JPS608554B2 - メモリ装置 - Google Patents
メモリ装置Info
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- JPS608554B2 JPS608554B2 JP54169186A JP16918679A JPS608554B2 JP S608554 B2 JPS608554 B2 JP S608554B2 JP 54169186 A JP54169186 A JP 54169186A JP 16918679 A JP16918679 A JP 16918679A JP S608554 B2 JPS608554 B2 JP S608554B2
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- memory device
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- H—ELECTRICITY
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/60—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors
- H03K17/62—Switching arrangements with several input- output-terminals, e.g. multiplexers, distributors
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- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
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- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
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- H—ELECTRICITY
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- H03M7/00—Conversion of a code where information is represented by a given sequence or number of digits to a code where the same, similar or subset of information is represented by a different sequence or number of digits
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はメモリ装置に関する。
周知のとおりメモリ装置は、マトリクス状に布線された
複数のワード線およびビット線と、これらワード線およ
びビット線の各交点毎に設けられる複数のメモリセルか
ら主として構成され、さらにこれらに対して、ワード線
選択用のデコーダ回路とビット線選択用のデコーダ回路
とが付帯する。
複数のワード線およびビット線と、これらワード線およ
びビット線の各交点毎に設けられる複数のメモリセルか
ら主として構成され、さらにこれらに対して、ワード線
選択用のデコーダ回路とビット線選択用のデコーダ回路
とが付帯する。
本発明は、例えば前記ビット線選択用として好適に利用
し得るデコーダ回路を含むメモリ装置に関して述べるも
のである。従来、上記〆モリ装置においては、ビット線
群に対しビット電流を通電せしめる定電流源回路と、選
択すべきビット線に対してのみ該ビット電流を通電せし
めるスイッチング回路とがそれぞれ別個独立してシリー
ズに接続されていた。このため、少なくともこれら定電
流源回路およびスイッチング回路の各々を構成するトラ
ンジスタ2段分のレベルアップが潜在することになり、
低バイアス化が図れなかった。このため電源マージンは
小さくなり、安定動作を保障できないという欠点を伴っ
た。従って本発明の目的は低バイアス化が簡単に図れる
デコーダ回路を内蔵したメモリ装置を提案することであ
る。
し得るデコーダ回路を含むメモリ装置に関して述べるも
のである。従来、上記〆モリ装置においては、ビット線
群に対しビット電流を通電せしめる定電流源回路と、選
択すべきビット線に対してのみ該ビット電流を通電せし
めるスイッチング回路とがそれぞれ別個独立してシリー
ズに接続されていた。このため、少なくともこれら定電
流源回路およびスイッチング回路の各々を構成するトラ
ンジスタ2段分のレベルアップが潜在することになり、
低バイアス化が図れなかった。このため電源マージンは
小さくなり、安定動作を保障できないという欠点を伴っ
た。従って本発明の目的は低バイアス化が簡単に図れる
デコーダ回路を内蔵したメモリ装置を提案することであ
る。
上記目的に従い本発明は、デコードすべき対象に接続す
るNPNトランジスタと、該NPNトランジスタのベー
スにおいて、そのベース・エミツタに対し順方向となる
極性をもって接続されるダイオードとからなる定電流源
回路に対し、デコード入力をベースに受信するトランジ
スタであって、そのコレクタが前記NPNトランジスタ
のベースおよび前記ダイオードの接続点に接続するPN
Pトランジスタと、該ダィオードーこ並列接続される抵
抗とを付加してなるデコーダ回路を含んでなることを特
徴とするものである。以下図面に従って本発明を説明す
る。
るNPNトランジスタと、該NPNトランジスタのベー
スにおいて、そのベース・エミツタに対し順方向となる
極性をもって接続されるダイオードとからなる定電流源
回路に対し、デコード入力をベースに受信するトランジ
スタであって、そのコレクタが前記NPNトランジスタ
のベースおよび前記ダイオードの接続点に接続するPN
Pトランジスタと、該ダィオードーこ並列接続される抵
抗とを付加してなるデコーダ回路を含んでなることを特
徴とするものである。以下図面に従って本発明を説明す
る。
第1図は従来のデコーダ回路を備えたメモリ装置の1回
路例を示す回路図である。
路例を示す回路図である。
本図においてビット線選択用デコーダ回路は定電流源回
路11−1および11−2およびスイッチング回路12
−1および12−2を有し、該スイッチング回路12−
1および12−2はそれぞれビット選択入力、B,Bを
受信する。このビット線選択用デコーダ回路によってデ
コードされるべき対象はビット線13,14であり「こ
のビット線13,i4に対してはワード線15が直交し
、各交点毎にメモリセル16,17が配列される。なお
、SAはセンスアップ「WAは書込みアドレスである。
又、ワード線亀5、メモリセル16,17は、さらに多
数存在するが、その一部のみを取り出して示す。ところ
で第1図に示したデコーダ回路は、定電流源回路11−
1,11一2とスイッチング回路12−1,12一2と
が独立してシリーズに接続されているから、各々の回路
を構成するトランジスタ、すなわち少なくとも2段分の
トランジスタのベースリェミッ夕順方向電圧分だけレベ
ルアップし、低バイアス化が十分でない。
路11−1および11−2およびスイッチング回路12
−1および12−2を有し、該スイッチング回路12−
1および12−2はそれぞれビット選択入力、B,Bを
受信する。このビット線選択用デコーダ回路によってデ
コードされるべき対象はビット線13,14であり「こ
のビット線13,i4に対してはワード線15が直交し
、各交点毎にメモリセル16,17が配列される。なお
、SAはセンスアップ「WAは書込みアドレスである。
又、ワード線亀5、メモリセル16,17は、さらに多
数存在するが、その一部のみを取り出して示す。ところ
で第1図に示したデコーダ回路は、定電流源回路11−
1,11一2とスイッチング回路12−1,12一2と
が独立してシリーズに接続されているから、各々の回路
を構成するトランジスタ、すなわち少なくとも2段分の
トランジスタのベースリェミッ夕順方向電圧分だけレベ
ルアップし、低バイアス化が十分でない。
この結果、既述した欠点、すなわち電源マージンの減少
を誘起した。そこで本発明は、第耳図に示した定電流源
回路11−1,11一2に対して、第3図に示したスイ
ッチング回路をパラレルに組み込み低バイアス化を図っ
た。
を誘起した。そこで本発明は、第耳図に示した定電流源
回路11−1,11一2に対して、第3図に示したスイ
ッチング回路をパラレルに組み込み低バイアス化を図っ
た。
先ず、第1図に示した定電流源回路の構成を第2図に示
す。第2図において、21は、第1図のビット線にビッ
ト電流18を通電せしめる電流吸収用のNPNトランジ
スタであり、そのベース・ェミッタ接合分のダイオード
を、ダイオード22としてそのベースに接続するように
したものであり、いわゆるカレントミラー方式と呼ばれ
る。なお、rはベース抵抗、Vccは電源である。この
第2図の定電流源回路に対し、スイッチング回路をパラ
レルに組み込んだのが、第3図に示す本発明で採用する
デコーダ回路である。本図に示すとおり、このデコーダ
回路は、既存の電流吸収用のNPNトランジスタ21お
よびダイオード22に対し、スイッチング回路としての
PNPトランジスタ31および抵抗32をパラレルに組
み込む。今、ビット選択入力B(論理“L”)がPNP
トランジスタ31のベースに印加されたとすると、トラ
ンジスタ31‘まオンとなり、VccレベルがNPNト
ランジスタ21のベースに印加されてこれをオンとし、
対応するビット線にビット電流IBを通電せしめる。逆
に入力B(論理“L”)、すなわち入力Bが論理“H”
)がPNPトランジスタ31のベースに印加されると、
トランジスタ31‘まオフとなり、NPNトランジスタ
2 1のベースは、プルダウン抵抗32を介して接地電
位となり、これをオフにする。
す。第2図において、21は、第1図のビット線にビッ
ト電流18を通電せしめる電流吸収用のNPNトランジ
スタであり、そのベース・ェミッタ接合分のダイオード
を、ダイオード22としてそのベースに接続するように
したものであり、いわゆるカレントミラー方式と呼ばれ
る。なお、rはベース抵抗、Vccは電源である。この
第2図の定電流源回路に対し、スイッチング回路をパラ
レルに組み込んだのが、第3図に示す本発明で採用する
デコーダ回路である。本図に示すとおり、このデコーダ
回路は、既存の電流吸収用のNPNトランジスタ21お
よびダイオード22に対し、スイッチング回路としての
PNPトランジスタ31および抵抗32をパラレルに組
み込む。今、ビット選択入力B(論理“L”)がPNP
トランジスタ31のベースに印加されたとすると、トラ
ンジスタ31‘まオンとなり、VccレベルがNPNト
ランジスタ21のベースに印加されてこれをオンとし、
対応するビット線にビット電流IBを通電せしめる。逆
に入力B(論理“L”)、すなわち入力Bが論理“H”
)がPNPトランジスタ31のベースに印加されると、
トランジスタ31‘まオフとなり、NPNトランジスタ
2 1のベースは、プルダウン抵抗32を介して接地電
位となり、これをオフにする。
ここにビット電流IBは入力B又はBに応じてスイッチ
ングされることになる。ここで注目すべきことは、第3
図のスイッチング回路31,32は第1図に示した従来
のスイッチング回路12一1,12−2と異なり、ビッ
ト線から外れたところに位置するから、当該ビット線が
有するバイアスレベルは、せいぜいダイオード22に相
当する約0.8Vであり、低バイアス化が図れる。従っ
て、その分電源マージンが拡大する。第4図は第3図の
デコーダ回路を備えた本発明のメモリ装置の1回路例を
示す回路図である。
ングされることになる。ここで注目すべきことは、第3
図のスイッチング回路31,32は第1図に示した従来
のスイッチング回路12一1,12−2と異なり、ビッ
ト線から外れたところに位置するから、当該ビット線が
有するバイアスレベルは、せいぜいダイオード22に相
当する約0.8Vであり、低バイアス化が図れる。従っ
て、その分電源マージンが拡大する。第4図は第3図の
デコーダ回路を備えた本発明のメモリ装置の1回路例を
示す回路図である。
なお、本図において第1図と同一の参照番号又は記号が
付されたものは相互に同一の構成要素である。図中、2
1−11,22−1,21一12,21−21,22一
2,21−22等は既存の定電流源回路部分であり、こ
れらに対し「本発明に係るPNPトランジスタ31一1
,31−2、抵抗32一1,32−2が設けられる。こ
れらトランジスタ31−1,31−2に相補的ビット選
択入力B,Bを印加する差動対増幅器41は、基準電圧
Vrを入力とするトランジスタ42とビット選択信号■
を入力とするトランジスタ43と定電流源回路44とか
らなる。ただし、この差動対増幅器41は在釆のもので
あり、第1図のビット選択入力B,Bを出力すべき部分
でもある。今仮りにビット選択信号■が論理“H”とす
ると、トランジスタ41がオン(トランジスタ42がオ
フ)となりビット選択入力Bが“H”(入力Bが“L”
)となり、トランジスタ31一1がオフ(トランジスタ
31一2がオン)となり、ビット■系が選択(ビット■
系は非選択)される。逆に、信号■が論理“L”になる
と、ビット■系が選択これ、ビツト■系は非選択となる
。第4図の例は、2ビット入力であるが、これを例えば
4ビット入力に拡大することもできる。
付されたものは相互に同一の構成要素である。図中、2
1−11,22−1,21一12,21−21,22一
2,21−22等は既存の定電流源回路部分であり、こ
れらに対し「本発明に係るPNPトランジスタ31一1
,31−2、抵抗32一1,32−2が設けられる。こ
れらトランジスタ31−1,31−2に相補的ビット選
択入力B,Bを印加する差動対増幅器41は、基準電圧
Vrを入力とするトランジスタ42とビット選択信号■
を入力とするトランジスタ43と定電流源回路44とか
らなる。ただし、この差動対増幅器41は在釆のもので
あり、第1図のビット選択入力B,Bを出力すべき部分
でもある。今仮りにビット選択信号■が論理“H”とす
ると、トランジスタ41がオン(トランジスタ42がオ
フ)となりビット選択入力Bが“H”(入力Bが“L”
)となり、トランジスタ31一1がオフ(トランジスタ
31一2がオン)となり、ビット■系が選択(ビット■
系は非選択)される。逆に、信号■が論理“L”になる
と、ビット■系が選択これ、ビツト■系は非選択となる
。第4図の例は、2ビット入力であるが、これを例えば
4ビット入力に拡大することもできる。
この場合は、第4図の差動対増幅器41の構成が変更す
るのみである。この例を示したのが第5図である。本図
においては新たな4ビット入力用差動対増幅器41′が
導入され、ビット選択信号は■および■となり、これら
■、■の論理の組み合わせにより、4ビット入力B1,
B1,B2,B2,のうちいずれ1つが常に“L”とな
り、対応するビット■,■,■および■′系の1つを選
択する。これら論理の組み合わせは下表のとおりである
。・表 以上説明したように本発明によれば低バイアス化された
デコーダ回路が得られ、システム内の竜源マ−ジンをそ
の分増大でき、安定度の高いメモリ装置を実現できる。
るのみである。この例を示したのが第5図である。本図
においては新たな4ビット入力用差動対増幅器41′が
導入され、ビット選択信号は■および■となり、これら
■、■の論理の組み合わせにより、4ビット入力B1,
B1,B2,B2,のうちいずれ1つが常に“L”とな
り、対応するビット■,■,■および■′系の1つを選
択する。これら論理の組み合わせは下表のとおりである
。・表 以上説明したように本発明によれば低バイアス化された
デコーダ回路が得られ、システム内の竜源マ−ジンをそ
の分増大でき、安定度の高いメモリ装置を実現できる。
図面の簡単な説明第1図は従来のデコーダ回路を備えた
メモリ装置の1回路例を示す回路図、第2図は第1図に
示した従来の定電流源回路の構成を示す回路図、第3図
は本発明において採用されるデコーダ回路の基本構成例
を示す回路図、第4図は本発明のメモリ装置の1回路例
を示す回路図、第5図は第4図の構成の拡張例を示す回
路図である。
メモリ装置の1回路例を示す回路図、第2図は第1図に
示した従来の定電流源回路の構成を示す回路図、第3図
は本発明において採用されるデコーダ回路の基本構成例
を示す回路図、第4図は本発明のメモリ装置の1回路例
を示す回路図、第5図は第4図の構成の拡張例を示す回
路図である。
図において、21はNPNトランジスタ、22はダイオ
ード、31はPNPトランジスタ、32は抵抗である。
ード、31はPNPトランジスタ、32は抵抗である。
第1図第2図
第3図
第4図
第5図
Claims (1)
- 1 複数のワード線と、第1の電源側に接続された複数
のビツト線と、これらワード線およびビツト線の各交点
毎に設けられる複数のメモリセルと、前記ビツト線の系
内にあって且つ各コレクタが対応する各該ビツト線に直
接接続すると共に各エミツタが直接第2の電源側に接続
され各々が定電流回路を構成する複数の電流吸収用NP
Nトランジスタと、ビツト選択入力に応じて、選択すべ
き前記ビツト線にビツト電流を通電せしめるスイツチン
グ回路とを有してなるメモリ装置において、 前記スイ
ツチング回路を前記ビツト線の系外に設けると共に前記
ビツト選択入力に応じて該スイツチング回路から出力さ
れる各前記ビツト線対応のビツト線選択信号を、対応す
る各前記電流吸収用NPNトランジスタのベースに印加
することにより、該電流吸収用NPNトランジスタをオ
ンオフするようにしたことを特徴とするメモリ装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54169186A JPS608554B2 (ja) | 1979-12-27 | 1979-12-27 | メモリ装置 |
| EP80304586A EP0031681B1 (en) | 1979-12-27 | 1980-12-18 | Decoder circuit |
| DE8080304586T DE3070487D1 (en) | 1979-12-27 | 1980-12-18 | Decoder circuit |
| IE2705/80A IE50702B1 (en) | 1979-12-27 | 1980-12-22 | Decoder circuit |
| CA000367472A CA1147475A (en) | 1979-12-27 | 1980-12-23 | Decoder circuit |
| US06/220,970 US4373196A (en) | 1979-12-27 | 1980-12-29 | Decoder circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54169186A JPS608554B2 (ja) | 1979-12-27 | 1979-12-27 | メモリ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5696529A JPS5696529A (en) | 1981-08-04 |
| JPS608554B2 true JPS608554B2 (ja) | 1985-03-04 |
Family
ID=15881821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54169186A Expired JPS608554B2 (ja) | 1979-12-27 | 1979-12-27 | メモリ装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4373196A (ja) |
| EP (1) | EP0031681B1 (ja) |
| JP (1) | JPS608554B2 (ja) |
| CA (1) | CA1147475A (ja) |
| DE (1) | DE3070487D1 (ja) |
| IE (1) | IE50702B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6411446U (ja) * | 1987-07-09 | 1989-01-20 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0167550B1 (ko) * | 1989-04-05 | 1999-02-01 | 미다 가쓰시게 | 반도체메모리 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3588672A (en) * | 1968-02-08 | 1971-06-28 | Tektronix Inc | Current regulator controlled by voltage across semiconductor junction device |
| US4099070A (en) * | 1976-11-26 | 1978-07-04 | Motorola, Inc. | Sense-write circuit for random access memory |
| JPS5375828A (en) * | 1976-12-17 | 1978-07-05 | Hitachi Ltd | Semiconductor circuit |
| US4195356A (en) * | 1978-11-16 | 1980-03-25 | Electronic Memories And Magnetics Corporation | Sense line termination circuit for semiconductor memory systems |
| US4195358A (en) * | 1978-12-26 | 1980-03-25 | Burroughs Corporation | Decoder for a prom |
-
1979
- 1979-12-27 JP JP54169186A patent/JPS608554B2/ja not_active Expired
-
1980
- 1980-12-18 DE DE8080304586T patent/DE3070487D1/de not_active Expired
- 1980-12-18 EP EP80304586A patent/EP0031681B1/en not_active Expired
- 1980-12-22 IE IE2705/80A patent/IE50702B1/en not_active IP Right Cessation
- 1980-12-23 CA CA000367472A patent/CA1147475A/en not_active Expired
- 1980-12-29 US US06/220,970 patent/US4373196A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6411446U (ja) * | 1987-07-09 | 1989-01-20 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3070487D1 (en) | 1985-05-15 |
| IE50702B1 (en) | 1986-06-25 |
| EP0031681A2 (en) | 1981-07-08 |
| CA1147475A (en) | 1983-05-31 |
| IE802705L (en) | 1981-06-27 |
| JPS5696529A (en) | 1981-08-04 |
| EP0031681A3 (en) | 1982-02-17 |
| EP0031681B1 (en) | 1985-04-10 |
| US4373196A (en) | 1983-02-08 |
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