JPS6097225A - ドツプラ−式光センサ - Google Patents

ドツプラ−式光センサ

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Publication number
JPS6097225A
JPS6097225A JP58205117A JP20511783A JPS6097225A JP S6097225 A JPS6097225 A JP S6097225A JP 58205117 A JP58205117 A JP 58205117A JP 20511783 A JP20511783 A JP 20511783A JP S6097225 A JPS6097225 A JP S6097225A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
wave
thin film
lens
polarized light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58205117A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiji Nishino
清治 西野
Kentaro Setsune
瀬恒 謙太郎
Kiyotaka Wasa
清孝 和佐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58205117A priority Critical patent/JPS6097225A/ja
Publication of JPS6097225A publication Critical patent/JPS6097225A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/04Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はドツプラ一式光センサに関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年レーザの著しい発達により、レーザを光源とした測
定機が種々考案されている0著名なものとしては速度を
測定するドツプラーレーザ、ファイバーの熱膨張を利用
した温度センサ、又光学式ビデオディスク、コンパクト
ディスク等に使用されている光学ヘッド系も一つの反射
光量式センサと見なすことができる0これ等の光センサ
は一部で実用化されているが、従来の光学系はビームス
プリッタ、レンズ等のガラスの1かたまり”を使用して
いるため、重くて体積も大きく、かつ温度に対して不安
定、光軸調整が容易でない等、種々の問題がある。
ここで従来のドツプラ一式光センサの例を第1図にて説
明する0 レーザー光源1より出たレーザー光線は音響光学式変調
器2(以下ム0と記す)を通過し、ブラッグ回折により
0次光3と一次元4に分離され、0次光3は%板6、ミ
ラー6、偏光ビームスプリッタ−7、レンズ8を通過し
受光素子9上で絞り込まれる。−次光4は同様に偏光ビ
ームスプリッタ−7、λ4板10を通過し、円偏光に変
換されMfflll定物lll什物)へ投射される。こ
の被測定物からの反射11は被測定物の速度Vにより±
Δf = 2 ”/、。(λo i光源波長)なるドツ
プラー効果を受けるここで十符号は被測定物が接近する
場合、−符号は被測定物が遠ざかる場合に生ずる。
この反射光11は角度、4板1oを通過することにより
、偏光ビームスプリッタ7で反射されレンズ8によシ絞
り込まれ、0次光と干渉しながら光ディテクタ9に投射
される。この干渉縞は二光線(0次光と一次光)の周波
数に差がある場合、干渉縞が周波数差だけ移動する。し
だがって、光検出器9には光の周波数差の周波数が現わ
れる。ここで光の周波数差を考える場合、AO2により
回折された一次光4はAO2の中を走る間に、A。
2の第2図に示す超音波周波数fc12だけドツプラー
周波数偏移を受けていることに注意しなければならない
。したがって、このように構成された光ト諏プラーレー
ザーにおいて、光デイテクタ−9から得られる信号は第
2図に示されるとおシである。第2図において、fc1
2はム02の超音波周波数13は」−Δf114は−Δ
fの出力を示している。
ところで、第1図のような構成でドツプラーレーザーセ
ンサを光IC化することは困難である。
これらの原因は、次のとおりである。
(1)薄膜導波路を用いた光ICの場合、現有の技術で
良好な偏光ビームスプリッタ7を製作することが出来な
い。
(21AO2、λろ板10、偏光ビームスプリツタ7等
構成部品が多くて、たとえこのまま光IC化が可能とな
っても、小型化することは不可能である。
発明の目的 本発明は、小形、軽量化されたドツプラ一式光センサを
得ることを目的とする。
発明の構成 本発明は、光線を分岐するミラーと、TE波をTM波に
TM波をTE波に変換しTE波とTM波に対して相異な
るブラッグ角を有するAO素子(音響光学式変調器)と
を誘電体薄膜からなる光導波路内に一体集積し、かつ先
送出端外部に偽板等の直線偏光を円偏光に変換する素子
を配置することを特徴とするものである。
実施例の説明 本発明の実施例を第3図に示し、以下この図にしたが−
って具体的に説明する。
TE波を発振する半導体レーザ21から出た光は平面レ
ンズ22を通ってコリメイトされ平行光23となり、A
O素子24に送られる。
第4図は薄膜2oに形成されたAO素子部分の拡大図で
ある。この人O素子24は一般に異方性ブラッグAO素
子と呼ばれ、立体素子の場合には非常に作りにくい素子
であり一般的に使用できないことが、たとえば” R,
W、 Dixon、 ”AcousticDiffra
ction of Light in Anisotr
opic Media”I E E E vol、QE
−3,No、2.February 1967 P、8
5〜P、93”に示されている。しかし、この異方性ブ
ラッグAO素子は薄膜の場合簡単に製作することができ
る。このことは、°′中鉢氏等、ムppliadphy
sics Letters、 vol、 2e、1’1
0.7.1.Apri11975゜P362”にも示さ
れている。
本発明の特徴は異方性ブラッグAO素子24を使用する
ことにより、この人O素子と偽板という少ない素子の組
み合わせにより効率的に光ドツプラ一式光センサを構成
し、かつこの人O素子は薄膜光導波路の場合簡単に作製
できるということにもとづいている。
この素子24の特徴は、入方向からのTE波がブラッグ
回折を受けると同時にTM波となり、C方向に進むとい
うことである。一方、C方向から進んで来たTM波とな
り、A方向へ回折される。
逆にA方向からTM波が送られた場合には、回折を受け
ずD方向へ直進する。又、B方向からのTE波は回折さ
れず、C方向へ直進する0異方性ブラツグAO素子24
と従来のAO素子との差違は薄膜素子の場合にはAO素
子24と光線の交わる角度を特定の条件を満足するよう
に設定すれば容易に得られることである。
今、TE波の平行光23はAO素子24とはブラッグ条
件を満足しないから、直進して進み、再びレンズ25に
よって絞り込まれる。一般的に、この平面レンズ25の
焦点位置は、薄膜導波路外へ無収差状態で送出されるた
めには薄膜導波路のへき開面26上になければならない
から、絞り込捷れた等方性スポット光点はこのへき開面
26上にある。したがって、この点に微小レンズ又はQ
。25ピツチ長のセルホックレンズ等のコリメーター系
2γを置くことで、自由空間に平行光線を形成すること
ができる。この平行光線の光路中に偽板28を設置する
ことにより直線偏光は円偏光となり、被測定物へと送ら
れる。被測定物からの反射光は再びλ4板28を通り、
元の光とは偏波面が9Q0回転される。したがって、セ
ルフォック等のコリメータ糸27により薄膜導波路に戻
された光はTM波となり、23の方向へ進む○AO24
はC方向から入射するTM波に対しては前述のとと<T
E波に変換すると同時にブラッグ回折を受け、Aの方向
へ進み、レンズ22により光線29となり、ディテクタ
ー(検知素子)3Q」二に絞り込まれる。一方、ディテ
クター3oにはミラー31(0,2μmピッチ深さ0.
1μm程度のグレイテングにより容易に製作可能)によ
り半導体レーザ21より出た光の一部分が反射され、光
32が投影されているから、前述第2図で述べた信号が
得られることとなる。
第6図はこの薄膜ドツプラ一式光センサをビデオディス
クあるいはコンパクト用読み出し光センサとして使用す
る場合を示す。この場合には、端面から直接光を取り出
すか、又は第3図のごとく0.5 P以上の長さを有す
るセルホックレンズ27を入れても良い。この場合、送
出光は広がり光となっているから、対物レンズ33の口
径一杯に送出光は照射されるから、送出光は対物レンズ
33によってディスク面34で回折限界まで絞り込まれ
ることになり、微小ピット信号を読み出すことができる
。ディスク面34からの反射光は前述のように光路によ
り第3図のディテクター30に戻されるから、ディテク
ター3oには微小ピットによる回折により映像信号とデ
ィスクの移動速度の信号を同時に得ることができる。し
たがって、本発明のドツプラ一式光センサを用いること
により、光学系をきわめて簡単にすることができる。
発明の効果 このように本発明はレンズ、ミラー、異方性ブラッグ回
折を有するAO素子を薄膜一体化していることにより、
安定かつ軽量、小形化をはかることができる。
【図面の簡単な説明】 第1図はバルク素子使用による従来のドツプラ一式光セ
ンサの概略構成図、第2図は受光素子に得られるドツプ
ラー信号のスペクトラム図、第3図は本発明の一実施例
のドツプラ一式光センサの概略平面図、第4図は薄膜異
方性AO素子の拡大平面図、第6図は本発明を用いたビ
デオディスク。 CDのピックアップ光学系の要部構成図である。 2Q・・・・・・薄膜、21・・・・・・半導体レーザ
ー、22.25・・・・・・平面レンズ、24・・・・
・・薄膜異方性AO素子、26・・・・・・薄膜導波路
へきかい面、27・・・・・・コリメート系レンズ、3
3・・・・・・対物レンズ、34・・・・・・ディスク
。 第 2 図 第3図 1114図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光線を分岐し、そのうち一方を送出光とし、この送出光
    による物体からの反射光と前述の他方の光とを受光素子
    上で干渉させるドツプラ一式光センサであって、銹電体
    薄膜からなる光導波路内に、光線の一部を反射する素子
    と、TE波をTM波にTM波をTE波に変換しかつTE
    、TM波に対して相異なるブラッグ角を有する音響光学
    式変調素子とが配置されており、かつ先送出端外部に直
    線偏光を円偏光に変換する素子を装置したことを特徴と
    するドツプラ一式光センサ。
JP58205117A 1983-11-01 1983-11-01 ドツプラ−式光センサ Pending JPS6097225A (ja)

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JP58205117A JPS6097225A (ja) 1983-11-01 1983-11-01 ドツプラ−式光センサ

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JP58205117A JPS6097225A (ja) 1983-11-01 1983-11-01 ドツプラ−式光センサ

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JPS6097225A true JPS6097225A (ja) 1985-05-31

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JP58205117A Pending JPS6097225A (ja) 1983-11-01 1983-11-01 ドツプラ−式光センサ

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JP (1) JPS6097225A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62145545A (ja) * 1985-12-18 1987-06-29 Sharp Corp ピツクアツプ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62145545A (ja) * 1985-12-18 1987-06-29 Sharp Corp ピツクアツプ装置

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