JPS61134609A - 変位測定方法 - Google Patents

変位測定方法

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Publication number
JPS61134609A
JPS61134609A JP25827984A JP25827984A JPS61134609A JP S61134609 A JPS61134609 A JP S61134609A JP 25827984 A JP25827984 A JP 25827984A JP 25827984 A JP25827984 A JP 25827984A JP S61134609 A JPS61134609 A JP S61134609A
Authority
JP
Japan
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reflecting mirror
reflecting
light source
reflected
mirror
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Pending
Application number
JP25827984A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Sakamoto
誠一 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
OYO KEISOKU KOGYO KK
Original Assignee
OYO KEISOKU KOGYO KK
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Publication date
Application filed by OYO KEISOKU KOGYO KK filed Critical OYO KEISOKU KOGYO KK
Priority to JP25827984A priority Critical patent/JPS61134609A/ja
Publication of JPS61134609A publication Critical patent/JPS61134609A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 たとえば構造物等の経時的変位を遠隔的に測定する場合
に用いられるものである。
(ロ)従来の技術 一般にはトランシットやレベル等を使用して、このよう
な測定を行っていた。
(ハ)発明が解決しようとする問題点 (ロ)に述べた従来の方法によれば最小目盛の関係で精
度が悪(、また、人の眼で見て測定することで時間を要
し、信頼性に欠け、さらには連続記録や自動記録ができ
ないという実用上の問題があった。
(ニ)問題点を解決するための手段 i)所定角度を形成する一対の反射面部からなる反射ミ
ラーを設ける。
ii)この反射ミラーを変位測定線上に入射面が位置す
るように被測定物に固定する。
1ii)上記ミラーに所定位置の光源からビームを入射
させ一対の反射面部に順次反射させる。
iv)この反射ビームを受光位置検出器で受光検出する
(ホ)作用 被測定物の変位に伴って反射ミラーが変位すると、ビー
ムが位置ずれを生じて反射してくる。
この反射ビームをあらかじめ受光していた受光位置検出
器がこの反射ビームの位置ずれを検出し、被測定物の移
動量を知ることができる。
(へ)実施例 以下、この発明の第1実施例を第1図から第3図に従っ
て説明する。1は被測定物であり、これはたとえば体育
館の屋根で、この屋根の経時的変化量を知りたい場合に
ついて考えてみる。まず屋根1上に反射ミラー2を固定
する。この反射ミラー2は一対の反射面部3.3が所定
角度たとえば90°を形成するように対向して設けられ
ている(第3図に示す)。さらに、の所定位置には光源
4が設置されており、この光源4はビームたとえばレー
ザビームを反射ミラー2に向い、しかも変位測定線と垂
直な線上に投射できるようになっている。5は光源4の
近傍に設けられた受光位、置検出器であり、これは光源
4とほぼ同一方向を向いたイメージセンサ−カメラ6と
、このカメラ6の前方に置かれたスクリーン7とで構成
されている。また、イメージセンサ−カメラ6には、変
換装置8、記録計9が順次接続されている。
次ぎに、その測定状態を第2図および第3図を参照しな
がら説明する。反射ミラー2に向かって光源4からレー
ザビームを投射する。すると、レーザビームは径路Aで
示すように反射ミラー2に至り、一方の反射面部3に反
射した後、他方の反射面部3に反射して、偏角0°で径
路Bをたどって帰る。この反射したレーザビームはスク
リーン7に当たりこれに映しだされる。この投影された
マークをイメージセンサ−カメラ6が撮像するとともに
、このカメラ6に接続された変換装置8が上記マークの
位置関係を読み取り記録計9に記録させる。
このようにして基準値を記録しておき、次ぎに経時後、
体育館の屋根1が第2図に示すようにa位置からb位置
に変位した場合について考えてみる。
なお、上記基準値は説明上反射ミラー2の一方    
 1の反射面部3にレーザビームを当て、他方の反射面
部3から反射させる位置で得るようにしたが、これら青
反射面部3.3の合わせ部分にレーザビームを当て、入
射光および反射光を同一線上とするとともに、反射ミラ
ー2を偏角O°とすることで、変位測定範囲は、最大効
率となる。
屋根lの変位に伴い、屋根1に固定された反射ミラー2
も長さCだけ変位する。このような状態において前述し
たと同様に、反射ミラー2に向かって光源4からレーザ
ビームを投射する。すると、径路Aで示すように反射ミ
ラー2に至ったレーザビームは反射した後、径路Cをた
どって帰る。こうして反射したレーザビームはスクリー
ン7に当たり、これに映しだされる。この投影されたマ
ークをイメージセンサ−カメラ6が撮像するとともに、
変換装置i8が上記マークの移動量を記録計9に記録さ
せる。
ここで、第2図に示すように、反射ミラー2の変位前と
後のレーザビームの帰路がBとCの差になって現れる。
この間隔をdとすると、dw2c   で表される。
すなわちレーザビームの動きは反射ミラー2の変位長さ
の2倍となって取り出すことができるもの′  である
次ぎに、この発明の第2.第3実施例を第4図および第
5図を参照しながら説明する。なお、第1実施例と同一
部分には同一番号を付して説明を省略する。第4図にお
ける第2実施例では反射ミラー2の反射面部3.3が9
0°より大きな角度で構成されている場合を示す。この
場合レーザビームは偏角を形成し、入射方向と異なった
方向に反射するが、第1実施例と同様に反射ミラー2の
変位Cに対してレーザビームの帰路の差dは2倍感度ま
で達しないが増感して取り出される。すなわち d=C(1+cos β) で表される。
ここでβ=偏角である。
第5図における第3実施例では変位測定線に対して斜め
になるよう反射ミラー2にレーザビームを入射させる場
合を示す。この場合、偏角O°なる反射ミラー2の変位
に対してレーザビームの帰路の差eは2倍感度まで達し
ないが増感されて取り出される。すなわち e=2acos θ で表される。
ここで、θは、変位測定線に対する垂線と入射光線とで
形成される角である。
このように、第4,5図に示す第2.3実施例のように
しても第1実施例とほぼ同様の作用をなすものである。
なお、この実施例では受光位置検出器をイメージセンサ
−カメラとスクリーンとによって構成したが、ビームの
位置を検出できるものであれば種々のものが採用できる
とともに、ビームの断面はスポット形状、線形状いずれ
も可能である。
反射ミラーは個々2枚鏡を離間した位置で構成するよう
にしても、プリズム形状のものでも同様に使用できる。
さらに、反射ミラーは、円錐形としてもよく、これは互
いに対向する内周面が一対の、反射面部を形成するもの
で、この場合、設定条件さえ限定すれば2次元的変位の
測定も可能である。
また、被測定物としては、他に橋梁や種々の構造物に採
用できることは勿論である。
(ト)発明の効果 上記実施例で説明したように、この発明によれば人の限
で読むことも必要なく、短時間で測定できる。さらに、
被測定物の変位に対して機構的に増感して出力するため
、精度の高い測定かできるとともに、コンピュータおよ
び記録計に接続して種々の記録を自動的にかつ連続的に
取ることもてきるなど実用上の優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図から第3図はこの発明の第1実施例を示すもので
あり、第1図はシステムの説明図、第2図は作用説明図
、第3図は反射ミラーの斜視図である。第4図はこの発
明の第2実施例を示す作用説明図、第5図はこの発明の
第3実施例を示す作用説明図である。 1・・・体育館の屋根(被測定物) 2・・・反射ミラー 3・・・反射面部                 
  14・・・光源 5・・・受光位置検出器 特許出願人 応用計測工業株式会社 第1図 第2図 第3図 第4図 手続補正書 1 事件の表示 昭和59年    特許願 第258279号3 補正
をする者 事件との関係 1)明細書第3頁第9行目に「さらに、の所定位置」と
あるのを「さらに、所定位置」と訂正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定角度を形成する一対の反射面部からなる反射ミラー
    を設け、反射ミラーを変位測定線に沿って入射面が位置
    するように被測定物に固定し、このミラーに所定位置の
    光源からビームを入射させるとともに、上記一対の反射
    面部に順次反射させて、被測定物の変位に伴って発生す
    る反射ビームの位置ずれを受光位置検出器で検出するよ
    うにしたことを特徴とする変位測定方法。
JP25827984A 1984-12-05 1984-12-05 変位測定方法 Pending JPS61134609A (ja)

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JP25827984A JPS61134609A (ja) 1984-12-05 1984-12-05 変位測定方法

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JP25827984A JPS61134609A (ja) 1984-12-05 1984-12-05 変位測定方法

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JPS61134609A true JPS61134609A (ja) 1986-06-21

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ID=17318037

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JP25827984A Pending JPS61134609A (ja) 1984-12-05 1984-12-05 変位測定方法

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JP (1) JPS61134609A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02221811A (ja) * 1989-02-22 1990-09-04 Hamamatsu Photonics Kk 変位センサ
KR20030080162A (ko) * 2002-04-06 2003-10-11 김희식 촬상소자 센서를 이용한 실시간 구조물 변위 계측기
JP2006201306A (ja) * 2005-01-18 2006-08-03 Pentax Corp ステージ装置及びこのステージ装置を利用したカメラの手振れ補正装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02221811A (ja) * 1989-02-22 1990-09-04 Hamamatsu Photonics Kk 変位センサ
KR20030080162A (ko) * 2002-04-06 2003-10-11 김희식 촬상소자 센서를 이용한 실시간 구조물 변위 계측기
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