JPS608765A - 被試験物自動給排装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （１）発明の技術分野 本発明は、プリント板ユニット等の被試験物の内部回路
の試験を行うインサーキットテスタのテストステーショ
ンへ該被試験物を自動的に給排する自動給排装置に関す
る。

（２技術の背景 従来、プリント板ユニットを製造したときにその内部回
路の配線、接続、断線のチェックおよび電子部品の機能
試験をするには、被試験物たるプリント板ユニットをイ
ンサーキットテスタのテストステーションに設けられた
フイクスチュアに手作条でいちいぢセット、リセットし
て試験をしていた。しかしこれでは非常に作業能率が悪
いし、また恨めで高価なインサーキットテスタを遊ばせ
ておく時間が長くなって不経肯でもあった。そこで、作
業能率を向上させると共に試験効率をアップして経済性
を向上できる被試験物自動給排装置が要望されていた□
（３）発明の目的 本発明は上記の要望に応えるべくなされたもので、イン
サーキットテスタのテストステーションへ被試験物を自
動的に給排する被試験物自動給排装置を提供することを
目的とする。

（４）発明の構成 そして上記の目的は本発明によれば、インサーキットテ
スタのテストステーションの前方側に設けられ被試験物
を該テストステーションへ搬送する供給ラインの終端部
と上記テストステーションとの間に上記供給ラインで搬
送された被試験物を搭載治具上に受けてテストステーシ
ョン側へ送る第一の昇降移送装置を設け、上記テストス
テーションの上方には上記第一の昇降移送装置から受け
た被試験物をフイクスチュアに向けて下降して該フイク
スチュア上に載置すると共に試験終了後は上昇し１後方
側へ送る第二の昇降移送装置を設けると箕に、上記テス
トステーションとこのテストステーションの後方側に設
けられ被試験物を次工程へ排出する排出ラインとの間に
は上記第二の昇降移送装置から送られた被試験物を搭載
治具から外して排出ライン側へ送る第三の昇降移送装置
を設け、かつ上記テストステーションの上方には空の搭
載治具を第一の昇降移送装置側へ還流させる還流移送装
置を設けると共に上記第−及び第三の昇降移送装置をそ
れぞれ上記還流移送装置と供給ライン又は排出ラインと
の間で上昇、下降可能としたことを特徴とする被試験物
自動給排装置を提供することによって達成される。

（５）　発明の実施例 以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細に説明す
る。

本発明による被試験物自動給排装置Ｅは、第１図に示す
ように、第一の昇降移送装置１と、第二の昇降移送装置
２と、第三の昇降移送装置３と、還流移送装置４とを有
しで成る。この被試験物自動給排装置Ｅは、プリント版
ユニット等の被試験物の内部回路を試験するインサーキ
ットテスタ５のテストステーション６へ上記被試験物を
自動的に供給したり、排出したシするものである。上記
インサーキットテスタ５のテストステーション６の前方
側（第１図では圧力側）には、該テストステーション６
の方へ被試験物７を搬送するベルトコンベア等の供給ラ
インＬ１が設けられており、上記テストステーション６
の後方側（第１図では右方側）には、試験終了後の被試
験物７を次工程へ排出するベルトコンベア等の排出ライ
ンＬ２が設けられている。

上記供給ラインＬ１の終端部とインサーキットテスタ５
の一側端部との間には、第一の昇降移送装置１が設けら
れている。この第一の昇降移送装置１は、上記供給ライ
ンＬ１で矢印Ａのように搬送されてきた被試験物７を後
述の搭載治具１９上に受けてテストステーション６側へ
送るもので、第２図に示すように、上部枠８．８の内側
にＤｉし送チェーン９．９を張設しモータ１０の駆動に
よりギヤ１１．１１’（ｒ介してシャフト１２を回転し
て該搬送チェーン９．９をＨ１定方向へ回転名せるよう
になっている。また、上記上部枠８．８の下方には例え
ば油圧シリンダ等の昇降機１３が設けられており、この
昇降機１３から延びるロッド１４の先端部に取ｐ付けら
れた回動杆１５ａの先端が下部枠１６に枢着されると共
に、他の回・動杆１５ｐの先端が上部枠８に枢着されて
いる。そして、この昇降機１３の作動によシ、ロッド１
４が矢印Ｂ、Ｃ方向に伸縮して上記上部枠８．８が矢印
Ｄ％Ｅ方向に上昇又は下降可能となっている。そして、
上記第一の昇降移送装置１の吟りには、移送装置１７ａ
が設けられている。このイ灸送装置１７ａは、被試験物
Ｉを第一の昇降移送装置１から第二の昇降移送装置２へ
向けて移送するもので、上記第一の昇降移送装置１と同
様にモータ１０の駆動によシギャ１１．１１を介してシ
ャフト１２を回転して搬送チェーン９．９を所定方向へ
回転させるようになっている。なお、この移送装置１７
ａはインサーキットテスタ５の幅寸法の大小によって一
個又は二個以上設けてもよく、或いは全く設けなくても
よい。

上記移送装置１γａの隣シにてインサーキットテスタ５
のテストステーション６の上方には、第二の昇降移送装
置２が設けられている。この第二の昇降移送装置２は、
搭載治具１９上に載せられた被試験物７を上記テストス
テーション６に設けられたフィクスチュアに向けて下降
して該フィクスチュア上にセットすると共に試験終了後
は上昇して後方側へ送るもので、゛上記第一の昇降移送
装置１と同様に上部枠８と搬送チェー／９とモータ１０
とギヤ１１とシャフロ２とを有して成る。また、昇降＠
１３′も設けられているが、この場合はそのロッド１４
′を矢印Ｆのように伸長すると上部枠８が矢印Ｈのよう
に下降し、矢印Ｇのように収縮すると矢印Ｉのように上
昇するように構成されている。そして、上記第二の昇降
移送装置２の隣りには、他の移送装置１Ｔｂが設けられ
ている。この移送装置１７ｂは前述の移送装置１７ａと
全く同様の構造とされ、やはジインサーキットテスタ５
の幅寸法の大小によって一個又は二個以上設けてもよく
、或いは全く設けなくてもよい。

上記移送装置）ｆｆｉ１７に＋と排出ラインＬ２の始端
部との間には、第三の昇降移送装置３が設けられている
。この第三の昇降移送装置３は、試験終了後上記移送装
置１７ｂで送られてきた被試験物Ｔを受けて搭載治具１
９から外して矢印Ａ′のように排出ラインＬ２８１１１
へ送り出すもので、上記第一の昇降移送装置１と全く同
様の構造とされている。

上記テストステーション６の上方にて第二の昇降移送装
置２及び二個の移送装置１７ａ１１７ｂが直線状に列設
された上方には、還流移送装置４が設けられている。こ
の還流移送装置４は、試験終了後において上記第三の昇
降移送装置３のところで被試験物Ｉが外され壁となった
搭載治具１９を第一の昇降移送装置１側へ送り返すもの
で、前記移送装置１７ａ、１７ｔｌと同様にモータとギ
ヤとでＩＫｍされる搬送チェーン１８を有している。そ
して、′上記第一の昇降移送装置１の土部枠８は矢印り
のように上昇したときに上記還流移送装置４の高さと同
一とされると共に、第三の昇降移送装置３の上部枠８も
矢印りのように上昇したときに還流移送装置４の高さと
同一とされる。

第５図及び第６図は、上記プリント板ユニット等の被試
験物Ｔをインサーキットテスタ５のテストステーション
６に供給したシ、排出したシするのに使用する搭載治具
１９を示す平面図及び正面図である。この搭載治具１９
は、外形サイズの異なる被試験物７に共通して使用され
るもので、略矩形の枠部材２０があシ、この枠部材２０
の内方の両側部に被試験物７を保持する係止爪２１ａ、
２１ｂが設けられ、一方の係止爪２１ｂはスライダー２
２とボールネジ２３とによシ矢印Ｊ、に方向にスライド
可能とされている。なお、第５図において符号２４は上
記ボールネジ２３の操作ノブであり、符号２５は他方の
スライダ２２′の摺動を案内するガイトノく−である。

そして、上記搭載治具１９は、第１図に示すように、第
一の昇降移送装置１→第二の昇降移送装置２→第三の昇
降移送装置３→還流移送装置→第一の昇降移送装置１と
いうようにインサーキットテスタ５のテストステーショ
ン６０回シでサイクル運動される。

次に、本発明による被試験物自動給排装置Ｅの作動につ
いて説明する。まず、供給ラインＬ１で第一の昇降移送
装置１の直前まで搬送されたプリント板ユニット等の被
試験物７は、当該箇所で適宜のハンドリング装置によっ
て第一の昇降移送装置１の搬送チェーン９上に載置され
た搭載治具１９上に搭載される。このとき、上記搭載治
具１９の係止爪２１ｂの位置は手動又は自動により矢印
Ｊ、に方向にスライドされて上記被試験物Ｔの外形サイ
ズに合せられる。この状態で、上記搬送チェーン９の回
転により被試験物１は搭載治具１９ごと矢印り方向に送
られて、第一の昇降移送装置１から移送装置１７ａに移
され、さらにこの移送装ｆ＆１７ａから第二の昇降移送
装置２へ移される。この第二の昇降移送装置２へ被試験
物Ｔが載置されたのを適宜の検知手段で検知したら、昇
降機１３′が作動してそのロッド１４′を矢印Ｆ方向に
伸長して上部枠８を矢印Ｈ方向へ下降させる。すると、
上記被試験物７がテストステーション６に設けられたフ
イクスチュア上にセットされ、被試験物Ｔの試験が開始
される。試験が終了したら上記と逆作動で上部枠８が矢
印■方向に上昇して、搬送チェーン９０回転により被試
験物７を矢印Ｍのように第二の昇降移送装置２から移送
装置１１ｂへ送り、さらにこの移送装＠１７ｂから第三
の昇降移送装置３へ移される。この第三の昇降移送装置
３へ被試験物１が載置されたのを検知したら、当該箇所
にて適宜のハンドリング装置によって搭載治具１９から
被試験物７が外され、排出ラインＬ２上に載置される。

これによシ、被試験物Ｔは矢印Ａ′のように次工程へ排
出される。

上記排出ラインＬ２への被試験物７の排出を検知したら
、第三の昇降移送装置３の昇降機１３が作動してそのロ
ッド１４を矢印Ｃ方向に収縮して上部枠８を矢印り方向
へ上昇させ、該第三の昇降移送装置３を還流移送装置４
と同高とする。この状態を検知したら、上記第三の昇降
移送装置３の搬送チェーン９が逆回転をし、被試験物１
が外されて空となった搭載治具１９を矢印０のように還
流移送装置４側へ送シ出す。この後、上記第三の昇降移
送装置３は逆作動をして矢印Ｅ方向に下降する。上記還
流移送装置４によって空の搭載治具１９は矢印Ｏのよう
に送られてその終端部へ至る。ここで、前記第一の昇降
移送装置１の土部枠８が矢印ＤＯようＰｃ上昇して同高
の位置に待っており、上記還流移送装置４から送られた
空の搭載治具１９を受けた後、昇降機１３の作動により
ロッド１４が矢印Ｂのように伸長して上部枠８が矢印Ｅ
のように下降する。これによシ、当初の初期状態に帰り
、次なる被試験物７が搭載治具１９上に搭載される。以
下、同様の作動を緑シ返して、順次被試験物７をインサ
ーキットテスタ５のテストステーション６へ自！ＪＪ給
排する。

（６）　発明の効果 本発明は以上のように構成されたので、インサーキット
テスタ５のテストステーション６へ被試験物１を自動的
に給排することができる。

したかつて、作業能率を向上することができると共Ｖこ
、市価なインサーキットテスタ５を長時間連続で稼働し
て試験効率を向上し且つ経済性を向上することができる
。また、被試験物７を搭載する搭載治具１９は、還流移
送装置４によって第一の昇降移送装置１側へ還流さすて
使用するので、上記搭載治具１９は多数用意する必妥は
ない。さらに、第一ないし第三の昇降移送装置１．２．
３および還流移送装置４以外に他の周辺機器を必猥とす
ることなく、簡易かつ経済的に破試験物ケ自動給排でき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による被試鉄物自動給排装置を示す正面
図、第２図は還流移送装置を省略して示す平面図、第３
図は第１図の１１−ｍ線矢視図、第４図は第１図のＮ−
ＩＶ線矢祝図、第５図及び第６図は搭載治具を示す平向
図および正面図である。 １・・・・・・第一の昇降移送装置 ２・・・・・・第二の昇降移送装置 ３・・・・・・第三の昇降移送装置 ４・・・・・・還流移送装置 ５・・・・・・インサーキットテスタ ６・・・・・・テストステーション ７・・・・・・被試験物 １３．１３′・・・・・・昇降機 １Ｂ・・・・・・搭載治具 Ｌｌ・・・・・・供給ライン Ｌ２・・・・・・排出ライン ＋、、１＝ 第３図 １６ 第５図 Ｊ□に 第４図 ｃｌ 笛６図 、１９

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. インサーキットテスタのテストステーションの前方側に
   設けられ被試験物を該テストステーションへ搬送する供
   給ラインの終端部と上記テストステーションとの間に上
   記供給ラインで搬送された被試験物を搭載治具上に受け
   てデストステーション側へ送る第一の昇降移送装置を設
   け、上記テストステーションの上方には上記第一の昇降
   移送装置から受けた被試験物をフィクスチュアに向けて
   下降して該フイクスチュア上に載置すると共に試験終了
   後は上昇して後方側へ送る第二の昇降移送装置を設ける
   と共に、上ム己テストステーションとこのテストステー
   ションの後方側に設けられ被試験物を次工程へ排出する
   排出ラインとの間には上記第二の昇降移送装置から送ら
   れた被試験物を搭載治具から外して排出ライン側へ送る
   第三の昇降移送装置を設け、かつ上記テストステーショ
   ンの上方には空の搭載治具を第一の昇降移送装置側へ還
   流させる還流移送装置を設けると共に上記第−及び第三
   の昇降移送装置をそれぞれ上記還流移送装備と供給ライ
   ／又は排出ラインとの間で上昇、下降可能としたことを
   特徴とする被試験物自動給排装置。