JPS61108421A - 情報記録制御装置 - Google Patents

情報記録制御装置

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JPS61108421A
JPS61108421A JP22934384A JP22934384A JPS61108421A JP S61108421 A JPS61108421 A JP S61108421A JP 22934384 A JP22934384 A JP 22934384A JP 22934384 A JP22934384 A JP 22934384A JP S61108421 A JPS61108421 A JP S61108421A
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JP
Japan
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signal
flaw
detection
shift register
processing
Prior art date
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JP22934384A
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English (en)
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JPH0330445B2 (ja
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Yoshikane Satou
佐藤 善兼
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Fujitsu Ltd
Fuji Facom Corp
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Fujitsu Ltd
Fuji Facom Corp
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Publication date
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Publication of JPS61108421A publication Critical patent/JPS61108421A/ja
Publication of JPH0330445B2 publication Critical patent/JPH0330445B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はブリキ等の製品の検査ラインにおいて、製品に
生じた疵を検出した部分に所定情報を記録する情報記録
制御方式の改良に関する。
上記の如く製品に生じた批を検出した部分に、十吉報を
記録(着磁を施す)シ、次の切断工程において、該漸磁
部分を9帝てているが、沼畿の記録位置の精度の向上が
求められている。
〔従来の技術〕
従来の漸磁制御方式を図によって欣明する。
第2図は従来例を説明するブ07り図である。
モータ1によって回転するローラ2に巻付けられたプリ
中板は、モータ3によって回転するロー24に巻取られ
てゆくが、この移動経路の位置a。
b及びCの位置にセ/す5,6及び7が設けられている
。一方モータ1と連動するスリット板8が設けられてお
り、このスリット板8の回転に伴いランプ9からの光が
スリットSを通過するが、この通過光りが検出部10で
検出される毎に、パルスPが出力される。
制御部11−には、全長カウンタ12が設けられており
、これは、製品(例えばブリキ板)13が、位置Xから
Yまで移動する距離、即ち検査距離の始端と終端の全長
に対応するカウンタである0換言すれば、位1fXのブ
リキ板13の部分が位置Yに達したとき、パルスPによ
って駆動される全長カラ/り12が力9ントアウトされ
、このカラ/り12の計数値Gが、位11f数X−Y間
の位置を示すデータとなる。
センサ5,6及び7は、検出機能を異にするセンナであ
る。例えばセンt5は鍍金の際に生じた疵を検出するセ
ンナであり、またセンサ6は、トタン板13が、ローラ
2に巻取られるときに生じた擦り傷を検出するセ/すと
いう如く、それぞれ機能を異にする。
ブリキ板13が位置aに達したとき、センサ5が疵を検
出すると、検出信号Aが、制御部11の処理部14へ送
られる。処理部14は、全長カウンタ12の計数値GK
より検出信号Aが発せられたセンサ5の位置を知り、所
定の処理を施したのち、書込指令Wf、磁気記録部15
へ送出する。これを受けた磁気記録部15は、ブリキ板
13に対し、所定の磁気情報の書込みを行う。
以上の検量過程でローラ4に巻取られたブリキ板は、次
の切断処理(図示していない)において、不良(磁気記
録が施された)部分が、取除かれる。
第2図において、各株のセンサ5,6及び7を設ける代
りに、最近では、レーザ検出部16を設置する方法が採
用される傾向にある。このレーザ検出部16Vi、ブリ
キ板13にレーザ光を照射することによりブリキ板13
の鍍金の際の疵や、表面上の擦り傷なども検出する機能
を有する。従って、ブリキ板13の疵を有する部分が、
このレーザ検出部16の下を通過する毎に検出信号が発
せられるが、その信号の種類は複数種(例えばり、〜D
n)となる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
た処理を施したのち、ブリキ板に有害な疵であると判定
した場合は、検出信号D1〜Dnを発することになるが
、疵信号Hの種類および状態悼より検出信号り、=Dn
を発するまでの処理時間が異なるため、製品の疵が存在
する位置に正確に磁気記録を行い得ないという問題点が
あった。
〔問題点を解決するための手段〕
上記の問題点は、所定の距離を一定方向へ所定速度で移
動する被検査体と、該被検査体の疵を検出する検出部と
、記録部とを有し、検出部から検出信号が発せられたと
き被検査体の疵が存在する位置に所定情報を記録するン
ステムにおい七、前記被検査体に含まれる複数種の疵を
検出し朕疵の極刑に対応するM数種の検出信号を発する
前記検出部と、該複数数種の検出信号をそれぞれ処理す
る枚数の処理手段と、前記所定の距離を所定長で区分け
した単位距離の数Nと同数のNビットシフトレジスタと
、該シフトレジスタ内の信号を前記一定方向へ前記所定
速度でシフトせしめる制御手段と、該シフトレジスタの
終端に信号が達したとき前記記録部を作動させる手段と
、前記複数の処理手段の各処理時間に応じた前記シフト
レジスタのビット位置に信号を薔込む手段とを備え、前
記検出部から橡数種の検出信号が発せられた際、該複数
種の検出信号に対応する処理を施したのち、該処理時間
に応じた前記シフトレジスタのビット位置に信号を書込
み、該信号がシフトレジスタの終端に透したとき、前記
記録部により前記被検査体にH1定情報を記録せしめる
本発明の情報記録制御方式によって解決される。
出する職責システムにおいて、検量手段としてレーザ検
査Sを用いた場合、該検f都1よ、複数ねの疵を検出す
る機能を有する。
本発明は、この複数種の検出信号に応じた処理(解析処
理)を施したのち、疵の在る位置に所定情報を書込むが
、この複数種の処理手段の処理時間に対応して、疵が発
見された位置に所定情報を正しく記録せしめることがで
きる。
〔実施例〕
以下、本発明を図面によって欧明する。%1図は本発明
の一実施例を説明するブロック図である。
第1図における、位rdX−Y間の全長をn等分したn
個のシーy (ZONE ) Z+ −Z nを設ける
と共に、該ゾーンZ、〜ZnK対応する数のビット数、
即ちnビットのシフトレジスタ17を設ける。またこの
シフトレジスタのビット位置F、〜FnlC。
レベル「1」のディジタル信号を書込む書込部18を設
けておく。
またスリット板8の回転に伴い、検出部10か1   
      ら発せられたパルスPは全長カウンタ12
を駆動すると共に、パルス発生部19へ送られる。パル
ス発生部19は、所定数のパルスPを受ける毎に、パル
スQfWL、このパルスQけシフトレジスタ17を右方
ヘシフトせしめる。即ち、パルスQは、ブリキ板13が
、各ゾーン(Z)を通過する毎に、1個のパルス(Q)
が発せらnるように、その周期が選ばねている。
換言すれは、(n−1)個のパルスQがシフトレジスタ
17に供給されると、シフトレジスタ17のビット位置
F、内の情報は右端のピット位置FnK達する。またレ
ーザ検出部16は複数種類の疵を検出する機能をMし、
検出信号りを出力する。
ここで、レーザ検出部16が疵を検出する時間は。
疵の棹類および状態により異なる。
ブリキ板13の疵の有るb分がレーザ検出部16の位置
に達すると、レーザ検出部16は、先ず全長カラ/りG
tl−読込みG1として記憶する。その後、レーザ検出
部16は、疵のa類および状態に応じた処理(この処理
時間けいろいろ変化する)を行い、ブリキ板に有害な疵
であると判定した場合は、検出信号りを出力する。この
検出信号りの中には、疵の位置を表わす情報であるG1
が含まねている。
料込部18は、検出信号りを受けると、先ず全長カウン
タGを読込みG2として記憶する。次に92と01の差
を求めることにより、ブリキ板13の疵が現在どのゾー
ンまで進んでいるのかを知る。
そして、該ゾーンに対応したシフトレジスタ17のピッ
ト位置にレベル「1」のディジタル信号を香込む。
このようK、本発明では、検出信号りに対し、不定の処
理時間に対応してシフトレジスタ17のピット位置への
書込み位置を込択制例する。
書込部18によってディジタル信号「1」が、パルスQ
により+1m次ン7トされ、ビット位tiFnに達した
とさ、検出部20が、この信号「1」を検出すると、書
込指令Wを磁気記@都15へ送出する。
これによって、ブリキ板13に対する磁気記録が行われ
る。
以上のように本発明では、ブリキ板の送り位置に対応す
るシフトレジスタを設け、異積の検出信号に対して異な
る処理時間を要する場合には、その処理時間に対応する
シフトレジスタのピット位置に情報を書込み、この情報
に基いて、磁気記録を行うように図ったものである。
の位置(疵が存在する位置)K対する磁気記録の記録精
度を向上する効果をもたらす。
【図面の簡単な説明】
力1図は本発明の一実施例を続開するブロック図、 第2図は従来例を説明するブロック図、図において、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定の距離を一定方向へ所定速度で移動する被検査体と
    、該被検査体の疵を検出する検出部と、記録部とを有し
    、検出部から検出信号が発せられたとき、被検査体の疵
    が存在する位置に所定情報を記録するシステムにおいて
    、前記被検査体に含まれる複数種の疵を検出し該疵の種
    別に対応する複数種の検出信号を発する前記検出部と、
    該複数数種の検出信号をそれぞれ処理する複数の処理手
    段と、前記所定の距離を所定長で区分けした単位距離の
    数Nと同数のNビットシフトレジスタと、該シフトレジ
    スタ内の信号を前記一定方向へ前記所定速度でシフトせ
    しめる制御手段と、該シフトレジスタの終端に信号が達
    したとき、前記記録部を作動させる手段と、前記複数の
    処理手段の各処理時間に応じた前記シフトレジスタのビ
    ット位置に信号を書込む手段とを備え、前記検出部から
    複数種の検出信号が発せられた際、該複数種の検出信号
    に対応する処理を施したのち、該処理時間に応じた前記
    シフトレジスタのビット位置に信号を書込み該信号がシ
    フトレジスタの終端に達したとき、前記記録部により前
    記被検査体に所定情報を記録せしめることを特徴とする
    情報記録制御方式。
JP22934384A 1984-10-31 1984-10-31 情報記録制御装置 Granted JPS61108421A (ja)

Priority Applications (1)

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JP22934384A JPS61108421A (ja) 1984-10-31 1984-10-31 情報記録制御装置

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JP22934384A JPS61108421A (ja) 1984-10-31 1984-10-31 情報記録制御装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61108421A true JPS61108421A (ja) 1986-05-27
JPH0330445B2 JPH0330445B2 (ja) 1991-04-30

Family

ID=16890670

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22934384A Granted JPS61108421A (ja) 1984-10-31 1984-10-31 情報記録制御装置

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JP (1) JPS61108421A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100418658B1 (ko) * 2001-01-22 2004-02-11 배달향 자기표시의 직접입력을 활용한 강선제품의 위치별 이력추적장치 및 생산관리 방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100418658B1 (ko) * 2001-01-22 2004-02-11 배달향 자기표시의 직접입력을 활용한 강선제품의 위치별 이력추적장치 및 생산관리 방법

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Publication number Publication date
JPH0330445B2 (ja) 1991-04-30

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