JPS61176011A - Formation of transparent electrode - Google Patents

Formation of transparent electrode

Info

Publication number
JPS61176011A
JPS61176011A JP1675485A JP1675485A JPS61176011A JP S61176011 A JPS61176011 A JP S61176011A JP 1675485 A JP1675485 A JP 1675485A JP 1675485 A JP1675485 A JP 1675485A JP S61176011 A JPS61176011 A JP S61176011A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
transparent electrode
insulating film
glass
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1675485A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
小西 庸雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Original Assignee
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd, Kansai Nippon Electric Co Ltd filed Critical Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Priority to JP1675485A priority Critical patent/JPS61176011A/en
Publication of JPS61176011A publication Critical patent/JPS61176011A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、透明電極の形成方法に関し、特に薄膜EL
マトリ・フクスパネルにおける多数のストライプ状の透
明電極を形成する場合に利用されるつ従来の技術 従来、交流動作の薄膜KL素子に関して、発光層に規則
的に高い電界(10@v/ctn程度)を印加し、絶縁
耐圧、発光効率及び動作の安定性等を高めるために、0
.1〜1.OwtチのMTI(あるいはCu 、 11
%Br等)をドープしたZnS 、Zn5e等の半導体
発光層をY、01、’ra、o、等の誘電体薄膜でサン
トイ、ソチした三層構造ZnS:Mn(又はZn5e:
、Mn)KL素子が開発され、発光緒特性の向上が確か
められている。この薄膜KL素子は1kKHzの交流電
界印加によって高輝度発光し、しかも長寿命であるとい
う特徴を有している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application This invention relates to a method for forming transparent electrodes, and in particular to a method for forming transparent electrodes.
Conventional technology used to form a large number of striped transparent electrodes in Matri-Fuchs panels Conventionally, for AC-operated thin film KL elements, a high electric field (about 10@v/ctn) is regularly applied to the light-emitting layer. In order to improve the dielectric strength, luminous efficiency, and operation stability, etc.,
.. 1-1. MTI (or Cu, 11
A three-layer structure ZnS:Mn (or Zn5e:
, Mn)KL elements have been developed, and improvements in light emitting characteristics have been confirmed. This thin-film KL element emits high-intensity light upon application of an alternating current electric field of 1 kHz, and is characterized by long life.

薄膜KL素子の1例としてZnS:Mn薄膜KL素子の
基本的構造を第3図に示す。
FIG. 3 shows the basic structure of a ZnS:Mn thin film KL element as an example of a thin film KL element.

第3図に基づいて薄膜FiL素子の構造を具体的に説明
すると、硬質かつ透明の前面ガラス基板1上にIn、 
O,、Sn O,等の透明電極2、更にその上に積層し
てY、08、T’ z O8%A t!O@、S 1s
N4 、 SiOx等からなる第1の誘電体層3がスバ
、フタあるいは電子ビーム蒸着法等により形成されてい
る。第1の誘電体層a上にはZnS:Mn焼結ベレ・フ
トを電子ビーム蒸着することにより得られるZnS発光
層4が形成されている。この時蒸着用のZnS:Mn焼
結ベレットには活性物質となるMnが目的に応じた濃度
に設定されたベレ、フトが使用される。
To specifically explain the structure of the thin film FiL element based on FIG. 3, In,
A transparent electrode 2 made of O,,SnO, etc. is further laminated on top of the transparent electrode 2 of Y,08,T' z O8%A t! O@, S 1s
A first dielectric layer 3 made of N4, SiOx, or the like is formed by a sublayer, a lid, an electron beam evaporation method, or the like. A ZnS light-emitting layer 4 is formed on the first dielectric layer a by electron beam evaporation of a ZnS:Mn sintered bottom. At this time, a ZnS:Mn sintered pellet for vapor deposition is used, in which the concentration of Mn, which is an active substance, is set to a concentration depending on the purpose.

ZnS発光層4上には第1の誘電体層3と同様の材質か
ら成る第2の誘電体層5が積層され、更にその上にAt
等から成る背面電極6が蒸着形成されている。透明電極
2と背面電極6は、それぞれ第4図に示すようにストラ
イプ状に成形され、互いに直交する如く複数本配列され
たマ) !J 、、、クス電極構造が採用されており、
透明電極2と背面電極6が平面図的に見て交叉した位置
7(図示斜線部分)がパネルの1画素に相当する。透明
電極2と背面電極6はそれぞれスイ、ソチ8.9を介し
て交流電源10に接続され、薄膜EL素子が駆動される
A second dielectric layer 5 made of the same material as the first dielectric layer 3 is laminated on the ZnS light emitting layer 4, and an At
A back electrode 6 is formed by vapor deposition. The transparent electrode 2 and the back electrode 6 are each formed into a stripe shape as shown in FIG. 4, and a plurality of them are arranged perpendicularly to each other. J..., a cross electrode structure is adopted,
A position 7 (hatched area in the figure) where the transparent electrode 2 and the back electrode 6 intersect in plan view corresponds to one pixel of the panel. The transparent electrode 2 and the back electrode 6 are connected to an AC power source 10 via a switch 8.9, respectively, and the thin film EL element is driven.

上記の構成において、スイ、ソチ8.9を閉じて電極2
.6間にAC電圧を印加すると、ZnS発光層4の両側
の誘電体層2,5間に上記AC電圧が誘起されることに
なり、従ってZnS発光層4内に発生した電界によって
伝導体に励起され、かつ加速されて充分なエネルギーを
得た電子が、直接Mn 発光センターを励超し、励起さ
れたMn発光センターが基底状態に戻る際に橙黄色の発
光を行う。即ち、高電界で加速されたに子がZn8発光
層4中の発光センターであるznサイトに入ったMn原
子の電子を励起し、基底状態に落ちる時、略々5850
Aをピークに幅広い波長領域で強い発光を呈する。
In the above configuration, the sui, sochi 8.9 are closed and the electrode 2
.. When an AC voltage is applied between the dielectric layers 2 and 5 on both sides of the ZnS light emitting layer 4, the AC voltage is induced between the dielectric layers 2 and 5 on both sides of the ZnS light emitting layer 4, and the electric field generated within the ZnS light emitting layer 4 excites the conductor. The electrons that have been accelerated and obtained sufficient energy directly excite the Mn luminescent center, and when the excited Mn luminescent center returns to the ground state, it emits orange-yellow light. That is, when the electrons accelerated by a high electric field excite the electrons of the Mn atoms that have entered the zn site, which is the luminescence center in the Zn8 light emitting layer 4, and fall to the ground state, approximately 5850
It emits strong light in a wide wavelength range with peak A.

上記の如き構造を有する薄膜PL素子はヌベースファク
タの利点を生かした平面薄型ディスプレイデバイスとし
て、文字及び図形を含むコンピューターの出力表示端末
機器その他種々の表示装置に文字、記号、静止画像、動
画像等の表示手段として利用することができ非常に有効
なものである。
The thin film PL element having the above structure can be used as a flat thin display device that takes advantage of the Nubase factor to display characters, symbols, still images, moving images, etc. It is very effective and can be used as a display means.

上記薄膜KL素子の誘電体層は製造工程途中で発生した
多数のピンホールやマイクロクワ、ツク等を含み、これ
らの欠陥を通してZnS発光層4に湿気等が侵入するた
め、KL発光損失による発熱、層間剥離、素子特性の劣
化等を招来する。
The dielectric layer of the above-mentioned thin-film KL element contains many pinholes, micro-holes, and scratches generated during the manufacturing process, and moisture, etc. enters the ZnS light-emitting layer 4 through these defects, resulting in heat generation due to KL emission loss, This may lead to delamination, deterioration of device characteristics, etc.

上記問題を解決することを目的として、第5図に示す薄
膜KLバネ/&11が考えられている。
In order to solve the above problem, a thin film KL spring /&11 shown in FIG. 5 has been proposed.

この薄膜]1mLバネ/I/11を第5図に基づいて説
明する。なお、第5図の左半分は透明電極2に平行なX
方向の断面図を示し、右半分は透明電極2に直交するY
方向の断面図を示す。lはガラス基板であり、ガラス基
板1上に透明電極2がストライプ状に一定ピ・ソチ間隔
をもって平行配列されて、その上に第1の誘電体層81
発光層4.第2の誘電体層5.背面電極6を積層形成し
た薄膜KL素子12が構成されている。この薄膜KL素
子12を収納する如く皿状のカバーガラス13がガラス
基板1上に重畳され、その内部間隙に薄膜EI、素子1
2が内蔵される。ガラス基板1とカバーガラス13の接
合部はエポキシ樹脂、光硬化性樹脂(フォトボンド)等
の接着剤14で密封されている。
This thin film] 1mL Spring/I/11 will be explained based on FIG. Note that the left half of FIG.
A cross-sectional view in the direction is shown, and the right half is in the Y direction perpendicular to the transparent electrode 2.
A cross-sectional view of the direction is shown. 1 is a glass substrate, on which transparent electrodes 2 are arranged parallel to each other in a striped manner with a constant pitch spacing, and on top of which a first dielectric layer 81 is disposed.
Luminous layer 4. Second dielectric layer5. A thin film KL element 12 is constructed in which a back electrode 6 is laminated. A dish-shaped cover glass 13 is superimposed on the glass substrate 1 to accommodate the thin film KL element 12, and the thin film EI and the element 1 are placed in the internal gap.
2 is built-in. The joint between the glass substrate 1 and the cover glass 13 is sealed with an adhesive 14 such as epoxy resin or photocurable resin (Photobond).

即ち、ガラス基板1とカバーガラス13は薄膜EL素子
12に対する外囲器15を構成する。そして外囲器15
内には薄膜FiL素子12が内蔵されると共にシリコン
オイル、真空グリース等の薄膜KL素子12の保護用の
絶縁性保護流体16が充填封入されている(@開昭54
−12290号公報)。
That is, the glass substrate 1 and the cover glass 13 constitute an envelope 15 for the thin film EL element 12. and envelope 15
A thin film FiL element 12 is built inside, and an insulating protective fluid 16 for protecting the thin film KL element 12, such as silicone oil or vacuum grease, is filled and sealed (@Kaisho 54).
-12290 Publication).

上記薄膜KL素子12における透明電極2を形溝電膜2
0を形成したのち、7オトレジスト膜21によるフォト
リソグラフィにより、バターニングしている。しかし、
このような方法によると、透明電極20段差によって、
その上に形成する第1の誘電体層31発光層4.第2の
誘電体層5の肩部が薄くなり、絶縁破壊を起しやすい。
The transparent electrode 2 in the thin film KL element 12 is
After forming 0, patterning is performed by photolithography using a 7 photoresist film 21. but,
According to such a method, with 20 steps of transparent electrodes,
A first dielectric layer 31 and a light emitting layer 4 formed thereon. The shoulder portion of the second dielectric layer 5 becomes thinner and dielectric breakdown is more likely to occur.

この傾向は、薄膜ELマトリ1.、クスパネルの大型化
により、透明電極2の長大化による高抵抗化を防ぐため
に、透明電極2を厚くする程顕著になる。
This tendency is similar to the thin film EL matrix 1. In order to prevent an increase in resistance due to an increase in the length of the transparent electrode 2 due to the increase in the size of the panel, the thicker the transparent electrode 2 becomes, the more noticeable this becomes.

このため、第7図に示すように、透明電極2゜2間に、
この透明電極2と略同−の厚さの絶縁膜19を配置形成
することが考えられている(実開昭58−166670
号公報)。このような構成によれば、透明電極20段差
に起因する上記絶縁破壊の問題は生じない。
Therefore, as shown in FIG. 7, between the transparent electrodes 2°2,
It has been considered to arrange and form an insulating film 19 having approximately the same thickness as this transparent electrode 2 (Utility Model Application No. 58-166670
Publication No.). According to such a configuration, the above-mentioned problem of dielectric breakdown caused by the difference in level of the transparent electrode 20 does not occur.

しかしながら、第6図の方法を採用する限り、透明電極
2の断面肩部2aが鋭くなるため、この肩部2aに電界
が集中して、やはり絶縁破壊が生じやすいという問題点
が残る。
However, as long as the method shown in FIG. 6 is adopted, the problem remains that the cross-sectional shoulder 2a of the transparent electrode 2 becomes sharp, and the electric field is concentrated on this shoulder 2a, which tends to cause dielectric breakdown.

問題点を解決するための手段 そこで、この発明は、ガラス基板上全面に絶縁膜を形成
するか形成せず、前記絶縁膜またはガラス基板をリング
ワフィによりパターニングして、所定ビ・フチで平行状
の多数のストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部を形
成し、前記ストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部上
にフォトレジスト膜を残存させた±(、フォトレジスト
膜上から絶縁膜またはガラス突起部を略同一厚さの透明
導電膜を形成し、前記絶縁膜またはガラス突起部上のフ
ォトレジスト膜をその上の透明導電膜とともにリフトオ
フして、絶縁膜またはガラス突起部の間にストライプ状
の透明電極を形成することを特徴とする。
Means for Solving the Problems Therefore, the present invention forms an insulating film on the entire surface of the glass substrate or does not form it, and patterns the insulating film or the glass substrate with a ring waffle to form parallel patterns at predetermined edges. A large number of striped insulating films or glass protrusions are formed, and a photoresist film is left on the striped insulating films or glass protrusions. A transparent conductive film of the same thickness is formed, and the photoresist film on the insulating film or the glass protrusion is lifted off together with the transparent conductive film thereon to form a striped transparent electrode between the insulating film or the glass protrusion. It is characterized by forming.

作用 上記の手段によれば、透明電極間に略同一厚さの絶縁膜
またはガラス突起部が存在するので、段差がなくなり、
第1の誘電体層1発光層、第2の誘電体層、背面電極等
を形成する場合に、段切れや肉薄部が形成されないし、
先に絶縁膜またはガラス基板をパターニングしておいて
から、絶縁膜またはガラス突起部上のフォトレジスト膜
を残存させたま一透明導電膜を形成するので、フォトレ
ジスト膜とガラス基板との段差が著しく大きくなって絶
縁膜またはガラス突起部の付根部で透明導電膜の段切れ
が発生し、リフトオフで容易に透明溝′tL膜をパター
ニングして透明電極が形成でき、しかも透明電極の肩部
は丸味を帯びているので、この肩部への電界集中による
絶縁破壊が生じない。
Effect According to the above means, since there is an insulating film or a glass protrusion of approximately the same thickness between the transparent electrodes, there is no step difference.
When forming the light emitting layer of the first dielectric layer 1, the second dielectric layer, the back electrode, etc., no steps or thin parts are formed;
The insulating film or glass substrate is patterned first, and then a transparent conductive film is formed while leaving the photoresist film on the insulating film or glass protrusions, so there is no significant step difference between the photoresist film and the glass substrate. When the transparent conductive film becomes large and breaks at the base of the insulating film or glass protrusion, the transparent conductive film can be easily patterned by lift-off to form a transparent electrode, and the shoulders of the transparent electrode are rounded. , so no dielectric breakdown occurs due to electric field concentration on this shoulder.

実施例 以下、この発明の実施例の透明電極の形成方法について
、図面を参照して説明する。
EXAMPLE Hereinafter, a method for forming a transparent electrode according to an example of the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図(A)ないしくD)は、第1実施例の各段階の要
部拡大断面図を示す。まず、ガラス基板1の上全面にY
、○3等の絶縁物を、後に形成しようとする透明電極(
2)と略同一厚さ1例えば数1000λ程度に蒸着また
はスバ、フタで被着して、絶縁膜、20を形成する(第
1図A)。
FIGS. 1A to 1D show enlarged cross-sectional views of essential parts at each stage of the first embodiment. First, Y is applied to the entire surface of the glass substrate 1.
, ○3, etc. are used as transparent electrodes (
2), the insulating film 20 is formed by vapor deposition or by covering with a lid to a thickness 1, for example, about several thousand λ (FIG. 1A).

次に、周知のフォトリソグラフィにより、絶縁膜20上
に所定ピ・フチで平行状かつストライプ状のフォトレジ
スト膜21を形成し、透明電極(2)を形成しようとす
る部分にストライプ状の窓孔21aを形成し、この窓孔
21aから露出する絶縁膜20を工、フチングして、ス
トライプ状の絶縁膜2″。
Next, by well-known photolithography, a parallel and striped photoresist film 21 is formed at a predetermined pitch and edge on the insulating film 20, and striped window holes are formed in the portion where the transparent electrode (2) is to be formed. 21a is formed, and the insulating film 20 exposed from the window hole 21a is cut and bordered to form a striped insulating film 2''.

を形成する(第1図B)。(Figure 1B).

次に、ストライプ状の絶縁膜2o上にフォトレジスト1
llf[21を残存させたまゝ、フォトレジスト膜21
の上から全面にIF5. o、 、 SnO,等を蒸着
またはスパッタして、厚さ数1oooX程度の透明導電
膜22を形成する。このとき、フォトレジスト膜21の
上面とガラス基板1の上面との段差が大きいので、透明
導電膜22は絶縁膜20の付根部で段切れを生じている
(第1図C)。
Next, a photoresist 1 is applied on the striped insulating film 2o.
The photoresist film 21 is removed while leaving the llf[21]
IF5 on the entire surface from above. A transparent conductive film 22 having a thickness of about several 100X is formed by vapor depositing or sputtering O, SnO, SnO, or the like. At this time, since the difference in level between the top surface of the photoresist film 21 and the top surface of the glass substrate 1 is large, the transparent conductive film 22 is broken at the base of the insulating film 20 (FIG. 1C).

こののち、全体を有機溶剤に浸漬し、フォトレスト模2
1を膨潤させて、その上の透明導電膜22とともに溶解
除去して、絶縁膜20.20間に透明電極2を形成する
。この透明電極2は、絶縁膜20と略同一厚さであり、
従来のような段差は生じない(第1図D)。
After this, the whole was immersed in an organic solvent and the photorested pattern 2
1 is swollen and dissolved and removed together with the transparent conductive film 22 thereon, thereby forming the transparent electrode 2 between the insulating films 20 and 20. This transparent electrode 2 has approximately the same thickness as the insulating film 20,
Unlike the conventional method, there is no difference in level (Fig. 1D).

したがって、透明電極2上に、第1の誘電体層8、発光
層4.第2の誘電体層5を成膜する際に、段切れや薄肉
化が生じない。しかも、第1図(D)から明らかなよう
に、透明電極2の肩部2aが丸・味を帯びているので、
肩部2aに電界が集中しない。
Therefore, on the transparent electrode 2, the first dielectric layer 8, the light emitting layer 4. When forming the second dielectric layer 5, no breakage or thinning occurs. Moreover, as is clear from FIG. 1(D), the shoulder portion 2a of the transparent electrode 2 has a rounded shape.
The electric field is not concentrated on the shoulder portion 2a.

第2図(A)ないしくD)は第2実施例の各段階の要部
拡大断面図を示す。この実施例は、ガラス基板1の上面
に絶縁膜20を形成することなく、直接にフォトレジス
ト膜21を形成し、ガラス基板1をエツチングして溝2
3を形成することによって溝28.28間にガラス突起
部24を形成し、以下、第1実施例と同様にして透明電
極2を形成するものであり、ガラス突起部24が第1実
施例の絶縁膜20と同様の作用を営み、第1実施例と同
様の効果が得られる。
FIGS. 2(A) to 2D) show enlarged cross-sectional views of essential parts at each stage of the second embodiment. In this embodiment, a photoresist film 21 is directly formed on the upper surface of the glass substrate 1 without forming an insulating film 20, and the glass substrate 1 is etched to form grooves 2.
3, a glass protrusion 24 is formed between the grooves 28 and 28, and the transparent electrode 2 is formed in the same manner as in the first embodiment. It operates in the same manner as the insulating film 20, and the same effects as in the first embodiment can be obtained.

発明の効果 この発明によれば、絶縁膜またはガラス突起部のパター
ニング時に使用したフォトレジスト膜を利用して透明導
電膜のパターニングができ、透明電極のパターニングが
特別の資材、工程を要せず簡単に実施できる。しかも、
透明電極間に略同一厚さの絶縁膜またはガラス突起部が
配置されているので、透明電極上への成膜時に段切れや
薄肉化が起らず、均一な成膜が可能になる。さらに、透
明電極の肩部が丸味を帯びているので、肩部への電界集
中がなくなり、絶縁破壊強度の大きい薄膜ELマトリ、
ソクスパネルが得られる。
Effects of the Invention According to the present invention, a transparent conductive film can be patterned using the photoresist film used when patterning an insulating film or a glass protrusion, and transparent electrode patterning is easy without requiring special materials or processes. It can be implemented. Moreover,
Since the insulating film or the glass protrusion having substantially the same thickness is arranged between the transparent electrodes, no breakage or thinning occurs during film formation on the transparent electrodes, and uniform film formation is possible. Furthermore, since the shoulders of the transparent electrodes are rounded, there is no electric field concentration on the shoulders, and thin film EL matrices with high dielectric breakdown strength can be used.
You will get a sox panel.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(A)ないしCD)および第2図(A)ないしく
D)は、それぞれこの発明の異なる実施例の透明電極の
形成方法について説明するための異なる段階の要部拡大
断面図である。 第3図は薄膜FBI、マ) IJフックスネルの薄膜E
L素子部分の断面図、第4図は第3図の要部概略平面図
、第5図は第3図の薄膜EL素子を用いた薄膜KLマト
リ・ソクスバネルの断面図である。 第6図は従来の透明電極の形成方法について説艙′する
だめの各段階の要部拡大断面図である。 第7図はこの発明の詳細な説明電極付きガラス基板の要
部拡大断面図である。 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・ガラス基板、
2・・・・・・・・・・・・・・・・・・透明電極、2
0・・・・・・・・・・・・絶縁膜、21・・・・・・
・・・・・・フォトレジスト膜、22・・・・・・・・
・・・・透明導電膜、24・・・・・・・・・・・・ガ
ラス突起部。 特許出願人  関西日本電気株式会社 第1図 第2FM 2] 第6図
Figures 1 (A) to CD) and Figures 2 (A) to D) are enlarged cross-sectional views of main parts at different stages for explaining methods for forming transparent electrodes according to different embodiments of the present invention, respectively. . Figure 3 shows thin film FBI, Ma) IJ Fuchsnell's thin film E
4 is a schematic plan view of the main part of FIG. 3, and FIG. 5 is a sectional view of a thin film KL matrix sox panel using the thin film EL element of FIG. 3. FIG. 6 is an enlarged sectional view of a main part of each step of the conventional method for forming a transparent electrode. FIG. 7 is an enlarged sectional view of a main part of a glass substrate with electrodes for explaining the present invention in detail. 1・・・・・・・・・・・・・・・Glass substrate,
2・・・・・・・・・・・・・・・Transparent electrode, 2
0......Insulating film, 21...
...Photoresist film, 22...
...Transparent conductive film, 24...Glass protrusion. Patent applicant Kansai NEC Corporation Figure 1 Figure 2 FM 2] Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (a)ガラス基板上に絶縁膜を形成するかしない工程と
、 (b)前記絶縁膜またはガラス基板上面をフォトリソグ
ラフィによりパターニングして、所定ピッチで平行状の
多数のストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部を形成
する工程と、 (c)前記ストライプ状の絶縁膜またはガラス突起部上
にフォトレジスト膜を残存させたまゝ、フォトレジスト
膜の上から絶縁膜またはガラス突起部と略同一厚さの透
明導電膜を形成する工程と、(d)前記絶縁膜またはガ
ラス突起部上のフォトレジスト膜をその上の透明導電膜
とともにリフトオフして、絶縁膜またはガラス突起部の
間にストライプ状の透明電極を形成する工程とを含むこ
とを特徴とする透明電極の形成方法。
[Scope of Claims] (a) A step of forming an insulating film on a glass substrate or not; (b) patterning the insulating film or the upper surface of the glass substrate by photolithography to form a large number of parallel stripes at a predetermined pitch. (c) forming an insulating film or glass protrusion from above the photoresist film while leaving the photoresist film on the stripe-shaped insulating film or glass protrusion; (d) Lifting off the photoresist film on the insulating film or the glass protrusion together with the transparent conductive film thereon to form a transparent conductive film having approximately the same thickness as the insulating film or the glass protrusion; 1. A method for forming a transparent electrode, comprising: forming a striped transparent electrode.
JP1675485A 1985-01-30 1985-01-30 Formation of transparent electrode Pending JPS61176011A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1675485A JPS61176011A (en) 1985-01-30 1985-01-30 Formation of transparent electrode

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1675485A JPS61176011A (en) 1985-01-30 1985-01-30 Formation of transparent electrode

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61176011A true JPS61176011A (en) 1986-08-07

Family

ID=11925032

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1675485A Pending JPS61176011A (en) 1985-01-30 1985-01-30 Formation of transparent electrode

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61176011A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03246082A (en) * 1990-02-26 1991-11-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Slip issuance device
US5427467A (en) * 1992-10-06 1995-06-27 Nhk Spring Co., Ltd. Ball joint apparatus and a manufacturing method therefor
US6280861B1 (en) 1996-05-29 2001-08-28 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Organic EL device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57185607A (en) * 1981-05-11 1982-11-15 Sharp Kk Method of producing pattern electrode
JPS58154107A (en) * 1982-03-09 1983-09-13 富士通株式会社 Method of producing elecrode substrate

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57185607A (en) * 1981-05-11 1982-11-15 Sharp Kk Method of producing pattern electrode
JPS58154107A (en) * 1982-03-09 1983-09-13 富士通株式会社 Method of producing elecrode substrate

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03246082A (en) * 1990-02-26 1991-11-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Slip issuance device
US5427467A (en) * 1992-10-06 1995-06-27 Nhk Spring Co., Ltd. Ball joint apparatus and a manufacturing method therefor
US6280861B1 (en) 1996-05-29 2001-08-28 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Organic EL device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20080084610A (en) Organic el light emitting device and method for manufacturing the same
JP2000077181A (en) Electroluminescent element
JP3736179B2 (en) Organic thin film light emitting device
JPS5823191A (en) Thin film el element
JPS61176011A (en) Formation of transparent electrode
RU2603434C2 (en) Improved masking for patterns on light-emitting devices
WO2010084586A1 (en) Organic el panel and method for manufacturing the same
KR100661161B1 (en) Organic electro luminescent emitting device and the method for manufacturing the same
JPS6248359B2 (en)
CN109786571B (en) OLED light-emitting device, display substrate and display device
JPS61176093A (en) Manufacture of thin film el panel
JPS61245488A (en) Manufacture of thin film el display panel
JPS6235498A (en) Thin film el panel and manufacture thereof
JPH04190588A (en) Thin film el element
JPS60160594A (en) Thin film el element
JPS6248358B2 (en)
JPH02306580A (en) Manufacture of thin film electroluminescence element
JP2005050706A (en) Image display device
JPS6134889A (en) Thin film el panel
JPS6139717B2 (en)
JPS6262437B2 (en)
JPS6091385A (en) Thin film electrochroluminescence display panel
JPS62108497A (en) Thin film el device
JPS6252885A (en) Manufacture of el light emitting element
JPS6134891A (en) Method of producing thin film el panel