JP3510316B2 - Ｘ線ｃｔ装置の異物検出方法及び異物検出装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置の異物検出方法及び異物検出装置Info
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Description
方法及び異物検出装置に関する。
い、物体（被検体）の各部のＸ線吸収度に応じた分布を
再生像として得るものである。図５はＸ線ＣＴ装置の概
念図である。図において、１０はスキャナ本体（ガント
リ）で、その内部にＸ線を発生するＸ線管１，該Ｘ線管
１の出力を受けて、ビーム整形を行なうと共に、必要な
情報のみ通過させるＸ線フィルタよりなるコリメータ・
Ｘ線フィルタ２，被検体３を載せる寝台４，被検体３に
対してＸ線管１と対向した位置に配置される複数チャネ
ルの検出器よりなるＸ線検出器５及び該Ｘ線検出器５よ
り検出された検出信号を収集するデータ収集部６より構
成されている。被検体３とこれを載置する寝台４とはガ
ントリ開口部（アパーチャともいう）に入りこんだ状態
で撮影されるようになっている。
で、例えばコンピュータ等が用いられる。１２はデータ
収集部６から出力されるＸ線検出信号を受けて、所定の
アルゴリズムに従って画像の再構成を行なう画像再構成
装置、１３は該画像再構成装置１２の出力を受けて画像
表示を行なうと共に、各種コマンド等を入力する画像表
示・操作コンソール、１４は再構成された画像データを
記憶する画像記憶装置である。１６はＸ線管１に高圧を
印加する高電圧発生装置、１５は制御装置１１の制御の
下に高電圧発生装置１６を制御するＸ線制御装置であ
る。
れられるガントリ開口部の面壁は、ガントリ内部に異物
が入りこまないようにカバーする目的でマイラフィルム
（ｍｙｌａｒ ｆｉｌｍ）でできている。図６は、マイ
ラフィルムの位置を示す図である。図において、１０は
ガントリ、７ａはガントリ開口部である。７ｂがマイラ
フィルムでガントリ開口部７ａの面壁を構成している。
８は被検体３を載置するクレードルである。このマイラ
フィルムはＸ線を透過する性質のフィルムである。この
マイラフィルムに、造影剤や血痕等の異物が付着するこ
とがある。マイラフィルムに異物が付着すると、Ｘ線の
透過を妨げ、Ｘ線検出器５の感度が落ち、画質が低下し
てしまう。
病院でＸ線ＣＴ装置起動時に行っているウォームアップ
ルーチン内に、異物が付着しているか否かのチェックを
行ない、付着している場合はオペレータに知らせて、ガ
ントリ開口部の異物除去を行っている。
平均値から検出する方法と、標準偏差により検出する
方法がある。図７は従来の異物検出処理の説明図であ
る。先ず、平均値法について説明する。図７の（ａ）は
平均値法の説明図である。縦軸は測定値、横軸はチャネ
ル（ＣＨ）である。特定のチャネルｊにおける全ビュー
の測定値Ｄｊｉ（ｉはビュー番号でｉ＝１〜ｎ）の総和
を全ビュー数ｎで割った値を平均値Ｄｊavとすると、Ｄ
ｊavは次式で表される。これを全チャネルについて行な
う。
値（図７（ａ）参照）から下向きにある幅ΔＶを設定
し、（標準値−ΔＶ）のラインよりも、測定値から求め
た全ビューの平均値Ｄｊavが下にあった場合（図の×
印）を異物が付着したチャネルと認識するものである
（図の○印は正常データ）。
ャネルにおけるｎ個の測定値Ｄｊ１，Ｄｊ２，…，Ｄｊ
ｉ，…Ｄｊｎ（ｉ＝１〜ｎはビュー番号）に対し、その
標準偏差σは次式で表される。
表される。測定値の分布ｙが正規分布に従うものとする
と、その分布は図６の（ｂ）に示すような曲線になる。
式で表わすと次式のようになる。
に入っているもの（±２σ以内に収まる確率は９５．５
％）とすると、それを外れる測定値は異物が原因である
と判定するものである。
出方法は、ガントリ開口部のマイラフィルムに異物が付
着していても、その異常値が平均化されてしまい、よほ
ど測定値の小さい異物でない限り検出することができな
かった。
たものであって、ガントリ開口部に付着した異物を確実
に検出することができるＸ線ＣＴ装置の異物検出方法及
び異物検出装置を提供することを目的としている。
第１の発明は、被検体のない状態におけるＸ線ＣＴ装置
の全てのビューにおける各チャネルの平均値Ｄｊavを予
め求めておき、特定のビュー（ビュー番号ｉ）における
全チャネルの測定データＤｊｉを前記平均値Ｄｊavで割
った値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）をある基準値Ｄｓと比較し、
前記値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）が基準値Ｄｓよりも小さい場
合に異物ありと判定するようにしたことを特徴とし、ま
た、前記基準値Ｄｓとして０．９５を用いたことを特徴
とし、更に、前記異物の存在するチャネル及びその時の
ビュー番号が特定できた場合、そのチャネルに対応する
ガントリ開口部の部位を演算により算出するようにした
ことを特徴としている。
Ｘ線ＣＴ装置の全ビューにおける各チャネルの平均値Ｄ
ｊavを予め求めておく手段と、特定のビュー（ビュー番
号ｉ）における全チャネルの測定データＤｊｉを前記平
均値Ｄｊavで割った値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）をある基準値
Ｄｓと比較する手段と、前記値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）が基
準値Ｄｓよりも小さい場合に異物ありと判定する判定手
段とを具備して構成されたことを特徴とし、また、前記
基準値Ｄｓとして０．９５を用いたものであることを特
徴とし、更に、前記異物の存在するチャネル及びその時
のビュー番号が特定できた場合、そのチャネルに対応す
るガントリ開口部の部位を演算により算出するようにし
たものであることを特徴としている。
ューにおける平均値Ｄｊavをチャネル毎に予め求めてお
き、この平均値Ｄｊavと、ある特定方向のビューにおけ
る測定値Ｄｊｉとを同一チャネル毎に比較するようにし
た。つまり、測定値ＤｊｉをＤｊavで割った（正規化）
した値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）をある基準値Ｄｓと比較する
ようにした。異物が付着したチャネルはＸ線透過量が減
り、測定値が小さくなる。従って、この場合は（Ｄｊｉ
／Ｄｊav）がある基準値Ｄｓよりも小さくなる。よっ
て、（Ｄｊｉ／Ｄｊav）が基準値Ｄｓよりも大きいか小
さいかで異物の付着を確実に検出することができる。
ない状態における測定値の全ビューにおける平均値Ｄｊ
avをチャネル毎に予め求めておき、比較手段により特定
のビュー（ビュー番号ｉ）における全チャネルの測定デ
ータＤｊｉを前記平均値Ｄｊavで割った（正規化した）
値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）がある基準値Ｄｓよりも大きいか
小さいかを同一チャネル毎に比較するようにした。異物
が付着したチャネルはＸ線透過量が減り、測定値が小さ
くなる。従って、（Ｄｊｉ／Ｄｊav）がある基準値Ｄｓ
よりも小さくなる。これにより、異物の付着を確実に検
出することができるようになる。
に説明する。図１は本発明の一実施例を示す構成ブロッ
ク図である。図５と同一のものは、同一の符号を付して
示す。図において、２０は装置全体の制御動作を行なう
制御装置、２０ａは制御装置２０内に設けられた測定値
と基準閾値との比較を行って異物を検出する比較部、２
１は制御装置２０と接続され、基準閾値及び測定した平
均値等を記憶するメモリである。その他の構成は図５と
同じである。このように構成された装置の動作を図２の
フローチャートを参照しつつ説明すれば、以下のとおり
である。
態におけるＸ線ＣＴ装置の全てのビューにおける各チャ
ネルの平均値Ｄｊavを予め求めておく（Ｓ１）。例え
ば、全ビュー数としては１０８０、Ｘ線検出器５のチャ
ネル数としては８１３チャネルが用いられる。従って、
制御装置２０はＸ線管１及びＸ線検出器５を回転させ、
１０８０ビューの各チャネルの平均値Ｄｊav（ｊ＝１〜
８１３）を求めることになる。平均値Ｄｊavは、ビュー
番号をｉ、ｊチャネルの測定値をＤｊｉとして次式で表
される。
１に記憶しておく。次に、制御装置２０は、特定のビュ
ーにおける全チャネルのデータＤｊｉを前記平均値Ｄｊ
avで割った値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）をある基準値Ｄｓと比
較する（Ｓ２）。本発明では、特定のビュー（ｖｉｅ
ｗ）として図３に示す４種類のビューを用いた（ｉ＝１
〜４，ｊ＝１〜８１３）。ｖｉｅｗ１〜ｖｉｅｗ４はそ
れぞれ回転角度が９０゜異なる１／４周期毎のビューで
ある。図において、７はガントリ開口部、８はガントリ
開口部７に付着した異物である。９はガントリ開口部７
の内側に形成された円状のフォーカス・オブ・ビュー
（Ｆｏｃｕｓ Ｏｆ Ｖｉｅｗ，合焦点領域、つまりＸ
線の焦点を合わせるための領域（撮影領域）で、図中斜
線で示す）である。
ｉ／Ｄｊav）とある基準値Ｄｓを比較する。（Ｄｊｉ／
Ｄｊav）は測定値Ｄｊｉを平均値Ｄｊavで正規化したも
のであり、異物のない状態では（Ｄｊｉ／Ｄｊav）はほ
ぼ１になる。実際には、造影剤等の異物がなくても、ノ
イズ等で測定値は平均値よりも若干ずれる。その影響を
受けない最大の値として経験的に基準値Ｄｓとして０．
９５を用いるようにした。ガントリ開口部７に異物８が
付着していると、Ｘ線透過率が悪くなり、Ｘ線検出信号
は低くなる。従って、測定値Ｄｊｉが小さくなる結果、
（Ｄｊｉ／Ｄｊav）は１より小さくなる。
／Ｄｊav）≧０．９５であるか比較する（Ｓ３）。若
し、（Ｄｊｉ／Ｄｊav）≧０．９５であれば、その測定
値は正常な値であることになる。（Ｄｊｉ／Ｄｊav）≧
０．９５でない場合、即ち（Ｄｊｉ／Ｄｊav）＜０．９
５の場合には、その測定値Ｄｊｉは異物により低くなっ
たものと判定する（Ｓ４）。以上の比較判定は、８１３
チャネルの全てのチャネルについて行なう。
すると、制御装置２０は全てのビューについて比較処理
が終了したかどうかチェックする（Ｓ５）。今回は、あ
とｖｉｅｗ２〜ｖｉｅｗ４が残っているので、ステップ
Ｓ２に戻り、比較処理を繰り返す。そして、ｖｉｅｗ４
の比較処理が終了したら、処理を終了する。
判定された場合、その異物のある部位を特定することが
できる。図４は異物の存在する部位の特定の説明図であ
る。先ず、ある任意のビューの状態における扇形の一辺
をｘ軸にとり、これに垂直な軸をｙ軸とする。ビュー番
号が特定された場合、ガントリの機械的配置が定まる。
ある（図３参照）。Ｘ線検出器５の特定のチャネルＫＣ
Ｈで異常が発見されたものとする。ガントリの機械的寸
法により、原点ＯからＫＣＨに引いた直線Ｌの式はｘ軸
からの回転角をθとして求めることができる（傾きはｔ
ａｎθ）。ガントリ開口部７の円の式は求めることがで
きる。直線Ｌの式とガントリ開口部円の式が求まれば、
異物の存在する場所は、２つの式の交点の座標（図の×
印）として求めることができる。
基準値０．９５と比較し、（Ｄｊｉ／Ｄｊav）が０．９
５よりも小さい場合に異物ありと判定した。ところで、
測定値には、データ化等により異常な高い値を示す場合
もある。そこで、この異常に高い値を示す測定値も検出
するために、（Ｄｊｉ／Ｄｊav）を以下のような上下限
値と比較するようにしてもよい。
ためのもの、上限１．０５はデータ化け等の異常データ
を検出するためのものである。これら値の比較は制御装
置２０内の比較部２０ａが行ない、閾値（基準値）０．
９５と１．０５はメモリ２１に記憶される。上限値を
１．０５としたのは、確実にデータ異常を検出できる値
として経験的に求めたものである。
ビューとしてｖｉｅｗ１〜ｖｉｅｗ４までの４種類を用
いた場合を示したが、本発明はこれに限るものではな
く、任意の種類のビューを用いることができる。また、
前述した閾値（下限値０．９５，上限値１．０５）もこ
れに限るものではなく、実状に応じて適当な値を設定す
ることができる。
よれば被検体のない状態におけるＸ線ＣＴ装置の全ビュ
ーにおける各チャネルの平均値Ｄｊavを予め求めておく
手段と、特定のビュー（ビュー番号ｉ）における全チャ
ネルの測定データＤｊｉを前記平均値Ｄｊavで割った値
（Ｄｊｉ／Ｄｊav）をある基準値Ｄｓと比較する手段
と、前記値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）が基準値Ｄｓよりも小さ
い場合に異物ありと判定する判定手段とを具備すること
により、ガントリ開口部に付着した異物を確実に検出す
ることができるＸ線ＣＴ装置の異物検出方法及び異物検
出装置を提供することができる。
ある。
ある。
Claims (4)
- 【請求項１】 被検体のない状態におけるＸ線ＣＴ装置
の全てのビューにおける各チャネルの平均値Ｄｊavを予
め求めておき、 特定のビュー（ビュー番号ｉ）における全チャネルの測
定データＤｊｉを前記平均値Ｄｊavで割った値（Ｄｊｉ
／Ｄｊav）をある基準値Ｄｓと比較し、 前記値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）が基準値Ｄｓよりも小さい場
合に異物ありと判定するようにしたことを特徴とするＸ
線ＣＴ装置の異物検出方法。 - 【請求項２】 被検体のない状態におけるＸ線ＣＴ装置
の全ビューにおける各チャネルの平均値Ｄｊavを予め求
めておく手段と、 特定のビュー（ビュー番号ｉ）における全チャネルの測
定データＤｊｉを前記平均値Ｄｊavで割った値（Ｄｊｉ
／Ｄｊav）をある基準値Ｄｓと比較する手段と、 前記値（Ｄｊｉ／Ｄｊav）が基準値Ｄｓよりも小さい場
合に異物ありと判定する判定手段とを具備して構成され
るＸ線ＣＴ装置の異物検出装置。 - 【請求項３】 前記基準値Ｄｓとして０．９５を用いた
ものであることを特徴とする請求項２記載のＸ線ＣＴ装
置の異物検出装置。 - 【請求項４】 前記異物の存在するチャネル及びその時
のビュー番号が特定できた場合、そのチャネルに対応す
るガントリ開口部の部位を演算により算出するようにし
たものであることを特徴とする請求項２記載のＸ線ＣＴ
装置の異物検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10114294A JP3510316B2 (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | Ｘ線ｃｔ装置の異物検出方法及び異物検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10114294A JP3510316B2 (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | Ｘ線ｃｔ装置の異物検出方法及び異物検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07303636A JPH07303636A (ja) | 1995-11-21 |
| JP3510316B2 true JP3510316B2 (ja) | 2004-03-29 |
Family
ID=14292840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10114294A Expired - Lifetime JP3510316B2 (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | Ｘ線ｃｔ装置の異物検出方法及び異物検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3510316B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11253439A (ja) * | 1998-03-12 | 1999-09-21 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US10702221B2 (en) | 2015-12-25 | 2020-07-07 | Shanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. | Methods and systems for CT balance measurement and adjustment |
| CN109452949B (zh) * | 2018-12-29 | 2022-08-09 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 计算机断层扫描设备的异物检测方法及装置和计算机装置 |
-
1994
- 1994-05-16 JP JP10114294A patent/JP3510316B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07303636A (ja) | 1995-11-21 |
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