JPS6092732A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、眼の屈折力を他覚的に測定する眼屈折力？ｌ
Ａｌ装定、２に関する。殊に、本発明は、測定ターゲッ
トを被検眼の眼底に投影し、そのターゲツト像の眼底に
おける結像状態により眼屈折力を知るようになった眼屈
折力Ｊ！■定装置に関する。

〔従来技術〕

従来の眼屈折力測定装置として、出願人が既に特開昭！
；ｇ−／ｋｇ３９号で提案したものがある。

この眼屈折力測定装置は、測定ターゲットからの一対の
光束を選択的に被検眼眼底へ投影するだめの測定ターゲ
ット投影光学系と、前記一対の光束な光紬回りに回転さ
せる手段とを有し、径線に沿ってターゲットを投影して
、該ターゲットの該径憩上での結像状態を測定ターゲッ
ト結像光学系により検出し、その検出信号により前記一
対の光束の中１ひを含む径線方向での被検眼の屈折度に
変換するもので、ｉ造が一易化されまたｍｌ定速度が速
いビ侍徴がある。

〔従来技術の欠点〕

しかし、上記した眼屈折力測定装置は、被検者がまばた
きをする際に測定することを想定されていす、被検者が
測定時Ｋまばたきをしたときには測定不能又は、誤測定
の原因となるものであった。

〔本発明の目的〕

本発明は、前述したような、ターゲット投影方式の眼屈
折力測定装置において、まばたきによる誤測定を防止で
きるようにすることを目的とする。

〔発明の構成〕

上記の目的を達成するため、本発明による眼屈折力測定
装置は、複数のターゲットとターゲットからの光束を被
検眼眼底の少なくともｔつの径線方向へ投影するための
測定ターゲット投影光学系と、眼底に投影された測定タ
ーゲツト像からの光束を結像させる測定ターゲット結像
光学系と、前記結像光学系により結像されたターゲツト
像位置をａ次元的に検出する検出装置と、前記検出装置
の出力から、前記少なくともグっの径線方向の測定位相
差をそれぞれ演算する測定位相差演算手段と、前記検出
装置の出力に応じて近似位相差曲線を演算し、近似位相
差をめる近似位相差演算手段と、各径線方向に応じた測
定位相差と近似位相差との差をめる偏差検出手段と、上
記偏差検出手段で検出した偏差を予め定められた最大許
容偏差とを比較する比較手段と、比較手段の出力が前記
最大許容偏差を越える偏差を示すときにこれに対応する
測定位相差を除いて眼屈折力の決定を行なう手段とから
構成される。

本発明は測定ターゲット投影方式であって、この測定タ
ーゲットの眼底上での少なくともグ径線方向の結像位遣
を検出する型式に適用されるものであり、少なくとも、
ダつの測定ターゲットを異なる径線上に有し、この測定
ターゲットを光軸上に移動させたときの移動前後のター
ゲツト像位置変動量を検出し眼屈折力をめる形式にも、
あるいは測定ターゲットを光軸中心に少なくともｔつの
径線方向に回転させて各径線ごとのターゲツト像位置を
検出する形式にも適用できる。

以下、本発明の眼屈折力測定装置の測定原理な図につい
て説明する。第１図を参照すると、ターゲットＴと対物
レンズ２とからなる測定ターゲット投影光学系が設けら
れ、ターグツ）Ｔは、第１図に実線および点線で示すよ
うに分離された投影光束により被検眼Ｅの眼底に一つの
径線に沿って投影される。このためには、たとえばター
ゲットＴを絞り開口により形成し、その背後に光軸を挾
んで径線方向に離隔して２個の光源１１、Ｉ２を設け、
レンズ２を介してターゲットＴを被検眼しに投影すれば
よい。本発明においては、ターゲットの投影は、少くと
もｔつの径線に沿って行なわれるのであるが、その方法
としては、たとえば上述の光源を少（ともダつの径線に
沿って少くともｔ組設けるか、あるいは光源の対を光軸
まわりに回転させて少なくともｔつの径線に沿った位置
に置けばよい。このように各径線に沿って投影されたタ
ーゲットＴの眼底における像０１．０２からの反射光は
、測定ターゲット結像光学系を構成するレンズ３により
検出装置４′の受光面上に結像される。

検出装置４は、眼底におけるターゲツト像０１．０２の
位置に関係する信号を出方し、その出方は測定位相差演
算手段５と近似位相差演算手段６に入力される。測定位
相差演算手段５は、検出装置４出力から、各径線におけ
るターゲツト像０１、ｏ２の距離に関する信号を、第２
図に示すように、その径線方向のｆ！Ｉ定位相差Ａ、Ｂ
、Ｃ，Ｄとして出方する。近似位相差演算手段６は検出
装置４からの出力に基づいて光軸を中心とする／１００
の範囲における位相差を第２図にＥで示すように近似的
に演算決定する。次いで、測定位相差演算手段５および
近似位相差演算手段６の出方は偏差検出手段７に入力さ
れ、この偏差検出手段７は各径線における測定位相差Ａ
、Ｂ、０％０と近似位相差Ｅとを比較して、その差に相
当する偏差信号を発生する。この偏差信号は、比較手段
８において最大許容偏差信号と比較され、偏差信号が大
きいときは、その径線の測定位相差を除いて残りの径線
の測定位相差に基づいて、屈折力の決定を屈折力決定手
段９が行なう。たとえば、第２図において、測定位相差
Ｏと近似位相差Ｅとの差が最大許容値より大きいばあい
Ｋは、残りの測定位相差Ａ、Ｂ。

Ｃにより眼屈折力が決定される。

本発明においては、位相差演算手段、近似位相差演算手
段、偏差検出手段、比較手段および屈折力決定手段の全
部または一部は、一つのマイクロコンピュータに適当な
プログラムを加えて実施することができる。

〔発明の効果〕

本発明は、上述のように、少くともｔつの径線について
得られた測定位相差を、それら位相差に基づく近似位相
差と比較し、その結果得られた偏差により、それらの測
定位相差が屈折力決定に使用できるかどうかを判別する
ので、被検眼が検眼中にまばたきをした場合であっても
、そのまばたきが最終結果として、決定される眼屈折力
に大きな影響を与え誤測定となることを防止できる。

〔実施例の説明〕

光学系の構成 第３図は、本発明の一実施例を示す光学系の概略図であ
る。第３図に示す光学系は、測定ターゲットを被検眼眼
底に投影するターダット投影光学系５０と、被検眼眼底
の測定ターゲツト像を測定光学、ｉ５１に投影するター
ゲット受光光学系５２と、被検眼の規準線を固定する固
視目標系５３と、被検眼と本装置との位置関係を示す照
準光学系５４とからイ薄成され、以下各光学系について
詳説する。

ターゲット投影用光学系５０は、第３図に示すように、
光軸を中心に配置された一対の赤外線光源１１ａ％　ｌ
ｌｂとして赤外線光源１１へｌｌｂからの光をそれぞれ
集光する集光レンｒ１２ａ。

１２ｂ、平行光を作るコリメータレンズ１３と、円形開
口絞り１４を有する測定ターゲット１５と、結像レンズ
１６と、投影用結像レンズ１７と、赤外光に関するハー
フミラ−１Ｂ及び長波長部の赤外光を反射し可視部とこ
れに近接した赤外光を透過する特性を有するダイクロイ
ックミラー１９とから構成される。上記一対の赤外線光
源１１ａ。

１１ｂは高速度で交互に点灯し、また該両源１１８％ｌ
ｌｂは一体となって光軸を中心に口伝可能に構成され、
かつ測定ターダツ）１５は光軸方向へ移動可能に構成さ
れる。一対の赤外線光源１１ａ、１１ｂからの光は、そ
れぞれ１ｉ４光レンズ１２ａ、１２ｂによって集光され
、さらにコリメータレンズ１３により平行光にされて円
形開口絞り１４に斜に入射する。円形開口絞り１４を通
過した光は、結像レンズ１６により点Ｐ１　の位置に結
像した後、投影用結像レン、ｅ１７を通り、ハーフミラ
−１８及びダイクロイックミラー１９により反射されて
被検眼Ｅに入射する。ここで、赤外線光源１１ａ、ｌｌ
ｂの像は被検眼Ｅの瞳孔位置に結像し、また測定ターゲ
ット１５０円形間口絞り１４の像は被検眼の眼底Ｐ２に
結像する。そして、測定ターゲット１５と被検眼Ｅの眼
底Ｐ２　とが共役な位置関係にあるときには、赤外線光
源１１ａからの光によって照明された円形開口絞り１４
の像と、赤外線光源１１ｂからの光によって照明された
円形開口絞り１４の像とが、眼底Ｐ２の同一位置に結像
される。他方、測定ターゲット５と接種１１ｉ１Ｅの眼
底Ｐ２　とが共役な位置関係にないときには、上記各赤
外線光源からの光によって照明された円形開口絞り１４
の像が眼底Ｐ２　の分離したコケ所にそれぞれ結像する
。本発明においては、光軸上に固定された測定ターダッ
）１５の円形開口絞り１４の眼底Ｐ２における像が、赤
外線光源１１ａ及びｌｌｂの交互点灯によって合致する
か分離するかを弁別し、分離している時にはその分団距
離を測定し、その測装置及びその時の測定ターゲットの
位置から被検眼の屈折力を演出する。

ターゲット受光光学系５２は、第３図に示すように、ダ
イク鴛イックミラー１９の反射光路およびハーフミラ−
１８の透過光路上に形成され、受光用対物レンズ２０と
、ミラー２１と、受光用対物レンズ２０に関し被検眼角
膜と共役な位置に配置された角１漢反射光遮断絞り２２
とリレーレンズ２３とによって構成される。上記角膜反
射光遮断絞り２２は、第７図に示すように、中央にほぼ
円形の孔を有し、光軸通過位置に関し対称な２個所に突
出遮光部２２ａ、２２ｂが形成された絞り板である。ま
た、上記角膜反射光遮断絞り２２は、赤外線光源１１ｅ
、ｌｌｂが光軸回りに回転するとき、この回転運動に連
動して回転するように構成されている。さらに、上記角
膜反射光遮断絞り２２は、リレーレンズ２３の前側焦点
位置に配置されて、リレーレン／ｅ２３による投影光学
系はテレセン光学系に構成する。リレーレンズ２３は、
測定ターゲットに連動して光軸方向に移動可能に構成す
る。

以上の構成において、被検眼ｇ已底Ｐ２　の測定ターゲ
ツト像は、ダイクロイツクミン−１９により反射され、
ハーフミラ−１８を通過したのち、受光用対物レンズ２
０、ミラー２１、リレーレンズ２３によって、後に詳説
する洞窟光学系５１内に投影される。この時、被検眼角
膜からの有害反射光は、反射光遮断絞り２２の突出遮光
部２２ａ１２２ｂによって除来される。また、角膜反射
光遮断絞り２２とリレーレンズ２３とはテレセン光学系
を構成しているから、測定光学系５１に結像される測定
ターゲツト像は、光軸に平行な主光縁からなる光束によ
って構成され、結像位置の前後においても測定ターゲツ
ト像である円孔像の中心位置が変位しない性質を有する
。

測定光学系５１は、第Ｓ図に示すごとくハーフミラ−５
５、ミラー５６、リレーレンズ５７、ミラー５８、チョ
ッＡ？５９、集光レンズ６０及び受光素子６１からなる
Ｘ方向検出系８６と、ハーフミラ−５５の反射光路上に
設けたミラー６２、リレーレンズ６３、チョッ”−５９
１［；レンズ６４及び受光素子６５からなるＹ方向検出
系８７と、発光素子６６、集光レンズ６７．６８、受光
素子６９かうなる基準信号発生系８８とから構成される
。チョッパー５９は円周方向に連続したスリット群を有
し、光軸を中心に回転する。

以上の構成において、上記ターゲット受光光学系５２及
びＸ方向検出系８６と忙よって、被検眼眼底Ｐ２　の測
定ターゲツト像がチョッパー５９の上部５９ａの近傍に
投影される。同時に、上配り＝ゲット受光光学系５２及
びＹ方向検出系８７によって、被検眼眼底Ｐ２　の測定
ターゲツト像がチョッパー５９の側部５９ｂの近傍に投
影される。

ここで、測定ターゲット１５と被検眼眼底Ｐ２　とが共
役関係にない場合、第７図に示すごとく赤外線光源１１
　ａ　ｒ　１　ｌ　ｂからの光によって形成される円形
絞り像３０ａ、３０ｂおよび３０　ａ’　３０ｂ’は、
Ｘ方向に△ｘ、Ｙ方向にΔｙだけ分離してスリット群上
に投影される。赤外線光源１１ａを点灯し、その光によ
る円形絞り像３０ａをチョッパー５９によって走査した
ときの受光素子６１からの信号と、赤外線光源１１ｂを
点灯し、その光による円形絞り像３０ｂをチョッパー５
９によって走査したときの受光素子６１からの信号との
位相差から△Ｘを算出する。同様に、円形絞り像３０８
′　と３０ｂ′　とをチヨ”７ノ４−５９によって走査
したときの受光素子６５からの信号の位相差から△ｙを
算出する。ここで、上記測定ターゲット１５と被検眼眼
底Ｐ２　との共役関係、被検眼Ｅの乱視度及びチロツノ
４−５９上における円形絞りｅ　３０　ａ　、３０　ｂ
　（ＯＭ　係ヲＷＪＩ　明スルｏ　光ｍ　１１　ａ　＊
１１ｂは垂直方向からθだけ回転した位置に並んで配置
されているものとする。すなわち測定径線方向は垂直方
向からθだけ回転した方向であるとする。

ｆｉｌ　上記測定ターゲット１５と被検眼眼底Ｐ２　と
が共役関係にあり、被検ｍ　Ｅが乱視を含まない場合、
第７図Ａに示すように、チョッパー５９上において円形
絞り像３０ａ、３０ｂが光軸通過位置に重なって投影さ
れる。すなわち、△×＝△ｙ　＝　Ｏである。

（２）上記測定ターグット１５と被検眼眼底Ｐ２　とが
共役関係になく、被検眼Ｅが乱視を含まない場合あるい
は乱視を含む場合で被検眼Ｅの主径線と光源１１ａ、ｌ
ｌｂによる測定径線方向が一致する場合には、第７図Ｂ
に示すように、チョッパー５９上において円形絞り像３
０ａ。

３０ｂは測定径線方向に分離して投影される。

；３）上記測定ターゲット１５と被検眼眼底Ｐ２　とが
共役関係になく、被検眼Ｅが乱視を含み、かつ被検眼Ｅ
の主径線と光源１１ａ、ｌｌｂからなる測定径線方向が
異なる場合には、第７図Ｃに示すように、チョッパー５
９上において円形絞り像３０ａ　、３０ｂが測定径線方
向及びそれに直角な方向に分離して投影される。

本実施例においては、第７図に示すように水平方向、垂
直方向の分離量ΔＸ、△ｙを検出し、この検出結果より
測定径線方向の分離量に変換し、測定径線方向の眼屈折
力を検出するものである。

前述の変換をすることにより、光源１１８゜１１ｂだけ
を回転するだけで、各測定径線方向での眼屈折力をめる
ことができる。

同視目標系５３は、第３図に示すように、可視光光源３
１、集光レンズ３２、光軸方向に移動可能な固視ターゲ
ット３３、ミラー３４、投影レンズ３５、可視光を反射
し赤外光を透過するグイクロイツクミ２−３６により構
成される。

以上の構成において、可視光光源３１からの光は、集光
レンズ３２を介して固視ターゲット３３を照明する。固
神１ターゲット３３からの光は、ミラー３４、投影レン
ズ３５、ダイクロイックミラー３６を介し、さらに前記
ダイクロイックミラー９を通過して被検眼Ｅに投影され
る。被検者は、固視ターゲット３３を注視することによ
り規準方向を固定する。また、被検眼は常に遠方視の状
態であることを要し、同視ターゲット３３は光軸方向に
移動可能とし視検眼が遠方視となる位置に調節される。

照準光学系５４は、ハーフミラ−１９およびダイクロイ
ックミラー３６の透過光路上に設けらた投影レンズ３６
ａ１ハーフミラ−３７及び撮像管３８からなり、またハ
ーフミラ−３７０反射光軸上に光源４０、集光レンズ４
１、規準板４２、ミラー４４及び投影レンズ４５を有す
る。撮像管３８はモニターテレビ３９に連結されている
。規準板４２は、第ｇ図に示すように、中央に円、その
周辺に放射線をもった規準スケール４３を有する。

上記のように構成された照準光学系において、撮像管３
８には、投影レンズ３６ａによる被検眼εの前眼部像と
、投影レンズ４５による規準スケール４３の像が重ねて
投影される。検者はモニターテレビ３９を見て、被検眼
の瞳孔像の中心と規準スケール４３の像とが一致して被
検眼の光軸とターゲット投影用光学系５０、ターゲット
受光光学系５２０光軸とが一致するように、被検眼に対
し本装置を上下左右に移動させる。

次に、本装置の電気回路の構成を第９図のブロック図に
基いて説明する。制御回路１０１は、電源スィッチ１０
２、測定スイッチ１０３、チロツノ４−駆動回路１０４
、光源駆動回路１０５、測定ターグツト駆動回路１０６
、固視ターゲット駆動回路１０７、測定ターグツト光源
回転駆動回路１０８、測定検出部１０９及び演算処理部
１１０に連結され、所定プログラムによりこれらを制御
する。

チョツノや一駆動回路１０４はチョツ／４’−１９を回
転スるモーター１１２に連結され、これを駆動する。光
源駆動回路１０５は基準信号用発光素子２６及び測定タ
ーゲット光源１ａ、ｌｂに連結され、これを点灯する。

測定ターゲット駆動回路１０６は測定ターゲット５を光
軸上で移動させるモーター１１４に連結され、これを駆
動する。固視ターゲット駆動回路１０７は固視ターゲッ
トを光軸上で移動させるモーター１１６に連結され、こ
れを駆動する。測定ターゲット光源回転駆動回路１０８
は測定ターゲット５を光軸中心に回転駆動するモーター
１１８に連結され、これを回転駆動する。受光素子２９
は基準信号用発光索子２６で発光されチョツノ！−１９
を通過した光を受光し、基準信号を増幅回路１２０に入
力する。増幅回路１２０は波形整形回路１２２に、波形
整形回路１２２は第１位相差検出回路１２４及び第２位
相差検出回路１２６に連結されている。測定ターゲット
光源１ａ、ｌｂで発光されチョツ／＃−１９０上部１９
ａを通過した光を受光する受光素子２１は、増幅回路１
２７に連結され、さらに、増幅回路１２７はＡＧＣ回路
１２８に、ＡＧＣ回路１２８は波形整形回路１３０に、
波形整形回路１３０は第１位相差検出回路１２４に連結
されている。同様に、測定ターグツト光源１ａ＋１ｂで
発光されチョッパー１９の側部１９ｂを通過した光を受
光する受光素子２５は、増幅回路１３２に連結され、さ
らに１増幅回路１３２はＡＧＣ回路１３４に、ＡＧＣ回
路１３４は波形整形回路１３６に、波形整形回路１３６
は第２位相差検出回路１２６に連結されている。第１位
相差検出回路１２４は波形整形回路１２２の出力する基
準矩形波と波形整形回路１３０の出力する矩形波との位
相差を検出し、位相差信号Ｘａ　として出力する。同様
に、第２位相差検出回路１２６は波形整形回路１２２の
出力する基準矩形波と波形整形回路１３６の出力する矩
形波との位相差を検出し、位相差信号Ｙａ　として出力
する。第１位相差検出回路１２４と第一位相差検出回路
１２６とは測定位相差演算回路１３８に連結され、さら
に、測定位相差演算回路１３８は演算処理部１１０に連
結されている。

上記測定位相差演算回路１３８は、発光素子１１ａ＋１
１ｂを点灯したときに第１位相差検出回路１２４が出力
する位相差信号Ｘａとｘｂとの測定位相差△Ｘと、同じ
く発光素子１１ａ、ｌｌｂを点灯したときに第２位相差
検出回路１２６が出力する位相差信号ＹａとＹｂとの測
定位相差△Ｙとを演算する。

この測定位相差ΔＸ、△Ｙが第７図における、円形絞り
像３０ａ、３０ｂのＸ方向及びＹ方向での分離量△Ｘ、
Δｙに対応する。演算処理部１１０は、下記の式（５）
を使用して、ターゲット光源駆動回路からの信号である
測定ターゲット光源の回転位置角度θｌ　と上記測定位
相差△Ｘ＋　、△Ｙ１とから測定経線方向の分離量に対
応する測定位相差Δｐθ１を以下の（５）式に従い算出
する。

ΔＰθｔ＝ΔＸ１ｃｏｓ（ｌｉ＋ΔＹｓ　Ｉｎθｌ　（
１）この測定位相差△Ｐθ１　は、測定経線方向での円
孔絞り像の分離量Δに変換され、この分離量Δから屈折
力を算出する原理で前述した次式に従〜・測定経線方向
θでの被検眼屈折力Ｄθ　を算出する。

△＝　ｍ／Ｘ（Ｄθ−ＤＴ）　（２） ここに％　ｍ　＋被検眼に対する絞りの結像倍率ｆ：リ
レーレンズの焦点距離 Ｘ：被検眼瞳孔におけるコ光束の間隔 ＤＴ＝ディオシター換算値 本測定の場合には、少なくとも弘経線方向でのＤθ（Ｄ
θ１　＊　Ｄθ２　＊　０９５＋　Ｄθ４）を算出する
。このＯθ４．Ｄθ２１Ｄθ３．Ｄθ４は球面度数なＡ
、乱視度数を８．乱視軸をαとすると、次式で表わされ
る。

この結果より、球面度数Ａ１乱視度数８、乱視軸αをめ
表示器１４２に出力する。

上述の方法では、測定経線方向の分ｌｉ９．ｔに対応す
る測定位相差ΔＰａｌのみから球面度数Ａ１乱視度数Ｂ
、乱視軸ａを算出しＣいるが、乱視度数日１乱視軸αに
関しては、以下の算出方法が有効である。すなわち、測
定位相差ΔＸＩ　、△Ｙ１　から（５）式に従い測定経
線方向の分離量に対応する位相差△Ｐθ１を算出すると
は別に、次式に従い、測定経線方向とは直角な方向の分
離量に対応する測定位相差６円１を算出する。

△ｐＨ＝−ＡＸｌｓｌｎθ：＋△ＹｌｃｏｓθＩ（４）
この結果算出された△Ｐｉｔは（３）式と同様に下記の
（８）式で表わされる。

ΔＰＬＩ　＝＝　ａ　ｃｏｓ　２　（θ、−α）△Ｐ１
４　””　Ｂ　Ｃｏｇ　２　（θ４−α）すなわち、こ
の算出でめた△Ｐｉｔは球面度数Ａには影響を受けない
。このことは、測定期間中の被検眼の調節、すなわち球
面度数への変動に影響されないことを意味するものであ
る。（５）式から乱視度Ｂ１乱視軸αをめると、測定期
間中の被検者の測定に影響されずに、高精度な乱視度数
Ｂ及び乱視軸αの検出結果を得ることが可能である〇な
お、この場合においても、球面度数Ａを算出するには、
（１）　、　ｆ３）式を用いる点に関しては同様である
。

上記のように構成された電気回路の作動は以下の通りで
ある。電源スィッチ１０２がＯＮにされ、照準光学系５
４を使用して被検者の光軸とターゲット投影用光学系５
０、ターピット受光光学系５２の光軸とが一致させられ
る。また制御回路１０１により、チョツノ？−１９が回
転し、基準発光素子２６が点灯し、またターゲット投影
用光学系の光源１ａ、ｌｂが交互に点灯する。これらの
回転と点灯は測定が終了するまで継続される。さらに制
御回路１０１の制御により、測定ターゲット駆動回路１
０６がモーター１１４を駆動して測定ターゲット１５を
所定位置例えば＋６デイオノターの位置に移動し、また
同視ターゲット駆動回路１０７がモーター１１６を駆動
して同視ターゲット３３を所定位置例えば十コθディオ
プターの位置に移動し、さらに測定ターピット光源回転
駆動回路１０８がモーター１１８を駆動して測定ターゲ
ット１５の光源１１ａ、１１ｂの並び方向を鉛直（回転
角θ＝０°　）の位置に回転移動する。

以上で予備測定の準備を終了する。

次に制御回路１０１の制御により、受光素子６１．６５
．６９がそれぞれの信号光を受光して、前述の回路構成
に従い、演算処理部１１０は核子午面（θ＝θ°　）に
おける円孔絞り像の分ｌｌ！ＩＰｉｌに相当する位相差
△Ｐθ０を算出する。この△Ｐθ０は円孔開口像の分離
ｆＫ変換され、その時の測定ターゲット１５の位置によ
り該子午面（θ＝θ°　）における被検眼の屈折力を算
出する。この算出結果は、測定ターゲット１５の移動量
に変換され制御回路１０１に入力される。この信号によ
り、制御回路１０１は測定ターゲット駆動回路１０６を
制御し、モーター１１４によりθ＝０°における測定経
線方向の被検眼屈折力に対応した位置すなわち測定ター
グツ）１５と被検眼眼底とがほぼ共役な関係となる位置
まで測定ターゲット１５の位置より遠方に移動される。

この状態で測定ターゲット１５、固視ターゲット３３を
固定し、以下の本測定に入る。このように予備測定の結
果移動固定された測定ターゲット１５の位置は本測定の
量変化させない。

上記予備測定は、測定ターゲット１５の位置を被検眼眼
底とほぼ共役な位置に設定することにより、以下の本測
定の精度をより向上させるために有効である。

本測定においては、予備測定において述べた検出を同様
に行なう。本測定においては、制御回路１０１の信号に
より測定ターゲット光源回転駆動回路１０８はモーター
１１８を駆動し、測定ターゲット光源１１ａ、ｌｌｂを
光軸を中心として順次回転し、測定径線方向での測定位
相差Ｏθ　を測定位相差演算回路１３８により算出する
。この測定は、少なくともｌ／Ｌ径線方向で行いその時
の位相差をＰＯ２，ＰＯ２，ＰＯ３，ＰＯ４で示す。本
測定時の演算処理部１１０の演算処理フローチャートは
第１Ｏ図に示す。

本測定が開始され、上述のように測定位相差演算回路１
３８から各径線の測定位相差が入力され、これが第１ス
テツプとなる。第１ステツプはその各測定位相差から前
述の（５）式の係数Ｂを最少２乗法によってめ、これに
よってめられた曲線は近似位相差曲線でありこれが近似
位相差曲線演算手段に該当する。第３ステツグは、測定
位相差と近似位相差との比較をするためめられた近似位
相差曲線に基づいて測定位相差のある径線方向の近似位
相差を演算するもので近似位相差演算手段Ｖｃｍ当する
。第１ステツプは各径線ごとの測定位相差と近似位相差
との偏差を減算によってめるものである。第５ステツプ
は請求められた偏差が予め定められた最大許容偏差より
大きいか否かを判別し、抽出するものである。

被検眼のまばたきによって生じた正常の値から隔だった
測定位相差は、このステップで抽出されることとなる。

第６ステツプでは、第３ステツプで抽出された偏差を生
じさせた径線の測定位相差を、削除する。第７ステツプ
は、削除された後の残余の測定位相差、すなわちまばた
きの生じていない時の検出値の数を計数し、３以上であ
るかどうかを判別する。ここでその数が３以上であれば
第１ステツプへ進行するが、３未満となれば最小−乗法
により屈折力がめられないため第１ステツプへもどり再
測定となる。第１ステツプは、残余の測定位相差を用い
て（３）式又は（３）式と（５）式で再び畢少コ乗法に
よる近似位相差曲線を演算する。

第９ステツプでは、近似位相差曲線から屈折力（球面度
数Ａ、乱視度数８１乱視軸α）を演算しめる。第１Ｏス
テツプは請求められた屈折力を適当に表示するものであ
る。

本実施例においては、予備測定を／経線方向で行なった
が、コ経線方向以上の方向での測定を行なってもよいこ
とは云うまでもない。また、／経線方向で予備測定を行
った後、コ経線方向以上で再度予備測定を行ない、より
本測定の精度も高めることも可能である。さらに１本実
施例においては、本測定の前に予備測定を行っているが
、予備測定を行わず直接本測定を行うように構成しても
、本発明を有効に実施して本発明の効果を得ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の作動原理を説明するための説明図、第
２図は本発明における信号処理を説明する図表、第３図
は本発明の一実施例の光学図、第グ図は第３図の実施例
の角膜反射光遮断絞りの正面図、第Ｓ図は測定光学系の
光学図、第６図は第左図に示す測定光学系の測定原型の
覗、切回、第７図は同じく測定光学系の測定原理の説明
図、第３図は実施例の固視ターゲットの正面図、第９図
はこの実施例に用いられる電気回路のブロック図、第１
θ図は演算処理回路の作動を示すフローチャートである
。 １１　ａ　＊　１１　ｂ・・・・・・赤外線光源、１４
・・・・・・円形開口絞り、　１７・・・・・・投影用
結像レンズ、１８・・・・・・赤外光に関するハーフミ
ラ−１１９・・・・・・グイクロイックミラー、６１・
・・・・・受光素子、６９・・・・・・受光素子、５０
・・・・・・ターゲット投影光学系、５１・・・・・・
測定光学系、　５２・・・・・・・・・ターゲット受光
光学系、５３・・・・・・固視目標系、５４・・・・・
・照準光学系、１０１・・・・・・制御回路、１０２・
・・・・・電源スィッチ、１０３・・・・・・測定スイ
ッチ、１０４・・・・・・チョッｉｊ−駆動回路、１０
５・・・・・・光源駆動回路、１ｏ６・叩・測定ターゲ
ット駆動回路、１０７・・・・・・固視ターゲット駆動
回路、１０８・・・・・・測定ターゲット光源回転駆動
回路、１ｏ９・・面測定検出部、１１ｏ・曲・演算処理
部、１４２・・面表示器。 出願人　東京光学機械株式会社 第７図 第８囚

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）測定ターゲットからの光束を被検眼眼底の少なく
   ともｔつの径線上へ投影するための測定ターゲット投影
   光学系と、眼底に投影された測定ターゲツト像からの光
   束を結像させる測定ターダット結像光学系と、前記結像
   光学系により結像されたターゲツト像位置を２次元的に
   検出する検出装置と、前記検出装置の出力から前記少な
   くとも７つの径線方向の測定位相差をそれぞれ演算する
   測定位相差演算手段と、前記検出装置の出力に応じて近
   似位相差曲論を演算し近似位相差をめる近似位相差ａ算
   手段と、各径線方向の測定位相差と近似位相差との差を
   める偏差検出手段と、上記偏差検出手段で検出した偏差
   を予め定められた最大許容偏差とを比較する比較手段と
   、比較手段の出力が前記最大許容偏差を越える偏差を示
   すときに、これに対応する測定位相差を除いて残りの測
   定位相差で被検眼の屈折力の決定を行なう手段とを有す
   ることを特徴とする眼屈折力測定装置。