通常はセクタアドレスSAにCRC
(Cyclic Redanduncy CheckH
巡回冗長検査)符号を付してそのセクタアドレスS^の
データに異常が発生していることを検出しており、1つ
以上の正常なセクタアドレスSAを検出するとそのセク
タアドレスSAをそのセクタのセクタアドレスSAとし
て判別している。
このように、光ディスク装置はその記憶容量が大きく、
また、光ディスクに直接データを書き込むことから、磁
気記憶媒体を使用した記憶装置に比べてその記憶データ
の保存の面で有利である6反面、記憶密度が非常に大き
いために、光ディスクの表面に形成されたキズや表面に
付着した微小なゴミによるデータエラーの影響が大きく
、比較的にデータエラーが大きい(10−!′程度)。
そこで、光ディスク装置では、読み出したデータに生じ
ているデータ誤りを検出して訂正する誤り訂正処理装置
を備えていて、データエラー車を1O−L5程度にまで
低減させることで、実用上の支障をなくしている。
しかしながら、一方では光ディスクの経年変化によって
ビット誤りが増大したり、光ディスク表面のキズが経時
的に増大することは避けられず、そのためにある時点で
データエラー量が過大になって誤り訂正処理装置でもデ
ータを完全に回復できなくなるおそれがあった。
また、上述のようにプリフォーマット領域にセクタ同期
信号SSとセクタアドレスSAを複数個配置してセクタ
検出の信頼性を高めているが、光ディスクの経年変化に
よってこのプリフォーマット領域のデータエラーが増大
すると、もはやそのセクタをアクセスできなくなるとい
う問題もあった。
なお、上述したように各セクタアドレスSAにCRC符
号を付し、そのセクタアドレスSAにエラーが生じてい
ることを検出しているが、かかる事態が発生した場合に
は対処することができない。
[目的] 本発明は、上述した従来技術の問題を解決するためにな
されたものであり、データ記憶の信頼性が高い光ディス
ク装置を提供することを目的としている。
[構成コ 本発明は、この目的を達成するために、セクタアドレス
の検出エラー数を計数する計数手段と、この計数手段の
計数値に基づいて当該セクタの信頼性を判別する判別手
段を備えている。
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施例を詳細に
説明する。
第1図は、本発明の一実施例にかかる装置を示している
図において、■は装置全体を制御するとともに外部装置
(ホストマシン)とデータをやりとりするメインコント
ローラであり、外部装置から加えられる記憶データは、
メインコントローラ1がらデータ転送回路2を介して変
調回路3に加えられて変調されたのち、リード/ライト
制御回路4を介して光ディスクドライバ5に転送され、
−光ディスクに記録される。
また、リードlライト制御回路4により光ディスクから
読み出されたデータは、復調回路6によってデジタル信
号に変換されたのち、誤り訂正回路7によって生じてい
るデニタエラーが訂正されてデータ転送回路2を介して
メインコントローラ1に出力され、さらに、外部装置に
転送される。
それとともに、光ディスクから読み出されたデータは、
セクタ検出回路8に加えられていて、そのプリフォーマ
ット領域に記憶されているセクタ同期信号SSの検出タ
イミングに同期してセクタアドレスSAが検出され、そ
の結果は、メインコントローラ1に出力される。また、
セクタアドレスSAにはエラー検出のためのCRC符号
が付されていて、エラー検出回路9は、このCRC符号
の参照によるエラー検出を実行して、エラーを検出する
とエラー検出信号DEをエラーカウンタ10に出力する
。このエラーカウンタ10の計数出力はメインコントロ
ーラ1に出力される。
ここで、プリフォーマット領域に記憶されているセクタ
同期信号SSおよびセクタアドレスSAの数をNとする
メインコントローラ1は、データ記憶時、外部装置から
転送されてきた目的とするセクタのセクタアドレスSA
を記憶するとともに、リード/ライト制御回路4を作動
してプリフォーマット領域の読み取り状態に入る。この
とき、セクタ検出回路8が有効状態にされて、光ディス
クのプリフォーマット領域のデータからセクタアドレス
SAが検出されてメインコントローラ1で目的のセクタ
アドレスSAと比較されるとともにエラー検出回路9に
よりセクタアドレスSAにエラーが発生していることが
検出され、エラーの数がエラーカウンタ10で計数され
る。
このプリフォーマット領域の読み取りを終了すると、メ
インコントローラ1はその時点のエラーカウンタ10の
計数データECを入力し、その計数データECの値に応
じて以下の処理を実行する。
(イ) 計数データECが 0<EC<nl;(ただし、nl<N)の範囲にあると
き、光ディスクのそのセクタは正常な状態であると判別
し、そのセクタアドレスSAが目的のセクタアドレスS
Aに一致する場合、セクタ発見信号を外部装置に応答し
て記録データの転送を促し、転送された記録データを変
調回路3に出力するとともにリードlライト制御回路4
を作動してそのセクタに対応した光ディスクの記憶領域
に記憶させる。
(ロ) 計数データECが nl<EC<N の範囲にあるとき、そのセクタの記録領域のビットエラ
ー率が高いと判別して警告信号を外部装置に応答し、書
き込み動作を実行しない。
このようにして、セクタアドレスSAのエラー数が所定
値以下の場合のみに、記録データをそのセクタに記録す
る。
また、データ読み出し時、メインコントローラ1は書き
込み時と同様にしてプリフォーマット領域を読み出し、
その読み出しを終了した時点のエラーカウンタ10の計
数データECを入力し、その計数データECの値に応じ
て以下の処理を実行する6(ハ) 計数データECが 0<EC(nl の範囲にあるとき、光ディスクのそのセクタは正常な状
態であると判別し、そのセクタアドレスSAが目的のセ
クタアドレスSAに一致する場合、プリフォーマット領
域に続くデータ領域から記録データを読み出し、復調回
路6およびエラー訂正回路7の処理後、データ転送回路
2を介して加えられるデータを外部装置に転送する。
(ニ) 計数データECが nl<EC<N の範囲にあるとき、そのセクタアドレスSAが目的のセ
クタアドレスSAに一致する場合、再度そのセクタのセ
クタアドレスSAを検出する動作を実行し、これをm回
繰り返しても上記(ハ)の状態にならないときは、その
セクタの記録領域のビットエラー率が高いと判別して警
告信号を外部装置に応答するとともに、そのセクタから
読み出した記録データを外部装置に転送する。
これに対し、外部装置は、データ読み出し時にメインコ
ントローラ1から警告信号が応答されたときには、状態
が良好な予備の代替セクタを指定してその読み出したデ
ータをこの代替セクタに書き換える。
この外部装置の処理は、メインコントローラ1で実行す
ることも可能である。
すなわち、上述した場合(ニ)で警告信号を応答するよ
うな不良セクタを検出したとき、予備の代替セクタを探
索し、そのプリフォーマット領域でのセクタアドレスS
Aのエラー数がn1以下の場合に、その代替セクタに不
良セクタから読み出したデータを記録させる。そして、
その不良セクタと代替セクタとの対応関係を記憶し、外
部装置が不良セクタをアクセスしたときには、内部的に
は代替セクタをアクセスするようにセクタアドレスの変
換処理を実行する。
また、メインコントローラ1で不良セクタを代替セクタ
に置換する処理を実行したときは、その不良セクタと代
替セクタの関係を外部装置に通知するようにしてもよい
さらに、データ読み出し時、場合(ニ)で警告信号を応
答するよう&不良セクタを検出したときは、そのセクタ
の前後のセクタも状態が悪化している場合が考えられる
。すなわち、光ディスクの表面に深い傷が付いた場合や
汚れがひどくなった場合等にはその影響が一つのセクタ
だけでなく他のセクタにも及ぶことがあり、また、かか
る状態では経年変化等から光ディスクの広範囲でビット
エラーが大きくなっていることがある。
そこで、かかる場合には、その不良セクタの前後1セク
タのプリフォーマット領域を読み出して、上述と同様に
セクタアドレスSAの検出状態を判別する。
これにより、完全にプリフォーマット領域を読み取れな
くなる前に、不良セクタの情報を代替セクタに書き換え
ることが可能となる。
なお、以上述べた実施例ではセクタアドレスのエラー数
を計数してその計数値からセクタの信頼性を判別してい
るが、セクタアドレスの検出数からセクタの信頼性を判
別することもできる。
[効果コ 以上説明したように1本発明によれば、セクタアドレス
の検出エラー数を計数する計数手段と、この計数手段の
計数値に基づいて当該セクタの信頼性を判別する判別手
段を備えているので、プリフォーマット領域のデータを
完全に読み取れなくなる前にセクタの書き換え等の処理
が可能になり。
その結果、データ記憶の信頼性が高い光ディスク装置を
実現できるという利点を得る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例にかかる装置を示したブロッ
ク図、第2図は光ディスクの記録フォーマットの一例を
示した信号配置図である。 1・・・メインコントローラ、2・・・データ転送回路
。 3・・・変調回路、4・・・リード/ライト制御回路。 5・・・光ディスクドライバ、6・・・復調回路、7・
・・エラー訂正回路、8・・・セクタ検出回路、9・・
・エラー検出回路、10・・・エラーカウンタ。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)セクタのはじまりを検出するためのセクタ同期信
    号と、セクタを識別するためのセクタアドレスを複数個
    連続して形成したプリフォーマット領域を固定長のデー
    タ領域の前に設定した記録形式でデータを記録する光デ
    ィスク装置において、上記セクタアドレスの検出エラー
    数を計数する計数手段と、この計数手段の計数値に基づ
    いて当該セクタの信頼性を判別する判別手段を備えたこ
    とを特徴とする光ディスク装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項記載において、前記判別手
    段は、データ書き込み時、前記計数手段の計数値が所定
    値以下の場合に当該セクタへのデータ書き込みを実行す
    ることを特徴とする光ディスク装置。
  3. (3)特許請求の範囲第1項記載において、前記判別手
    段は、前記計数手段の計数値が所定値以上の場合、当該
    セクタのプリフォーマット領域の読み取りを再度実行す
    ることを特徴とする光ディスク装置。
  4. (4)特許請求の範囲第1項記載において、前記判別手
    段は、前記計数手段の計数値が所定値以上の場合、当該
    セクタが不良であることを外部装置に警報することを特
    徴とする光ディスク装置。
  5. (5)特許請求の範囲第1項記載において、前記判別手
    段は、データ読み出し時、前記計数手段の計数値が所定
    値以上の場合、当該セクタの記憶データを他のセクタに
    記憶することを特徴とする光ディスク装置。
  6. (6)特許請求の範囲第5項記載において、前記判別手
    段は、セクタの書き換え時、不良セクタと書き換え先の
    代替セクタの情報を外部装置に送出することを特徴とす
    る光ディスク装置。
  7. (7)特許請求の範囲第5項記載において、前記判別手
    段は、セクタの書き換え時、不良セクタとこれに対応す
    る書き換え先の代替セクタのセクタアドレスを記憶し、
    外部装置から不良セクタが選択された場合には、この不
    良セクタに対応した代替セクタを選択することを特徴と
    する光ディスク装置。
  8. (8)特許請求の範囲第1項記載において、前記判別手
    段は、データ読み出し時、前記計数手段の計数値が所定
    値以上の場合、当該セクタの前後のセクタのプリフォー
    マット領域を読み取ることを特徴とする光ディスク装置
JP26736784A 1984-12-20 1984-12-20 光デイスク装置 Pending JPS61145769A (ja)

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JPS61145769A true JPS61145769A (ja) 1986-07-03

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0933769A2 (en) * 1998-02-03 1999-08-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha State detecting device and optical disk device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0933769A2 (en) * 1998-02-03 1999-08-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha State detecting device and optical disk device
EP0933769B1 (en) * 1998-02-03 2004-08-11 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha State detecting device and optical disk device

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