JPS61140040A - Ｘ線ストリ−ク管の時間較正方法 - Google Patents
Ｘ線ストリ−ク管の時間較正方法Info
- Publication number
- JPS61140040A JPS61140040A JP59261438A JP26143884A JPS61140040A JP S61140040 A JPS61140040 A JP S61140040A JP 59261438 A JP59261438 A JP 59261438A JP 26143884 A JP26143884 A JP 26143884A JP S61140040 A JPS61140040 A JP S61140040A
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- JP
- Japan
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- ray
- pulse train
- tube
- streak tube
- time
- Prior art date
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/06—Cathodes
- H01J35/065—Field emission, photo emission or secondary emission cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/22—X-ray tubes specially designed for passing a very high current for a very short time, e.g. for flash operation
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、レー゛ザにより作られる超短光パルス照射に
より光電子銃をもっ超短Ｘ線パルス発生管で作られる超
短Ｘ線パルスを用いることにより、Ｘ線ストリーク管の
時間較正を行うＸ線ストリーク管の時間較正方法に関す
る。
より光電子銃をもっ超短Ｘ線パルス発生管で作られる超
短Ｘ線パルスを用いることにより、Ｘ線ストリーク管の
時間較正を行うＸ線ストリーク管の時間較正方法に関す
る。
（従来技術）
従来のＸ線ストリーク管の時間較正方法を第４図および
第５図を参照して説明する。
第５図を参照して説明する。
第４図は、従来のＸ線′ストリーク管の時間較正方法を
実施するための装置の実施例の配置図である。
実施するための装置の実施例の配置図である。
第５図は、従来のＸ線ストリーク管の時間較正方法を実
施するための装置で使用する超短Ｘ線パルス発生ターゲ
ットの発生するＸ線のスペクトルを示すグラフである。
施するための装置で使用する超短Ｘ線パルス発生ターゲ
ットの発生するＸ線のスペクトルを示すグラフである。
レーザで発生した超短レーザパルス１をハーフミラー３
で分岐し、その一部をエタロン２に通し、一定の時間間
隔をもつ光パルス列４を作る。
で分岐し、その一部をエタロン２に通し、一定の時間間
隔をもつ光パルス列４を作る。
この光パルス列４でアルミニウム（Ａ１）またはチタン
（Ｔｉ）などのターゲット１４に照射しいわゆるレーザ
プラズマを作り、光パルス列に相似な軟Ｘ線パルス列１
５を発生させる。
（Ｔｉ）などのターゲット１４に照射しいわゆるレーザ
プラズマを作り、光パルス列に相似な軟Ｘ線パルス列１
５を発生させる。
ターゲット１４としてチタン（Ｔｉ）を用いた場合の前
記軟Ｘ線パルスのスペクトル分布を第５図に示す。
記軟Ｘ線パルスのスペクトル分布を第５図に示す。
Ｘ線スＩ−ＩＪ−り管のＸ線光電面１０は前記Ｘ線パル
ス列１５で照射される。
ス列１５で照射される。
Ｘ線光電面１０は軟Ｘ線パルス列１５で励起され、電子
ビーム１２を発生する。
ビーム１２を発生する。
前記ハーフミラ−３で分岐された他方の光パルスは高速
光検出器５で検出される。
光検出器５で検出される。
ストリーク管の掃引電圧を発生する偏向電圧発生回路７
は、前記高速光検出器５の出力をトリガとして掃引電圧
をストリーク管２７の偏向電極９に印加する。
は、前記高速光検出器５の出力をトリガとして掃引電圧
をストリーク管２７の偏向電極９に印加する。
前記Ｘ線光電面１０が発生した電子ビーム１２は前記偏
向電極９により発生させられた偏向電界により偏向させ
られる。
向電極９により発生させられた偏向電界により偏向させ
られる。
螢光面し１上に入射Ｘ線パルスの時間特性に対応した光
パルス像を作り、そのパルス間隔１６およびパルス半値
幅１７を測定することにより、ストリーク管の時間較正
を行っていた。
パルス像を作り、そのパルス間隔１６およびパルス半値
幅１７を測定することにより、ストリーク管の時間較正
を行っていた。
（発明が解決しようとする問題点）
前述のような従来のＸ線ストリーク管の時間較正方法を
実施する装置で使用されているレーザプラズマの作る軟
Ｘ線は第４図に示すように、そのエネルギーは１．５〜
２． Ｑ ｋ ｅ Ｖ程度であり、真空紫外線に至る長
い波長の電磁波も同時に発生していた。
実施する装置で使用されているレーザプラズマの作る軟
Ｘ線は第４図に示すように、そのエネルギーは１．５〜
２． Ｑ ｋ ｅ Ｖ程度であり、真空紫外線に至る長
い波長の電磁波も同時に発生していた。
そしてこの軟Ｘ線パルスは、時間応答が正しく入射レー
ザパルスに対応していないという問題かあった。レーザ
エネルギーを吸収したターゲットでは、いわゆるレーザ
プラズマが作られる。放出さ６電磁波（ＶＵＶ〜軟８線
）′）波長分布は一作 １られるプラズマの温
度により変化し、時間応答も、作られるプラズマの過渡
特性により変化する。例えば、ＶＵＶ領域の放射では長
い時定数が観測される。
ザパルスに対応していないという問題かあった。レーザ
エネルギーを吸収したターゲットでは、いわゆるレーザ
プラズマが作られる。放出さ６電磁波（ＶＵＶ〜軟８線
）′）波長分布は一作 １られるプラズマの温
度により変化し、時間応答も、作られるプラズマの過渡
特性により変化する。例えば、ＶＵＶ領域の放射では長
い時定数が観測される。
また、軟Ｘ線発生には、レーザエネルギーとしてのしき
い値があり、時間較正用としての安定した軟Ｘ線パルス
の発生が難しいという問題があった。
い値があり、時間較正用としての安定した軟Ｘ線パルス
の発生が難しいという問題があった。
本発明の目的は、従来のＸ線源を改良して、より正確に
Ｘ線ストリーク管の時間較正をすることができるＸ線ス
トリーク管の時間較正方法を提供することにある。
Ｘ線ストリーク管の時間較正をすることができるＸ線ス
トリーク管の時間較正方法を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
前記目的を達成するために、本発明によるＸ線ストリー
ク管の時間較正方法では、まず光源装置によりパルス間
隔が知られている光パルス列を発生する。
ク管の時間較正方法では、まず光源装置によりパルス間
隔が知られている光パルス列を発生する。
そして、光電面、Ｓ束手段、Ｘ線ターゲットを有するＸ
線発生管の前記光電面を前記光パルス列で照射してＸ線
パルス列を発生する。
線発生管の前記光電面を前記光パルス列で照射してＸ線
パルス列を発生する。
前記Ｘ線パルス列で較正対象のＸ線ストリーク管の光電
面を照射し、前記Ｘ線ストリーク管の電子ビーム偏向手
段を前記光パルス列の発生に同期して動作させ、前記Ｘ
線ストリーク管の螢光面に発生したストリーク像の間隔
を測定することによりＸ線ストリーク管の時間較正を行
うように構成されている。
面を照射し、前記Ｘ線ストリーク管の電子ビーム偏向手
段を前記光パルス列の発生に同期して動作させ、前記Ｘ
線ストリーク管の螢光面に発生したストリーク像の間隔
を測定することによりＸ線ストリーク管の時間較正を行
うように構成されている。
（実施例）
以下、図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する
。
。
第１図は、本発明によるＸ線ストリニク管の時間較正方
法を実施するための装置の実施例の配置図である。
法を実施するための装置の実施例の配置図である。
半導体レーザを含むレーザ２０より発生した超短光パル
ス１はハーフミラ−３で分割される。
ス１はハーフミラ−３で分割される。
ハーフミラ−３を透過した光はエタロン２により光パル
ス列４が作られる。
ス列４が作られる。
第２図は、エタロンにより作られた光パルス列を可視光
用ストリーク管で観測したグラフである。
用ストリーク管で観測したグラフである。
この光パルスはレンズ１８で広げられ、Ｘ線パルス発生
管２１の光電面２２に入射させられる。
管２１の光電面２２に入射させられる。
Ｘ線パルス発生管２１は真空容器の内面に光電面２２が
形成されている。
形成されている。
前記光電面２２から放出された光電子は集束電極２３に
より集束され、透過形の金属ターゲット２４方向への加
速電界により加速され、金属ターゲット２４に衝突させ
られる。
より集束され、透過形の金属ターゲット２４方向への加
速電界により加速され、金属ターゲット２４に衝突させ
られる。
前記金属ターゲット２４に衝突するときの電子ビームは
スポット状である。
スポット状である。
第３図に金属ターゲット２４としてチタン（Ｔｉ）を用
いた場合のＸ線パルス発生管が発生するＸ線のスペクト
ルを示す。
いた場合のＸ線パルス発生管が発生するＸ線のスペクト
ルを示す。
チタン（Ｔｉ）をターゲットに使用すると、４．６ｋｅ
Ｖの特性Ｘ線と、電子ビームがレーザ・７ト中で減速さ
れる時に発生する輻射であるいわゆるプレームシュトラ
ールングからなる分布をもつＸ線が得られる。
Ｖの特性Ｘ線と、電子ビームがレーザ・７ト中で減速さ
れる時に発生する輻射であるいわゆるプレームシュトラ
ールングからなる分布をもつＸ線が得られる。
このＸ線は容器の一部を形成するヘリリウム（Ｂｅ）板
の窓２５を通過し、Ｘ線パルス発生管の外部に取り出さ
れる。
の窓２５を通過し、Ｘ線パルス発生管の外部に取り出さ
れる。
ストリーク管の偏向電極９に印加される掃引電圧は、ハ
ーフミラ−３で分岐されたレーザパルスの一部を利用し
、高速光検出器５で検出し、掃引電圧を発生する偏向電
圧発生回路７を起動することにより作られる。
ーフミラ−３で分岐されたレーザパルスの一部を利用し
、高速光検出器５で検出し、掃引電圧を発生する偏向電
圧発生回路７を起動することにより作られる。
偏向電極９はこの掃引電圧により、Ｘ線パルス列に対応
して発生させられた電子ビームをその発生時間順に螢光
面１１に対応させる。
して発生させられた電子ビームをその発生時間順に螢光
面１１に対応させる。
Ｘ線発生管２１で発生させられるＸ線パルス列の時間間
隔は、その光電面に入射する光パルス列に正確に対応し
ているから螢光面１１に得られる光パルス像間隔から、
ストリーク管の時間較正を行うことができる。
隔は、その光電面に入射する光パルス列に正確に対応し
ているから螢光面１１に得られる光パルス像間隔から、
ストリーク管の時間較正を行うことができる。
（発明の効果）
以上詳しく説明したように、本発明方法によれば、スト
リーク管２７の駆動に用いるＸ線パルスが、レーザプラ
ズマでな（Ｘ線パルス発生管により作られるため、その
Ｘ線の線質が、ターゲツト材の選択で色々選ぶことがで
きる。
リーク管２７の駆動に用いるＸ線パルスが、レーザプラ
ズマでな（Ｘ線パルス発生管により作られるため、その
Ｘ線の線質が、ターゲツト材の選択で色々選ぶことがで
きる。
さらに、Ｘ線のエネルギー範囲がプレームシュトラ−／
Ｌ／ ７１’を利用す０ばゞ線％ ／Ｌ／ Ｘ発生管″
動作 １電圧により幅広く変化させることがで
きる。
Ｌ／ ７１’を利用す０ばゞ線％ ／Ｌ／ Ｘ発生管″
動作 １電圧により幅広く変化させることがで
きる。
さらに光による光電子の発生に要する時間、電子ビーム
によるＸ線発生の所要時間は１ｐｓｅｃより短いので、
レーザプラズマのような電子温度上昇を利用したＸ線発
生に比べ、正しく、光パルス波形と相似となるので、時
間較正として理想的である。
によるＸ線発生の所要時間は１ｐｓｅｃより短いので、
レーザプラズマのような電子温度上昇を利用したＸ線発
生に比べ、正しく、光パルス波形と相似となるので、時
間較正として理想的である。
第１図は、本発明によるＸ線ストリーク管の時間較正方
法を実施するための装置の実施例の配置図である。 第２図は、エタロンにより作られた光パルス列を可視光
用ストリーク管で観測したグラフである。 第３図は、本発明方法を実施するための装置で使用する
Ｘ線パルス発生管の発生するＸ線のスペクトルを示すグ
ラフである。 第４図は、従来のＸ線ストリーク管の時間較正方法を実
施するための装置の実施例の配置図である。 第５図は、従来のＸ線ストリーク管の時間較正方法を実
施するための装置で使用するＸ線パルス発注管の発生す
るＸ線のスペクトルを示すグラフである。 １・・・超短レーザパルス ２・・・エタロン３・・・
ハーフミラ−４・・・光パルス５・・・高速光検出器
７・・・偏向電圧発生回路９・・・偏向電極
１０・・・Ｘ線光電面１１・・・螢光面
１２・・・電子ビーム１３・・・光信号像（分布）１４
・・・ターゲット１５・・・Ｘ線 １６・・
・パルス間隔１７・・・パルス半値幅 １８・・・レ
ンズ１９・・・ミラー ２０・・−レーザ２１
・・・Ｘ線パルス発生管 ２２・・・光電面 ２３・・・集束電極２４・
・・ターゲット ２５・・・Ｂｅ窓２６・・・Ｘ線
パルス ２７・・−ストリーク管特許出願人 浜松
ホトニクス株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ 壽 り間Ｐ５ｅｃ Ｆｊｆニア り 図 寿４図
法を実施するための装置の実施例の配置図である。 第２図は、エタロンにより作られた光パルス列を可視光
用ストリーク管で観測したグラフである。 第３図は、本発明方法を実施するための装置で使用する
Ｘ線パルス発生管の発生するＸ線のスペクトルを示すグ
ラフである。 第４図は、従来のＸ線ストリーク管の時間較正方法を実
施するための装置の実施例の配置図である。 第５図は、従来のＸ線ストリーク管の時間較正方法を実
施するための装置で使用するＸ線パルス発注管の発生す
るＸ線のスペクトルを示すグラフである。 １・・・超短レーザパルス ２・・・エタロン３・・・
ハーフミラ−４・・・光パルス５・・・高速光検出器
７・・・偏向電圧発生回路９・・・偏向電極
１０・・・Ｘ線光電面１１・・・螢光面
１２・・・電子ビーム１３・・・光信号像（分布）１４
・・・ターゲット１５・・・Ｘ線 １６・・
・パルス間隔１７・・・パルス半値幅 １８・・・レ
ンズ１９・・・ミラー ２０・・−レーザ２１
・・・Ｘ線パルス発生管 ２２・・・光電面 ２３・・・集束電極２４・
・・ターゲット ２５・・・Ｂｅ窓２６・・・Ｘ線
パルス ２７・・−ストリーク管特許出願人 浜松
ホトニクス株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ 壽 り間Ｐ５ｅｃ Ｆｊｆニア り 図 寿４図
Claims (3)
- （１）光源装置によりパルス間隔が知られている光パル
ス列を発生し、光電面、集束手段、Ｘ線ターゲットを有
するＸ線発生管の前記光電面を前記光パルス列で照射し
てＸ線パルス列を発生し、前記Ｘ線パルス列で較正対象
のＸ線ストリーク管の光電面を照射し、前記Ｘ線ストリ
ーク管の電子ビーム偏向手段を前記光パルス列の発生に
同期して動作させ、前記Ｘ線ストリーク管の螢光面に発
生したストリーク像の間隔を測定することによりＸ線ス
トリーク管の時間較正を行うように構成したＸ線ストリ
ーク管の時間較正方法。 - （２）前記光源装置は、極短時間持続するレーザパルス
発生装置とエタロンにより形成されている特許請求の範
囲第１項記載のＸ線ストリーク管の時間較正方法。 - （３）前記Ｘ線ストリーク管の電子ビーム偏向手段は光
パルス列の発生の原因となる一つの光パルスの発生に同
期して発生させられる特許請求の範囲第１項記載のＸ線
ストリーク管の時間較正方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59261438A JPS61140040A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | Ｘ線ストリ−ク管の時間較正方法 |
| US06/805,425 US4714825A (en) | 1984-12-11 | 1985-12-04 | System for calibrating the time axis of an X-ray streak tube |
| DE3543606A DE3543606C2 (de) | 1984-12-11 | 1985-12-10 | System zum Eichen der Zeitachse einer Röntgenblitzröhre |
| FR8518316A FR2574555B1 (fr) | 1984-12-11 | 1985-12-11 | Systeme d'etalonnage de l'axe des temps d'un tube a eclairs de rayons x |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59261438A JPS61140040A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | Ｘ線ストリ−ク管の時間較正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61140040A true JPS61140040A (ja) | 1986-06-27 |
Family
ID=17361888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59261438A Pending JPS61140040A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | Ｘ線ストリ−ク管の時間較正方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4714825A (ja) |
| JP (1) | JPS61140040A (ja) |
| DE (1) | DE3543606C2 (ja) |
| FR (1) | FR2574555B1 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2665231B2 (ja) * | 1988-05-13 | 1997-10-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光波形測定装置 |
| US5003168A (en) * | 1988-12-22 | 1991-03-26 | Alfano Robert R | Trigger circuit for a streak camera sweep drive circuit |
| US5442678A (en) * | 1990-09-05 | 1995-08-15 | Photoelectron Corporation | X-ray source with improved beam steering |
| US6195411B1 (en) | 1999-05-13 | 2001-02-27 | Photoelectron Corporation | Miniature x-ray source with flexible probe |
| US6642499B1 (en) | 1999-07-19 | 2003-11-04 | The University Of Rochester | System for photometric calibration of optoelectronic imaging devices especially streak cameras |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3033984A (en) * | 1959-02-17 | 1962-05-08 | United States Steel Corp | Apparatus for increasing the energy of x-rays |
| US4606061A (en) * | 1983-12-28 | 1986-08-12 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Light controlled x-ray scanner |
-
1984
- 1984-12-11 JP JP59261438A patent/JPS61140040A/ja active Pending
-
1985
- 1985-12-04 US US06/805,425 patent/US4714825A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-12-10 DE DE3543606A patent/DE3543606C2/de not_active Expired
- 1985-12-11 FR FR8518316A patent/FR2574555B1/fr not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4714825A (en) | 1987-12-22 |
| DE3543606C2 (de) | 1986-10-16 |
| FR2574555B1 (fr) | 1989-08-18 |
| FR2574555A1 (fr) | 1986-06-13 |
| DE3543606A1 (de) | 1986-06-12 |
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