JPS6113939A - 検出器不良自動検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明はＸ線ＣＴ装置に具備される放射線検出器の不良
ディテクタを自動的に認識するところの検出器不良自動
検出装置に関する。

［発明の技術的背景とその問題点］ 従来、ＸＩＩＡＣＴ装置にあっては、収集された生デー
タ（再構成前のデータ）により先ず画像を再構成し、こ
の再構成画像中に生ずるアーチファクトをオペレータが
視覚により認識し、対応する不良ディテクタによる放射
線情報すなわち異常データをソフト的に置き換え処理し
た後、再び画像を再構成することにより診断に供される
所望の再構成画像像を得ていた。

しかしながら、上述した従来の処理手順によれば、Ｘ線
検出器の不良検出に際して、生データによる再構成画像
中に生ずるアーチファクトのｇ［をオペレータは余儀な
くされ、オペレータの負担が大であるとともに診断に供
される所望の再構成画像が得られるまでに長時間を要す
るという問題点があった。

［発明の目的］ 本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、検出器
の不良ディティフタを自動的に認識することにより、オ
ペレータの負担を大幅に軽減し、しかも画像再構成に要
する時間の短縮を図ることのできる検出器不良自動検出
装置の提供を目的とする。

［発明の概要］ 上記目的を達成すめるための本発明の概要は、Ｘ線ＣＴ
装置に具備され、かつ、複数のディテクタより成るＸ線
検出器により検出された生データを基に不良ディテクタ
を認識し、この認識された不良ディテクタに対応する生
データの置き換え処理を指令する検出器不良自動検出装
置において、隣り合うディテクタ間にて生データの差分
を得ることにより差分データを作成する差分データ作成
部と、この差分データ作成部により作成された差分デー
タを入力し、連続する差分データの軌跡が直線となるデ
ィテクタを不良ディテクタとして認識する不良ディ・テ
クタ認識部とを有することを特徴とするものである。

［発明の実施例］ 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。

第１図は本発明の一実施例である検出器不良自動検出装
置をＸＩＩＣＴ装置に適用した場合を示すブロック図で
ある。同図１はＸ線発生部であり、例えば矢印２方向に
回転可能に取り付けられ、かつ、被写体４に曝射される
Ｘ線ＦＢを発生する。

３は円周上に複数のディテクタが配列されて成る放射線
検出器（以下、「検出器」と略称する）であり、前記被
写体４を透過したＸ線ＦＢを検出し、これを電気信号に
変換することにより収集データとして出力する。５は収
集データのＡ／Ｄ　（アナログ・ディジタル）変換ある
いは対数変換等の処理を行う。６は第１の記憶部であり
、前記収集γ−タ前処理部５の出力を記憶する。

また、７は前記第１の記憶部６より読み出されたデータ
を基に隣り合うディテクタ間にて生データの差分を得る
ことにより差分データを出力する差分データ作成部、８
は前記差分データを記憶用　　　−能な第２の記憶部、
９は前記第２の記憶部８より読み出された差分データを
基にパターン認！（詳しくは後述する）を行い故障ある
いは性能劣化したディテクタを認識する不良ディテクタ
認識部（パターン認識部ともいう）、１０は前記パター
ン認識部９の認識結果を登録可能な第３の記憶部であり
、この第３の記憶部１０と前記差分データ作成部７及び
前記第２の記憶部８並びに前記パターン認識部９とから
検出器不良自動検出装置が構成される。尚、１２は故障
ディテクタ置き換え部であり、前記第３の記憶部１０の
出力すなわち前記パターン認識部９の認識結果に応じて
、前記第１の記憶部６より読み出された生データ中の異
常データ（不良ディテクタによるデータ）をソフト的に
置き換え処理する。この故障ディテクタ眠き換え部１２
の出力は図示しない画像再構成に入ツノされ画像再構成
に供される。

次に、以上構成による実施例装置の作用について説明す
る。

Ｘ線発生部１より曝射されたＸ線ＦＢに、よる被写体４
のＸ線情報は、検出器３により検出され、収集データ前
処理部５にてＡ／Ｄ変換等の処理が行われた後に、第１
の記憶部６に生データとして記憶される。ここに、前記
収集データは例えば第２図に示すようになり、横方向に
ディテクタ番号を、また縦方向にパルス（Ｘ線曝射）を
とると、ディテクタが正常であれば被写体４の彰Ａ’（
ａ及びｂはエツジを示す）が曲線として現れ、また故障
していればＢで示すように直線となる。

検出器不良自動検出装置１１は前記第１の記憶部６に記
憶された生データを基に詳しくは後述するように検出器
３の各ディテクタが正常であるか否かの判別を行う。こ
の判別において不良ディテクタが認識されると、当該デ
ィテクタ番号が故障ディテクタ置き換え部１２に指令さ
れ、当該不良ディテクタに対応する生データの置き換え
処理が行われる。

次に、検出器不良自動検出装＠１１の作用について詳述
する。

第１の記憶部６より読み出された生データは先ず差分デ
＝り作成部７に入力され、差分データの作成に点される
。ここに、差分データとは前記第１の記憶部６内の生デ
ータを基に隣合うディテクタ間にて生データの差分をと
ったものであり、作成された差分データは第２の記憶部
８に記憶される。第３図は第２の記憶部８内に記憶され
た差分データの一例であり、斜線領域が差分データの存
在を示している。

次に、前記第２の記憶部８内に記憶された差分データを
基にパターン認識による不良ディテクタの認識を行う。

この不良ディテクタの認識は、第３図の先頭パルスＰ１
による差分データにおいて予められた閾値を越える箇所
〈同図ではＤ５．Ｄ９、ＤＩ４．Ｄ１８が閾値を越える
）を検出し、その箇所を原点として例えば第４図に示す
ように矢印■〜■方向のいずれにデータが連続するかを
把握する。そして、この連続するデータの軌跡が直線と
なるか否かを識別し、直線となる場合に当該ディテクタ
を不良ディテクタとして認識する。

第３図の差分データによればＤ９及び０．１８のディテ
クタが不良ディテクタとして認識されることとなる。以
下、第５図及び第６図に示す７０−チャートを基に不良
ディテクタの認識についＩ詳述する。

第５図は不良ディテクタの認識のメインルーチンを示す
フローチャートである。

第２の記憶部８内の差分データ（第３図におけけるサン
プル（パルス）番号、ディテクタ番号共に「Ｏ」より開
始するものとし、先ず、ディテクタ番号が最終番号か否
かの判別を行う（ステップＳｌ）。

前記ステップＳ１の判別において、ディテクタ番号が最
終番号でないと判断された場合には、先頭パルスＰ１に
おける差分データと予め定められた閾値との比較を行う
（ステップ８２＞。

前記ステップＳ２の比較において、差分データが閾値を
越えると判断された場合には、詳しくは後述するように
チェック・カーブなるサブルーチンを呼び出し、当該デ
ィテクタのデータより連続するデータの軌跡が直線であ
るか曲線であるかを　　　　　へ把握する（ステップ８
３）。

次に、前記ステップＳ３のサブルーチンにより把握され
たデータの軌跡（以下、「線種」ともいう）より、当該
ディテクタが正常が否かの判別を行う（ステップＳ４）
。すなわち、チェック・カーブなるサブルーチンにより
線種が直線と判断された場合には前記ステップＳ４の判
別において当該ディテクタは不良と判断され、また、線
種が曲線と判断された場合には当該ディテクタは正常と
判断される。

前記ステップＳ４の判別において、当該ディテクタは不
良と判断された場合、パターン認識部９は当該ディテク
タの番号を第３の記憶部（故障ディテクタ宣言用ファイ
ル）１０に登録しくステップＳ５）、次いで当該ディテ
クタ番号に「１」を加えた後に（ステップ８６）前記ス
テップＳ１の判別に戻る。

尚、前記ステップＳ２の比較において前記差分データの
値が閾値以下と判断された場合、及び前記ステップＳ４
において線種が曲線と判断された場合にも前記同様当該
ディテクタ番号に「１」を加えた後に（ステップ８６）
前記ステップＳ１の判別に戻る。ここに前記ステップＳ
６において当該ディテクタ番号に「１」を加えるという
ことは、第３図のディテクタ番号方向に次のディテクタ
を指定することを意味する。

次に、前記ステップＳ３におけるチェック・カーブなる
サブルーチンについて第６図に示すフローチャートを基
に説明する。

本サブルーチンは手続きがそれ自身を呼ぶという所謂再
帰的呼出しく再帰的プロミング）の手払を利用するもの
であり、データの軌跡が直線か曲線かを把握するための
ルーチンである。

先ず、所定のディテクタすなわち第５図のメインルーチ
ンにおけるステップＳ２の比較により差分データが閾値
を越えると判断されたディテクタについて、次のパルス
データによる差分データが予め定められた閾値を越える
か否かの判別を行う（ステップ８３−１　）。

前記ステップ５３−１の判別において差分データが閾値
を越えると判断された場合にはサンプルすなわち第３図
のパルス番号を次へ進める（ステツブ８３−２）。

そして、サンプルは最後まで行ったか否かの判別を行う
（ステップ８３−３）。

前記ステップ５３−４の判別において、サンプルが未だ
最後まで行っていないと判断された場合には、再び本サ
ブルーチンを呼出寸ことになる（ステップ８３−４）。

前記ステップ５３−３の判別において、サンプルが最後
ま、で行ったと判断された場合には、線種へ直線を代入
し、当該サブルーチンの呼出しアドレスの次に帰る。よ
って、前記ステップ５３−４のコール・チェック・カー
ブの場合の戻り先は、当該ステップ５３−４のサブルー
チンの呼出しアドレスの次になり、ステップ５３−５に
おける線種は直線か曲線かの判別を行うこととなる。

尚、ザブルーチンを呼出す毎に当該アドレスはスタック
されるので戻り先は必らずスタックトップのアドレスに
となり、最終的には第５図ステップＳ３のサブルーチン
呼出しアドレスの次に戻ることになる。

また、前記ステップ５３−１の判別において、差分デー
タが閾値を越えないと判断された場合にはサンプルは最
後まで行ったか否かの判別を行う（ステップＳ３−６）
。

前記ステップ５３−６の判別において、サンプルが最後
まで行っていないと判断された場合には、ディテクタは
左右の端を越えたか否かの判別を行う。（ステップ８３
−７）。

前記ステップ５３−６の判別において、サンプルが最後
まで行っていないと判断された場合及び前記ステップ５
３−７の判別において、ディテクタは左右の端を越えて
いないと判断された場合には、線種へ直線を代入し、当
該サブルーチンの呼出しアドレスの次に帰る。

また、前記ステップ５３−７の判別において、ディテク
タは左右の端を越えたと判断された場合には、所定方向
に閾値を越えるものがあるか否かの判別を行う（ステッ
プ８３−８）。ここに、所定方向とは第４図の矢印■〜
■方向を意味する。　　　）前記ステップ５３−８の判
別において、所定方向に閾値を越えるものがあると判断
された場合には、線種へ曲線を代入し、当該サブルーチ
ンの呼出しアドレスの次に帰る。

また、前記ステップ５３−８の判別において、所定方向
に閾値を越えるものがないと判断された場合にはサンプ
ルを次へ進め（ステップ８３−９）サンプルは最後まで
行ったか否かの判別を行う（ステップ５３−１０）。

前記ステップ８３−１０の判別において、サンプルは最
後まで行ったと判断された場合には線種へ曲線を代入し
、当該サブルーチンの呼出しアドレスの次に帰る。

前記ステップ８３−１０の判別において、サンプルは最
後まで行っていないと判断された場合には、再び本サブ
ルーチンを呼出ずことになる（ステップ８３−１１　）
。

尚、前記ステップ５３−１１において呼出されたサブル
ーチンの場合の戻り先は、当該ステップ８３−１１の呼
出しアドレスとなり、かかる場合、線種は直線か曲線か
の判別を行うことになる。

（ステップ８３−１２）。そして、このステップ８３−
１２の判別結果もまた線種へ曲線あるいは直線をを代入
し、当該サブルーチンの呼出しアドレスの次に帰る。

以上説明したサブルーチンにより把握された線種は最終
的に第５図ステップＳ４の判別に供されることになり、
当該ディテクタは不良であると判断された場合、既述し
たようにデータ置き換え処理が行われることとなる。

尚、第２の記憶部８内における先頭パレスＰ１について
の全てのディテクタの認識が終了した時点で前記第２の
記憶部８は、第７図に示すように記憶データを移動し、
新たに入力される差分データすなわちパルス（ｎ＋１）
による差分デ〜りを記憶する。

・　このように、生データより差分データを作成し、連
続する差分データの軌跡が直線となるディテクタを不良
ディテクタとして認識することにより、画像を再構成す
る前に不良ディテクタを識別することができ、しかも、
当該不良ディテクタの番号を第３の記憶部１０すなわち
故障ディテクタ宣言用ファイルを介して故障ディテクタ
置き換え部１０に指令することにより、オペレータが関
与することなく当該不良ディテクタに対応する生データ
の置き換え処理ができる。これはオペレータの負担の大
幅な軽減及び画像再構成に要する時間の短縮が図れるこ
とを意味する。

以上本発明の一実施例について説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内で適宜に変形実施が可能であるのはいうまでもない
。

例えば、第５図及び第６図に示すフローチャーは不良デ
ィテクタを認識するルーチンの一例であり、要は連続す
る差分データの軌跡が直線か否かの判別を行い得るもの
であれは良く、他のルーチンを適用することができるの
はいうまでもない。

１［発明の効果］ 以上説明したように本発明によれば、画像を再構成する
前に不良ディテクタを認識し、データの置き換え処理を
要する不良ディテクタを自動的に指令することができる
ので、オペレータの負担を大幅に軽減し、しかも画像再
構成に要する時間の短縮を図ることのできる検出器不良
自動検出装置を提供するとかできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である検出器不良自動検出装
置をＸ線ＣＴ装置に適用した場合を示すブロック図、第
２図はＸＩＩＣＴ装置により得られる生データの一例を
示す説明図、第３図はｔ分データの一例を示す説明図、
第４図は本実施例装置におけるパターン認識の原理を説
明するための説明図、第５図は本実施例装置における不
良ディテクタ認識のメインルーチンの一例を示す７０−
ヂレ１．−ト、第６図はそのサブルーチンの一例を示す
ブローチヤード、第７図は本実施例装置における第２の
記憶部内のデータ移動を示す説明図である。 ７・・・差分データ作成部、８・・・第２の記憶部、　
　　　　　、、。 ９・・・パターン認識部（不良ｆイテクタ認識部）、１
１・・・検出器不良自動検出装置。 代理人　弁理士　則近憲佑（はが１名）テ゛イデクク デ゛イテクノ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. Ｘ線ＣＴ装置に具備され、かつ、複数のディテクタより
   成るＸ線検出器により検出された生データを基に不良デ
   ィテクタを認識し、この認識された不良ディテクタに対
   応する生データの置き換え処理を指令する検出器不良自
   動検出装置において、隣り合うディテクタ間にて生デー
   タの差分を得ることにより差分データを作成する差分デ
   ータ作成部と、この差分データ作成部により作成された
   差分データを入力し、連続する差分データの軌跡が直線
   となるディテクタを不良ディテクタとして認識する不良
   ディテクタ認識部とを有することを特徴とする検出器不
   良自動検出装置。