JPS61127670A - 焼結体の製造方法 - Google Patents
焼結体の製造方法Info
- Publication number
- JPS61127670A JPS61127670A JP59247467A JP24746784A JPS61127670A JP S61127670 A JPS61127670 A JP S61127670A JP 59247467 A JP59247467 A JP 59247467A JP 24746784 A JP24746784 A JP 24746784A JP S61127670 A JPS61127670 A JP S61127670A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sintered body
- manufacturing
- capsule
- scintillator
- less
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 39
- 239000002775 capsule Substances 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims description 10
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 7
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- XTQHKBHJIVJGKJ-UHFFFAOYSA-N sulfur monoxide Chemical compound S=O XTQHKBHJIVJGKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 4
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 claims description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 claims 6
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 claims 6
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 claims 6
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 claims 6
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims 6
- 229910052765 Lutetium Inorganic materials 0.000 claims 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 6
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
X線CT用シンチレータ素子や一般のシンチレータ素子
して使え、これらは医療機器、科学分析装置等に組込ま
れる。従って、放射線利用技術分野で使用される。
して使え、これらは医療機器、科学分析装置等に組込ま
れる。従って、放射線利用技術分野で使用される。
、−3−
[従来の技術]
シンチレータ素子としてはXe電離箱および単結晶が使
用されてきたが、最近では多結晶体も開発されている。
用されてきたが、最近では多結晶体も開発されている。
とくに、高精度かつ高速シンチレーション検出が可能な
近代検出機の場合には、単結晶のごとぎ固体検出機が使
用されている。発光を受けるフォトダイオードは増幅作
用が僅少なため、シンチレータ材料の発光出力が重要な
意味をもっている。CT用単結晶ではBGO,CWO。
近代検出機の場合には、単結晶のごとぎ固体検出機が使
用されている。発光を受けるフォトダイオードは増幅作
用が僅少なため、シンチレータ材料の発光出力が重要な
意味をもっている。CT用単結晶ではBGO,CWO。
Na 1 ・TI 、 Ca F2−Eu 、 Cs
T・TI等が使用されている。BGOは発光効率が低く
、高価である。CWO(C2WO4)は高価で毒性が強
くへき開性のため加工に難点がある。Na T・TIは
吸湿し易く残光が大ぎい。CaF2・E uはシリコン
フォトダイオード等との波長マツチングが悪い。Gs
I・T1は吸湿性があり、ヒステリシスや残光が大きい
。特開昭59−27283号公報に記載の希望類酸化物
シンチレータの如く、最近多結晶体が開発されている。
T・TI等が使用されている。BGOは発光効率が低く
、高価である。CWO(C2WO4)は高価で毒性が強
くへき開性のため加工に難点がある。Na T・TIは
吸湿し易く残光が大ぎい。CaF2・E uはシリコン
フォトダイオード等との波長マツチングが悪い。Gs
I・T1は吸湿性があり、ヒステリシスや残光が大きい
。特開昭59−27283号公報に記載の希望類酸化物
シンチレータの如く、最近多結晶体が開発されている。
この場合には発光効率がかなり改善されてはいるが、例
えば特願昭55、−4.− −79025号公報に記載のオキシサルファイド系シン
チレータにくらべて多少発光効率が劣る。上記オキシサ
ルファイド系シンチレータは素子化のためにオキシサル
ファイド微粉を樹脂で固化した状態で使用しているため
にシンチレータ材料の低密度化とシンチレータ素子への
加工で二、三の問題が示される。すなわち、第1図(A
)がこの素子の構造であるが、樹脂による同化層1は低
透光性かつ低密度のために発光強度が小さくこの部分を
肉厚にできないことから、入tJiX線が直接フォトダ
イオード3に達し悪影響を与える。このため、X線を吸
収させる目的で鉛ガラス2を中間に設けるので構造が複
雑となる。樹脂同化層の加工時の変形も素子化の障害と
なる。
えば特願昭55、−4.− −79025号公報に記載のオキシサルファイド系シン
チレータにくらべて多少発光効率が劣る。上記オキシサ
ルファイド系シンチレータは素子化のためにオキシサル
ファイド微粉を樹脂で固化した状態で使用しているため
にシンチレータ材料の低密度化とシンチレータ素子への
加工で二、三の問題が示される。すなわち、第1図(A
)がこの素子の構造であるが、樹脂による同化層1は低
透光性かつ低密度のために発光強度が小さくこの部分を
肉厚にできないことから、入tJiX線が直接フォトダ
イオード3に達し悪影響を与える。このため、X線を吸
収させる目的で鉛ガラス2を中間に設けるので構造が複
雑となる。樹脂同化層の加工時の変形も素子化の障害と
なる。
上記の欠点を除くために第2図に示す構造のシンチレー
タ素子も使用されている。シンチレータとして粉末の成
形体を使用する。ガラス6を通過した人1)JX線はシ
ンチレータ成形体を発光させるが、成形体の場所によっ
てフォトダイオードに達する行路が異なり、さらに側面
で反射する光の影豐も入るとかなり歪んだ光を受光する
結果となり、入射X線に包含された情報の正確な再現が
困難となる。
タ素子も使用されている。シンチレータとして粉末の成
形体を使用する。ガラス6を通過した人1)JX線はシ
ンチレータ成形体を発光させるが、成形体の場所によっ
てフォトダイオードに達する行路が異なり、さらに側面
で反射する光の影豐も入るとかなり歪んだ光を受光する
結果となり、入射X線に包含された情報の正確な再現が
困難となる。
上述のGd:+02S系シンチレータ材料は容易に分解
する。
する。
従って、常圧炊結、真空焼結、ホットプレスの各焼結方
法では高温時に容易に分解変質しシンチレータ特性が失
われる。このようなことから焼結体の外周をカプセルで
覆い、分解を抑えるカプセルを使用するHIPが有効で
ある。カプセル材料は高温で変形容易なガラス、金属が
よく、とくにGd2O2S系シンチレータ材料用のカプ
セル材には石英、鉄がこれらの軟化点、融点からみて有
用である。HIP時のカプセル変形時のカプセル溶接個
所からのリークがあればGd2O2Sから発する分解物
でHIP用ヒーターを損傷する恐れがあり、これを防ぐ
ためにはカプセルを二重に設けるとよい。減圧下では著
しく分解容易な焼結体材料を使用するときには、カプセ
ル内に多少のガスを封入しておくと分解が抑制できる。
法では高温時に容易に分解変質しシンチレータ特性が失
われる。このようなことから焼結体の外周をカプセルで
覆い、分解を抑えるカプセルを使用するHIPが有効で
ある。カプセル材料は高温で変形容易なガラス、金属が
よく、とくにGd2O2S系シンチレータ材料用のカプ
セル材には石英、鉄がこれらの軟化点、融点からみて有
用である。HIP時のカプセル変形時のカプセル溶接個
所からのリークがあればGd2O2Sから発する分解物
でHIP用ヒーターを損傷する恐れがあり、これを防ぐ
ためにはカプセルを二重に設けるとよい。減圧下では著
しく分解容易な焼結体材料を使用するときには、カプセ
ル内に多少のガスを封入しておくと分解が抑制できる。
ト11P焼結体とカプセル材との接合、相互反応によっ
て焼結体のカプセル材からの分離や焼結体材料の変質が
示される場合がある。この場合にはBN粉等の粉末をカ
プセル材と焼結体との間に充填すると上述の問題が解決
される。
て焼結体のカプセル材からの分離や焼結体材料の変質が
示される場合がある。この場合にはBN粉等の粉末をカ
プセル材と焼結体との間に充填すると上述の問題が解決
される。
特開昭55−79025号公報に記載のGd2O2S系
樹脂固化シンチレータの場合には波長55(lnm 。
樹脂固化シンチレータの場合には波長55(lnm 。
試料肉厚11IIlにおけるインライン透過率は1%以
下と低い。第2図に示した同材料の成形体の場合には同
一測定条件においてインライン透過率はほぼ0%である
。樹脂固化Gd 202 S系シンチレータ材のインラ
イン透過率が2%以上あり、かつ樹脂等で増量されてい
ない焼結体状態であればシンチレータ素子としての有用
性が著しく大きくなる。
下と低い。第2図に示した同材料の成形体の場合には同
一測定条件においてインライン透過率はほぼ0%である
。樹脂固化Gd 202 S系シンチレータ材のインラ
イン透過率が2%以上あり、かつ樹脂等で増量されてい
ない焼結体状態であればシンチレータ素子としての有用
性が著しく大きくなる。
[発明が解決しようとする問題点]
オキシサルファイドのような材料は通常の焼結方法では
分解変質し、王のまま特性が大ぎく変る。
分解変質し、王のまま特性が大ぎく変る。
E問題点を解決するための手段]
試料の高温加熱をカプセル内で行い、同時にカ、−/、
− ブセル外壁に高圧を加え焼結体の密度を上げる。
− ブセル外壁に高圧を加え焼結体の密度を上げる。
分解変質が著しく起り易い材料については、カプセル内
にもガスを封入し試料の分解を抑える。焼結後、カプセ
ルから試料を分解し易くするために、焼結前にカプセル
内壁と試料間に別材料の粉末を封入する。
にもガスを封入し試料の分解を抑える。焼結後、カプセ
ルから試料を分解し易くするために、焼結前にカプセル
内壁と試料間に別材料の粉末を封入する。
[実施例]
(G’6j4QIP「o、ooaCebXtob) 2
02 Sに90pp−のFを添加した粉末を石英管内に
封入し、さらにこれを鉄パイプ内に封じた後、1300
℃で4時間、 iso。
02 Sに90pp−のFを添加した粉末を石英管内に
封入し、さらにこれを鉄パイプ内に封じた後、1300
℃で4時間、 iso。
気圧下で焼結した。得られた焼結体の透光性および発光
出力を上記の材料で加工のみが異なるものと比較して第
1表に示す。
出力を上記の材料で加工のみが異なるものと比較して第
1表に示す。
第1表
*試料の組成: (Gdx′、Pr−、(Jx′x′;
6) 202 S+901)fil F、−8一 本実施例によれば、発光出力を低下させることなく、従
来の樹脂分散固化シンチレータ材料の10数倍の透光性
が得られたので、第1図(B)に示すシンチレータ素子
構造を採用することが可能となった。第1図(B)にお
いて、入射X線は本発明による透光性シンチレータ焼結
体4を照射し、これによって発生した光は同焼結体を透
過してフォトダイオード5に達する。従来法と本発明法
による発光・受光素子の特性は第2表の通りであり、総
合的に本発明のシンチレータ焼結体がすぐれていること
がわかる。
6) 202 S+901)fil F、−8一 本実施例によれば、発光出力を低下させることなく、従
来の樹脂分散固化シンチレータ材料の10数倍の透光性
が得られたので、第1図(B)に示すシンチレータ素子
構造を採用することが可能となった。第1図(B)にお
いて、入射X線は本発明による透光性シンチレータ焼結
体4を照射し、これによって発生した光は同焼結体を透
過してフォトダイオード5に達する。従来法と本発明法
による発光・受光素子の特性は第2表の通りであり、総
合的に本発明のシンチレータ焼結体がすぐれていること
がわかる。
第2表
* 材料組成: (Gdx′旬P’x′ao*Ce6.
ts’ ) 202 S + 90DD” F**入射
X線強度は同一 [発明の効果1 本発明によって、(1)発光出力の低下がみられない高
透光性シンチレータ焼結体が得られた、(2)このシン
チレータ材料を用いたシンチレータ素子はフォト・ダイ
オード出力比1作製の難易およびフォトダイオード出力
画像処理の点において、従来品より優れていることが確
認できた。
ts’ ) 202 S + 90DD” F**入射
X線強度は同一 [発明の効果1 本発明によって、(1)発光出力の低下がみられない高
透光性シンチレータ焼結体が得られた、(2)このシン
チレータ材料を用いたシンチレータ素子はフォト・ダイ
オード出力比1作製の難易およびフォトダイオード出力
画像処理の点において、従来品より優れていることが確
認できた。
第1図および第2図はシンチレータ構造を示す。
第1図(A)は従来法の構造を示す図、第1図(B)は
本発明の材料を用いた素子構造を示す図、第2図は従来
法の構造を示す図である。 1・・・樹脂固化シンチレータ材、2・・・鉛ガラス、
3・・・フォトダイオード、4・・・本発明によるシン
チレータ焼結体、5・・・フォトダイオード、6・・・
ガラス、7・・・入射X線、8・・・シンチレータ成形
体、9・・・フオ[・ダイオード。 図面の浄2゛(内容(二亥更なし) 第 1 図 (A ) (B) 悴 2 @ 手続補正書(方式) %式% 発明の名称 焼結体の製造方法 正をする者 名 称 +5081 日立金属株式会社代表者河野
典夫 理 人 2−a書に最初に添付した図面の浄書 手続補正書(自発) 昭刹60.祁、1F2 日
本発明の材料を用いた素子構造を示す図、第2図は従来
法の構造を示す図である。 1・・・樹脂固化シンチレータ材、2・・・鉛ガラス、
3・・・フォトダイオード、4・・・本発明によるシン
チレータ焼結体、5・・・フォトダイオード、6・・・
ガラス、7・・・入射X線、8・・・シンチレータ成形
体、9・・・フオ[・ダイオード。 図面の浄2゛(内容(二亥更なし) 第 1 図 (A ) (B) 悴 2 @ 手続補正書(方式) %式% 発明の名称 焼結体の製造方法 正をする者 名 称 +5081 日立金属株式会社代表者河野
典夫 理 人 2−a書に最初に添付した図面の浄書 手続補正書(自発) 昭刹60.祁、1F2 日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)常圧焼結、真空焼結、ホットプレスの通常の焼結
方法では加熱時に分解変質する物質を焼結する方法にお
いて、金属やガラスをカプセル材とする高温静水圧プレ
ス(Hot Isostatic Pressin以下
HIPと略す)を用いることを特徴とする焼結体の製造
方法。 (2)特許請求の範囲第1項の記載において、HIP用
カプセル材の焼結体と接触する内側の部分に一定量のガ
スを予め封入しておくことを特徴とする焼結体の製造方
法。 (3)特許請求の範囲第1項の記載において、HIP用
カプセル材容器の内側と焼結体との中間に焼結体より高
融点を有し焼結体およびカプセル材との反応が実際的に
支障のない程度に少ない材料粉末を充填することを特徴
とする焼結体の製造方法。 (4)特許請求の範囲第1項の記載において、焼結体物
質してX線シンチレータ材料とすることを特徴とする焼
結体の製造方法。 (5)特許請求の範囲第1項の記載において、焼結体物
質としてオキシサルファイドからなるシンチレータ材料
とすることを特徴とする焼結体の製造方法。 (6)特許請求の範囲第1項の記載において、焼結体物
質としてLnがGd、La、Y、Luの少なくとも一種
類、MがPr、Tbの少なくとも一種類、Fが0〜10
00ppmからなる、 (Ln_1_−_x_−_y、M_xCe_y)_2O
_2S:(F)またはLn′がGd、La、Lu、Yの
少なくとも一種類、AがTb、Prの少なくとも一種類
、x′が0.001より大きく0.1より小さい、y′
が0より大きく1×10^4より小さい、 (Ln′_1_−_x_′_−_y_′Eu_x′A_
y′)_2O_2S(7)特許請求の範囲第6項の記載
において、カプセル材として鉄、ステンレス、石英ガラ
スのいずれか一種類の材料とすることを特徴とする焼結
体の製造方法。 (8)特許請求の範囲第6項の記載において、焼結体に
直接接触する部分のカプセル材は石英、この石英の外周
を金属カプセルで覆う二重カプセルとすることを特徴と
する焼結体の製造方法。 (9)特許請求の範囲第2項の記載において、焼結体材
料をシンチレータ材とすることを特徴とする焼結体の製
造方法。 (10)特許請求の範囲第2項の記載において、焼結体
材料をLnがGd、La、Y、Luの少なくとも一種類
、MがPr、Tbの少なくとも一種類、Fが0〜100
0ppmとなる、 (Ln_1_−_x_−_yM_xCe_y)_2O_
2S:(F)またはLn′がGd、La、Lu、Yの少
なくとも一種類、AがTb、Prの少なくとも一種類、
x′が0.001より大きく0.1より小さい、y′が
0より大きく1×10^−^4より小さい、(Ln′_
1_−_x_′_−_y_′Eu_x_′−A_y_′
)_2O_2S(11)特許請求の範囲第3項の記載に
おいて、焼結体材料をシンチレータ材とすることを特徴
とする焼結体の製造方法。 (12)特許請求の範囲第3項の記載において、焼結体
材料をLnがGd、La、Y、Luの少なくとも一種類
、MがPr、Tbの少なくとも一種類、Fが0〜100
0ppmなる (Ln_1_−_x_−_yM_xCe_y)_2O_
2S:(F)またはLn′がGd、La、Lu、Yの少
なくとも一種類、AがTb、Prの少なくとも一種類、
x′が0.001より大きく0.1より小さい、y′が
0より大きく1×10^−^4より小さい、(Ln′_
1_−_x_′_−_y_′Eu_x_′Ay_y_′
)_2O_2S(13)特許請求の範囲第6項、第10
項および第12項の記載において、厚さ1mmの焼結体
の波長550mmの光に対するインライン透過率が2%
以上とすることを特徴とする焼結体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59247467A JPS61127670A (ja) | 1984-11-22 | 1984-11-22 | 焼結体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59247467A JPS61127670A (ja) | 1984-11-22 | 1984-11-22 | 焼結体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61127670A true JPS61127670A (ja) | 1986-06-14 |
Family
ID=17163879
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59247467A Pending JPS61127670A (ja) | 1984-11-22 | 1984-11-22 | 焼結体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61127670A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01126583A (ja) * | 1987-11-11 | 1989-05-18 | Hitachi Ltd | 放射線検出素子 |
JPH01191085A (ja) * | 1988-01-27 | 1989-08-01 | Hitachi Medical Corp | 多素子放射線検出器及びその製造方法 |
JPH01242687A (ja) * | 1988-03-23 | 1989-09-27 | Hitachi Ltd | セラミツクシンチレータの製造方法 |
JPH01261258A (ja) * | 1988-04-11 | 1989-10-18 | Hitachi Ltd | セラミツクシンチレータの製法 |
JPH0568415A (ja) * | 1992-03-17 | 1993-03-23 | Kubota Corp | 水田作業機の施肥装置 |
JPH06217620A (ja) * | 1993-11-25 | 1994-08-09 | Kubota Corp | 施肥装置 |
JP2009084696A (ja) * | 2003-03-04 | 2009-04-23 | Nikko Kinzoku Kk | スパッタリングターゲットの製造方法 |
WO2018211829A1 (ja) * | 2017-05-15 | 2018-11-22 | 根本特殊化学株式会社 | 残光性酸硫化物蛍光体および真贋判定用発光組成物 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57106578A (en) * | 1980-12-19 | 1982-07-02 | Kobe Steel Ltd | Manufacture of high density ceramic sintered body |
JPS5822307A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-09 | Kobe Steel Ltd | 液圧利用熱間静水圧プレス処理方法 |
JPS58204088A (ja) * | 1982-05-21 | 1983-11-28 | Toshiba Corp | シンチレ−シヨン検出器 |
-
1984
- 1984-11-22 JP JP59247467A patent/JPS61127670A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57106578A (en) * | 1980-12-19 | 1982-07-02 | Kobe Steel Ltd | Manufacture of high density ceramic sintered body |
JPS5822307A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-09 | Kobe Steel Ltd | 液圧利用熱間静水圧プレス処理方法 |
JPS58204088A (ja) * | 1982-05-21 | 1983-11-28 | Toshiba Corp | シンチレ−シヨン検出器 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01126583A (ja) * | 1987-11-11 | 1989-05-18 | Hitachi Ltd | 放射線検出素子 |
JPH01191085A (ja) * | 1988-01-27 | 1989-08-01 | Hitachi Medical Corp | 多素子放射線検出器及びその製造方法 |
JPH01242687A (ja) * | 1988-03-23 | 1989-09-27 | Hitachi Ltd | セラミツクシンチレータの製造方法 |
JPH01261258A (ja) * | 1988-04-11 | 1989-10-18 | Hitachi Ltd | セラミツクシンチレータの製法 |
JPH0568415A (ja) * | 1992-03-17 | 1993-03-23 | Kubota Corp | 水田作業機の施肥装置 |
JPH06217620A (ja) * | 1993-11-25 | 1994-08-09 | Kubota Corp | 施肥装置 |
JP2009084696A (ja) * | 2003-03-04 | 2009-04-23 | Nikko Kinzoku Kk | スパッタリングターゲットの製造方法 |
WO2018211829A1 (ja) * | 2017-05-15 | 2018-11-22 | 根本特殊化学株式会社 | 残光性酸硫化物蛍光体および真贋判定用発光組成物 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Greskovich et al. | Ceramic scintillators | |
US4783596A (en) | Solid state scintillator and treatment therefor | |
US5521387A (en) | Radiation detector employing solid-state scintillator material and preparation methods therefor | |
US4242221A (en) | Ceramic-like scintillators | |
Kumar et al. | A review on x-ray excited emission decay dynamics in inorganic scintillator materials | |
US7279120B2 (en) | Doped cadmium tungstate scintillator with improved radiation hardness | |
Nakamura et al. | Scintillation and dosimeter properties of CaF2 translucent ceramic produced by SPS | |
JPS61127670A (ja) | 焼結体の製造方法 | |
JPS61110079A (ja) | 放射線検出器 | |
JP2617785B2 (ja) | ラジオグラフィー用発光材料 | |
JP2002275465A (ja) | セラミックシンチレータとその製造方法、およびそれを用いた放射線検出器と放射線検査装置 | |
Akatsuka et al. | Scintillator and dosimeter properties of Ce3+ doped CaF2AlF3AlPO4 glasses | |
JPH07188655A (ja) | 蛍光体およびその製造方法とこの蛍光体を用いた放射線検出器およびx線断層写真撮影装置 | |
Kato et al. | Thermally stimulated luminescence properties of transparent ceramics for personal dosimetry | |
Kunikata et al. | Optical and scintillation properties of ZnO translucent ceramics annealed at different temperatures | |
JPS648676B2 (ja) | ||
JP2685867B2 (ja) | 蛍光性セラミックスの製造方法 | |
JPH0516756B2 (ja) | ||
JPS6117082A (ja) | 放射線検出器 | |
JP2989089B2 (ja) | セラミックスシンチレータ材料 | |
Yoshikawa et al. | Scintillation properties of In-doped NaI transparent ceramics | |
US3746651A (en) | Radiothermoluminescent materials and radiothermoluminescence dosimeters | |
US20100127176A1 (en) | Scintillator materials which absorb high-energy, and related methods and devices | |
JP2595027B2 (ja) | セラミツクシンチレータの製造方法 | |
JPS6318286A (ja) | 放射線検出器 |