JPS6074084A - 三次元物体の表示方法 - Google Patents
三次元物体の表示方法Info
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- JPS6074084A JPS6074084A JP59155686A JP15568684A JPS6074084A JP S6074084 A JPS6074084 A JP S6074084A JP 59155686 A JP59155686 A JP 59155686A JP 15568684 A JP15568684 A JP 15568684A JP S6074084 A JPS6074084 A JP S6074084A
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- G05B19/02—Program-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
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- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Compression Or Coding Systems Of Tv Signals (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、特許請求の範囲第１項の前提概念による宿造
物の二次元表示のための方法に関するものである、 プログラミングの際に、オペレータを助ける多かれ少な
かれ好適な種々の加工物表示法が公知である。山崎鉄工
（株）のリボ−）ＡＬＴＲ８１−８１００００において
制御装置マザト−ルＴ−１が記載されており、その際ス
フＩＪ−は後の加工工程で、それまでの加工物輪郭が他
の加工によって除去されても、もとの工具輪郭が残って
いるからでろる。結局仕上げられた加工物の輪郭のみな
らず一度でも工具軌道輪郭であった全ての多数の綜が認
められる１、従って非常に早期に使用困難となる表示が
生ずる。
物の二次元表示のための方法に関するものである、 プログラミングの際に、オペレータを助ける多かれ少な
かれ好適な種々の加工物表示法が公知である。山崎鉄工
（株）のリボ−）ＡＬＴＲ８１−８１００００において
制御装置マザト−ルＴ−１が記載されており、その際ス
フＩＪ−は後の加工工程で、それまでの加工物輪郭が他
の加工によって除去されても、もとの工具輪郭が残って
いるからでろる。結局仕上げられた加工物の輪郭のみな
らず一度でも工具軌道輪郭であった全ての多数の綜が認
められる１、従って非常に早期に使用困難となる表示が
生ずる。
更にパリの「ＥＭｏν８３」ではＭ Ａ ＨＯ商会の社
内誌にＤ −８９６２Ｐｆｒｏｎｔｅｎ が記載されて
いる制御装置が公知で必る。そこでは三つの投影で一つ
の加工物が示てれ、加工物はフライス加工される。どれ
だけの深さ加工が進んだかを認識するために、他の投影
が観察されなければならない、その投影は勿論全ての稜
を示すのではなく、シルエットのみの表示である。従つ
て観察者は加工物の空間的印象ではなく、全部で三つの
投影によってのみ得られる相異なる加工平面を視覚で認
識することができる。従って加工物の公知の表示方法は
尚十分でもなく、またさもなければＯＡ、Ｄ（コンピュ
ータ援用設計）による三次元表示程のコストがか＼る。
内誌にＤ −８９６２Ｐｆｒｏｎｔｅｎ が記載されて
いる制御装置が公知で必る。そこでは三つの投影で一つ
の加工物が示てれ、加工物はフライス加工される。どれ
だけの深さ加工が進んだかを認識するために、他の投影
が観察されなければならない、その投影は勿論全ての稜
を示すのではなく、シルエットのみの表示である。従つ
て観察者は加工物の空間的印象ではなく、全部で三つの
投影によってのみ得られる相異なる加工平面を視覚で認
識することができる。従って加工物の公知の表示方法は
尚十分でもなく、またさもなければＯＡ、Ｄ（コンピュ
ータ援用設計）による三次元表示程のコストがか＼る。
従って本発明は、空間的表示が改良され、構成物の（表
面の）変化を表示でき、かつＣＡＤが必要とするよシも
明らかに僅かな計算機コストで実施可能な、三次元４Ｆ
Ｊ造物の二次元表示方法を創造すること全課題の基１礎
とする。
面の）変化を表示でき、かつＣＡＤが必要とするよシも
明らかに僅かな計算機コストで実施可能な、三次元４Ｆ
Ｊ造物の二次元表示方法を創造すること全課題の基１礎
とする。
との課題は特許請求の範囲棺１項による方法によって解
決される。
決される。
本発明による方法の利点は加工された加工物の三次元構
造の良好な二次元表示がなされ、その結果加工されるべ
き加工物の外観はプログラミング操作中でも判断される
ことができる１、必要な計算機コストは高くなく、演算
は一工作機械のα値制御又はプログラム個所で使用され
るような一マイクロプロセッサによって直ちに実現され
ることができる。
造の良好な二次元表示がなされ、その結果加工されるべ
き加工物の外観はプログラミング操作中でも判断される
ことができる１、必要な計算機コストは高くなく、演算
は一工作機械のα値制御又はプログラム個所で使用され
るような一マイクロプロセッサによって直ちに実現され
ることができる。
次に図面に基いて本発明の詳細な説明する。
図面としては基本的に困難な図による表示状況の故にき
わめて簡略化されかつ多くの部分で図形的に示される。
わめて簡略化されかつ多くの部分で図形的に示される。
加工される加工物は黒い地に白いシルエットとして示さ
れる。
れる。
第１図に示された加工Ｉ吻Ｏはカロエされた内’ＩＱ郭
及び外輪郭を示す。これらの輪郭はフライス加工によっ
て生じかつ、図平面に対して垂直な深さが斜線で表わさ
れている。斜線部は、フライスよシ材料除去された加工
平面に相当する。
及び外輪郭を示す。これらの輪郭はフライス加工によっ
て生じかつ、図平面に対して垂直な深さが斜線で表わさ
れている。斜線部は、フライスよシ材料除去された加工
平面に相当する。
その際最も深い加工平面は段差的に最も大きい段となる
。本発明による方法によれば二次元の画像表示において
加工平面が観察平面によってシュミレートされる。観察
平面は階段状に配列されてお９、即ち一つの観察千１ｍ
は、図平面に対して垂直方向において、次のものよシも
高く位置する。これらの観１察平面にそれぞれ画像パタ
ーンが所属しておシ、画像パターンは、同様に、群とし
て段階的に配列されている。バターンはその段階的ステ
ップに相応してその斜線の相異なる密度を有し、このこ
とは第２図〜第３図に基いて説明される。
。本発明による方法によれば二次元の画像表示において
加工平面が観察平面によってシュミレートされる。観察
平面は階段状に配列されてお９、即ち一つの観察千１ｍ
は、図平面に対して垂直方向において、次のものよシも
高く位置する。これらの観１察平面にそれぞれ画像パタ
ーンが所属しておシ、画像パターンは、同様に、群とし
て段階的に配列されている。バターンはその段階的ステ
ップに相応してその斜線の相異なる密度を有し、このこ
とは第２図〜第３図に基いて説明される。
第２図において、段差的に低い段のパターンが大きく拡
大して示されており、段は最も浅い深さの観察平面又は
加工平面を示す。ここでは黒くされた要素の部分は最も
浅い深さである。
大して示されており、段は最も浅い深さの観察平面又は
加工平面を示す。ここでは黒くされた要素の部分は最も
浅い深さである。
このパターンの表示は決して階段的に高いノくターンに
影＃を与えず、これについては後で詳しくＢ見切する。
影＃を与えず、これについては後で詳しくＢ見切する。
第６図において愚くされた要素の部分は次に高い段を示
し、拡大して示されている第６図の画像バター／は第２
図の画像パターンよシもかなり大きな割合の背景（地）
要素を含む。加工物表示において画像−・ターン５は第
２図の画像ノくターン２によって表わされる而よりも深
い次の観察平面又は加工平面を示す。
し、拡大して示されている第６図の画像バター／は第２
図の画像パターンよシもかなり大きな割合の背景（地）
要素を含む。加工物表示において画像−・ターン５は第
２図の画像ノくターン２によって表わされる而よりも深
い次の観察平面又は加工平面を示す。
第６図のものよシも深い観察平面又は加工平面は第４図
による画１破パターンによって衣わされる。ここでは、
黒くされた要素の部分は重要である。このパターン４を
備えた第１図の加工物０の表面部分は示された加工物０
の第三の観察平面又は加工平面である４、 第４の観察平面又は加工平面は第５図によるパターン５
によって表わされる。ここでは殆んど全画像部分が黒く
された要素によって占められている。
による画１破パターンによって衣わされる。ここでは、
黒くされた要素の部分は重要である。このパターン４を
備えた第１図の加工物０の表面部分は示された加工物０
の第三の観察平面又は加工平面である４、 第４の観察平面又は加工平面は第５図によるパターン５
によって表わされる。ここでは殆んど全画像部分が黒く
された要素によって占められている。
第１図による加工物の表示に通じる方法ステップを第２
図〜第５図の内容を考慮して第６図の記載に基いて説明
する第１図において相違して斜線を施された観察平面又
は加工平面２〜５は第２図〜第３図中符号で表わされ、
そして個々の影線は観察平面又は加工平面２〜５に属す
る各図（第２図〜第５図）中の画像パターンを象徴する
。
図〜第５図の内容を考慮して第６図の記載に基いて説明
する第１図において相違して斜線を施された観察平面又
は加工平面２〜５は第２図〜第３図中符号で表わされ、
そして個々の影線は観察平面又は加工平面２〜５に属す
る各図（第２図〜第５図）中の画像パターンを象徴する
。
加工物０はここで観察平面又は加工平面２として定義さ
れた表面を有する。相応した影線は第２図において示さ
れている。加工物０の加工はフンイスＦによって行われ
、７シイスは位置可変の円によってシュミレートされる
。この円は、プログラムされた工具軌道に相応して加工
物０上を又は加工物０中を移動する。フライスＦが現実
に加工物０と当接すると、材料は除去され、その結果フ
ライスＦの通った軌道は加工物０上もとの加工平面２と
は別の観察平面又は加工平面を特定する。スクリーン上
のシュミレーションにおいてフライスＦ′ｌｃ示す円板
はこの別の観察平面３の画像パターンに表わされる。
れた表面を有する。相応した影線は第２図において示さ
れている。加工物０の加工はフンイスＦによって行われ
、７シイスは位置可変の円によってシュミレートされる
。この円は、プログラムされた工具軌道に相応して加工
物０上を又は加工物０中を移動する。フライスＦが現実
に加工物０と当接すると、材料は除去され、その結果フ
ライスＦの通った軌道は加工物０上もとの加工平面２と
は別の観察平面又は加工平面を特定する。スクリーン上
のシュミレーションにおいてフライスＦ′ｌｃ示す円板
はこの別の観察平面３の画像パターンに表わされる。
プログラムされたフライス運動ではデスクＦは御所しい
平面の画像パターンを有するー加工物０中を移動しかつ
工具運動の間第一平面２のパターンを倣う１．このこと
は可能である、そのわけは平面４の画像パターンは平面
２のノくターンよシも段差的に高いからである。シュミ
レーションにおいてこの範囲の表示は暗い、そのわけは
パターン４の黒くされた要素の割合はパターン２よシ大
きいからである。このシュミレートされた工程は実際と
マツチする、何故ならば工具が加工物０中深い平面に進
入する場合ＩＦ−Ｍ５６Ｌ萌；除よ亡り一才引−より先
にヰ１−だ加工平面又は加工物輪郭が変わるからである
。先に生じ７′Ｃ＠郭は改められそして冒頭に述べた技
術レベルの場合のように後で全体の視界を妨げないから
である。
平面の画像パターンを有するー加工物０中を移動しかつ
工具運動の間第一平面２のパターンを倣う１．このこと
は可能である、そのわけは平面４の画像パターンは平面
２のノくターンよシも段差的に高いからである。シュミ
レーションにおいてこの範囲の表示は暗い、そのわけは
パターン４の黒くされた要素の割合はパターン２よシ大
きいからである。このシュミレートされた工程は実際と
マツチする、何故ならば工具が加工物０中深い平面に進
入する場合ＩＦ−Ｍ５６Ｌ萌；除よ亡り一才引−より先
にヰ１−だ加工平面又は加工物輪郭が変わるからである
。先に生じ７′Ｃ＠郭は改められそして冒頭に述べた技
術レベルの場合のように後で全体の視界を妨げないから
である。
フライスＦをシュミレートする円板の工具軌道はこの観
察平面又は加工平面において加工物０の全ての部分を倣
り、そこで加工物は先に生じた加工平面よシも深くフラ
イス削シされる。
察平面又は加工平面において加工物０の全ての部分を倣
り、そこで加工物は先に生じた加工平面よシも深くフラ
イス削シされる。
同様に高い又は低い加工物輪郭は、変わらず、このこと
は事実にマツチする。
は事実にマツチする。
この画像表示は加工物の加工のシュミレーショ／の実際
とマツチする、そのわけは画像パターンの階段状配列が
画像パターンの段に相応する段に配列された観察平面金
側って加工物の解析に使われるからである。
とマツチする、そのわけは画像パターンの階段状配列が
画像パターンの段に相応する段に配列された観察平面金
側って加工物の解析に使われるからである。
等測的方法でよシ深い観察平面又は加工平面に該当する
他の加工工程では階差的に高い画像バクーン全備えた、
デスクＦが階差的に低い画像パターンを削る。
他の加工工程では階差的に高い画像バクーン全備えた、
デスクＦが階差的に低い画像パターンを削る。
この削シは場合によっては材料が完全に除去されている
加工物Ｏの部分が完全に黒く現われる程度に行われる。
加工物Ｏの部分が完全に黒く現われる程度に行われる。
相応してそこでは、いかなる工具輪郭も残されない。
この方法で三次元構成物の二次元表示が生ずる。
画像パターンの階段状の配列は、減色理論の公知の基準
によってもつくられるＭＭθｙθｒ６Ｌｅｘｉｋｏｎ
ｄｅｒ Ｔｅｃｈｎｉｋ ｕｎｄ ｄｅｒ ｅｘａｋｔ
ｅｎ Ｎａｔｕ−ｒｗｉｓｓｅｎｓｃｈａｆｔｅｎ Ｊ
１９７０年第２巻８６９頁を参照）。この基準によれ
ば表示の第−相において加工物は白いシルエットを呈す
る。第一加工においてはフライスは「青い平面」に削り
込み、その結果この部分に黄色が表われる。次に深い平
面においては［青い及び緑色の平面」に削シ込まれ、そ
の結果赤があられれる。次に深い平面には、青い緑色の
及び赤い平面に削シ込まれ、そして黒く現われる。
によってもつくられるＭＭθｙθｒ６Ｌｅｘｉｋｏｎ
ｄｅｒ Ｔｅｃｈｎｉｋ ｕｎｄ ｄｅｒ ｅｘａｋｔ
ｅｎ Ｎａｔｕ−ｒｗｉｓｓｅｎｓｃｈａｆｔｅｎ Ｊ
１９７０年第２巻８６９頁を参照）。この基準によれ
ば表示の第−相において加工物は白いシルエットを呈す
る。第一加工においてはフライスは「青い平面」に削り
込み、その結果この部分に黄色が表われる。次に深い平
面においては［青い及び緑色の平面」に削シ込まれ、そ
の結果赤があられれる。次に深い平面には、青い緑色の
及び赤い平面に削シ込まれ、そして黒く現われる。
当業者にとって、画像パターンの階段状の配列が色と影
線の組合せによってつくられることも明らかであり、こ
のことは方法の多面性を高める。
線の組合せによってつくられることも明らかであり、こ
のことは方法の多面性を高める。
観察平面の特定を行うことができるための種々の方法も
重要である。加工物中に画像パターンに相応した多数の
等間隔の観察平面を設定することも可能である。
重要である。加工物中に画像パターンに相応した多数の
等間隔の観察平面を設定することも可能である。
加工物設計中に、加工物中に観察平面が設定されること
ができる。
ができる。
しかし有利な方法は、事実上最終的加工平面によってＷ
Ｍ９千面平面動的に特定することである。このために、
多くの平面においてプログラムされた輪郭に多くのフラ
イス工程を行う場合には最後のフライス工程のみが観察
平面の特定を行うことが必要である。二つの断接した加
工平面の内の段差がフライス工具が次に深い平面に達す
るのに単−送シでは充分材料を除できない程大きい場合
に度々何回かのフライス工程が必要となる。
Ｍ９千面平面動的に特定することである。このために、
多くの平面においてプログラムされた輪郭に多くのフラ
イス工程を行う場合には最後のフライス工程のみが観察
平面の特定を行うことが必要である。二つの断接した加
工平面の内の段差がフライス工具が次に深い平面に達す
るのに単−送シでは充分材料を除できない程大きい場合
に度々何回かのフライス工程が必要となる。
各「送シ位置」毎に観察平面が使用されることを回避す
るため、最終の加工サイクルのみが最終の加工平面にお
ける観察平面を特定する。
るため、最終の加工サイクルのみが最終の加工平面にお
ける観察平面を特定する。
本発明による方法はフライス工程の表示のみならず、他
の任意の加工工程でも実施されることができることは理
解される。
の任意の加工工程でも実施されることができることは理
解される。
第１図は仕上加工された加工物の表示、第２図は最も浅
い加工平面を示すパターンを備えた大きく拡大されたス
クリーン断面、第３図は次に深い加工平面の相応した断
面、第４図は深い加工平面の相応した断面、第５図は非
常に深い加工平面の対応した断面、第６図はフライスに
よって溝が削られる加工平面が表わされている断面図で
ある。 図中符号 ２．３．４’、５・・・画像パターン Ｆ・・・工具シルエット ０・・・構造物 代理人 江 崎 光 好 代理人 江 崎 光 史 −１所ｙｉ Ｅ２ 」阿？３ ｊ阿７導 ニｌシｒ５ 二ンｈ？Ｅ 第１頁の続き ０発 明 者 マンフレート・ウール トム ラ゛ イツ連邦共和国、ツオルネデイング、ヘルツオークープ
ンツ、１１ 昭和５９年 ８月３０日 特許庁長官 志賀 学 殿 １、 事件の表、」り 昭和５９年特許願第１５５６８６ 号 ２、 発明の名称 三次元物体の表示方法 ３、補正をする者 小件との関係 出願人 Ｌシｒ、 ドクトル・ヨハ坏ス・ハイデンハイン・（名
ｆ＋；） 、ｙゼルシャフト・ミド・ベシュレンクテル
舎ハフノング ４、代理人 別紙 特許請求の範囲 合 ＋１１ 特に加工され１工作物の断面によってかわる三
次元構造物を工作機械制御部のスクリーン上に二次元的
に表示するための方法において、画像パターン（２，３
，４，５）の群は階段状に配列されており、そのうち階
段として高い方は階段とじて低いパターンの上に描かれ
、表示されるべき構造物（０）に複数の観察平面（２，
３，４゜５）が設定され、その際前記階段状の各観察平
面（２，３，４，５）に、画像パターン（２，３，４，
５）の一つが付設されており、そして観察平面（２゜３
．４．５）における表示されるべき構造物（０）の変化
はこの観察平面に対応した画像パターンの位置変化可能
な部分（Ｆ） Ｋよって、高い観察平面の表示が上に描
かれるが、同−又は低い高さの観察平面の表示には影響
を与えないことを特徴とする二次元表示方法。 （２）−構造物（○）の表示が複数の投影によって行わ
れる、特許請求の範囲第１項記載の方法。 （３） 構造物（○）の表示が三つの対角線投影によっ
て行われる特許請求の範囲第１項又は第２項記載の方法
。 （４） 階段状に配列された画像ノくターン（２、３、
４゜５）が相異なる密度の同期化されたノ・ンチングに
よって形成される、特許請求の範囲第１項記載の方法。 （５） 階段状に配列された画像ノくターンが塗料又は
塗料混合物によって形成される、特許請求の範囲第１項
記載の方法。 （６） 階段状に配列された画像ノくターンが塗料又は
塗料混合物と関連して相異なる密度の斜線によって形成
される、特許請求の範囲第１項、第４項又は第５項のう
ちのいずれか一つに記載の方法。 （７） 構造物（０）に相反に空間的に等しい距離だけ
離れた観察平面が設けられている、特許請求の範囲第１
項記載の方法。 （８） 観察平面（２，３，４，５）が−ｍ−切屑をだ
す切削工具によって形成されて−−シュミレートされた
加工平面を表わす、特許請求の範囲第１項記載の方法。 （９） 観察平面（２，３，４，５）が幾何学的合理性
による技術的加工物図面中で特定される、特許請求の範
囲第１項記載の方法。 （１０観察平面（２，３，４，５）が加工平面によって
自動的に特定され、その際多数の加工平面による同一加
工物輪郭の多重加工では最後の加工平面のみが観察平面
を特徴する特許請求の範囲第１項又は第８項記載の方法
。 ＯＤ 工具の運動及び作用は移動する工具シルエット（
Ｆ）による投影においてシュミレートされ、工具シルエ
ットは対応した観察平面に付設された画像パターンを備
えている、特許請求の範囲第１項又は第８項記載の方法
。
い加工平面を示すパターンを備えた大きく拡大されたス
クリーン断面、第３図は次に深い加工平面の相応した断
面、第４図は深い加工平面の相応した断面、第５図は非
常に深い加工平面の対応した断面、第６図はフライスに
よって溝が削られる加工平面が表わされている断面図で
ある。 図中符号 ２．３．４’、５・・・画像パターン Ｆ・・・工具シルエット ０・・・構造物 代理人 江 崎 光 好 代理人 江 崎 光 史 −１所ｙｉ Ｅ２ 」阿？３ ｊ阿７導 ニｌシｒ５ 二ンｈ？Ｅ 第１頁の続き ０発 明 者 マンフレート・ウール トム ラ゛ イツ連邦共和国、ツオルネデイング、ヘルツオークープ
ンツ、１１ 昭和５９年 ８月３０日 特許庁長官 志賀 学 殿 １、 事件の表、」り 昭和５９年特許願第１５５６８６ 号 ２、 発明の名称 三次元物体の表示方法 ３、補正をする者 小件との関係 出願人 Ｌシｒ、 ドクトル・ヨハ坏ス・ハイデンハイン・（名
ｆ＋；） 、ｙゼルシャフト・ミド・ベシュレンクテル
舎ハフノング ４、代理人 別紙 特許請求の範囲 合 ＋１１ 特に加工され１工作物の断面によってかわる三
次元構造物を工作機械制御部のスクリーン上に二次元的
に表示するための方法において、画像パターン（２，３
，４，５）の群は階段状に配列されており、そのうち階
段として高い方は階段とじて低いパターンの上に描かれ
、表示されるべき構造物（０）に複数の観察平面（２，
３，４゜５）が設定され、その際前記階段状の各観察平
面（２，３，４，５）に、画像パターン（２，３，４，
５）の一つが付設されており、そして観察平面（２゜３
．４．５）における表示されるべき構造物（０）の変化
はこの観察平面に対応した画像パターンの位置変化可能
な部分（Ｆ） Ｋよって、高い観察平面の表示が上に描
かれるが、同−又は低い高さの観察平面の表示には影響
を与えないことを特徴とする二次元表示方法。 （２）−構造物（○）の表示が複数の投影によって行わ
れる、特許請求の範囲第１項記載の方法。 （３） 構造物（○）の表示が三つの対角線投影によっ
て行われる特許請求の範囲第１項又は第２項記載の方法
。 （４） 階段状に配列された画像ノくターン（２、３、
４゜５）が相異なる密度の同期化されたノ・ンチングに
よって形成される、特許請求の範囲第１項記載の方法。 （５） 階段状に配列された画像ノくターンが塗料又は
塗料混合物によって形成される、特許請求の範囲第１項
記載の方法。 （６） 階段状に配列された画像ノくターンが塗料又は
塗料混合物と関連して相異なる密度の斜線によって形成
される、特許請求の範囲第１項、第４項又は第５項のう
ちのいずれか一つに記載の方法。 （７） 構造物（０）に相反に空間的に等しい距離だけ
離れた観察平面が設けられている、特許請求の範囲第１
項記載の方法。 （８） 観察平面（２，３，４，５）が−ｍ−切屑をだ
す切削工具によって形成されて−−シュミレートされた
加工平面を表わす、特許請求の範囲第１項記載の方法。 （９） 観察平面（２，３，４，５）が幾何学的合理性
による技術的加工物図面中で特定される、特許請求の範
囲第１項記載の方法。 （１０観察平面（２，３，４，５）が加工平面によって
自動的に特定され、その際多数の加工平面による同一加
工物輪郭の多重加工では最後の加工平面のみが観察平面
を特徴する特許請求の範囲第１項又は第８項記載の方法
。 ＯＤ 工具の運動及び作用は移動する工具シルエット（
Ｆ）による投影においてシュミレートされ、工具シルエ
ットは対応した観察平面に付設された画像パターンを備
えている、特許請求の範囲第１項又は第８項記載の方法
。
Claims (10)
- （１） 特に加工された工作物の断面によってかわる三
次元構造物を工作機械制御部のスクリーン上に二次元的
に表示するための方法において、画像パターン（２，３
，４，５）の群は階段状に配列されておｐｌそのうち階
段として高い方は階段として低いパターンの上に描かれ
、表示されるべき構造物（０）に複数の観察平面（２，
５，４，５）が設定され、その際前記階段状の各観察平
面（２、５、４、５）に、画像パターン（２ｙ３＋’＋
”）の一つが付設されておシ、そして観察平面（２、３
゜４．５）における表示されるべき構造物（０）の変化
はこの観察平面に対応した画像パターンの位置変化可能
な部分（ｙ）によって、高い観察平面の表示が上に描か
れるが、同−又は低い高さの観察平面の表示には影響を
与えないことを特徴とする二次元表示方法。 - （２）構造物（０）の表示が複数の投影によって行われ
る、特許請求の範囲第１項記載の方法。 - （３）構造物（０）の表示が三つの対角線投影によって
行われる特許請求の範囲第１項又は第２項記載の方法。 - （４）階段状に配列された画像パターン（２、３゜４．
５）が相異なる密度の同期化されたノ・ツテングによっ
て形成される、特許請求の範囲第１項記載の方法。 - （５）階段状に配列された画像パターンが塗料又は塗料
混合物によって形成される、特許請求の範囲第１項記載
の方法。 - （６）階段状に配列された画像パターンが塗料又は塗料
混合物と関連して相異なる密度の斜線によって形成され
る、特許請求の範囲第１項、４項又は第５項のうちのい
ずれか一つに記載の方法。 - （７） 構造物（０）に相互に空間的に等しい距離だけ
離れた観察平面が設けられている、特許請求の範囲第１
項記載の方法。 - （８）観察平面（２＋ ６＋ ４＋ ” ）が−切屑を
だす切削工具によって形成されて一シュミレートされた
加工平面を表わす、特許請求の範囲第１項記載の方法。 - （９）観察平面（２，３，４，５）が加工平面によって
自動的に特定され、その際多数の加工平面による同一加
工物輪郭の多重加工では最後の加工平面のみが観察平面
を特徴する特許請求の範囲第１項又は第８項記載の方法
。 - （１０）工具の運動及び作用は移動する工具シルエラ）
（Ｆ）による投影においてシュミレートされ、工具シ
ルエットは対応した観察平面に付設された画像パターン
を備えている、特許請求の範囲第１項又は第８項記載の
方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3327117A DE3327117C2 (de) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | Verfahren zum zweidimensionalen Darstellen von dreidimensionalen Gebilden |
| DE3327117.8 | 1983-07-27 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6074084A true JPS6074084A (ja) | 1985-04-26 |
| JPH0782373B2 JPH0782373B2 (ja) | 1995-09-06 |
Family
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|---|---|---|---|
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|---|---|
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| EP (1) | EP0136404B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0782373B2 (ja) |
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