JPS61242375A - 信号読取り装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発８Ａは、磁気データの読取シ装置に係り、特に磁気
ストライプ付のカードの読取シ・書込みに好適な装置に
関する。

〔発明の背景〕

第５図は磁気ストライプ付カート責以下カードと称す）
の読取り書込み装置の機構の一例を示す。

１０１ないし１０４はカード搬送用ローラ、１０５は押
えローラ、１０６は磁気ヘッド、１０７はカードである
。カードにＦＭ方式でデータを書込む場合。

カード搬送用ローラ１０１ないし１０４を所定速度で回
転させ矢印１０８の方向に走行させる。この時畳込みデ
ータに応じた電流を第６図の如く磁気ヘッド１０６に流
す。すなわち各ビット境界で必ず磁化反転を生じさせ、
かつデータ１の場合にはビット中央でも磁化反転を生じ
させ、データＯの場合にはビット中央における磁化反転
と行なわない。第２図におけるビット尚シの時間Ｔはカ
ード走行平均速度ｖ（ｍｍ／５ｅｃ）と記録密度σ〔ビ
ット／ｍｍ）によシ（１）式となる。

Ｔ−−１／ｖ・σ　−（ｓｅｅ　）・・・・・・・・川
・・・・・・・　（１１しかしカードが矢印１０８の方
向く移動しカードの先端がローラ１０１および１０２に
ぶつかる時、あるいはカード後端がローラ１０８および
１０４をはずれる時カードの走行速度が（低下・増加）
変動し記録ビットの磁束反転間隔を変動させることが考
えられる。このカードの速度変動はカードがそシ返った
ような変形をしている場合著しく大きくなシ、大きくな
シすぎるとＪｉｓ−Ｂ９５６１に規定される磁束反転間
隔許容誤差（最大で１０％）を満足しなくなると考えら
れる。

一方カードよプデータを再生する場合も書込み時と同様
カードを所定速度で走行させ、ビット当シの時間Ｔのｎ
７ｍ倍の時間内における磁束反転有無によシデータ１．
０を判別する。（本方式を以降定時読取シ方式と称す。

） 定時読取方式においてデータ０を１と誤る磁束反転間隔
の誤差Δｌは（２）式で示される。

Δ、；＞（ｌ、ｎ（ｖ＋ａｖ　）　ｌ　（ｍｍ）−−ｆ
２１ｖ ここで　Ｖ：カード走行平均速度（ｍｍ／５ｅｃ）ΔＶ
：カード走行速度変動（ｍｍ／５ｅｃ　）ｌ：正規の磁
束反転間隔（ｍｍ） である。通常のカード読取シ装置では ΔＶ　”＝　０．０５　ｖ程度であり、菖＝牙とした場
合Δｌ−０，２１となる。

また他のデータ再生方式として特公昭５４−７２０８号
に示されるように再生信号の各ビット周期毎にその先行
ビット周期のｎ　７ｍ倍の時間内における磁束反転有無
によりデータ１．０を判別する方法が知られている。（
本方式を以降ビット間隔追従読取り方式と称す。）ビッ
ト間隔追従読取シ方式においてデータ０を１と誤る磁束
反転間隔の誤差Δｌは先行ビットの磁束反転間隔で定ま
シ（２）式におけるｌを先行ビットの磁束反転間隔とし
たものＫなる。

現金自動取引装置等における磁気データの読取シ書込み
装置は、受入れた磁気カードのデータを読取）、この読
取９データに基いた取引に伴って磁気カード内のデータ
を更新するために同カードに誉込み動作を行う。従って
前記したデータの読みちがえる要因となるΔｌは磁気カ
ードからのデータの読取シとデータの書込みの両方にお
いて生じることになる。従来、読取シ時においては読取
つたデータをチェックすればある程度のエラーを検知で
きるが、データ書込み時の書込み装置の精度が低い場合
、規格から外れたデータを記録したままカードを発行し
てしまう恐れがあった。

〔発明の目的〕

本発明は上記の点Ｋかんがみ、データの書込み読出し精
度を適切に保ちながら書込まれるデータの精度を高く保
つことを目的とする。

〔発明の概要〕

本発明は、記録媒体に記録されたデータの読取シに際し
、読取った信号のレベル反転間隔を標準値と比較して、
所定許容誤差内に入っているか否かを検査し、さらには
上記標準値を可変にして外部で書込済の記録媒体のデー
タ読取９時よシデータ更新書込等の機器内部での書込後
の読取検査時を上記許容誤差を小さく設定するようにし
た事を特徴とする。

〔発明の実施例〕

以下本発明の詳細な説明する。第１図は第１実施例の構
成を示すブロック図で、１はＦＭ方式磁気記碌がなされ
たカード（記録媒体）、２は磁気ヘッド、８はヘッド２
から信号が加わる増幅器。

４は８から信号が加わる立上シ・立下り微分回路。

５は微分回路出力４と信号５１４を入力として時刻信号
のみを取出す論３！（ＡＮＤ）ゲート、６は論理ゲート
５の出力が加わる１クロック遅延回路、７は遅延回路６
の出力が複数個以上入力された時セットされるカウンタ
、８は図示しない発振器で作られる定周期の基準クロッ
ク（ＣＬＫ）が加わるカウンタ、９はカウンタ８の出力
ｎと基準値の最大値Ａ１を比較しｎ　）　Ａ　Ｉの時出
力が“１”となる比較器、１０は前記出力ｎと基準値の
最小１直Ａ２を比較しｎ　＜　Ａ　２の時出力が“１′
となる比較器、１１は比較器９，１０の出力を入力する
とＯＲゲート、１２は時刻信号取出用論理ゲート５とカ
ウンタ７およびＯＲゲート１１の出力を入力するとＡＮ
Ｄゲート、１８はＡＮＤゲート１２の出力によりセット
されるフリップフロップである。

第２図は、第１図における各部の出力波形図で１、符号
Ｓに付している番号は第１図における各部分の番号と対
応している。

第１１ｉｉＱＫおけるカウンタ７はカード１が磁気ヘッ
ドに突入するときの速度変動を無視するためのものであ
る。具体的には、パルス信号Ｓ６が所定の個数だけカウ
ンタ７に入力されたとき、カウンタ７はセットされ出力
がＨレベル（高レベル）となって検査開始信号Ｓ７とし
て後段に伝える。従って５７が低レベルとなっている時
間はヘッド２から読取られた信号の検査結果は後段に伝
えられない。すなわちこのＳ７が低レベルとなっている
時間はカードの磁気ヘッドへの突入に伴う速度変動が生
じている時間に設定され、実際には実験によシ求められ
る。上記所定のパルス数は通常１０〜数１０個である。

１４は、基準信号ＡＩ　−Ａ２を発生する制御回路であ
る。基準信号ＡＩ（最大値）、Ａ２（最小値）は２進数
で表現された数値でありＡＩ）Ａ２に設定される。又基
準信号としてＡＩ’・Ａ２’（Ａｌ＞Ａｌ九Ａ２＜Ａ２
’）・が必要に応じて出力される。

上記構成の動作を説明する。

カード１を最初に読取るに際し磁気ストライプに記録さ
れたデータはヘッド２により走査されて読取られ、増幅
器８で増幅・波形成形されて微分回路４に再生信号Ｓ８
として供給される。この信号の波形は第２図に示すよう
にビット周期の中央におけるレベル変化の有・無でそれ
ぞれ“ビット信号ｌ”・“ビット信号０”の情報を表わ
している。

微分回路４を通過【７た信号はＳ４で表わされ。

ＡＮＤゲート５に印加される。ＡＮＤゲート５にはＣＬ
Ｋ（ｎ−１）　〜ＣＬＫ３のタイミングでＨレベルとな
る別に用意した３１４が印加される。Ｓ１４は１図示し
ないフリップフロップで作られる。従ってゲート５の出
力はＳ５として表わされ１時刻信号となる。

信号Ｓ５は次の回路６とＡＮＤゲート１２に印加される
。回路６ではＳ５をＩＣＬＫ分だけ遅延させた信号Ｓ６
を発生させて、このＳ６はカウンタ７・８に印加される
。カランタフに所定の数だけＳ６をカウントするとＨレ
ベル信号Ｓ７を発生する（前述）。カウンタ８はＳ６を
リセット端子に加えられるとリセット状態となってカウ
ント値が“０”となる。リセット後は常時印加されてい
るＣＬＫ信号の発生毎に“１″づつカウントされ、その
カウント値は出力端２°、２１〜２１から並列信号Ｓ８
として出力される。信号Ｓ８は常時比較器９−１０に加
えられ制御回路１４からの基準信号Ａｌ−Ａ２と常時比
較される。そして比較結果信号Ｓ９・５１０はＯＲゲー
ト１１を介してＡＮＤゲート１２に加えられる。ここで
信号Ａ１・Ａ２は並列信号とする。

比較結果信号Ｓ９はカウンタ８の値“ｎ”）ＡＩのとき
、異常（時刻信号の間隔が基準値Ａ１よシ長い）として
Ｈレベルとなシ、比較信号９１０はカウンタ８の値“ｎ
　”＜　Ａ　２のとき異常（時刻信号Ｓ５の間隔が基準
値Ａ２よシ短い）としてＨレベルとなる（第２図参照）
。異常としての上記Ｈレベル信号Ｓ９・９１０はゲー）
１１−１２を介してフリップフロップ１８をセットする
信号となるが、フリップフロップ１８への入力タイミン
グが５５とＳ７によシ制限されている。第２図で明らか
なように％上記Ｈレベル信号Ｓ９・５１０はカウンタ８
のリセット直前（カウント値が最終値）のタイミングで
７リツプフロツプ１８に加えられる。第２図の例では２
番目のビット信号“０”の信号Ｓ５（時刻信号）の発生
間隔（カウント値ｎ）が基準値Ａｌよプ長いので、信号
Ｓ９がＨレベルとなって７リツプフロツプ１３をセット
している。このため５１８がＨレベルとな夛、制御回路
１４はこれを受けて書込み異常カードとしてカード返却
等の処理を行う。

カード内のデータが正常であれば両比較器９−１０から
の信号がＨレベルとなることなく、フリップフロップ１
８がセットされずに所定の取引がなされ、この所定の取
引（例えば出金）が終了すると、同カードｌにデータ更
新のためにデータ書込みがなされる。その後、この書込
まれたデータを読出して上記と同じ動作によシ書込デー
タの検査がなされる。

このデータ更新のために書込まれた後の書込データの検
査を以下に説明する。カードはデータ更新のため書込励
時に搬送され、その後書込データを検査するために、元
の位置に逆向に搬送される。

次いで書込データの検査のためにカードが搬送されるが
このとき、制御部１４はデータ更新完了信号Ｓｚを受は
基準値Ａ１とＡ２をそれぞれＡＩ’とＡ２’に変える。

なお、このとき基準値の関係がＡＩ＞Ａｌ’・Ａ２＜Ａ
２’と設定される。従って書込データの検査では再生時
の時刻信号Ｓ５の間隔が、カウンタ８の計数値ｎで表わ
した場合Ａ２’＜ｎ＜ＡＩ’の範囲に入っているときに
正常であると見なし。

データ書込が正常圧なされていると判断する。

上記の例ではデータ更新書込後のデータ読取検査を、カ
ードを受入れて最初のデータ読取時のデータ読取検査よ
シ厳しくチェックしているので。

書込精度の低いカードを受入れても、更新書込時に精度
良く書込んだカードを発行することができる。

また上記のようにデータ読取チェックについて精度上の
差をつける例としては、上記実施例の他に、カードを受
入れて最初のデータ読取時にデータ読取検査を行なわず
、所定の取引終了に伴うデータ更新書込後にデータ読取
検査を行なうようにしても良い。なお、この場合、最初
のデータ読取時の検査を行なわないと言う意味は第１図
・第２図で説明した検査を行なわないと言う事であシ、
極端に遅い（あるいは速い）速度でカードが搬送された
場合は論外であり、当然データの読取シは不可能となる
。

次に第８図・第４図を用いて第２実施例を説明する。第
１図と同一部分を同一符号を付して示す。

第８図において５１は増幅器８の出力Ｓ８をデータ端子
りに受は後述のタイマー５３の出力Ｓ５８をトリガ一端
子Ｔに受けるフリップフロップ、５２は信号Ｓ５８およ
びフリップフロッグ５１の反転出力８５ｇとを入力とす
る排他的ＯＲゲート、５８はＯＲゲート５２の出力信号
Ｓ５２がトリガ一端子ＴＩＣ入力されてその立下シタイ
ミングをトリガーとして、あらかじめ制御回路で設定さ
れた時間（１ビット当りの時間Ｔのｎ７ｍ倍）後にノ（
ルスを出力するタイマーである。５５はＯＲゲート５２
からの信号Ｓ５２をデータ入力端子りに受はタイマー５
８の出力信号Ｓ５８をトリガ一端子Ｔに受ける７リツプ
フロツプである。

第４図は第８図における各部の出力線に表われる信号の
出力波形図である。

上記構成において、カードｌから読取られたデータは増
幅器３で増幅・波形成形されて信号Ｓ８としてクリップ
７０ツブ５１とＯＲゲート５２に供給される。この信号
の波形は第４図に示すようにビット周期の中央における
レベル変化の有・無でそれぞれ“ビット信号１−“ビッ
ト信号０”の情報を表わしている。ＯＲゲート５２から
の信号は３５２で表わされタイマー５８のトリガ一端子
ＴＫ供給される。この信号Ｓ５２は第４図でタイミング
Ａの時点で立下シ信号となシタイマー５８の計数動作を
開始させる。

カウンタ５８は制御回路５４で設定された時間Ｔ−ｎ／
ｍ（ｓｅｃ　）の間だけ計数を終了するとパルス信号５
５１１１を発生する。この信号５５８はフリップ７０ツ
ブ５１−５５のトリガ一端子ＴＫ供給され、信号Ｓ５１
のレベルを反転させると共に、フリップフロップ５５に
トリガーを与える。フリップフロップ５５はトリガーが
与えられたときＤ端子すなわちＳ５２のレベルを５５８
の発生間隔だけ保持して出力（Ｓ５５）する。

信号Ｓ５８は各ビットの境からＴ−ｎ７ｍ（ｓｅｅ）の
時間毎に発生することになシ、この時間Ｔ−ｎ／ｍ（ｓ
ｅｃ）は正常にデータが読出されたときの１ビツトの長
さの１／２〜１の間に設定される。そしてデータの読出
しは、信号Ｓ５５がＨレベルのときデータ“１”で、Ｌ
レベルのときデータ“０”としてなされる。

設定時間Ｔ　＊　ｎ７ｍ　（ｓｅｃ　）が、短かく設定
される程その長さが１ビツトの１７２に近くなって１本
来のデータ“０”を“ｌ”に読み誤まる可能性が少くな
シ、反面あまシ短かくし過ぎるとビットの前半を読込ん
でしまい本来のデータ“ビを“０”に読み誤まる可能性
が高くなる。また上記設定時間を長く設定する程その長
さが１ビツトの長さに近くなって本来のデータ“１”を
“０”と読み誤まる可能性が高くなり１反面長くなりす
ぎると次のビットの前半を読込んでしまい本来のデータ
“１″を“θ″に読み誤まる可能性が高くなる。

従って設定時間Ｔ−ｎ／ｍ（ｓｅｃ）を正規のビット長
の８／４の長さに設定すると、カード１の読出し速度が
高低いづれの方向に変化しても（あるいは書込精度がも
ともと良くない）比較的正確にデータを読取ることがで
きることＫなる。

カードに記録されたデータの書込精度を検査するときは
、−例として第８図の構成の回路を２組用意して、設定
時間Ｔ−ｎ／ｍ（ｓｅｃ　）を長＜（Ｔ２）設定した第
１の回路と短＜　（ＴＩ　）設定した第２の回路によっ
てデータを読取って両回路のデータを比較回路５６で比
較する。そしてこの比較によってデータが一致しない場
合にはデータ読取り不能信号Ｓ５６を発して制御回路５
４にツイードバックし、制御回路は異常処理を行う。

上記設定時間Ｔ１・Ｔ２を種々に設定することによシ、
磁束反転間隔の許容誤差を大きく、あるいは小さく設定
することができる。例えば設定時間の差を大きくとれば
（ＴＩ　−Ｔ２　＞、上記２組の回路で読取ったデータ
は一致しにくくなって、データを厳しく検査することに
なｊ５．ＴＩ’〜Ｔ２’の差を小さくシ、シかも両者共
ビット長の８／４の長さ付近に設定すれば、２組の回路
で読取ったデータは一致し易くなってデータ読取りが甘
くなる。

従って先に説明した第１実施例と同様に、カード１内の
データを最初に読取るに際し、上記設定時間（Ｔｌ〜Ｔ
２）を甘く設定してデータ読取部を甘くシ、所定の取引
終了後にデータ更新を行いデータ更新完了信号Ｓｚの受
信後のデータ読取り検査時に設定時間をＴＩ’〜Ｔ２’
に設定してデータ読取りを厳しくすることができる。こ
れ罠よって書込精度の低いカードを受入れても、更新書
込時に精度良く書込んだカードを発行することができる
。

又先の笑施例と同じく、データ読取ル検査に差をつける
例としては、上記の例の他に、カードを受入れて最初の
データ読取り時に２組の回路で読取ったデータの比較を
行なわないようにし、所定の取引終了に伴うデータ更新
書込後のデータ読取時にのみ２組の回路のデータを比較
して検査を行うようにしても良い。

〔発明の効果〕

本発明によれば、データ読出し検査によシ紀録媒体に記
録されているデータの精度をチェックすることができる
ので、ｌＦ込データの精度を高く維持することができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例のブロック図、第２図は第
１図の各部の信号波形図、第３図は第２実施例のブロッ
ク図、第４図は第８図各部の信号波形図、第５図はカー
ド読取）書込み装置の概要図、第６図はＦＭ方式の書込
波形図である。 ２・３：読取部、４〜８：間隔信号を発生する回路、１
４：制御部、９・１０：比較部。 ＄　１　　図 第　　３　　口 第　　４　　図 Ａ　　　　　　　　Ａ　　　　　　　　Ａ　　　　　　
　　Ａ　　　　　　　　Ａ＄　５　図 ん４ 第　６　　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、記録媒体に記録されたデータを読取る読取部と、読
   取部からのデータのレベル反転間隔を表わす間隔信号を
   発生する回路と、読取られるデータの反転間隔の標準値
   を発生する制御部と、上記標準値と実際に読取られたデ
   ータの間隔信号とを比較して実際に読取られたデータの
   反転間隔が上記標準値を超えている場合、異常信号を発
   生する比較部を備えてなる信号読取回路。 ２、上記制御部は外部で記録されたデータの読取時と、
   機器内部で記録されたデータの読取時とで異なる値の標
   準値を発生するように構成されてなる特許請求の範囲第
   １項記載の信号読取り装置。