DE3336470A1 - Verfahren und anordnung zum vergleich von bildern - Google Patents
Verfahren und anordnung zum vergleich von bildernInfo
- Publication number
- DE3336470A1 DE3336470A1 DE3336470A DE3336470A DE3336470A1 DE 3336470 A1 DE3336470 A1 DE 3336470A1 DE 3336470 A DE3336470 A DE 3336470A DE 3336470 A DE3336470 A DE 3336470A DE 3336470 A1 DE3336470 A1 DE 3336470A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signals
- signal
- image
- signal set
- difference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 27
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N19/00—Methods or arrangements for coding, decoding, compressing or decompressing digital video signals
- H04N19/50—Methods or arrangements for coding, decoding, compressing or decompressing digital video signals using predictive coding
- H04N19/503—Methods or arrangements for coding, decoding, compressing or decompressing digital video signals using predictive coding involving temporal prediction
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30148—Semiconductor; IC; Wafer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
O O O D 4 / U
DIPL.'ING. H. MARSCH «μ·»™ . 4ooo Düsseldorf ι
DIPL-IPiG. K. SPARING .Ψ- bethelstrasse 123
Cambridge Instruments Limited 8/39 Rustat Road, ν
Cambridge CB1 3QH
England
England
Verfahren und Anordnung zum Vergleich von Bildern
Die Erfindung bezieht sich auf Signalvergleichssysteme
und insbesondere bezieht sie sich auf Systeme zum Signalvergleich, bei denen die Signale beispielsweise visuelle Bilder
repräsentieren. Ausführungsformen der Erfindung können beispielsweise verwendet werden, um den Vergleich von visuellen
Signalen zu vereinfachen, welche ein Bild repräsentieren, das im Verlauf eines Fertigungsprozesses erzeugt worden
ist, wobei Digitalsignale die gewünschte Form repräsentieren, die das Bild haben sollte und wobei der Vergleich ausgeführt
wird zum Zweck der Erkennung von Fehlern in dem Bild, das während des Fertigungsprozesses entsteht.
Bei der Ausführung solcher Vergleichsarbeiten ist es einleuchtenderweise
wichtig, daß die zu vergleichenden Bilder oder die sie repräsentierenden Signale genau ausgefluchtet sind.
Jegliche Fehlausfluchtung kann als Fehler in dem zu prüfenden Bild interpretiert werden. Eine solche Fehlausfluchtung kann
sich ergeben infolge unvermeidbarer Toleranzen in den Geräten, welche die elektrischen Signale aus den Herstellungsbildern erzeugen.
Ähnliche Fehler können resultieren aus dem Digitali-
sierungsprozeß, der verwendet wird, um die elektrischen Signale
zu erzeugen, welche die zu vergleichenden Bilder repräsentieren sollen.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren und eine zu
seiner Durchführung geeignete Anordnung zu schaffen, bei denen
Fehlvergleiche infolge solcher Fehlausfluchtungen verringert
werden.
BAD ORiGIWAL
Die erfindungsgemäß vorgesehene Lösung dieser Aufgabe ergibt sich aus dem Patentanspruch 1, während der Patentanspruch
2 eine zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 geeignete und bestimmte Anordnung definiert.
Demgemäß wird ein Bildvergleichssystem vorgeschlagen, zur Durchführung eines Vergleichs zwischen dem ersten Satz
elektrischer Signale und einem zweiten Satz elektrischer Signale. Diese repräsentieren jeweils nominell identische
Bilder. Es sind Mittel vorgesehen, die auf den ersten Signalsatz ansprechen zum Ableiten eines dritten Signalsatzes
aus diesem, der seinerseits den peripheren Kantenbereich des durch den ersten Signalsatz repräsentierten Bildes repräsentieren.
Auf diesen dritten Signalsatz ansprechend ausgebildete Signalverarbeitungseinrichtungen erzeugen einen modifizierten
dritten Signalsatz, welcher eine vergrößerte Version dieses peripheren Kantenbereiches repräsentiert. Der erste und der
zweite Signalsatz werden miteinander verglichen, um einen Satz von Differenzsignalen zu erzeugen, welche Unterschiede zwischen
den beiden Bildern repräsentieren. Eine zweite Signalvergleichsvorrichtung
vergleicht diesen Satz von Differenzsignalen mit dem modifizierten dritten Signalsatz mit dem Ergebnis, daß mindestens
tendenziell aus dem Differenzsignal fast alle solchen Differenzsignale eliminiert werden, die Bilddifferenzen entsprechen,
welche sich innerhalb des vergrößerten peripheren Kantenbereichs befinden und gegebenenfalls auf Fehlausfluchtung
beruhen.
Die Unteransprüche 3 bis 7 definieren zweckmäßige und vorteilhafte
Weiterbildungen des Gegenstandes der Erfindung., Eine Bildvergleichsanordnung gemäß der Erfindung wird nachstehend
unter Bezugnahme auf die beigefügten schematischen Zeichnungen näher erläutert, wobei die beschriebene Anordnung
nur als ein Beispiel zu verstehen ist..
Fig. 1 zeigt ein Blockdiagramm der Anordnung und
Fig. 2 und 3 sind Diagramme zur Erläuterung der Wirkungsweise der Anordnung.
O U 4 / U
Die zu erläuternde Anordnung dient zum Vergleich von digitalen Signalen,welche zwei Bilder repräsentieren, so
daß Unterschiede zwischen ihnen erfaßt werden können.
Als Beispiel^sei angenommen, daß ein Satz von Signalen
digitale Signale umfassen, welche ein Bild repräsentieren, erzeugt von einer Strichplatte, wie sie für Zwecke der Herstellung
integrierter Schaltkreiswafer gemacht worden ist. Bevor jede solche Strichplatte verwendet werden kann, muß
sie mit einem Vorgabemuster für die Strichplatte verglichen
"Ό werden, um sicherzustellen, daß keine unakzeptierbaren Fehler
vorliegen, welche sich natürlich auf den integrierten Schaltkreiswafer übertragen würden.
Das Vorlagemuster für die Strichplatte kann auf eine Mehrzahl von Weisen gehalten werden. Es kann beispielsweise
auf eine Vorlagestrxchplatte gehalten werden. In der Praxis ist es jedoch wahrscheinlicher, daß sie in Form von Digitalsignalen
gehalten wird, wobei diese digitalen Signale verwendet werden, um den Herstellungsprozeß zu steuern, aus
welchem die Fertigungsstrichplatten (d.h. die Strichplatten, die mittels der zu beschreibenden Anordnung geprüft werden)
erzeugt werden.
Wie in Fig. 1 dargestellt, sind die Digitalsignale, welche
das Vorlagemuster repräsentieren in einem Vorlagespeicher 5 abgespeichert. Ein Speicher 6 speichert Digitalsignale, welche
,5 das Bild der Strichplatte definieren, die gerade geprüft wird,
wobei diese Signale erzeugt werden von der zu prüfenden Strichplatte in einer üblichen Weise, etwa durch Abtasten der Strichplatte
und optisches Auslesen ihres Musters in Form von Helligkeits- und DunkelheitsSignalen.
Demgemäß halten die Speicher 5 und 6 digitale Signale, wobei jedes digitale Signal einen bestimmten Teil des betreffenden
Bildes repräsentiert (des Vorlagebildes bzw. des zu prüfenden Bildes), wobei jeweils eine Angabe darüber gemacht
wird,ob der Bildteil hell oder dunkel ist. pie speicher sind über eine Ausgangseinheit 8 an ein
EXCLUSIV-ODER-Gatter 10 angeschlossen und auf diese Weise
COPY
wie noch in größeren Einzelheiten unten zu erläutern, wird der Wert jedes Digitalsignals im Vorlagespeicher
5 verglichen mit dem Wert des entsprechenden Digitalsignals im Speicher 6.
Zusätzlich werden die Digitalsignale im Speicher 5 durch einen Kantendetektor 12 überwacht. Dieser erfaßt
die Position in Form der Umfangskante des Bildes, das
repräsentiert wird durch das Digitalsignal in dem Speicher 5. Mit anderen Worten erzeμgt er Digitalsignale, welche
einen peripheren Kantenbereich des Bildes im Speicher 5 definieren.
Diese Digitalsignale werden in eine Vergrößerungseinheit 14 überführt, die die Digitalsignale derart modifiziert,
daß die Breite des peripheren Bereiches vergrößert wird, welche sie repräsentieren, wobei die Breite auf ein vorge- .
gebenes Maß vergrößert wird, was alles weiter unten noch im einzelnen erläutert wird. Der Ausgang der Vergrößerungseinheit 14 wird in einen Speicher 16 überführt. Dieser speichert
demgemäß Digitalsignale, welche einen vergrößerten peripheren Randbereich des Vorlagebildes im Speicher 5 repräsentieren
.
Ein UND-Gatter 18 ist angeschlossen zum Empfang der Ausgangssignale
vom EXCLUSIV-ODER-Gatter 10 über einen Inverter 19 und außerdem zum Empfang der Ausgangssignale zum
Speicher 16, und der Ausgang des UND-Gatters 18 gelangt in einen Ausgangsspeicher 20.
Die Wirkungsweise der Anordnung wird nun unter Bezugnahme auf Fig. 2 und 3 erläutert.
Fig. 2 zeigt die von dem Kantendetektor 12 und der Vergrößerungseinheit
14 bewirkten Vorgänge.
Fig. 2 A zeigt das Bild, das in diesem Falle durch'Digitalsignale
in dem Vorlagespeicher 5 repräsentiert sein soll. Diese Digitalsignale werden in den Kantendetektor 12 eingegeben,
und Fig. 2B zeigt das Bild, das durch die Digitalsignale
repräsentiert wird, welche von dem Kantendetektor 12
aus den in Speicher 5 abgespeicherten Signalen erzeugt werden,
COPY
■2·
Mit anderen Worten erzeugt der Kantendetektor 12 Digitalsignale,
welche einen"Rahmen" repräsentieren, nämlich den peripheren Kantenbereich des Bildes gemäß
Fig. 2A. Der Kantendetektor 12 kann irgend eine geeignete Form von elektrischer Schaltung umfassen und insbesondere
kann er einen Schaltkreis umfassen, welcher Übergänge zwischen Digitalsignalen erfaßt, welche einen hellen Bereich
repräsentieren und Digitalsignale, welche einen dunklen Bereich repräsentieren. Auf diese Weise ist er in der Lage,
die Digitalsignale zu erfassen, welche den peripheren Kantenbereich des Bildes gemäß Fig.2A definieren und diese
Digitalsignale repräsentieren das Bild gemäß Fig. 2B.
Wie bereits erwähnt, werden diese Digitalsignale in die Vergrößerungseinheit 14 (Fig. 1) überführt. Diese ist
so ausgebildet, daß das in Fig. 2B dargestellte und durch die Digitalsignale, welche vom Kantendetektor 12 erzeugt
wurden, repräsentierte Bild vergrößert wird. Mit anderen Worten spricht die Einheit an auf Digitalsignale im Ausgang
des Kantendetektors 12 derart, daß zusätzliche Digitalsignale erzeugt werden, gespeichert in benachbarten
Speicherplätzen, um so wirksam die peripheren Kantenbereiche zu vergrößern oder zu verdicken, die repräsentiert
werden durch die Digitalsignale erzeugt durch den Kantendetektor 12. Auf diese Weise erzeugt die Vergrößerungseinheit
14 Digitalsignale, welche das in Fig. 2C dargestellte Bild repräsentieren, und dies ist das Bild, das in Speicher
16 abgespeichert wird.·
Fig. 3 erläutert die Wirkungen, die von dem EXCLUSIV-ODER-Gatter
10 und dem UND-Gatter 18 erzeugt werden.
Fig. 3A zeigt das Bild repräsentiert durch die Digitalsignale gespeichert in Speicher 5 und diese Figur ist demgemäß
identisch mit Fig. 2A. Fig. 3B zeigt das Bild, das repräsentiert sein soll durch die Digitalsignale gespeichert
im Speicher 6. Wie dargestellt, ist dieses Bild identisch mit dem nach Fig. 3A mit der Ausnahme, daß ein "Loch"
22 vorliegt, wo (und dies sei angenommen) ein Fehler im Fertigungsprozeß einen kleinen hellen Bereich hervorgerufen
COPY BAD ORIGINAL
--6—
Λ.
hat innerhalb des im allgemeinen dunklen Bereichs des Bildes.
Die Digitalsignale, welche die Bilder der Fig. 3A und 3B repräsentieren, werden in das EXCLUSIV-ODER-Gatter
^ 10 eingegeben über die Ausgangseinheit 8, wie in Verbindung
mit Fig. 1 erläutert, wobei jedes Digitalsignal aus dem Speicher 5 in das Gatter 10 zu einem Zeitpunkt eingegeben
wird, der zumindest nominell derselbe ist wie der Zeitpunkt, zu dem das entsprechende Digitalsignal aus dem
Speicher 6 in das Gatter 10 eingespeist wird.
Wie oben bereits angedeutet, besteht jedoch die Möglichkeit, daß wegen Fehlausfluchtung und/oder Digitalisierungsfehlern
die beiden Bilder in den Speichern 5 und 6< obwohl sie identisch in Größe und Umfangsform sind, nicht
genau koinzident sind. Wenn deshalb ihre Signale seriell in das EXCLUSIV-ODER-Gatter 10 eingespeist werden, kann
sich der in Fig. 3C dargestellte Effekt ergeben, wo die beiden Bilder einander überlagert dargestellt sind, jedoch
in übertriebener Fehlausfluchtung.
Das EXCLUSIV-ODER-Gatter 10 verarbeitet die empfangenen Digitalsignale so, daß eine binäre Eins in dem Fall erzeugt
wird, daß eine Differenz zwischen den beiden Binärsignalen vorliegt, welche zum jeweiligen Zeitpunkt an den Gattereingängen
vorliegen und eine binäre Null, wenn die Digitalsig-
nale die gleichen sind. Demgemäß würden die Digitalsignale
im Ausgang des EXCLUSIV-ODER-Gatters 10 ein Bild repräsentieren wie in Fig. 3 dargestellt, wobei diese Digitalsignale
das Loch 22 repräsentieren und die Bereiche der peripheren Fehlausfluchtung zwischen den beiden Bildern, die
miteinander verglichen werden. Mit anderen Worten repräsentiert, der Ausgang des EXCLUSIV-ODER-Gatters 10 nicht korrekt
den Unterschied zwischen den zu vergleichenden Bildern (d.h. der Bilder in den Speichern 5 und 6), .weil die Fehlausfluchtung
zwischen den beiden verglichenen Bildern zusätzliehe Fehler Signale erzeugt, wie in Fig. 3D erkennbar..
COPY
ν/J JUt /
-/tr·
Die Signale repräsentiert durch das in Fig. 3D dargestellte Bild werden in das UND-Gatter18 eingespeist
zusammen mit Signalen, welche eine invertierte Form des Bildes repräsentieren, das in Fig. 2C dargestellt ist,
wobei die letzteren Signale über den Inverter 19 laufen.
Fig. 3E zeigt in Diagrammform die Vorgänge, die durch
das UND-Gatter 18 eingeführt werden. In der Wirkung wird
der "Rahmen", der in Fig. 2C dargestellt ist, dem "Rahmen" überlagert, der in Fig. 3D erkennbar ist und der erzeugt
'0 worden ist durch die Fehlausfluchtung zwischen diesen beiden
Bildern aus den Speichern 5 und 6. Um dies zu verdeutlichen, wurde die Schraffur in Fig. 3E weggelassen. Es sei
angenommen, daß die von der Vergrößerungseinheit 14 eingeführte Vergrößerung hinreicht, um den "Rahmen" der Fig.2D
^ in einem Maße zu expandieren, daß er groß genug ist, so
daß er vollständig die peripheren Bereiche überdeckt, die in Fig. 3D dargestellt sind, so daß der letztere gelöscht
wird, d.h. von dem Gatter 18 werden keine Binärausgänge erzeugt. Auf diese Weise ist der einzige Binärausgang, der
vom Gatter 18 erzeugt wird, ein Binärausgang, welcher das Loch 22 repräsentiert, wie in Fig. 3F dargestellt, und dieser
Binärausgang wird im Speicher 20 abgespeichert. Aus diesem Grunde wurden die Fehler, resultierend von der Fehlausfluchtung
zwischen den in den Speichern 5 und 6 gespeicherten Bildern eliminiert.
Es ist festzuhalten, daß die Art und Weise, in der die
Fehlausfluchtungsfehler beseitigt werden, so ist, daß die
Empfindlichkeit des Systems gegenüber Fehlern infolge Fehlausfluchtung verringert wird (so daß diese Fehler vollständig
eliminiert werden, im besten Falle, aber zumindest in anderen Fällen verringert werden), daß jedoch dabei die
Empfindlichkeit gegenüber Fehlern (Loch 22) nicht verringert wird, welche sich nicht an der Peripherie befinden. Der Fehlausf
luchtungsf ehler gemäß Fig. 3C wurde absichtlich übertrieben
gezeichnet. In der Praxis wäre der Fehlausfluchtungsfehler
normalerweise klein und es wäre nicht erforderlich,
BAD ORiGiNAi
daß die Vergrößerungseinheit 14 (Fig. 1) den Rahmen in sehr erheblichem Maße vergrößert. Mit anderen Worten
braucht die Empfindlichkeitsverringerung für den Peripherievergleich
nicht so groß zu sein, daß nicht wirkliehe periphere Fehler unerfaßt bleiben. Wenn beispielsweise
ein "Mausezahnfehler" in dem in Speicher 6 gespeicherten Bild vorliegt, wie bei 24 in Fig. 3D angedeutet,
so würde ein solcher Fehler normalerweise immer noch erfaßt werden.
Die beschriebene Anordnung kann mit Vorteil in Verbindung mit dem Bildinspektionssystem verwendet werden, das
in der GB-Patentanmeldung 8231268 offenbart ist, doch ist
seine Anwendung in keiner Weise auf diesen Fall beschränkt.
Claims (1)
- Ansprüche\ 1 .J Verfahren zum Durchführen eines Vergleichs zwischen einem ersten Satz elektrischer Signale und einem zweiten Satz elektrischer Signale, welche jeweils nominell identische Bilder repräsentieren, gekennzeichnet durch die5 SchritteErzeugen eines dritten Signalsatzes aus dem ersten
Signalsatz, welcher dritte Signaisatz den peripheren Kantenbereich des dem ersten Signälsatz entsprechenden Bildes repräsentiert,Erzeugen eines modifizierten dritten Signalsatzes
aus dem dritten Signalsatz, welcher modifizierte dritte
Signalsatz eine vergrößerte Version des peripheren Kantenbereichs repräsentiert,Vergleichen des ersten und des zweiten Signalsatzes zum Erzeugen eines Differenzsignalsatzes, das die Signaldifferenzen zwischen beiden repräsentiert, undVergleichen des Differenzsignalsatzes mit dem modifizierten dritten Signalsatz mit der Tendenz, aus dem Differenzsignalsatz solche Differenzsignale zu entfernen, die, Bilddifferenzen entsprechen, welche innerhalb des vergrösserten peripheren Kantenbereichs vorliegen.25Anordnung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch zum Vergleich eines ersten elektrischen Signalsatzes und eines zweiten elektrischen Signalsatzes, welche jeweils nomi-COPYnell identische Bilder repräsentieren, gekennzeichnet durch eine Vorrichtung (12), die auf den ersten Signalsatz ansprechend ausgebildet ist zum Erzeugen, aus diesem, eines dritten Signalsatzes, welcher den peripheren-" Kantenbereich des Bildes entsprechend dem ersten Signalsatz repräsentiert, durch eine Signalverarbeitungsvorrichtung (14), die auf den dritten Signalsatz ansprechend ausgebildet ist zum Erzeugen, aus diesem, eines modifizierten dritten Signalsatzes, repräsentierend eine vergrößerte"Ό Version des peripheren Kantenbereichs durch einen ersten Signalkomparator (10) zum Vergleich des ersten und zweiten Signalsatzes unter Erzeugung eines Differenzsignalsatzes, der die Signaldifferenzen zwischen ihnen repräsentiert, und durch einen zweiten Signalkomparator (18) zum Vergleich des Differenzsignalsatzes mit dem modifizierten dritten Signalsatz, so daß tendenziell aus dem Differenzsignalsatz solche Differenzsignale entfernt werden, die Bilddifferenzen entsprechen, welche sich innerhalb des vergrößerten peripherenKantenbereichs befinden.
203. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalsätze Sätze von digitalen Signalen sind, wobei jedes Digitalsignal einen entsprechenden Abschnitt des Bildesrepräsentiert.
254. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Digitalsignale in Speicherplätzen (5,6,16) abgespeichert sind, deren jeweilige Positionen abhängen von den entsprechenden Positionen der Bildabschnitte.5. Anordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung zum Erzeugen des dritten Signalsatzes einen zweidimensionalen Kantendetektor (12) umfaßt.Ίβλο"6. Anordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Signalkomparator ein EXCLU-SIV-ODER-Gatter (10)., das ansprechend ausgebildet ist auf die ersten und zweiten Signalsätze.7. Anordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Signalkomparator eine Vorrichtung (18) umfaßt, zur Durchführung einer logischen Umfunktion bezüglich der Kombination der Ausgänge des EXCLUSIV ODER-Gatters (10) und des dritten Signalsatzes.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB08231267A GB2129546B (en) | 1982-11-02 | 1982-11-02 | Image comparison |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3336470A1 true DE3336470A1 (de) | 1984-05-03 |
Family
ID=10533987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3336470A Withdrawn DE3336470A1 (de) | 1982-11-02 | 1983-10-06 | Verfahren und anordnung zum vergleich von bildern |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4578765A (de) |
JP (1) | JPS5995677A (de) |
DE (1) | DE3336470A1 (de) |
GB (1) | GB2129546B (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3634628A1 (de) * | 1985-10-11 | 1987-04-23 | Matsushita Electric Works Ltd | Ueberwachungsanordnung zum melden abnormer ereignisse |
DE4410603C1 (de) * | 1994-03-26 | 1995-06-14 | Jenoptik Technologie Gmbh | Verfahren zur Erkennung von Fehlern bei der Inspektion von strukturierten Oberflächen |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8418116D0 (en) * | 1984-07-17 | 1984-08-22 | Electronic Automation Ltd | Data processing |
DE3587582D1 (de) * | 1985-03-14 | 1993-10-21 | Beltronics Inc | Gerät und Verfahren zum selbsttätigen Inspizieren von Objekten und zum Identifizieren oder Erkennen bekannter und unbekannter Teile davon, einschliesslich Fehler und dergleichen. |
JP2602201B2 (ja) * | 1985-04-12 | 1997-04-23 | 株式会社日立製作所 | 被検査パターンの欠陥検査方法 |
WO1988002512A1 (en) * | 1986-10-03 | 1988-04-07 | John Emil Sander | Improvements in pattern recognition apparatus |
US4833722A (en) * | 1987-07-24 | 1989-05-23 | Eastman Kodak Company | Apparatus and methods for locating edges and document boundaries in video scan lines |
US4774569A (en) * | 1987-07-24 | 1988-09-27 | Eastman Kodak Company | Method for adaptively masking off a video window in an overscanned image |
JP2597370B2 (ja) * | 1987-10-14 | 1997-04-02 | 株式会社ヒューテック | シート状被検材の有意差検出方法 |
GB8811005D0 (en) * | 1988-05-10 | 1988-06-15 | Plessey Co Plc | Improvements in/relating to methods/registration |
US5073952A (en) * | 1988-09-07 | 1991-12-17 | Sigmax Kabushiki Kaisha | Pattern recognition device |
JPH03210679A (ja) * | 1990-01-12 | 1991-09-13 | Hiyuutec:Kk | パターンマッチング方法および装置 |
JP3265595B2 (ja) * | 1991-09-27 | 2002-03-11 | オムロン株式会社 | 画像処理方法およびその装置 |
FR2683926B1 (fr) * | 1991-11-15 | 1994-02-18 | Snecma | Procede et dispositif d'acquisition et de traitement d'images radioscopiques. |
TW247952B (de) * | 1992-07-09 | 1995-05-21 | Seikosha Kk | |
JP3647885B2 (ja) * | 1993-05-07 | 2005-05-18 | 日本電信電話株式会社 | 画像処理装置 |
US5490088A (en) * | 1994-02-28 | 1996-02-06 | Motorola, Inc. | Method of handling data retrieval requests |
US5748780A (en) * | 1994-04-07 | 1998-05-05 | Stolfo; Salvatore J. | Method and apparatus for imaging, image processing and data compression |
WO2010092619A1 (en) * | 2009-02-12 | 2010-08-19 | Otis Elevator Company | Elevator tension member image inspection device |
JP5387193B2 (ja) * | 2009-07-16 | 2014-01-15 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像処理システム、画像処理装置およびプログラム |
US9830567B2 (en) | 2013-10-25 | 2017-11-28 | Location Labs, Inc. | Task management system and method |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3013833C2 (de) * | 1979-04-13 | 1986-07-03 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Vorrichtung zur Prüfung eines auf einem Gegenstand befindlichen Musters auf Fehler |
US4335427A (en) * | 1980-04-21 | 1982-06-15 | Technicare Corporation | Method of selecting a preferred difference image |
US4445185A (en) * | 1980-05-08 | 1984-04-24 | Chesebrough-Pond's Inc. | Video inspection system |
JPS5722295A (en) * | 1980-07-15 | 1982-02-05 | Nippon Electric Co | Speaker recognizing system |
DE3070721D1 (en) * | 1980-12-18 | 1985-07-04 | Ibm | Process for inspecting and automatically classifying objects presenting configurations with dimensional tolerances and variable rejecting criteria depending on placement, apparatus and circuits therefor |
US4479145A (en) * | 1981-07-29 | 1984-10-23 | Nippon Kogaku K.K. | Apparatus for detecting the defect of pattern |
US4499598A (en) * | 1982-07-02 | 1985-02-12 | Conoco Inc. | Edge and line detection in multidimensional noisey, imagery data |
-
1982
- 1982-11-02 GB GB08231267A patent/GB2129546B/en not_active Expired
-
1983
- 1983-10-06 DE DE3336470A patent/DE3336470A1/de not_active Withdrawn
- 1983-10-18 US US06/543,037 patent/US4578765A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-10-28 JP JP58201155A patent/JPS5995677A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3634628A1 (de) * | 1985-10-11 | 1987-04-23 | Matsushita Electric Works Ltd | Ueberwachungsanordnung zum melden abnormer ereignisse |
DE4410603C1 (de) * | 1994-03-26 | 1995-06-14 | Jenoptik Technologie Gmbh | Verfahren zur Erkennung von Fehlern bei der Inspektion von strukturierten Oberflächen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4578765A (en) | 1986-03-25 |
GB2129546B (en) | 1985-09-25 |
JPS5995677A (ja) | 1984-06-01 |
GB2129546A (en) | 1984-05-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3336470A1 (de) | Verfahren und anordnung zum vergleich von bildern | |
DE2740483C2 (de) | Vorrichtung zur Feststellung von Merkmalen | |
DE3881392T2 (de) | System und Verfahren für automatische Segmentierung. | |
DE2830846C2 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken | |
DE2702934C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Fotomasken | |
DE602004005358T2 (de) | Objektdetektion in bildern | |
EP0095517B1 (de) | Verfahren und Einrichtung zur automatischen optischen Inspektion | |
DE3588169T2 (de) | Verfahren zur Detektion einer Bildbelichtungsfläche in einem Bildauslesevorgang | |
DE3315109C2 (de) | ||
DE3210814C2 (de) | Verfahren zum Bestimmen einer optimalen Schwelle für die Umsetzung eines Videosignals in ein Binärsignal und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE3612233A1 (de) | Musterpruefverfahren | |
EP1197935B1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung von Objekten | |
DE19641414A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Einteilung eines Fehlers auf einem Halbleiterwafer | |
DE3879609T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von kennzeichnenden Unterschieden in einem Blattmaterial. | |
DE2703158A1 (de) | Einrichtung zum erkennen einer zeichenposition | |
DE2634331A1 (de) | Mustererkennungssystem | |
EP3089106A1 (de) | Verfahren zur reflexionskorrektur von abbildungen und diesbezügliche vorrichtungen | |
DE102020126554A1 (de) | Mikroskopiesystem und verfahren zum überprüfen von eingabedaten | |
DE102016208768A1 (de) | Bilderzeugungsvorrichtung | |
DE102016203392B3 (de) | Bildinspektionsverfahren mit mehreren Kameras | |
DE3237818A1 (de) | Verfahren zum pruefen von gegenstaenden auf fehler | |
DE2901683A1 (de) | Einrichtung zum pruefen von abstaenden zwischen objekten in einem zweidimensionalen quantisierten bild | |
DE2256617B2 (de) | Einrichtung zur analyse einer vorlage | |
EP1180258A1 (de) | Mustererkennung mittels prüfung zusätzlicher merkmale nach teilverarbeitung | |
DE2222350A1 (de) | Fehlerdiagnoseeinrichtung fuer eine Zeichenerkennungsmaschine und Verfahren zu deren Betrieb |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |