JPS61101856A - 記憶装置 - Google Patents
記憶装置Info
- Publication number
- JPS61101856A JPS61101856A JP59223237A JP22323784A JPS61101856A JP S61101856 A JPS61101856 A JP S61101856A JP 59223237 A JP59223237 A JP 59223237A JP 22323784 A JP22323784 A JP 22323784A JP S61101856 A JPS61101856 A JP S61101856A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cell
- address
- output
- memory cell
- writing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Storage Device Security (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体集積回路装置に関し、特に消去書込み可
能メ七り装置に関する。
能メ七り装置に関する。
(従来の技術)
消去書込み可能なメモリ(イレーザブル書プログラマブ
ル・リードオンリーメモリ、以下EFROMと称す)は
、一般に消去時には出力がすべて電源電圧レベル11雪
になる。というのは、EPROλIの持つすべてのメモ
リセルの2コーテイングゲートの電子が紫外綜照射によ
りて抜かれてしまうためである。書込みは、このツー−
ティングゲートに電子を注入してGNDレベル101を
書込むことにより、データ10@を消去するまで苧永久
的に保持する。
ル・リードオンリーメモリ、以下EFROMと称す)は
、一般に消去時には出力がすべて電源電圧レベル11雪
になる。というのは、EPROλIの持つすべてのメモ
リセルの2コーテイングゲートの電子が紫外綜照射によ
りて抜かれてしまうためである。書込みは、このツー−
ティングゲートに電子を注入してGNDレベル101を
書込むことにより、データ10@を消去するまで苧永久
的に保持する。
(発明が解決しようとする問題点)
通常のEFROMは、一度データを書込んでも、11″
を保持しているメモリセルの20−ティングゲートには
電子の注入i二なされていないので、さらにIfolを
書込むことができる。したがりて、誤操作等により書込
み済のEFROMのデータの上にさらに違ったデータを
書込み、最初のデータを破壊する可能性があるという欠
点がありた。
を保持しているメモリセルの20−ティングゲートには
電子の注入i二なされていないので、さらにIfolを
書込むことができる。したがりて、誤操作等により書込
み済のEFROMのデータの上にさらに違ったデータを
書込み、最初のデータを破壊する可能性があるという欠
点がありた。
本発明の目的は、一度書込んだデータの上に誤操作等に
よっても再び書込めない林にしたB F ROM装置を
提供することにある。
よっても再び書込めない林にしたB F ROM装置を
提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
不発明のEFROM製りは、本来記憶装置としてデータ
を記憶するメモリセルのアドレス領域外に、このアドレ
スとは別に選択できしかもメモリセルと同様(で消去讐
込みができる笛2のセルを有し、この第2のセルの嘗込
み状態によってメモリセルへの書込みを禁止する手段を
有して構成されることを特徴とする。
を記憶するメモリセルのアドレス領域外に、このアドレ
スとは別に選択できしかもメモリセルと同様(で消去讐
込みができる笛2のセルを有し、この第2のセルの嘗込
み状態によってメモリセルへの書込みを禁止する手段を
有して構成されることを特徴とする。
(原理と作用)
本発明は、一度書込んだデータを消去しない限り半永久
的にデータを保持するEFROMの特性を利用したもの
で、本来記憶3Af2としてデータを記憶するアドレス
に対応するメモリセル以外に、メモリセルと同様に消去
書込みができる第2cセルを有し、この鶏2のセルに畳
込みをすることによってメモリセルへの書込みt−禁示
する回路を動作させる。第2のセルに書込まれた内容を
消去することによりメモリセルへの査込み禁止が触除さ
れて通常の書込みができる。
的にデータを保持するEFROMの特性を利用したもの
で、本来記憶3Af2としてデータを記憶するアドレス
に対応するメモリセル以外に、メモリセルと同様に消去
書込みができる第2cセルを有し、この鶏2のセルに畳
込みをすることによってメモリセルへの書込みt−禁示
する回路を動作させる。第2のセルに書込まれた内容を
消去することによりメモリセルへの査込み禁止が触除さ
れて通常の書込みができる。
(実施例)
次に不発シjo実施例について図面を参りし″C説明す
る。本発明のEFROMは本来記憶装置としてデータを
記憶するメモリセルp(以後、セル群lと称する)のア
ドレス領域外に、セル群1への書込みを禁止する回路を
制御する第2のセルを有しており、この第2のセルを選
択するためにはEPROMのアドレス入力1に1本以上
追加する必要がある。しかし、第1図のように少なくと
も1つのコンパレータlを内蔵し任意のアドレス入力端
子Adnに接続することにより、本発明のE F RO
Mを一般のEFROMやマスクROMと同一のピン配置
で実現することができる。尚、2はアドレス入力端子A
dnからのアドレス信号を受けるアドレスバッファであ
る。
る。本発明のEFROMは本来記憶装置としてデータを
記憶するメモリセルp(以後、セル群lと称する)のア
ドレス領域外に、セル群1への書込みを禁止する回路を
制御する第2のセルを有しており、この第2のセルを選
択するためにはEPROMのアドレス入力1に1本以上
追加する必要がある。しかし、第1図のように少なくと
も1つのコンパレータlを内蔵し任意のアドレス入力端
子Adnに接続することにより、本発明のE F RO
Mを一般のEFROMやマスクROMと同一のピン配置
で実現することができる。尚、2はアドレス入力端子A
dnからのアドレス信号を受けるアドレスバッファであ
る。
第2図鉱本発明のBP”aoMで使用され第1図に示し
たコンパレータ1の特性の一例で、アドレス人力Ad
nがアドレス信号として取り得る電圧範囲、すなわちO
vから電源電圧(以下、Vcc と称する)範囲内では
、;ンバレータ1の出力Ad mはGNDレベルlO1
であり、 Vccレベルをこえる電圧が入力嘔れるとA
dmはVcc レベル111となる。なお、第2図では
Vccより大きな電圧(”Hi“レベル)が入力すると
Admが11″となる例を示したが、これに限定されな
いことは無論である。
たコンパレータ1の特性の一例で、アドレス人力Ad
nがアドレス信号として取り得る電圧範囲、すなわちO
vから電源電圧(以下、Vcc と称する)範囲内では
、;ンバレータ1の出力Ad mはGNDレベルlO1
であり、 Vccレベルをこえる電圧が入力嘔れるとA
dmはVcc レベル111となる。なお、第2図では
Vccより大きな電圧(”Hi“レベル)が入力すると
Admが11″となる例を示したが、これに限定されな
いことは無論である。
第3図にコンパレータ1(第19)の出力A d mが
“olのときに選択ぢれるメモリセル群のアドレス3と
、Admが111のときに選択されるセルのアドレス4
のマツプの一例である。第3区から明らかなように本来
、記憶装量としてデータを記憶するアドレス領域外にA
dmがIIIのとき に選択されるセルのアドレス値域
がある。
“olのときに選択ぢれるメモリセル群のアドレス3と
、Admが111のときに選択されるセルのアドレス4
のマツプの一例である。第3区から明らかなように本来
、記憶装量としてデータを記憶するアドレス領域外にA
dmがIIIのとき に選択されるセルのアドレス値域
がある。
第4図は本発明の一実施例である。5は、セル群1のア
ドレス領域外にある曹き込み判別用セルであり、この七
/L15が消去てれた状態ではセル5の70−ティング
ゲートには電子はない。したがってセル群lへの畜込み
が可能となっている。豊き込みに除して、セル群1を選
択する時、すなわちAdm = ” O”のときは、イ
ンベータ6の出力a点は1111になり、Nチャンネル
MO8)ランジスタフ、8か導通してb点・C点はとも
に60”となる。NチャンネルMO8)ランジスタ9は
非導通となる。したがりて、セ/I15のコントロール
ゲートdの電位は11ルベルとなりC点は101となる
。C点の電位を受けるインバータ10の出力はハイレベ
ルとなり、AND回路11はゲートを開く。この結果、
AND回路11の出力VP3には信号VP2に依存した
レベルが出力される。
ドレス領域外にある曹き込み判別用セルであり、この七
/L15が消去てれた状態ではセル5の70−ティング
ゲートには電子はない。したがってセル群lへの畜込み
が可能となっている。豊き込みに除して、セル群1を選
択する時、すなわちAdm = ” O”のときは、イ
ンベータ6の出力a点は1111になり、Nチャンネル
MO8)ランジスタフ、8か導通してb点・C点はとも
に60”となる。NチャンネルMO8)ランジスタ9は
非導通となる。したがりて、セ/I15のコントロール
ゲートdの電位は11ルベルとなりC点は101となる
。C点の電位を受けるインバータ10の出力はハイレベ
ルとなり、AND回路11はゲートを開く。この結果、
AND回路11の出力VP3には信号VP2に依存した
レベルが出力される。
13から15は負荷MO8)ランジスタで、16はvp
p電圧供給端子、17はVcc電圧供給端子である。
p電圧供給端子、17はVcc電圧供給端子である。
一方、Adm=”l”にするとa点ハ@O”K:l、b
点・eAはともにVpI)レベルとなり、セル5の:ン
トロールグー)dモVppレベルになりセル5の20−
テインググートには電子が注入され、セルgのしきい値
が高くなる。これによりセル5にデータが書込まれる。
点・eAはともにVpI)レベルとなり、セル5の:ン
トロールグー)dモVppレベルになりセル5の20−
テインググートには電子が注入され、セルgのしきい値
が高くなる。これによりセル5にデータが書込まれる。
この状態で、Adm=”Q”にすると、前記と同様にa
点はIII、b点・C点はともに10″となり、セル5
のコントロールゲートdの電位は@1ルベルになるが、
セル5のしきい値が高くなっているのでC点はVPpレ
ペルのままであり、この結果、AND回路12の出′力
VP3はVF6のレベルにかかわらず常にIolとなる
。
点はIII、b点・C点はともに10″となり、セル5
のコントロールゲートdの電位は@1ルベルになるが、
セル5のしきい値が高くなっているのでC点はVPpレ
ペルのままであり、この結果、AND回路12の出′力
VP3はVF6のレベルにかかわらず常にIolとなる
。
VF6は書込み制御信号であり、第4図のようにVF2
0代わりにVF6を使用することにより一ル5が書込ま
れた状態ではセル群1への書込みができず誤書込みの危
険がない。そして、セル5を消去することにより再び書
込みができるようになる。
0代わりにVF6を使用することにより一ル5が書込ま
れた状態ではセル群1への書込みができず誤書込みの危
険がない。そして、セル5を消去することにより再び書
込みができるようになる。
信号VP3は、例えば第5図のように使用することがで
きる。すなわち、VF6がIIIになるとNチャンネル
MO8)ランジスタ18が導通しデータ端子19からの
書込むデータが、トランジスタ20乃至23でなる二段
のインバータを介してfAK現われセル群IK伝播され
る。一方%VP3が−o1になるとDATA端子19の
データにかかわらずf点はIIIとなりセル群1のデー
タは保持される。
きる。すなわち、VF6がIIIになるとNチャンネル
MO8)ランジスタ18が導通しデータ端子19からの
書込むデータが、トランジスタ20乃至23でなる二段
のインバータを介してfAK現われセル群IK伝播され
る。一方%VP3が−o1になるとDATA端子19の
データにかかわらずf点はIIIとなりセル群1のデー
タは保持される。
(発明の効果)
本発明は以下説明したように、EP几OM装置の本来記
憶装置としてデータを記憶するメモリセル群のアドレス
領域外に、前記アドレスとは別に選択できしかも前記メ
モリセルと同様に消去書込みができる少なくとも一つの
第2のセルを有し、前記第2のセルの書込み状態により
て前記メモリセルへの書込みを禁止する手段を有して構
成することにより、一度省込んだデータの上に誤操作等
によっても再び書込めない効果がある。
憶装置としてデータを記憶するメモリセル群のアドレス
領域外に、前記アドレスとは別に選択できしかも前記メ
モリセルと同様に消去書込みができる少なくとも一つの
第2のセルを有し、前記第2のセルの書込み状態により
て前記メモリセルへの書込みを禁止する手段を有して構
成することにより、一度省込んだデータの上に誤操作等
によっても再び書込めない効果がある。
第1図は本発明に使用する=7バレータのブロック図で
、第2図は第1図に示した=ンバレータの特性の一例で
ある。第3図は本発明を使用したメモリセ〃のアドレス
マツプの一例である。第4図及び第59は本発明の一実
施例を示す回路図である。 17・・・・・−Vcc供給端子、16・・・・・・V
Pp供給端子、6.10・・・・・・インバータ、11
・・・・・・AND回路芽 1 図 茅2
図 茅3 図
、第2図は第1図に示した=ンバレータの特性の一例で
ある。第3図は本発明を使用したメモリセ〃のアドレス
マツプの一例である。第4図及び第59は本発明の一実
施例を示す回路図である。 17・・・・・−Vcc供給端子、16・・・・・・V
Pp供給端子、6.10・・・・・・インバータ、11
・・・・・・AND回路芽 1 図 茅2
図 茅3 図
Claims (1)
- データの書込みおよび消去ができる複数のメモリセル
のアドレス領域外に、前記アドレスとは別に選択できし
かもデータの消去書込みができる少なくとも一つの付加
セルを有し、前記付加セルの書込み状態によって前記メ
モリセルへの書込みを禁止する手段を備えたことを特徴
とする記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59223237A JPS61101856A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59223237A JPS61101856A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61101856A true JPS61101856A (ja) | 1986-05-20 |
Family
ID=16794945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59223237A Pending JPS61101856A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61101856A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6386049A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-16 | Nec Corp | マイクロコンピユ−タ |
JPS63165934A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-07-09 | エステーミクロエレクトロニクス ソシエテ アノニム | 消去及び再書き込み可能なrom用保護装置 |
JPH01150297A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-13 | Nec Corp | データ保護回路付eeprom |
JPH01181146A (ja) * | 1988-01-13 | 1989-07-19 | Fujitsu Ltd | シングルチップマイクロコンピュータ |
US6611404B1 (en) | 1998-03-12 | 2003-08-26 | Teac Corporation | Disk apparatus having voice coil motor with two coils having different numbers of turns |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5538624A (en) * | 1978-09-05 | 1980-03-18 | Sanyo Electric Co Ltd | Nonvolatile semiconductor memory device |
JPS56112666A (en) * | 1980-02-13 | 1981-09-05 | Nec Corp | Semiconductor integrated circuit |
-
1984
- 1984-10-24 JP JP59223237A patent/JPS61101856A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5538624A (en) * | 1978-09-05 | 1980-03-18 | Sanyo Electric Co Ltd | Nonvolatile semiconductor memory device |
JPS56112666A (en) * | 1980-02-13 | 1981-09-05 | Nec Corp | Semiconductor integrated circuit |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6386049A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-16 | Nec Corp | マイクロコンピユ−タ |
JPS63165934A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-07-09 | エステーミクロエレクトロニクス ソシエテ アノニム | 消去及び再書き込み可能なrom用保護装置 |
JPH01150297A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-13 | Nec Corp | データ保護回路付eeprom |
JPH01181146A (ja) * | 1988-01-13 | 1989-07-19 | Fujitsu Ltd | シングルチップマイクロコンピュータ |
US6611404B1 (en) | 1998-03-12 | 2003-08-26 | Teac Corporation | Disk apparatus having voice coil motor with two coils having different numbers of turns |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5197034A (en) | Floating gate non-volatile memory with deep power down and write lock-out | |
EP0224125B1 (en) | Sense amplifier for a non-volatile memory | |
JP3421526B2 (ja) | デ−タ処理装置 | |
US4727519A (en) | Memory device including a clock generator with process tracking | |
US6307783B1 (en) | Descending staircase read technique for a multilevel cell NAND flash memory device | |
US6614683B1 (en) | Ascending staircase read technique for a multilevel cell NAND flash memory device | |
US4758748A (en) | Sense amplifier for programmable read only memory | |
US5428580A (en) | Nonvolatile semiconductor memory having an address-transition-detection circuit | |
JPH0793223A (ja) | 記憶情報保護回路 | |
US5301151A (en) | High voltage level converter | |
US4951257A (en) | Reference setting circuit for determining written-in content in nonvolatile semiconductor memories | |
JPS61101856A (ja) | 記憶装置 | |
US4849942A (en) | Protection device for an erasable and reprogrammable read only memory | |
US5563824A (en) | Nonvolatile semiconductor memory device and method of erasing stored data thereof | |
US5483485A (en) | Nonvolatile semiconductor system with automatic over erase protection | |
US5892711A (en) | Sector protection circuit for a flash memory device | |
JP2925138B2 (ja) | 不揮発性半導体メモリ | |
JPS61249156A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPS63106852A (ja) | 電気的にプログラム可能な不揮発性メモリのプログラミング用の安全デバイス | |
JP2825217B2 (ja) | フラッシュメモリ | |
KR930001653B1 (ko) | 불휘발성 반도체 기억장치 | |
US5617354A (en) | Sensing circuit to enhance sensing margin | |
US6839282B2 (en) | Semiconductor nonvolatile memory for performing read operations while performing write operations | |
KR100319635B1 (ko) | 과소거 방지 회로 | |
KR100233282B1 (ko) | 플래쉬 메모리의 섹터 비보호 검사/감지 회로 |