JPS61130806A - 光学式物体測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電算機その他の電子機器に装備されるプリント
基板等の部品実装後の品質検査に用いられる物体測定装
置に関する。

最近のプリント基板には集積回路部品（以下ＬＳＩと呼
ぶ）等を多数搭載したものが増加し、回路構成も移しく
複雑化してきている。

このため該基板に実装される電子部品例えばＬＳＩのフ
ラットリード間隔が正常でないと端子相互間の干渉によ
る障害が発生する危険がある。

本発明は前記ＬＳＩのリード間隔が正常であるか否かを
検査したり、該リード間に存在する異物を検出したりす
る場合に用いる光学式物体測定装置に関するものである
。

〔従来の技術〕

例えば上記ＬＳＩのフラットリード間の間隔検査方法と
しては、 ■顕微鏡を用いる方法、 ■拡大投影器を用いる方法、 等が一般に普及しているが、いずれも作業自体がマニュ
アルに依存しているため検査精度と作業スピードとに問
題がある。しかし定量的且つ高精度にこの検査を行う装
置となると大掛かりな装置構成が必要となるためコスト
パフォーマンスの問題も絡ん、で容易に実現し得ないと
いうのが実情であった。

〔発明が解決しようとする問題点〕

本発明は従来適切な方法が開発されていなかったために
非能率な方法で処理されていた例えば前記ＬＳＩのリー
ド間隔の検査手段を改良し、これを高精度且つ高能率に
行い得る装置を提供するためになされたものである。

〔問題点を解決するための手段〕

上記問題点は、プリント基板をスポット光線で走査して
検査を行う光学式の物体測定装置であっ、て、該装置は
前記プリント基板にスポット光線を照射する光源と該ス
ポット光線の反射光を捕捉する撮像管とを有する撮像部
及び該撮像部で捕捉した前記反射光を解析するための判
別装置とで構成されてなり、一方前記プリント基板は前
記撮像部と対向する位置に配設され、且つ所定の速度で
移動するよう構成されてなる光学式物体測定装置によっ
て解決される。

〔作用〕

本発明はプリント基板に実装された例えばＬＳＩのリー
ド周辺にスポット光線を照射し、基板面とフラットリー
ドとの光の反射率の相違を利用してこれらの識別を行い
、隣接するフラットリード相互間の贋隔検査等が合理的
に行えるようにした点に特徴を有する。

〔実施例〕

以下本発明の実施例を図面によって詳述する。

第１図は本発明による光学式物体測定装置の構成と機能
とを説明するための図であって、（ａｌは平面図、山）
は部分拡大図である。

同図（ａ）に示す如く本発明の光学式物体測定装置はス
ポット光線６の光源４と、該光源４から矢印Ａ方向に射
出され測定対象物（本実施例の場合はプリント基板１と
ＬＳＩ　２及びフラットリード３がこれに該当する）に
当たって矢印Ｂ方向へ反射しλ た反射光７を受光して画像化する撮像管５とを有する撮
像部１０と、前記撮像管５によって形成される画像に基
づいて測定対象物の解析を行う判別装置８とで構成され
ている。

なお撮像部ＩＯは測定対象物であるプリント基板１と対
向する位置に配設されている。

一方プリント基板１は図示されない搬送機構によって矢
印Ｘ方向へ前記撮像部１０と一定の距離を維持しながら
移動するように構成されており、この移動の操り返しに
よってプリント基板１の全部の面が前記撮像部１０によ
って走査されることになるわけである。

以下各構成の動作を具体的に説明する。

第１図（ａ）に示す光源４から射出されたスポ７）光４
ｉ６はＬＳＩ　　２のフラットリード３及びプリント基
板１を照射する。そしてその反射光７は撮像管５に入射
する。

第１図（ｂｌは前記スポット光線６で照射された部分の
拡大図であって、図中の３はＬＳＩ　２のフラットリー
ドを示しており、３ａは該フラットリード３をプリント
基板１にボンディングする時に流出した半田屑を示して
いる。

第２図は撮像管に形成される画像の一例を示す拡大平面
図である。

同図は前第１図（１））に示したスポット光線６によっ
て形成される円内の画像であって、フラットリード３と
プリント基板１とでは光の反射率が異なるため、撮像管
５に入射した反射光７の画像は第２図に示すような明暗
のコントラストを持った画像となる。

第２図中の１゛はプリント基板ｌの画像、２゛はＬＳＩ
　２の画像、そして３″はフラットリード３の画像であ
る。また３ａ１　は半田屑３ａの画像であるが、このよ
うにスポット光線６の反射率が材質によって異なること
を利用して各部材の識別を行えるようにしたのが本発明
の特徴である。

即ち本発明においてはコントラストの相違を判別装置８
が判別して、フラットリード３とプリント基板ｌとの識
別並びに半田屑３ａ等の異常付着物の検出を行い、同時
に隣接するフラツトリード３相互間の間隔の可否も同様
に検査できる構成になっている。

なお以上の説明では反射光７の明暗即ちコントラストの
みを利用した内容になっているが、これを反射光７の波
長の違いを利用する方法に替えても同等の効果がある。

また上記の実施例はＬＳＩ　　２のフラットリードに限
定して説明したが、木方式は他の種々の物体の測定にも
応用できることはいうまでもない。

〔発明の効果〕

以上詳細に説明したように本発明の光学式物体測定装置
は、撮像管及び判別装置を備えたスポット光線でプリン
ト基板を走査することによって該基板に実装された電子
部品の位置や異常付着物を簡単且つ的確に検査し測定し
得るといった効果大なるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による光学式物体測定装置の構成と機能
とを説明するための図であって、（ａｌは平面図、（ｂ
ｌは部分拡大図、 第２図は撮像管に形成される画像の一例を示す拡大平面
図である。 図中、１はプリント基板、１′は基板の画像、２はＬＳ
Ｉ　、２°はＬＳＩ　の画像、３はフラ・ノドリード、
３ａは半田屑、３゛はフラットリードの画像、３８”　
は半田屑の画像、４は光源、５は撮像管、６はスポット
光線、７は反射光、８は判別装置、１０は撮像部をそれ
ぞれ示す。 第１ 第２閏 ツメ′ ｊ′ −２’

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. プリント基板をスポット光線で走査して検査を行う光学
   式の物体測定装置であって、該装置は前記プリント基板
   にスポット光線を照射する光源と該スポット光線の反射
   光を捕捉する撮像管とを有する撮像部及び該撮像部で捕
   捉した前記反射光を解析するための判別装置とで構成さ
   れてなり、一方前記プリント基板は前記撮像部と対向す
   る位置に配設され、且つ所定の速度で移動するよう構成
   されてなることを特徴とする光学式物体測定装置。