JPS6089744A - 液体中のイオンを選択的に測定する装置 - Google Patents

液体中のイオンを選択的に測定する装置

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JPS6089744A
JPS6089744A JP59175288A JP17528884A JPS6089744A JP S6089744 A JPS6089744 A JP S6089744A JP 59175288 A JP59175288 A JP 59175288A JP 17528884 A JP17528884 A JP 17528884A JP S6089744 A JPS6089744 A JP S6089744A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 発明の分野 本発明は、液体中のイオンを選択的に測定する測定装置
に、より詳細には、該測定装置のイオンセンサを保護す
るための保護装置に関する。
測定装置は、イオン感知型電界効果トランジスタ(IS
 FETないしはイオン感知型FET )の形態の、化
学的に選択性のイオンセンサ、参照電極及び増幅器を含
む測定回路を備えている。
イオン感知型電界効果トランジスタ(IS FET)を
使用した液体中のイオンを測定する装置は、従来から知
られている(例えば米国特許第4020830号参照)
。この測定装置は、液中のイオン活性を選択的に測定す
るために液中に浸漬されたイオン感知型電界効果トラン
ジスタ及び測定回路を備えている。いろいろのイオン活
性例えば声+ PK + pNaを測定するために、い
ろいろのイオン感知型電界効果トランジスタが使用され
る。
この測定装置において、イオン感知型電界効果トランジ
スタを使用することは、特に医学及び生物医学の分野に
おいてイオンを測定するうえに有用なことがわかってい
るが、この有用さは実際には制限される。この点につい
て、イオン感知型電界効果トランジスタのデート絶縁部
の表面とその下方の主要部(バルク部分)との間に生ず
る電圧は、ダート絶縁部に電界を発生させ、この電界は
、イオン感知型電界効果トランジスタの動作に影響する
外部からの影響によって発生する電界が最大値を超過し
た場合、ダート絶縁域に誘電降伏を生じ、イオン感知型
電界効果トランジスタが破壊される。ダート絶縁部が多
層系(例えば5t02−3t5N4又は5iO2−At
203の組合せ)から成る場合には、異常に強い電界に
よって、別の効果、即ちイオン感知型電界効果トランジ
スタの閾値の偏移を生ずる。この偏移は恒久的であるか
、又は短時間後に単に修正される。この場合測定装置は
、較正が不正確になるため、恒久的又は一時的に不調に
なる。
そのため、前記電界の成立を阻止し、またその電界によ
って測定装置の較正が乱れることを防止するために、な
んらかの形の保護構造又は保護回路を設けることが望ま
しい。なお電界は、電気外科装置、心臓デフイブリレー
ション装置。
誘導素子のオンオフによる電磁作用、並びに、イオン感
知型電界効果トランジスタセンサの製造中又は測定装置
の使用中に生ずる静電圧に基づく外部的な影響ないしは
効果によって生ずる。
従って、高電圧による損傷からイオン感知型電界効果ト
ランジスタセンサを保護するための処置を取ることが従
来から提案されている(例えば1982年6月、米国ユ
タ大学、ローズマリー・スミスの論文” Ion 5e
nsitive F、E、T、 withPolysi
licon Gates”参照)。この論文は、イオン
感知型電界効果トランジスタのソース電極にツェナーダ
イオード又はMO8型電界効果トランジスタを介し接続
された導電性ポリ7リコン層をダート絶縁部に適用する
ことを教示している。、ff +7シリコン層は、検査
するべき液と接触されるイオン感知性の材料層を備えて
いる。しかしこの保護装置によれば、イオン活性の急速
な変化のみをモニタする場合にしかセンサを適用できな
いことがわかっている。
金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MO8型FE
T )を含む、MO8型FET用保護回路もこれまでに
提案されている(例えば米国特許第4−086642号
参照)。
電子回路保護用のシリコンPN接合サージ電流抑止装置
も提案されている(英国特許第2060255号参照)
。しかしイオン感知型FETは、MO8型FETとは異
なって、保護素子を接続し得る金属ケ゛−ト電極を備え
ていない。
発明の概要 本発明による測定装置は、外部的外影響又は効果又はイ
オン感知型FETを含む測定回路に対するその影響を実
質的に完全に消去し得るように接続され構成された保護
装置を有し、この保護装置は、普通の作動条件の下では
、イオン感知型FETのふるまいに対して有害な効果を
もたない。
本発明により、イオン感知型電界効果トランジスタの形
態の化学感知型イオンセンサ、参照電極及び増幅器を含
む測定回路を有する液体中のイオンを選択的に測定する
測定装置において、該測定回路が、低インーーダンス接
点を介し該液に接続された少くとも1つの電極を含む保
護装置に接続されており、該少くとも1つの電極は、高
電圧に対し低インピーダンスを示し低電圧に対し高抵抗
を示す保護要素によって、該イオン感知型電界効果トラ
ンジスタに接続されていることを特徴とする測定装置が
提供される。
また、本発明により、イオン感知型電界効果トランジス
タのダート領域の可及的に近くにこれから隔てられた電
極を形成したことを特徴とするイオン感知型電界効果ト
ランジスタチップも提供される。
次に図面を参照して説明すると、第1図において、測定
回路10は、本発明の教示に従って形成された測定装置
14(第1図、第2図、第3図)のための保護装置12
を備えている。
測定回路10は、イオン感知型電界効果トランジスタセ
ンサ即ちイオン感知型FETセンサ16を有し、センサ
16のドレーン18は、増幅器2201つの入力部20
に接続されており、ソース24は増幅器22の別の入力
部26に接続されている。増幅器22の出力部28から
は、液30(例えば血液)中のイオン濃度を表わす出力
信号が送出される。
測定回路10は更に、参照電極32を有し、この参照電
極は、液30に参照電圧を印加してケ゛−ト領域34を
増幅器22に電気的に接続し、MO8型電界効果トラン
ジスタを使用する場合と同様に、センサ16のドレーン
・ソース電流Insを制御可能とする。センサ16の受
ける電圧は、センサ16が特定的に感知する液30中の
イオンの活性に依存する部分と、外部から印加される電
圧vRflとから成っている。イオン濃度の変化はドレ
ーン・ソース電流を変化させる。
ドレーン・ソース電流のこの変化は、外部から印加され
る電圧vRBの調節によって補償される。
イオンの活性と発生電圧との関係は既知である。
従って、イオン濃度の変化は、電圧vRBの修正分から
計算できる。増幅器22は、ドレーン。
ソース電流を常時測定し、この電流を一定に保つように
、この電流値の変化について電圧vRRを修正する。増
幅器22の出力電圧は、電圧vRBの変化に比例する。
本発明の教示に従って、保護回路40が、ソース24と
液30との間に結合されており、第1保護回路44を介
しソース24に接続された第1電極42と、第2保護回
路48を介しソース24に接続された第2電極46とを
有し、これらは共に、低電圧に対し高抵抗を示すと共に
、高電圧に対し低インピーダンスを示す。
本発明の教示に従って、第1電極42は好ましくは金属
例えば血液との適合性の良いステンレス鋼、又はチタン
からできている。即ち第1電極42は、センサ16と参
照電極32とを検査すべき液30に浸漬させた時に液3
0との低インピーダンスの接触を与えるに足シる表面積
を有し血液との適合性の良い導電性の材料からできてい
るべきである。
第1電極42は、例えば電気外科装置を使用した場合に
生ずる高い交流電圧からセンサ16を保護するために用
いられる。このために第1電極42はダイオード50.
2個の逆極性の直列ダイオード即ちバッキングダイオー
ド51゜52及び(又は) MO8型電界効果トランジ
スタ54(例えばセンサ16の動作範囲外において導通
する)、ツェナーダイオード又はアバランシュダイオー
ド、測定回路に対し高閾値電圧を有するMO8型電界効
果トランジスタ、及び(又は)コンデンサ56のような
、保護回路44内の1以上の保護要素によって、ソース
24に接続されている。第1電極42は、保護要素とし
て用いられる機械的スイッチ58によってソース24に
接続してもよい。もちろん前記保護素子50〜58は、
センサ16のソース24に低インピーダンス接続された
他の接点例えばドレン18又はバルク接点36に接続し
てもよい。
第2電極46は導電性フォーク、ストリ、ゾ又はリング
、好ましくは、導電材料例えばアルミニウム又は、J?
 IJシリコン製のリング62(第3図)の形態として
もよく、このり゛ングは、センサ16のダート領域34
の回シに適用され、保護回路48内の1以上の保護素子
例えばダイオード64.2個の逆極性の直列ダイオード
65.66及び(又は)例えばセンサ16の動作領域外
において導通するMO8型電界効果トランジスタ68、
ツェナーダイオード又はアバライシュダイオード、又は
測定回路1oに対する高閾値電圧を有するMO3型電界
効果トランジスタによシ結合されている。
第2電極46は、図示したように、センサ16のダート
領域34に可及的に近く配置されている。
本発明の教示に従った保護素子の選定は、センサ16の
動作領域内に存゛雀し得るいがなる漏洩電流も、漏洩電
流とインピーダンスとの積に等しい基準電極電位の偏移
を生ずるという条件に基づいてなされる。この偏移は、
センサ16の受ける電圧に寄与し、従って測定精度に負
の効果をもち、漏洩電流が承認可能な限界を超過し、例
えば10 nAよシ大きくなった場合には、その測定は
認容できなくなる。従ってセンサ16の動作領域内にお
いて、前記保護素子を通過し得る直流電流は、認容可能
な限界値よりも低い値とするべきである。
本発明の教示に従って使用するべきダイオード50.5
1.52.64.65.66又はセンサ16の動作領域
外において導通するMO3型電界効果トランジスタ54
.68は、損傷を生ずる効果が発現される電圧よシも低
い降伏電圧を有しておシ、測定回路10にこのように接
続された第2電極46は、センサ16の製造中又はその
使用時に起こシ得る静電圧からセンサ16を保護する。
電気外科処置が行なわれているのと同時に測定装置14
が使用される場合には、測定装置14の参照電極32、
液30、電極46、ダイオード64及び(又は)ダイオ
ード68、センサ16及び増幅器22によって形成され
た回路を通って直流の脈流が流れることがあり得る。
この電流は、参照電極32の電位に影響すると共に、ク
ーロタ) IJ効果も生ずるため、測定すべき液30の
PHに影響する。この問題は、測定装置14の回路への
第2電極46を、2個の逆極性の直列ダイオード65.
66に接続することによって克服される。保護回路44
の場合も同様である。
更に、保護素子がダイオード64、MO3型電界効果ト
ランジスタ68及び(又は)ダイオード65.66であ
る場合、これらの素子は、第1電極42及び第2電極4
6と組合せて使用してよく、またイオン感知型FETの
チップ上に配設することができる。
コンデンサ56の選択に際しては、スジリアス交流電圧
(例えば電気外科手術の際に加えられる電圧)の周波数
に対してインピーダンスが十分に低くなるように、コン
デンサ56のキャtJ?シタンスを十分に高くすること
がたいせつである。このためには一般に100 nF以
上のキャパシタンスとすることが好ましい。
所望ならばコンデンサ56は増幅器22に含めることが
できる。
機械的なスイッチ58を使用する場合には、操作源から
付勢されて操作中付勢状態に保たれるリレースイッチ(
図示しない)をこの目的に使用することが好ましい。
一例として、本発明の教示に従う測定装置14において
、第1電極42がコンデンサ56に接続され、第2電極
46がダイオード64、MO3型電界効果トランジスタ
68及び(又は)ダイオード65.66に接続されるよ
うに、保護回路40を構成することができる。
第2図に示すように、参照電極32をチップ部分即ち先
端部分82に取付けて、カテーテル80の内部に測定装
置14を取付けることができる。第1電極42は、先端
部分82の少し後方に隔てられた金属製リングとして形
成する。
このリング状の第1電極42の表面積は約1 cm2と
し、これによって、カテーテル80をその内部に浸漬さ
せるべき液30(第1図)との低インピーダンス接触を
形成する。リング状の第1電極42は、キャパシタンス
が100 nFのポリプロピレン製コンデンサ56を介
して、イオン感知型FETチップ90 (IS FET
チップ、第3図)に電気的に接続することができる。セ
ンサ16は、リング状の電極42の後方に配置されたカ
テーテル80のハウジング部分84内に、エポキシ樹脂
により収納され取付けられている。
カテーテル80のハウジング部分84内に取付は可能な
センサ16を収納したチップ90は、第3図に平面図に
よシ図示されている。チップ90は、チップ90の主要
部ないしはバルク93内に拡散形成されたソース91と
ドレーン92とを含み、ソース・バルク接点要素24.
36及びドレーン接点要素18を備えている。
保護電極即ち第2電極46は、アルミリング62によっ
て形成否れ−(このアルミリングは、チップ90のバル
ク93内に拡散形成された保護回路48に電気的に接続
されている。第2電極46/アルミリング62は、チッ
プ90上のケ゛−ト領域34の回りに適用されている。
第4図のグラフにおいて、センサ16のバルク36に対
する参照電極32の電圧vRBは横軸に、また電流は縦
軸に、それぞれグロットされ、I、はダイオード電流を
、また■D[lはドレーン・ソース電流を、それぞれ表
わしている。図の斜線部分は、センサ16の動作域であ
る。またAは、ダイオードの降伏点を、Bはその導通特
性をそれぞれ表わしている。
保護要素は前述したように、逆直列ないしは互に逆極性
に接続した2個のダイオード(51゜5z又は65.6
6)の組合せとしてもよい。
これらのダイオードは、第5A図に示すように接続した
2個のツェナーダイオード101.102又は第5B図
に示すように接続した2個のツェナーダイオード103
.104とすることができる。
これらの保護要素を用いた場合、第4図に示したダイオ
ード電流■。は、第4図に破線で示した曲線のように変
更される。
発明の効果 本発明の教示に従った保護回路40は、生医学又は産業
において、例えばセンサ16及び測定装置14が電気外
科装置又は心臓のデフイブリレーション装置に用いられ
た場合に生じ得る操作電磁源からの影響ないしは外部作
用からの適切な保護を与える。この保護は、センサ16
の製造中又は測定装置14の使用中に起こり得る静電圧
の発生に対しても向けられる。更に、本発明に従う保護
回路40によって供与される保護は、全ての形式のセン
サ16のハウジング、例えばカテーテル先端センサ、フ
ローセル及ヒその他の形式のハウジングにも有効である
以上に説明し且つ図面に示した測定装置14及びセンサ
16のチップ90は、本発明の範囲内で種々変更でき、
前述した特定の構成は、単なる例示であシ、本発明を限
定するものではない。
本発明により、イオン感知型FETの形態の、化学−感
知型イオンセンサ、参照電極及び増幅器を含む測定回路
を備えた液体中のイオンを選択的に測定する測定装置が
提供される。測定回路は、低インピーダンス接点を介し
液体に接続された少くとも1つの電極を含む保護回路に
接続されており、この少くとも1つの電極は、高電圧に
対し低インピーダンスを示し低電圧に対し高抵抗を示す
保護要素によって、イオン感知型電界効果トランジスタ
に接続されている。
【図面の簡単な説明】
第1図は、液体中のイオンを測定するための本発明の教
示に従って形成された保護装置を含む測定装置の概略回
路図、 第2図は第1図に略示されたセンサを取付けた測定装置
の一実施例を示す斜視図、 第3図は本発明の測定装置に特に使用するようにした保
護電極を含むFgTチッゾの平面図、第4図は、本発明
の保護装置にダイオードを使用した場合において、保護
ダイオード及びイオン感知型FETセンサに流れる電流
を示す電流対電圧線図、 第5A図および第5B図は、本発明の保護装置の一部と
なシ得る逆直列ダイオード即ち互に逆極性の2個のダイ
オードの直列接続回路の概略回路図である。 10・・測定装置 12・・・保護装置 16・・・センサ(イオン感知型電界効果トランジスタ
)22・・・増幅器 30・・・液体 32・・・参照電極 42.46・・・電極

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 イオン感知型電界効果トランジスタの形態の化学
    感知型イオンセンサ、参照電極及び増幅器を含む測定回
    路を有する液体中のイオンを選択的に測定する装置にお
    いて、該測定回路は、低インピーダンス接点を介し該液
    体に接続された少くとも1つの電極を含む保護装置に接
    続されており、該少くとも1つの電極は、高電圧に対し
    低インピーダンスを示し低電圧に対し高抵抗を示す保護
    要素によって、該イオン感知型電界効果トランジスタに
    接続されていることを特徴とする液体中のイオンを選択
    的に測定する装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の測定装置において、該
    保護装置は第1電極を有し、該第1電極は、測定装置を
    検査すべき液中に浸漬させた時にこの液と低インピーダ
    ンス接触され、前記保護装置は更に、前記イオン感知型
    電界効果トランジスタのダートに可及的に近く配置され
    た第2電極を有し、該第1及び第2電極は、対応する保
    護素子を介し該イオン感知型電界効果トランジスタの低
    インピーダンス接点に各々接続されたことを特徴とする
    測定装置。 3、特許請求の範囲第2項記載の測定装置において、第
    1電極は、導電材料からできており、測定装置を前記液
    中に浸漬させた時に検査するべき液との低インピーダン
    ス接触を形成するに足りる表面積を備えたことを特徴と
    する測定装置0 4 特許請求の範囲第2項記載の測定装置において、第
    1電極は該測定回路に、ダイオード及び(又は)イオン
    感知型電界効果トランジスタの動作域外において導通す
    るMO8型電界効果トランジスタによって、コンデンサ
    及び(又は)機械的スイッチによってイオン感知型電界
    効果型トランジスタのバルクに低インピーダンス接続さ
    れた接点に接続されたことを特徴とする特定装置。 5.特許請求の範囲第2項記載の測定装置において、前
    記第2電極は、イオン感知型電界効果トランジスタ≧ゲ
    ート域の回シに適用された金属製リングの形態を有し、
    ダイオード及び(又は)イオン感知型電界効果トランジ
    スタの動作域外において導通するMO8型電界効果トラ
    ンジスタによって該測定回路に接続されたことを特徴と
    する測定装置。 6 特許請求の範囲第5項記載の測定装置において、前
    記第2電極は、逆直列即ち互に逆極性に接続された2個
    のダイオードによって該測定回路に接続されたことを特
    徴とする測定装置。 7、特許請求の範囲第5項又は第6項記載の測定装置に
    おいて、1個以上のダイオード又はMO3型電界効果ト
    ランジスタをイオン感知型電界効果トランジスタチップ
    上に配設したことを特徴とする測定装置。 8、特許請求の範囲第4項記載の測定装置において、前
    記コンデンサはキヤ・ぐシタンスを約100nF以上と
    したことを特徴とする測定装置。 9、特許請求の範囲第4項記載の測定装置において、前
    記コンデンサは前記増幅器に含寸れることを特徴とする
    測定装置。 10、特許請求の範囲第4項記載の測定装置において、
    前記機械的スイッチは、操作源により操作時間中付勢さ
    れるリレースイッチとして形成されていることを特徴と
    する測定装置。 11、特許請求の範囲第4項記載の測定装置において、
    該第1電極は該コンデンサに接続され、該第2電極は、
    ダイオード及び(又は) MO8型電界効果トランジス
    タに接続されたことを特徴とする測定装置。 12、イオン感知型電界効果トランジスタのダート領域
    の可及的に近くにこれから隔てられた電極をチップ上に
    形成したことを特徴とするイオン感知型電界効果トラン
    ジスタチップ。 13、特許請求の範囲第12項記載のイオン感知型電界
    効果トランジスタチップにおいて、該電極は、イオン感
    知型電界効果トランジスタのケ゛−ト領域の回りに適用
    された金属リングの形態をとることを特徴とするイオン
    感知型電界′効果トランジスタチップ。 14 特許請求の範囲第12項記載のイオン感知型電界
    効果トランジスタチップにおいて、前記電極は、チップ
    上に配されたダイオード及び(又は)MO8型電界効果
    トランジスタに接続され、イオン感知型電界効果トラン
    ジスタの動作領域外において導通可能となっていること
    を特徴とするイオン感知型電界効果トランジスタチップ
    。 15 特許請求の範囲第14項記載のイオン感知型電界
    効果トランジスタチップにおいて、前記電極は、逆直列
    に、即ち互に極性が逆になるように接続された2個のダ
    イオードによってイオン感知型電界効果トランジスタに
    接続されていることを特徴とするイオン感知型電界効果
    トランジスタチップ。
JP59175288A 1983-08-24 1984-08-24 液体中のイオンを選択的に測定する装置 Expired - Fee Related JPH0765982B2 (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6604401B2 (en) 1999-02-08 2003-08-12 Bunichi Shoji Truss structure, structural members thereof, and a method of manufacture therefor
US7231745B1 (en) 1997-05-09 2007-06-19 Bunichi Shoji Truss structure, structural members thereof, and a method of manufacture therefor
JP2008216008A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Toshiba Corp 生体関連物質測定装置およびこれに用いるカートリッジ
JP2015206763A (ja) * 2014-04-23 2015-11-19 バイオセンサー株式会社 測定装置および測定方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT398133B (de) * 1989-06-26 1994-09-26 Jachimowicz Artur Dipl Ing Ionenselektive elektrodenanordnung
US5944970A (en) * 1997-04-29 1999-08-31 Honeywell Inc. Solid state electrochemical sensors
US6117292A (en) * 1998-05-06 2000-09-12 Honeywell International Inc Sensor packaging having an integral electrode plug member
US6153070A (en) * 1998-05-07 2000-11-28 Honeywell Inc Sensor packaging using heat staking technique
US7790112B2 (en) * 2006-03-30 2010-09-07 Council of Scientific & Industual Research Biosensor to determine potassium concentration in human blood serum
CN101131375B (zh) * 2006-08-23 2010-05-12 中国科学院电子学研究所 一种离子敏场效应传感器专用高精度放大器电路
WO2009084675A1 (ja) * 2007-12-27 2009-07-09 Horiba, Ltd. 極性有機溶媒の水分又は有機酸の含有量の測定方法及びその装置
GB2540904B (en) * 2010-10-08 2017-05-24 Dnae Group Holdings Ltd Electrostatic discharge protection
DE102013106032A1 (de) * 2013-06-11 2014-12-11 Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG Sensor zur Erfassung einer Analytkonzentration

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56153247A (en) * 1980-04-28 1981-11-27 Kuraray Co Ltd Measuring circuit for ion sensor
JPS5742945U (ja) * 1980-08-25 1982-03-09

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5530312B2 (ja) * 1975-01-16 1980-08-09
US4020830A (en) * 1975-03-12 1977-05-03 The University Of Utah Selective chemical sensitive FET transducers
US4325097A (en) * 1979-09-17 1982-04-13 General Semiconductor Industries, Inc. Four terminal pulse suppressor
US4397714A (en) * 1980-06-16 1983-08-09 University Of Utah System for measuring the concentration of chemical substances
JPS5715459A (en) * 1980-07-01 1982-01-26 Fujitsu Ltd Semiconductor integrated circuit
JPS5737876A (en) * 1980-08-20 1982-03-02 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit apparatus

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56153247A (en) * 1980-04-28 1981-11-27 Kuraray Co Ltd Measuring circuit for ion sensor
JPS5742945U (ja) * 1980-08-25 1982-03-09

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7231745B1 (en) 1997-05-09 2007-06-19 Bunichi Shoji Truss structure, structural members thereof, and a method of manufacture therefor
US6604401B2 (en) 1999-02-08 2003-08-12 Bunichi Shoji Truss structure, structural members thereof, and a method of manufacture therefor
JP2008216008A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Toshiba Corp 生体関連物質測定装置およびこれに用いるカートリッジ
JP2015206763A (ja) * 2014-04-23 2015-11-19 バイオセンサー株式会社 測定装置および測定方法

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