JPS6091385A - Thin film electrochroluminescence display panel - Google Patents

Thin film electrochroluminescence display panel

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Publication number
JPS6091385A
JPS6091385A JP20041383A JP20041383A JPS6091385A JP S6091385 A JPS6091385 A JP S6091385A JP 20041383 A JP20041383 A JP 20041383A JP 20041383 A JP20041383 A JP 20041383A JP S6091385 A JPS6091385 A JP S6091385A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
thin film
display panel
panel
insulator layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20041383A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
佐野 興志雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP20041383A priority Critical patent/JPS6091385A/en
Publication of JPS6091385A publication Critical patent/JPS6091385A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は変流電界の印加によってエレクトロルミネッセ
ンスを呈する薄膜エレクトロルミネッセンス素子(以下
薄膜EL素子という)を用いた表示パネルに関するもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a display panel using a thin film electroluminescent element (hereinafter referred to as a thin film EL element) that exhibits electroluminescence upon application of a changing electric field.

従来交流動作の薄膜BL素子においては、輝度と発光効
率を改善し、長時間にわたる動作の安定性を得るために
、発光中心として0.5〜3mo1%のMnあるいはT
b?、+SmF3.PrFs等を添加したZnS。
Conventionally, in thin-film BL elements operating on AC, 0.5 to 3 mo1% of Mn or T is used as the luminescent center in order to improve brightness and luminous efficiency and to obtain long-term operation stability.
b? , +SmF3. ZnS added with PrFs etc.

Zn5e等の半導体層を、Y2O3あるいはAl40s
 。
Semiconductor layer such as Zn5e, Y2O3 or Al40s
.

PbTiOs、EaTi03,5iaN<等の絶縁層で
両側よりはさんだいわゆる二重絶縁構造の薄膜EL素子
が用いられていた。
A thin film EL element having a so-called double insulation structure, which is sandwiched from both sides by insulating layers of PbTiOs, EaTi03, 5iaN, etc., has been used.

従来の二重絶縁型薄膜EL素子の基本構造の一例を第1
図に示す。
An example of the basic structure of a conventional double-insulated thin film EL element is shown in the first example.
As shown in the figure.

第1図において、1はガラス基板、2はIn2O3゜5
n02 z TTOあるいは金属薄膜等からなる基板側
透明電極、3はその上に電子ビームあるいはスパッタ蒸
着法等により蒸着されたY2O5、Al20s *Pb
Ti()m 、BaTiOs 、S i sNa等の基
板側絶縁体層、4はそ(7)上に蒸着されたMn 、T
bF3.SmFs 、Prys等の発光中心を含むZn
Sの半導体層でおる。この半導体層4も電子ビーム蒸着
法あるいはスパッタ蒸着法等によシ製造される。5は半
導体J1!4の上に蒸着された背面側范縁体層であり、
蒸着法及び材料は絶縁体層3と同様である。6はさらに
その上に蒸着されたktまたはITO等よりなる背面電
極であシ、7はEL素子を駆動する交流電源で、透明電
極2と背面電極6とに接続されている。
In Figure 1, 1 is a glass substrate, 2 is In2O3°5
n02 z Transparent electrode on the substrate side made of TTO or metal thin film, etc. 3 is Y2O5, Al20s *Pb deposited thereon by electron beam or sputter deposition method, etc.
Substrate side insulator layer such as Ti()m, BaTiOs, SisNa, etc., 4 is Mn, T deposited on the (7)
bF3. Zn containing luminescent centers such as SmFs and Prys
It is covered with a S semiconductor layer. This semiconductor layer 4 is also manufactured by an electron beam evaporation method, a sputter evaporation method, or the like. 5 is a backside frame layer deposited on the semiconductor J1!4;
The vapor deposition method and materials are the same as those for the insulator layer 3. Reference numeral 6 is a back electrode made of KT or ITO, which is further deposited thereon, and 7 is an AC power source for driving the EL element, which is connected to the transparent electrode 2 and the back electrode 6.

次にEL素子の発光原理を第1図に示す構造の素子につ
いて簡単に説明する。
Next, the light emission principle of an EL element will be briefly explained with respect to the element having the structure shown in FIG.

半導体層4は発光開始前は単純なコンデンサと考えられ
る。従って電極2と6との間に電源7の交流電圧を印加
すると、半導体層4及び絶縁体層3.5には各々の静電
容量に応じた電圧が加えられる。半導体層4に加えられ
る電界が十分高くなると(約10°V/cr、、以上)
、半導体層4の伝導体に電子が励起される。この電子は
電界によって加速され発光中心を衝突励起するのに十分
なエネルギーを持って発光中心に衝突する。これにょシ
適当な励起状態にあがった発光中心の電子が基底状態へ
戻る際に、発光中心に固有なエネルギー値を持った光が
放出される。実際には結晶格子との相互作用等によシ発
光スペクトルはある程度の拡がシを持つ。前にらげた発
光中心であるMn、TbFs rSmFs、PrFs等
はその発光エネルギーが可視領域にあるため、強い発光
が観測されることになる。
The semiconductor layer 4 is considered to be a simple capacitor before the start of light emission. Therefore, when an AC voltage from the power source 7 is applied between the electrodes 2 and 6, a voltage corresponding to the capacitance of each is applied to the semiconductor layer 4 and the insulator layer 3.5. When the electric field applied to the semiconductor layer 4 becomes sufficiently high (approximately 10°V/cr, or more)
, electrons are excited in the conductor of the semiconductor layer 4. These electrons are accelerated by the electric field and collide with the luminescent center with sufficient energy to collisionally excite the luminescent center. When the electrons in the luminescent center that have risen to an appropriately excited state return to the ground state, light with an energy value unique to the luminescent center is emitted. In reality, the emission spectrum is broadened to some extent due to interaction with the crystal lattice. Since the emission energy of Mn, TbFs, rSmFs, PrFs, etc., which are the emission centers facing forward, is in the visible region, strong emission is observed.

上記の説明から明らかなように薄膜EL素子は一対の電
極2と6とが向かいあっている部分においてのみ発光す
るものである。この性質を利用すると多数の画素からな
る、文字まだは図形を表示することが可能な表示パネル
を作製することができる。すなわち電極2及び6をスト
ライプ状電極とし、さらにストライプ状とした電極2と
6が直交するよう((シ、各々の電極を独立に駆動す九
ばよい。このような構造を持つ薄膜EL素子による表示
パネル(以下マトリックスパネルという)の従来の一例
を第2図に示す。第2図において8けストライプ状とな
った基板側透明電極、9は該透明電極に直交するように
作られたストライプ状背面電極である。原理的には第2
図の構造によってマトリックスパネルが構成されるので
あるが、実際にこのようなパネルを作製すると次のよう
な欠点のあることが明らかとなった。すなわち第2図に
おいて基板側透明電極8がストライプ状であるためにそ
のエツジ部分で絶縁体層3及び5、半導体層4、及びス
トライプ状背面電極9に段差のある部分を生じる。この
段差は特に絶縁体層3において顕著であシ、該絶縁体層
30段差部分の膜厚が極端に薄くなる。このためこの段
差部分において納経破壊の確率が異常に高くなる。従っ
て従来のマトリックスパネルにおいては、基板側透明電
極をストライプ状とすることで該マトリックスパネルの
破壊電圧が、該基板側透明電極が平らな場−合にくらべ
てかなシ低下する欠点を有していた。
As is clear from the above description, the thin film EL element emits light only in the portion where the pair of electrodes 2 and 6 face each other. Utilizing this property, it is possible to produce a display panel that is made up of a large number of pixels and can display characters and graphics. In other words, the electrodes 2 and 6 are striped electrodes, and the striped electrodes 2 and 6 are perpendicular to each other. An example of a conventional display panel (hereinafter referred to as a matrix panel) is shown in Fig. 2. In Fig. 2, 8 transparent electrodes on the substrate side are formed in stripes, and 9 is a stripe formed perpendicular to the transparent electrodes. This is the back electrode.In principle, it is the second electrode.
A matrix panel is constructed according to the structure shown in the figure, but when such a panel is actually manufactured, it has become clear that it has the following drawbacks. That is, in FIG. 2, since the substrate-side transparent electrode 8 is striped, stepped portions are formed at the edges of the insulating layers 3 and 5, the semiconductor layer 4, and the striped back electrode 9. This step difference is particularly noticeable in the insulator layer 3, and the thickness of the step portion of the insulator layer 30 becomes extremely thin. For this reason, the probability of failure in this stepped portion becomes abnormally high. Therefore, in conventional matrix panels, the breakdown voltage of the matrix panel is significantly lowered by forming the transparent electrodes on the substrate side in a striped shape compared to when the transparent electrodes on the substrate side are flat. Ta.

本発明は薄膜EL素子を用いたマトリックスパネルにお
いて、その絶縁破壊電圧が、基板側透明ストライプ電極
によシ生じる絶縁体層の段差部分において低下する問題
を解決することを目的とするものであシ、本発明はマト
リックスパネルの基板側透明ストライプ電極を基板に埋
め込み、該基板表面を平坦化することを特徴とするもの
である。
The present invention aims to solve the problem in a matrix panel using thin-film EL elements that the dielectric breakdown voltage decreases at the stepped portion of the insulating layer caused by the transparent stripe electrode on the substrate side. The present invention is characterized in that transparent stripe electrodes on the substrate side of a matrix panel are embedded in the substrate, and the surface of the substrate is flattened.

以下図面によって本発明の詳細な説明する。The present invention will be explained in detail below with reference to the drawings.

第3図は本発明を適用したマl−IJックスバネルの断
面図である。図において、1oは絶縁体層3を蒸着する
以前に独立に作製したY z Os よフなる絶縁体層
である。該絶縁体層10は次に述べる方法で作製した。
FIG. 3 is a sectional view of a Mar-IJ xbanel to which the present invention is applied. In the figure, 1o is an insulating layer made of Y z Os that was independently produced before the insulating layer 3 was deposited. The insulator layer 10 was produced by the method described below.

・まずフォトレジストを使用して1.TOをストライプ
状にエツチングした。この状態を第4図(イ)に示す。
・First, use photoresist 1. TO was etched into stripes. This state is shown in FIG. 4(a).

第4図(イ)において11はITOのパターンを残すた
めのレジスト残存部分である。次に第4図0)の状態に
あるパネル基板上にY2O3を真空蒸着法によりITO
の膜厚と同じだけ蒸着した。
In FIG. 4(A), reference numeral 11 indicates a remaining portion of the resist for leaving an ITO pattern. Next, Y2O3 was deposited on the panel substrate in the state shown in Figure 4 (0) using a vacuum evaporation method to form ITO.
The same film thickness was deposited.

この状態を第4図(ロ)に示す。第4図(ロ)において
12は上記の工程で蒸着したY2O3よりなる絶縁体層
である。次にフメトレジスト専用溶剤を用いて残存して
いるフォトレジストを溶かし去り第4図(ハ)に示す断
面を有するパネル基板を得た。該基板上に従来のマド1
(ツクスパネルを作製する場合と同様の工程により基板
側絶縁体層3、半導体7i!4、背面側絶縁体層5、及
びストライプ状背面電極9を作製して第3図の構造を有
するマ) IJフックスネルを作製した。
This state is shown in FIG. 4(b). In FIG. 4(b), 12 is an insulating layer made of Y2O3 deposited in the above process. Next, the remaining photoresist was dissolved using a solvent exclusively used for fumetresist to obtain a panel substrate having the cross section shown in FIG. 4(c). A conventional mask 1 is placed on the board.
(The substrate-side insulator layer 3, the semiconductor 7i!4, the back-side insulator layer 5, and the striped back electrode 9 are fabricated by the same process as in the case of fabricating the TS panel, and the matrix has the structure shown in FIG. 3.) IJ Fuchsnell was produced.

また本発明を適用したマトリックスパネルの他の実施例
を第5図に示す。第5図において13 は溝を切ったガ
ラス基板であシ、14はこの溝を埋めるように形成され
たITOよシなる基板側透明スドライブ電極である。溝
を切ったガラス基板13は、パターン形成にフォトレジ
ストを用い、アルゴンによるスパッタエツチングによシ
作製した。
Another embodiment of the matrix panel to which the present invention is applied is shown in FIG. In FIG. 5, 13 is a glass substrate with a groove cut therein, and 14 is a substrate-side transparent strip drive electrode made of ITO formed to fill this groove. The grooved glass substrate 13 was fabricated by sputter etching with argon using photoresist for pattern formation.

エツチング後フォトレジストを残したまま、ガラス基板
13の溝の深さに等しい膜厚のITOを蒸着し、その後
フォトレジストを除去することで基板側透明ストライプ
電極14を形成した。
After etching, while leaving the photoresist, ITO was deposited to a thickness equal to the depth of the groove in the glass substrate 13, and then the photoresist was removed to form a transparent stripe electrode 14 on the substrate side.

上記した二つの実施例のいずれの場合も基板側絶縁体層
3に段差部分が存在せず従って該絶縁体層3の膜厚の極
端に薄い部分がない。従ってかかるマトリックスパネル
においては絶縁体層3の段差部分における絶縁破壊がな
くなυ、信頼性の高いマトリックスパネルが得られる。
In either of the two embodiments described above, there is no stepped portion in the substrate-side insulating layer 3, and therefore there is no extremely thin portion of the insulating layer 3. Therefore, in such a matrix panel, there is no dielectric breakdown at the stepped portion of the insulating layer 3, and a highly reliable matrix panel can be obtained.

またこの場合には、半導体層4、背部側絶縁R5、及び
ストライプ状背面電極9においても基板側透明ストライ
プ電極8に起因する段差がなくなるため、これらの段差
を原因とする破壊が減少し、マ) IJックスバネルの
信頼性がさらに向上する。また従来は絶縁体層3の段差
部分におけるマトリックスパネルの絶縁破壊を防止する
ために絶縁体層3を厚くする必要があったが本発明の構
造を適用することによシ該絶縁体層3の膜厚を薄くする
ことが可能で6J)、これによシマトリックスパネルの
動作電圧を低減させ、よυ使いやすくすることができる
効果を有する。
In this case, the semiconductor layer 4, the back side insulator R5, and the striped back electrode 9 also have no step difference caused by the transparent stripe electrode 8 on the substrate side, so damage caused by these steps is reduced, and the mark ) The reliability of IJ xbanel is further improved. Furthermore, in the past, it was necessary to increase the thickness of the insulator layer 3 in order to prevent dielectric breakdown of the matrix panel at the step portion of the insulator layer 3, but by applying the structure of the present invention, the thickness of the insulator layer 3 can be increased. It is possible to reduce the film thickness (6J), which has the effect of reducing the operating voltage of the matrix panel and making it easier to use.

さらに本発明はマトリックスパネルのみならず、基板側
透明電極及び背面電極を任意のパターンに作製した薄膜
エレクトロルミネジセンスノくネルに適用して上述した
と同様の効果をもたらしうるものである。
Furthermore, the present invention can be applied not only to matrix panels but also to thin film electroluminescent channels in which substrate-side transparent electrodes and back electrodes are formed in arbitrary patterns to bring about the same effects as described above.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は基本的な二重絶縁型薄膜EL素子の断面図、第
2図は薄膜EL素子を用いた従来のマトリックスパネル
の断面図、第3図及び第5図はネルの作製工程を示す断
面図でおる。図において、1・・・・・・ガラス基板 2・・・・・・ITO等よシなる基板側透明電極3・・
・・・・Y z Os等よりなる基板側絶縁体層4・・
・・・・Mn等の発光中心を含むZn8等の半導体層5
・・・・・・Y ! Os等よシなる背面側絶縁体層6
・・・・・・AA等よシなる背面電極7・・・・・・E
L素子駆動用交流電源8・・・・・・基板側透明ストラ
イプ電極9・・・・・・背面ストライプ電極 10・・・・・・マトリックスパネルにおいて段差のな
い基板側絶縁体層を得るために挿入した絶イブ状にエツ
チングするためのフォトレジスト残存部 12・・・・・・10の絶縁体層を得るために蒸着した
Y2O3等よりなる絶縁体層 13・・・・・・基板側透明ストライプ電極用の溝を切
ったガラス基板
Figure 1 is a cross-sectional view of a basic double-insulated thin-film EL device, Figure 2 is a cross-sectional view of a conventional matrix panel using thin-film EL elements, and Figures 3 and 5 show the fabrication process of the flannel. This is a cross-sectional view. In the figure, 1...Glass substrate 2...Substrate side transparent electrode 3 made of ITO or the like.
...Substrate side insulator layer 4 made of Y z Os, etc.
... Semiconductor layer 5 such as Zn8 containing a luminescent center such as Mn
...Y! Back side insulator layer 6 such as Os etc.
・・・・・・Back electrode 7 other than AA etc.・・・E
AC power supply for driving the L element 8...Substrate side transparent stripe electrode 9...Back stripe electrode 10...For obtaining a substrate side insulator layer without steps in a matrix panel Insulator layer 13 made of Y2O3 etc. deposited to obtain an insulator layer of the inserted photoresist remaining portion 12 for etching in the form of an insulating strip 10...transparent stripe on the substrate side Glass substrate with grooves cut for electrodes

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1) 薄膜エレクトロルミネッセンス素子を用いたマ
トリックスアドレス型表示パネルにおいて、該パネルの
基板側ストライプ電極が基板に埋め込まれ該基板表面が
平担化されていることを特長とする薄膜エレクトロミネ
ッセンス表示パネル。
(1) A matrix addressed display panel using thin film electroluminescent elements, characterized in that stripe electrodes on the substrate side of the panel are embedded in the substrate and the surface of the substrate is flattened. panel.
JP20041383A 1983-10-26 1983-10-26 Thin film electrochroluminescence display panel Pending JPS6091385A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20041383A JPS6091385A (en) 1983-10-26 1983-10-26 Thin film electrochroluminescence display panel

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JP20041383A JPS6091385A (en) 1983-10-26 1983-10-26 Thin film electrochroluminescence display panel

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6091385A true JPS6091385A (en) 1985-05-22

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ID=16423903

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20041383A Pending JPS6091385A (en) 1983-10-26 1983-10-26 Thin film electrochroluminescence display panel

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JP (1) JPS6091385A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04107286U (en) * 1991-02-26 1992-09-16 三洋電機株式会社 organic electroluminescent display device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH04107286U (en) * 1991-02-26 1992-09-16 三洋電機株式会社 organic electroluminescent display device

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