JPS6084753A - イオンサイクロトロン共振スペクトルを記録する方法および装置 - Google Patents

イオンサイクロトロン共振スペクトルを記録する方法および装置

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JPS6084753A
JPS6084753A JP59179510A JP17951084A JPS6084753A JP S6084753 A JPS6084753 A JP S6084753A JP 59179510 A JP59179510 A JP 59179510A JP 17951084 A JP17951084 A JP 17951084A JP S6084753 A JPS6084753 A JP S6084753A
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S505/00Superconductor technology: apparatus, material, process
    • Y10S505/825Apparatus per se, device per se, or process of making or operating same
    • Y10S505/842Measuring and testing

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、試料物質のガス状のイオンを発生して超高真
空内で均質な一定磁界ならびに該イ6界に対し℃垂直の
方向の予め定められた周波数の交流電界に曝し、上記聞
流゛或界で共振状態になったイオンにより測定信号を発
生し、そしてさらに別のガス状の高エネルギのイオンで
上記試料物質を攻撃することにより該試料物質のガス状
イオンを発生することによるイオン”グイクロトロン共
振スペクトルの記録方法に関する。
従来技術 イオン°ディクロトロン共振(I CR)方法は、例え
ばfi独特許願公開公報第3124465号から公知で
ある。
質量分析計の特殊例としてのICR分光分析における一
般的な問題は、試料物質の被検分子からガス状のイオン
を発生することにある。このようなガス状のイオンが必
要とされるのは、このようなイオンをNCR分析計で共
振させるためである。
このようなガス状のイオンの発生において、高い効率な
らびにできる限り開基の伴わない円滑なイオンの発生過
程に関して努力が払われている。高い効率が得られれば
イオンの収率が萬くなり、それに伴っ℃高い測定信号な
らびに使用装置の尚い感度が得られる。またできるだけ
衝撃のない円滑な過程もしくはプロセスと言う要件は、
分子をできるだけそのままで化学的に可能な限り変化す
ることな(荷電した状態に移行することを意味する。こ
れら2つの要件と関連して、試料物質が難揮発性で固体
である場合に特に困難が生ずる。
公知のようにイオンが、■CR質盪分析計の場合のよう
に円形軌道ではな(直線的に加速される古典的な質量分
析と関連し℃、ガス状のイオンの発生に際し上に述べた
要件を遵守するために多数の方法が知られ℃いる。
化学的電@ (CI)においては、非常に反応性の高い
1次イオンが、試料物質の既にガス状にされた被検分子
と化学的に交互作用関係に置かれる。この方法は確かに
円滑で無難な方法であるが、しかしながら被検試料物質
を気化しなければ1よらず、そのために適用範囲が決定
的に制限されると言う欠点がある。
直接化学的電#[t(Dc■)法においても上述の化学
的電離の場合と同様に1次イオンが入射されるが、しか
しながらこのDCI法においては1次イオンは直接的に
固体試料物質に作用するようになっている。この公知の
方法(DCI )の欠点はその収率が非常に悪いと言う
点である。
レーず脱離法においては、固体の試料物質は、直接的に
レーザ光で高いエネルギ密度で照射される。この方法は
多くの適用領域において分子イオンに影響を与えること
なく良好な収率を得えると言う要件を満足するが、しか
しながらこの方法には、非常に大きな装置費用を甘受し
なければならないと言う欠点がある。
電解脱離(FD)法におい又は、特殊仕上げされた電極
上の試料物質の分子は非常に高い電界強度に曝され、そ
れにより該分)の一部がイオンとして放出されるもので
ある。この方法には次のような欠点がある。即ち、その
実施が極めて複雑であり、そのために、非常に実験的径
験に富んだ熟線者だけしか実施できないと言う欠点があ
る。また、先ず始めに特殊電極ヲ裏作し、試料を適切な
仕方で4備することが必要である。
最後に、試料を、直線的に加速された高エネルギの希ガ
ス原子(もしくはイオン)で攻撃すると言う高速原子攻
雀法(FAB)が知られている。
この方法においては、一般に、試料物質は先ずグリセリ
ンで溶解され、真空中で拡散することにより表面が常時
再生される、即ち、表面に常に試料物質の分子が存在す
る。そして「US−Z−Appl、 Phys、 11
 J (1976) 、55頁に八。
BenninghofenおよびW、 Sichter
mannが論述しているように被検試料物質を適切な形
態で金属表面に阿着することができる。しかしながら、
試料物質に衝突される分子のエネルギは通常5000−
10DODeVの範囲内にある。
発明が解決しようとする問題点 以上に述べた質量分光分析から公知の方法は、難揮発性
で複雑な試料物質のイオンを発生しなければならない場
合に原理的には、ICR分析にも適用可能である。しか
しながら、iCR質量分析におい又は、管種方法と関連
し℃上に述べた個々の欠点が一層顕著になる。と言うの
は、総ての付加装置は超真空条件下、即ち古典的な質量
分析と比較して約2桁はど低い圧力の真空条件下で動作
させなければならないからである。
よって本発明の課題は、冒頭に述べた型式の方法におい
て、難揮発性で複雑な試料物質からも、ICU質量分析
の超高真空条件下で低い装置費用でガス状のイオンを発
生することを可能にすることにある。
発明の構成および作用 上の課題は本発明によれば、1次イオンをもイオン丈イ
クロトロン共振により励起することにより解決される。
 。
本発明の方1宍によれば、1次イオンの励起は、被測定
2次イオンの励起と同じ仕方で行われ試験条件が同等に
なると言う大きな利点が得られる。
本発明の実施態様におい℃は、1次イオンを試料物質の
極く近情で発生し、そして1次および2次イオンを同じ
共振装置ケ備えた同じ測定セル内で励起するのが好まし
い。このようにすれば、装置費用は非常に太き(節減さ
れる。と言うのは1次イオンを発生するための付加的7
よ手段が必要とされるだけであり、1次イオンの所’J
Jのエネルギレベルの励起は、それに続く本来のICR
測定で用いられる装置手段で実施することができるから
である。
本発明の方法の好ましい実施、態様においては、1次イ
オンは希ガス、例えばアルゴンから発生される。しかし
ながらまた本発明によれば希ガスの代りに化学的反応性
ガスを使用することも可能である。
本発明のさらに他の実施態様において、1次イオンを測
定セル内で試料物質から間隔を開けて入射される電子ビ
ームで発生し、そして1次イオンのICHのための交流
電界の振幅ン、該1次イオンの円形軌道が試料物質の場
所を通るように設定するようにすれば特に単純な構成が
得られる。この場合、付加的な費用は、空間的に単に試
料物質の位置に対し、谷測定条件および谷使用イオンに
適合されるように位置を調節しなければならない電子ビ
ームの発生のための手段を設けるのに必要とされる費用
だけである。
励起される1次イオンと被測定2次イオンとの間の有害
な交互作用を排除するために本発明の別の実施態様にお
いては、ICHの励起前に1次イオンのための交流電界
が入射され、そして該交流電界の振幅は1次イオンが、
好ましくは接地電極であるトラップ電極に達するように
選択され乙。このようにして、本来のICRスペクトル
の記録前に、単純な高周波パルスを入射することにより
測定セルを1清子」にし、1次イオンを選択的に分離す
ることかり能となる。このような1次イオンの選択的分
離は、イオントラップが短時間開かれろ通常のケンチン
グパルスを使用した場合には、発生された2次イオンも
共に分離されてしまうために必要とされるものである。
本発明の方法を実施するために、特に、超高真空測定セ
ル内に試料物質のための試料担体が配設され、さらに該
測定セルが電離可能な媒質を含み、そして、該媒質を電
離するための手段と、媒質のイオンのICR励起のため
の別の手段と、試料物質のイオンの励起およびICR測
定のための手段とが設けられている装置が用いられる。
この場合、測定セルの外部に、電子ビームを発生ずるた
めの装置?設け1、該電子ビームは、その軌跡が試料担
体から予め選択された間隔を置いて延在するよ5に開1
コを介して測定セル内に導入されるようにするのが有利
である。
測定セルが円筒形の形態を有しておって4つの円筒状外
被のセグメント状の面を備え、それぞれ対btする対を
なす面が送信器および受信器を形成し、しかもこれら面
を直流的にアースに接続し、さらにイオントラップとし
ての2つのカバー面を有限の電位に接続するよ5にすれ
ば特に良好な作用が達成される。この構成によれば、測
定セルが円筒形の形態であるためにソレノイドコイル内
に、高い一定磁界強度を発生するのに用いられる超導亀
磁石におけるように有効ブよ空間利用が達成されると言
う利点か得られる。また、測定′セルの軸線に対し平行
な方向における電子ビームの導入ならびに試料の導入は
、ソレノイドフィルの測定目的に利用可能な磁界領域に
対する特に良好な接近もしくはアクセスを可能にする方
向に対応する。上記のようにセグメント面を直流的にア
ースと結合することにより、本来の工CR測定開始の直
前における上述のような1次イオンの強い励起に際し℃
、該1次イオンの円軌道の半径が大きくなり、それによ
り1次イオンが送信もしくは受信面と接触し、アースと
の直流結合によって分離されると言う利点が話される。
また、カバー板を有限な電位に接続することにより、該
電位の極性にLしして1111J定セル内の正もしくは
負のイオンを捕えることができる。
本発明による装置の別の実施態様において、試料担体は
挿入棒に敗付けられ、該挿入棒は測定セルの軸線に平行
に該測定セル内に延在し、半径方向に変位可能に設けら
れる。この構成によれば、試料担体の半径方向における
位置を谷測定条件に適応できると言う利点が得られる。
゛ 試料物質は1次イオンの回転軌道上に位置しなけれ
ばならないので、上記のような構成で、用いられる各1
次イオン、磁界の強さ等に簡単に適応させることができ
る。
他の利点は、糸付図面を参照しての以下の説明から明ら
かとなろう。
実施例 以下面付図面に示す本発明の実施例と関連して詳細に説
明する。
第1a図において、参照数字10は試料物質のイオンを
表わす。イオン1.0は、高周波送信器を形成する〃い
に平行に配設された2つのプレートもしくは板11およ
び12間に存在する。
板11および12は、高周波電圧UHFを印加すること
ができる端子13および14に接続されている。イオン
10はさらに、高い一定磁界Boの影響下にあり、該磁
界の方向は板11および120面に対して平行である。
即ち、電圧Ul(Fにより板もしくはプレート間に形成
される交流電界に対して垂直である。公知のように、荷
電粒子は一定磁界の影響下で湾曲した軌道に沿って運動
する。この一定もしくは静磁界が特に高い強さを有する
場合には、荷電粒子は円形軌道に沿って運動し、その場
合に該円形軌道の半径は、通常のイオンの場合、センナ
メートル台である。そこで一定磁界に対して交流電界を
印加し、その場合に該交流電界の周波数を荷電粒子の回
転周波数に対応するように選択すると、荷電粒子は励起
されて、上記円形軌道の半径は増大する。このようにし
て、第1a図に参照数字14aで示すようなスパイラル
線が描かれる。
この場合印加される共振周波数は、荷電粒子の電荷と磁
界の強さとの積乞粒子の質量で割った商にほぼ等しい。
ICR分析a1においては、イオン全体が上記の高周波
交流゛電界で励起される。この励起乞成る特定の時点で
遮断すると、プレート11および12に対して垂直に配
設された2つのプレート15および16を用いてICR
信号を電流の形態で測定することができる。図面におい
て、第1a図および第1b図は図示を明瞭にする意図か
ら分離して描かれている。受信プレート15および16
を、例えば1側が接地されている抵抗11を介して接続
すると、他方の接続点から増幅器18を介して端子19
からICR信号を取出すことができる。
測定されたICR信号の周波数成分から、試料物質に含
まれているイオン10に対応の質量数をめることができ
る。
本発明の方法を実施するのに適している測定セルの特に
有利な実施形態が第2図に示しである。この測定セル3
0は同前形状の形態を有しており、円節状の外破面は4
つのセグメントに分割されている。互いに対置するセグ
メントには送信面31および32が設けられ、他方の対
の互いに対置するセグメントは受信@J33および34
を形成し、これらセグメントの機能は第1a図および第
1b図に示した板もしくはプレぞれ対応する。
第2図に示した円節形状の測定セル30は、円板状のカ
バー面35および3Gにより閉鎖される。
送信面31および32には矢印で示すように、高周波゛
電圧Uあの形態にある送信信号が供給される。この高周
波電圧の印加点からアースに、インダクタンス3Tおよ
び38が接続されており、それにより送信面31および
32は直流的にアースに接続されることになる。対応の
仕方で、高周波電圧UHFを受信面33および34から
同様に矢印で示すように取出すことができ、その場合こ
れら受信面33および34も同様にインダクタンス39
および40を介して直流的にアースに接続されている。
カバー面35および36には交互に正の准泣トUf、た
は負の電位−U。を印加することかできる。
このようにして、測定セル30は副ゆるイオントラップ
を形成する。一定磁界B。の所定の作用強度においては
、測定セル30内に形成されるイオン軌道は非常に小さ
く、イオンは直流的に接地されている送信および受信面
31ないし34と接触しない。測定セル30内のイオン
が正イオンである場合には、カバー面35および36に
は旧の基準電位十Uoが印加され、したがって正イオン
は該カバー面35および36から反発される。したがっ
て、測定セル30内の超真空状態を入念に維持すること
により、イオンを数時間に亘り測定セル30内に閉込め
ることができる。
試料物質を測定セル30内に導入するために、カバー板
36には半径方向のスリット50が設けられ、このスリ
ット50を通してグリップ52により挿入棒51を挿入
することができる。
挿入棒51の端には、試料担体53が設けられており、
この担体上に被検試料物質が設けられている。挿入棒5
1の軸線は測定セル30の縦軸線に平行に延在するが、
しかしながら、挿入棒51はその軸線がヨ1]定セルの
縦軸線から有限の間隔となるように配置される。この間
隔は、挿入棒51を半径方向のスリン)50内で半径方
向に変位することにより調整可能である。なお、要素5
0ないし53の配列は極く#l略に示したものであり、
測定セル30内での試料担体の半径方向の変位を可能に
するのに適した他の構成を採用し得ることは言うまでも
ない。
さらに、測定セル3oは、電離可能な媒質、例えばアル
インのような希ガスで満されている。
この電離化可能な媒質内でイオンを発生するために、カ
バー面35および36には互いに同面関係にある開口6
0および61が設けられており、これら開口を介し℃測
定セル3oの内部に電子ビーム64を導くことができる
ようになっている。イオンビーム64は、一方の開口G
の近傍に設けられているフィラメント62および格子電
極63を用いて公知の仕方で発生することかできる。こ
の場合、電子ビーム64も、測定セル30の縦軸Uに対
し℃平行に且つ該縦軸線から所定の間隔を開けて該測定
セル内に導入される。
本発明の方法の実施に当っては、先ず、ガス入口を介し
て、測定セル3o内に例えばアルインのような電離可能
なガスの適当な蒸気圧力が設定される。
それに続(方法段階に関しては、以下に第6図および第
4図に示したタイミングダイアダラムを参照し説明する
先ス、第6図aに示すように、謂ゆるケンチングパルス
10が発生される。このパルスは、イオントラップを短
時間開放し測定セル30内に存在している総てのイオン
を追出すためのものである。この目的で、例えば、測定
セル3゜を画定する面に゛短時間適当な極性の電位を印
加することができる。− ケンチングパルスγ0の遮断後に、第6図1〕(C示す
ように、短時間電子ビーム640発生に寄与するパルス
11が発生される。イオンビーム64は測定セル3o内
のその軌跡に沿って該測定セル30内に含まれている電
離可能なアルゴンにイオンを発生せしめる。しかしなが
ら、これらイオンは初期にはまだ比較的低いエネルギレ
ベルしか有していない。これらアルゴンの゛1次イオン
乞励起するために、続いて、第6図Cに見られるように
、1次イオンに対し第1の励ig交流電界12を発生す
る。この、励起電界720周波数は、始めの部分で述べ
た1次イオンの回転周波数に対応するように選択される
。励起電界12の振幅および持続期間は、1次イオンが
測定セル30内で明確に定められた円軌道上を運動する
ように選択される。この円軌道の半径は、励起され今や
充分なエネルギレベルとなった1次イオンが試料担体5
3の領域で試料物質に衝突し、それにより試料物質から
2次イオンが発生されるよ5に設定される。この過程は
非常に小さい空間内で生起し、しかも1次イオンの発生
、その励起ならびに2次イオンの発生は時間的に間を置
かず順次行なわれるので、2次イオンの発生はその収率
が犬きく、シかも発生される2次イオンの化学的変化が
生じないように充分に円滑に生起する。
励起された1次イオンを試料物質に衝突することによる
2次イオンの発生が完結したならば、第6図Cに示すよ
うな第2の交流励起電界γ3を発生する。この第2番目
の励起電界T3は第1番月の励起電界12よりも相当に
大きい振幅を有しており、したがって1次イオンの回転
軌道の半径は顕著に太き(なる。その結果1次イオンは
送信器ならび受信器の円筒上外被のセグメント形状の面
31ないし34と接触し、インダクタンス3γないし4
0を介して直流結合により取出される。その結果、測定
セル30の内部には試料物質から生じないイオンは完全
に存在しな(なる。
本発明による方法の第6図に示した実施例においては、
第6図(1に示すように2次電子のための励起交流電界
74は、その周波数が時間的に変化される。即ち、工C
Rスペクトルは変化する周波数で測定され、その結果、
励起交流′電界74の6瞬時周波数に対応するICR信
号15゜76およびT7が順次発生ずる。これらICR
信号75.76および17は、第6図eに示しである。
なお、第6図dに示した変化する周波数の励起電界T4
を多重に逐次印加し℃、それにより得られたICR信号
γ5ないし11を蓄積デバイスで累積して、平均値をめ
ることにより信号/雑音比を大きくすることができる。
本発明による方法の第4図に示した変形例においては、
第4図aないしCに示し℃ある方法段階は第6Naない
しCに示した方法段階と同じであるが、第31W d 
K示したゆつ(つと変化する周波数の励起交り毘電界1
4の代りに、第4図dに示すようにフーリエ信号の形!
原にある励起電界18が用いられる。この場合、予め画
定された周波数領域で同時に異なった周波数の電界が入
射され、それによりこの周波数領域内にある総ての共振
が励起される。フーリエ励起電界T8の遮断後、受信器
には、第4図eに示すような干渉信号γ9が得られる。
この干渉信号79は、異なった周波−牧で励起された共
振プロセスの時間的減衰に対応している。時間領域に総
てのスペクトル成分を含むこの干渉信号19は、公知の
フーリエ変換方法を用いて周波数領域に換算され、その
結果第5図eK示すような周波数スペクトルが得られる
上記フーリエ方法の利点は、同じ測定時間内で極めて高
い信号収率が達成できる点にある。
即ち、スペクトルの周波を、所定の測定時間を必要とす
る時間をかけて逐次走査する代りに1多数のフーリエ励
起電界γδを逐次入射して全スペクトルを励起すること
ができる。この場合符フーリエ励起78後に、個別の干
渉信号79を蓄積デバイスに書込んで、そこで加算し、
上述の平均値発生方法乞用いて尚い信号/雑音間隔を達
成することができる。
典型的な使用例におい℃は、測定セル30の長さはほぼ
6cIILであり、直径は約5CrrLである。
一定磁界もしくは静磁界Bdr)強さは、超導亀磁石を
用いる場合、例えば4.7Tであり、これは通常の質量
数の場合、10MJ(zの領域内の励起周波数に対応す
る。測定セル内の圧力は典型的には10−7ないし10
−9ミリバールである。
発明の効果 本発明により1次イオンの励起は被測定2次超旨真空条
件下で低い装置費用でガス状のイオンを発生することが
可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1a図および第1b図は、発生されるイオンサイクロ
トロン共振ヲ説明するための略図、第21は、、ICR
測定セルを略示する斜視1図、第6図は、■CRス(ク
トルを遅い周波数変化で励起する本発明による方法の絹
1番目の実施例を説明するための時間ダイヤグラム、そ
し℃第4図は、フーリエ技術でICRスペクトルを記録
するだめの本発明による方法の別の実施例を図解する第
6図に対応の時間ダイヤグラムである。 1u−・・イオン、11.12−・・送信板(ル−1・
)、15.16・−・受信板()0レ−ト)、1γ・・
・抵抗、18・・・増幅器、3o・・・測定セル、31
.32・・・送信面、33.34・・・受信面、35゜
36・・・カバー面、37.38.39.40・・・イ
ンダクタンス、50・・・スリット、51・・・挿入棒
、52・・・グリップ、53・・・試料用体、60.6
1・・・開口、62・・・フィラメント、63・・・1
6子電極、64・・・電子ビーム、lO・・・ケンチン
グパルス、11・・・パルス、12.γ3.γ4,18
中励起父流′亀界、γ5.76、γγ・・・ICR信号
、γ9・・・干渉信号。 Fig、1b

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 試料物質のガス状のイオンを発生して超高に曝し
    、前記交流電界で共振状態になったイオンにより測定信
    号を発生し、そしてさらに別のガス状の高エネルギのイ
    オン(1次イオン)で前記試料物質を攻撃することによ
    り該試料物質のガス伏イオン(2次イオン)を発生する
    ことによるイオンサイクロトロン共振スペクトルの記録
    方法において、前記1次イオンを同時にイオンサイクロ
    トロ/共振で励起することを特徴とするイオンサイクロ
    トロン共振スペクトルの記録方法。 2.1次イオンを試料物質の極(近傍で発生する特許請
    求の範囲第1項記載のイオンサイクロトロン共振スペク
    トルの記録方法。 6.1次および2次イオンを同じ共振装置(31,32
    )を備えた同じ測定セル(30)内で励起する特許請求
    の範囲第1項または第2項記載のイオンサイクロトロン
    共振スペクトルの記録方法。 4.1次イオンを希ガス、例えばアルゴンから発生する
    特許請求の範囲第1項ないし第6項のいずれかに記載の
    イオンy−イクロトロン共振スくクトルの記録方法。 5.1次イオンを化学的反応性を有するガスから発生す
    る特許請求の範囲第1項ないし第6項のいずれかに記載
    のイオンサイクロトロン共振スペクトルの記録方法。 6.1次イオンを測定セル(30)内で試料物質から離
    間して入射される電子ビーム(64)により発生し、そ
    して1次イオンのイオ/“丈イクロトロン共振のための
    交流電が(72)の振幅を、試料物質の場所(53)を
    通る1次イオンの円形軌道が生ずるように設定する特許
    請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに記載のイオ
    ンサイクロトロン共振スペクトルの記録方法。 Z 2次イオンのイオンサイクロトロン共振励起前に、
    1次イオンのための交流電界(13)を入射し、該交流
    電界の振幅を1次イオンが捕集電極に達するような大き
    さにする特許請求の範囲第6項記載のイオンサイクロト
    ロン共振スペクトルの記録方法。 8、 直流の捕集電極が接地電極(31,32゜33.
    34)である特許請求の範囲第7項記載のイオンサイク
    ロトロン共振スペクトルの記録方法。 9 超高真空測定セル(30)内に試料物質のための試
    料担体(53)を配設し、前記測定セル(30)はさら
    に、電離可能な媒質と、該媒質を電離するための手段(
    60ないし64)と、前記媒質のイオンのイオンティク
    ロトロン共振を励起するための別の手段(11ないし1
    4)と、試料物質のイオンのイオンサイクロトロン共振
    を励起し測定するための手段(11ないし19)を備え
    ていることを特徴とするイオンサイクロトロン共振スペ
    クトルの記録装置。 10、測定セル(30)の外部に、電子ビーム(64)
    を発生するための装置(62,63)を設け、該電子ビ
    ームは、その軌跡が試料担体(53)から予め選択され
    た間隔で延びるように測定セル(30)内に開口(60
    ,61)を介して導入される特許請求の範囲第9項記載
    のイオンサイクロトロン共振スペクトルの記録装置0 11、測定セル(3o)が円筒形の形態を有しておって
    、4つの円筒状外傾のセグメント形状の面(31ないし
    34)を備え、核部のうち対置して対をなす面が、それ
    ぞれ送信器(31,32)および受信器(33,34)
    を形成して、直流的にアースに結合され、さらに2つの
    カバー面(35,36)をイオントラップとして有限の
    電位(±Uo)に接続する特許請求の範囲第9項または
    第10項に記載のイオンサイクロトロン共振スペクトル
    の記録装置。 12、試料担体(53)を挿入棒(51)に取付け、該
    挿入棒を、測定セル(3o)の軸線に平行に該測定セル
    内に延在して半径方向に変位可能にした特許請求の範囲
    第11項記載のイオンティクロト「共振ス被りトルの記
    録装置。 13、電子ビーム(64)を測定セル(3o)の軸線に
    平行に案内する特許請求の範囲第12項記載のイオン・
    グイクロトロン共振スペクトルの記録装置。
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