JPS6073464A - 自動分析装置の試薬恒温装置 - Google Patents
自動分析装置の試薬恒温装置Info
- Publication number
- JPS6073464A JPS6073464A JP18259983A JP18259983A JPS6073464A JP S6073464 A JPS6073464 A JP S6073464A JP 18259983 A JP18259983 A JP 18259983A JP 18259983 A JP18259983 A JP 18259983A JP S6073464 A JPS6073464 A JP S6073464A
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- JP
- Japan
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- reagent
- heating
- temp
- control
- temperature
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- Granted
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L7/00—Heating or cooling apparatus; Heat insulating devices
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
この発明は、生化学的分析若しくは免疫学的分析を行う
自動分析装置の恒温装置に係り、特に測定項目に対応す
る試薬全収容する各試薬容器が、ｔ’）Ｆ定の分注位置
まで移送されるべく構成されてなる自動分析装置に好適
な恒温装置に関する。
自動分析装置の恒温装置に係り、特に測定項目に対応す
る試薬全収容する各試薬容器が、ｔ’）Ｆ定の分注位置
まで移送されるべく構成されてなる自動分析装置に好適
な恒温装置に関する。
（技術的背景）
周知のように、生化学的若しくは免疫学的分析において
用いられる試薬は、測定に必要なデータを得るため、反
応を促進するよう反応温度と同じ温度で分注されること
がこの種の自動分析装置においては絶対条件となってい
る。
用いられる試薬は、測定に必要なデータを得るため、反
応を促進するよう反応温度と同じ温度で分注されること
がこの種の自動分析装置においては絶対条件となってい
る。
このため、この種の自動分析装置では、従来よシ試薬を
上記反応温度まで加温する手段がほとんどのものに施こ
されている。
上記反応温度まで加温する手段がほとんどのものに施こ
されている。
（従来技術）
ところで従来の自動分析装置にあっては、試 ′薬の分
注作業は、ピペットが固定化されて配列された試薬容器
と反応管との間を往復移動することで行われるように構
成されたものが殆んどでちゃ、このような構成の自動分
析装置に配設される恒温装置は基本的には固定化された
試薬容器に一体的に装着すればよく、構造的にも簡易に
構成することができる。
注作業は、ピペットが固定化されて配列された試薬容器
と反応管との間を往復移動することで行われるように構
成されたものが殆んどでちゃ、このような構成の自動分
析装置に配設される恒温装置は基本的には固定化された
試薬容器に一体的に装着すればよく、構造的にも簡易に
構成することができる。
しかしながら、試薬容器が固定化され、ピペットが往復
移動することで試薬の分注が行なわれる方式の自動分析
装置にあっては、試薬の持ちこしが発生して無駄が多く
、またピペットの洗浄が不可欠となるので装置が複雑化
することから、本出願人は先に、試薬容器を試薬分注位
ｔｉｔまで移送し、同容器に専用装備されたピペットで
試薬を反応管に分注する自動分析装置を提案した。
移動することで試薬の分注が行なわれる方式の自動分析
装置にあっては、試薬の持ちこしが発生して無駄が多く
、またピペットの洗浄が不可欠となるので装置が複雑化
することから、本出願人は先に、試薬容器を試薬分注位
ｔｉｔまで移送し、同容器に専用装備されたピペットで
試薬を反応管に分注する自動分析装置を提案した。
この装置によれば１試薬容器が固定化された自動分析装
置が奏する上記欠点全−掃できるわけであるがここに一
つの問題が発生する。
置が奏する上記欠点全−掃できるわけであるがここに一
つの問題が発生する。
それは、試薬容器毎に専用のビベットヲ装備する関係上
、同ピペットに吸引された試薬の農体温度までの加熱を
夫々行う加熱手段全試薬容べく各加熱手段毎の温度を検
知して個々に制御しなければならず、この結果、部品点
数が嵩んで組付工数が煩雑となるはかりが、上記加熱手
段毎の温度制御作業が煩雑を極めるという問題が発生す
る。
、同ピペットに吸引された試薬の農体温度までの加熱を
夫々行う加熱手段全試薬容べく各加熱手段毎の温度を検
知して個々に制御しなければならず、この結果、部品点
数が嵩んで組付工数が煩雑となるはかりが、上記加熱手
段毎の温度制御作業が煩雑を極めるという問題が発生す
る。
（発明の目的）
この発明は、かがる現状に鑑み創案されたものであって
、その目的とするところは、試薬容器自体が所定の試薬
分注位置まで移送されるべく構成された自動分析装置に
おける恒温装置の各試薬容器毎に配設された加熱手段に
対する加温制御を−のコントロール手段で制御すること
ができ、以って組付工数の簡累化並びに温度制御作業も
容易な自動分析装置の恒温装置を提供しようとするもの
である。
、その目的とするところは、試薬容器自体が所定の試薬
分注位置まで移送されるべく構成された自動分析装置に
おける恒温装置の各試薬容器毎に配設された加熱手段に
対する加温制御を−のコントロール手段で制御すること
ができ、以って組付工数の簡累化並びに温度制御作業も
容易な自動分析装置の恒温装置を提供しようとするもの
である。
（発明の構成）
かかる目的を達成すべく、この発明にあっては、所要数
の反応管が反応管ホルダに保持され、同ホルダが所定位
置に停止したときに、試薬容器より測定項目に対応する
試薬が所要量分注されるべく構成されてなる自動分析装
置の恒温装置であって、該恒温装置は、各試薬を所要量
夫々吸引する独立した板数の試薬吸引路の夫々に介装さ
れてなる加熱手段と、同容加熱手段による加熱を設定温
度に保持すべく同加熱手段への通−電を制御うるコン！
・ロール手段とからなυ、同コントロール手段による上
記通電制御は、上記設定温度に対応する発熱量が定めら
れた基準発熱体の当該発熱ｉｋ検知し、この検知された
発熱量に基づき上記基準発熱体への通電をオン・オフ制
御することで各加熱手段に対する温度制御が行なねれる
よう構成したものである。
の反応管が反応管ホルダに保持され、同ホルダが所定位
置に停止したときに、試薬容器より測定項目に対応する
試薬が所要量分注されるべく構成されてなる自動分析装
置の恒温装置であって、該恒温装置は、各試薬を所要量
夫々吸引する独立した板数の試薬吸引路の夫々に介装さ
れてなる加熱手段と、同容加熱手段による加熱を設定温
度に保持すべく同加熱手段への通−電を制御うるコン！
・ロール手段とからなυ、同コントロール手段による上
記通電制御は、上記設定温度に対応する発熱量が定めら
れた基準発熱体の当該発熱ｉｋ検知し、この検知された
発熱量に基づき上記基準発熱体への通電をオン・オフ制
御することで各加熱手段に対する温度制御が行なねれる
よう構成したものである。
以下添付図面に示す実施例にもとづき、この発明の詳細
な説明する。
な説明する。
（実施例）
第１図に示すように、試薬容器Ａは、劇試薬材質で箱状
に成形された試薬収納部ｌと、この試薬収納部１の後方
壁２の外側に固着されたポンプ３と、上記試薬収納部１
の天板４に穿設された開口５に挿脱可能に配設された試
薬ピペット６と、この試薬ピペット６と上記ポンプ３と
を接続する伸縮可能なチューブ７とから構成されておυ
、同チューブ７の一箇所には同チューブ７内に吸引され
る試薬を加熱して同試薬全反応温度゛まで上昇さぜるヒ
ータＨが夫々設けられ１いる。
に成形された試薬収納部ｌと、この試薬収納部１の後方
壁２の外側に固着されたポンプ３と、上記試薬収納部１
の天板４に穿設された開口５に挿脱可能に配設された試
薬ピペット６と、この試薬ピペット６と上記ポンプ３と
を接続する伸縮可能なチューブ７とから構成されておυ
、同チューブ７の一箇所には同チューブ７内に吸引され
る試薬を加熱して同試薬全反応温度゛まで上昇さぜるヒ
ータＨが夫々設けられ１いる。
このように構成された試薬容器Ａはノ方侠数が放射状に
配列されて試薬ホルダ（図示せず）に保持され、同ホル
ダは、図示はしないが適宜の駆動手段を介してノヅを定
の試薬分注位置１で移送制御される。
配列されて試薬ホルダ（図示せず）に保持され、同ホル
ダは、図示はしないが適宜の駆動手段を介してノヅを定
の試薬分注位置１で移送制御される。
第２図は、恒温装置の具体的構造例を示すものであり、
所要数の試薬容器Ａに夫々配設された上記チューブ７に
祉谷々ヒーターＨ１，Ｈ２、Ｈａ・・・Ｈｎが設けられ
、このヒーターＨ１，Ｈ２，Ｈ３・・・ｕｎには各々の
ヒーターＨ１，Ｈ２，Ｈａ・拳・Ｈｎに供与される電流
蓋を調節する可変抵抗Ｃ１，Ｃ２゜Ｃ３・・・Ｃｎが設
けられている。これらの可変抵抗Ｃｓ 、 Ｃ２，Ｃａ
・・・Ｃｎは抵抗値調整可能に構成されているので各々
の可変抵抗ＣＩ、 Ｃ２，Ｃａ・・・Ｃｎの抵抗値全調
整することでヒーターＨ１，Ｈｚ、Ｈａ・・・Ｈｎの発
熱量を各試薬の所定反応温度にまで加温しうるよう予じ
めセットしておくことができる。これらヒーターＫｌ、
Ｈｚ ０・Ｈｎ及び可変抵抗Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３・・・
Ｃｎへの通電はスイッチＳＷを介して行なわれる。スイ
ッチＳＷは、各可変抵抗Ｃｒ、 Ｃ２，Ｃ３・・・Ｏｎ
に接続された可動接点ａと、基準抵抗９に接続された固
定接点すとから構成されており、前記したように各試薬
容器Ａか所定の分注位置まで移送されるべく回転してい
るときには可動接点ａと固定接点すとは摺接して試薬容
器Ａの移送に対する妨げとはならないよう構成され、か
つ試薬容器Ａの移送が停止されている状態では、各ヒー
ターｌｆｔ、 Ｈｚ、 Ｈａ・・・Ｈｎに通電すべく可
動接点ａと固定接点すとは接続されるよう構成されてい
る。基準抵抗９はトリマー回路等によシ抵抗値が可変調
整可能に構成されてお９、同抵抗値の調整にょ９各ヒー
ターＨ１，Ｈｚ、 Ｈｓ・・・島への通電量が足められ
る。つまり、この基準抵抗９で設定された抵抗値によっ
てヒーターＨ１，Ｈｚ、 Ｈａ・・・Ｈｎノ発熱量が定
めらｔしる。
所要数の試薬容器Ａに夫々配設された上記チューブ７に
祉谷々ヒーターＨ１，Ｈ２、Ｈａ・・・Ｈｎが設けられ
、このヒーターＨ１，Ｈ２，Ｈ３・・・ｕｎには各々の
ヒーターＨ１，Ｈ２，Ｈａ・拳・Ｈｎに供与される電流
蓋を調節する可変抵抗Ｃ１，Ｃ２゜Ｃ３・・・Ｃｎが設
けられている。これらの可変抵抗Ｃｓ 、 Ｃ２，Ｃａ
・・・Ｃｎは抵抗値調整可能に構成されているので各々
の可変抵抗ＣＩ、 Ｃ２，Ｃａ・・・Ｃｎの抵抗値全調
整することでヒーターＨ１，Ｈｚ、Ｈａ・・・Ｈｎの発
熱量を各試薬の所定反応温度にまで加温しうるよう予じ
めセットしておくことができる。これらヒーターＫｌ、
Ｈｚ ０・Ｈｎ及び可変抵抗Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３・・・
Ｃｎへの通電はスイッチＳＷを介して行なわれる。スイ
ッチＳＷは、各可変抵抗Ｃｒ、 Ｃ２，Ｃ３・・・Ｏｎ
に接続された可動接点ａと、基準抵抗９に接続された固
定接点すとから構成されており、前記したように各試薬
容器Ａか所定の分注位置まで移送されるべく回転してい
るときには可動接点ａと固定接点すとは摺接して試薬容
器Ａの移送に対する妨げとはならないよう構成され、か
つ試薬容器Ａの移送が停止されている状態では、各ヒー
ターｌｆｔ、 Ｈｚ、 Ｈａ・・・Ｈｎに通電すべく可
動接点ａと固定接点すとは接続されるよう構成されてい
る。基準抵抗９はトリマー回路等によシ抵抗値が可変調
整可能に構成されてお９、同抵抗値の調整にょ９各ヒー
ターＨ１，Ｈｚ、 Ｈｓ・・・島への通電量が足められ
る。つまり、この基準抵抗９で設定された抵抗値によっ
てヒーターＨ１，Ｈｚ、 Ｈａ・・・Ｈｎノ発熱量が定
めらｔしる。
′まだ、この基準抵抗９には、同抵抗９０発熱量全検知
する温度センサー回路１ｏが接続されておシ、同回路１
０は、基準抵抗９が設耀された温度に達すると、温度検
知信号全コンピュータ等から構ｌ戊された制御部１２（
例えｔまマイコン）に送られ、制御部１２がらの制御信
号ンこより基準紙を入力する入力インターフェースＩ２
ａと、入力信号の演算処理に必要なプログラムを格納す
るＲＯＭ１２ｂと、プログラムに基いて所定の演算全行
５ ＣＰ Ｕ １２ ｃと、演算結果やデータ等を一時
的に記憶するＲＡＭ１２ｄと、演算結果に基いて、各棟
の制御対象へ制御信号を出方する出方インターフェース
１２ ｅとから構成されておシ、同制御部１２からの出
力信号にもとづき基準抵抗９への通電がオン・オフ制御
され、これによシヒーター１−ｉｔ、 Ｈｚ、Ｈｓ ・
ａ＊ Ｈｎ ヘの通電制御が同基準抵抗９全介して行わ
れる。尚、第２図中符号１１は電源を示す。
する温度センサー回路１ｏが接続されておシ、同回路１
０は、基準抵抗９が設耀された温度に達すると、温度検
知信号全コンピュータ等から構ｌ戊された制御部１２（
例えｔまマイコン）に送られ、制御部１２がらの制御信
号ンこより基準紙を入力する入力インターフェースＩ２
ａと、入力信号の演算処理に必要なプログラムを格納す
るＲＯＭ１２ｂと、プログラムに基いて所定の演算全行
５ ＣＰ Ｕ １２ ｃと、演算結果やデータ等を一時
的に記憶するＲＡＭ１２ｄと、演算結果に基いて、各棟
の制御対象へ制御信号を出方する出方インターフェース
１２ ｅとから構成されておシ、同制御部１２からの出
力信号にもとづき基準抵抗９への通電がオン・オフ制御
され、これによシヒーター１−ｉｔ、 Ｈｚ、Ｈｓ ・
ａ＊ Ｈｎ ヘの通電制御が同基準抵抗９全介して行わ
れる。尚、第２図中符号１１は電源を示す。
以上の構成において、その操作全説明ずれば、分析項目
に対応する試薬容器Ａが放「定分注位置に移送きれ停止
する前過程においてポンプ３は問答器Ａ内の試薬全所要
量吸引し、同試薬は試薬ピペット６及びチューブ７内に
貯溜される。
に対応する試薬容器Ａが放「定分注位置に移送きれ停止
する前過程においてポンプ３は問答器Ａ内の試薬全所要
量吸引し、同試薬は試薬ピペット６及びチューブ７内に
貯溜される。
この後把持装置［３が伸張して試薬ピペット６がクラン
プ謳れ、同ピペット６を試薬容器Ａ位置から対応反応管
１４内に挿入すべく案円し、同反応管１４内に試薬ピペ
ット６が挿入さｌしるとポンプ３は逆作動−して試薬を
所要量反応管１４ Ｉ／ｉに分注し、この後上記ピペッ
ト６は把持装置１３ヲ介して原位置まで復動東門され上
記各作業がくシ返えきれる。各ヒーターＨは試薬が試薬
ピペット６とチューブ７内に吸引されると作動して同試
薬を反応直置゛まで加熱する。このとき、各ヒーターＨ
Ｌ Ｈｚ・・・Ｈｎは、前記したように各試薬に対応す
る反応温度まで昇温されるよう可変抵抗Ｃ１，Ｃｚ、
Ｃｓ・・・Ｃｎ金介して予じめ調整されている。この各
ヒーターＨ１，Ｈｚ、 Ｈａ・・・Ｈｎへの通電制御は
前記したように基準抵抗９を介して行なわれる。つまり
基準抵抗９０発熱温度が所要設定温度以内であるときは
、ヒーターＨ１゜Ｈｚ、Ｈａ・・・Ｈｎへの通電は続行
されるが、同兄熱温度が所定設定温度以上になると、温
度センサ１１はそれを検出し、同センサ信号を制御部Ｉ
２へと入力し、そのセンサ信号が入力された制御部１２
は、所定の演算の後、演算制御信号にもとづき基準抵抗
９からヒーターＨ１，Ｈｚ、 Ｈａ ・・・１−Ｉｎへ
の通電を遮断し、これにょクヒーターＨ１，Ｈ２゜Ｈａ
・・・Ｈｎによる試薬の加熱は中断される。この後、基
準抵抗９よ多発せられる熱蓋が経時減少し設定温度以下
まで下降すると、同状態を前記温度センサ１１が検知し
、通電が前記手順で再開される。
プ謳れ、同ピペット６を試薬容器Ａ位置から対応反応管
１４内に挿入すべく案円し、同反応管１４内に試薬ピペ
ット６が挿入さｌしるとポンプ３は逆作動−して試薬を
所要量反応管１４ Ｉ／ｉに分注し、この後上記ピペッ
ト６は把持装置１３ヲ介して原位置まで復動東門され上
記各作業がくシ返えきれる。各ヒーターＨは試薬が試薬
ピペット６とチューブ７内に吸引されると作動して同試
薬を反応直置゛まで加熱する。このとき、各ヒーターＨ
Ｌ Ｈｚ・・・Ｈｎは、前記したように各試薬に対応す
る反応温度まで昇温されるよう可変抵抗Ｃ１，Ｃｚ、
Ｃｓ・・・Ｃｎ金介して予じめ調整されている。この各
ヒーターＨ１，Ｈｚ、 Ｈａ・・・Ｈｎへの通電制御は
前記したように基準抵抗９を介して行なわれる。つまり
基準抵抗９０発熱温度が所要設定温度以内であるときは
、ヒーターＨ１゜Ｈｚ、Ｈａ・・・Ｈｎへの通電は続行
されるが、同兄熱温度が所定設定温度以上になると、温
度センサ１１はそれを検出し、同センサ信号を制御部Ｉ
２へと入力し、そのセンサ信号が入力された制御部１２
は、所定の演算の後、演算制御信号にもとづき基準抵抗
９からヒーターＨ１，Ｈｚ、 Ｈａ ・・・１−Ｉｎへ
の通電を遮断し、これにょクヒーターＨ１，Ｈ２゜Ｈａ
・・・Ｈｎによる試薬の加熱は中断される。この後、基
準抵抗９よ多発せられる熱蓋が経時減少し設定温度以下
まで下降すると、同状態を前記温度センサ１１が検知し
、通電が前記手順で再開される。
尚、上記実施例では試薬ピペット６及びチュ−プ７の一
部にヒーターＨを設けた場合を例にとり説明したが、こ
の発明にあってはこれに限定されるものではなく、試薬
に対する加熱効率全向上すべく、例えば第３図に示アよ
うにピペット６の上端に試薬が所要量貯貿できる貯蔵量
１５を設け、この貯蔵室１５の外周ＶＣヒーターＨｋ設
置し、同呈ｌｂ同に吸引さχした試柴？加熱するように
構成してもよい。また、上記実施例では、各ヒーターの
温度設定を可変抵抗で調整するよう構成した場合を例示
したがヒーターンご対する熱の影響をさけるべく位相Ｎ
枯可能に構成してもよい。
部にヒーターＨを設けた場合を例にとり説明したが、こ
の発明にあってはこれに限定されるものではなく、試薬
に対する加熱効率全向上すべく、例えば第３図に示アよ
うにピペット６の上端に試薬が所要量貯貿できる貯蔵量
１５を設け、この貯蔵室１５の外周ＶＣヒーターＨｋ設
置し、同呈ｌｂ同に吸引さχした試柴？加熱するように
構成してもよい。また、上記実施例では、各ヒーターの
温度設定を可変抵抗で調整するよう構成した場合を例示
したがヒーターンご対する熱の影響をさけるべく位相Ｎ
枯可能に構成してもよい。
（発明の効果）
以上説明し７１：、ように本発明によれは試薬容器毎に
配設され７）試薬加熱手段の温度制御を一つの２Ｓ準発
熱体に対する通電制御に上って行うことができるので、
各ヒーターに対する温度制御が極めて容易となシ、シか
も部品点数が大幅に削減されることから組付工数が簡易
となシ、更ｖｃ ｉｔ装置を小型化できる。
配設され７）試薬加熱手段の温度制御を一つの２Ｓ準発
熱体に対する通電制御に上って行うことができるので、
各ヒーターに対する温度制御が極めて容易となシ、シか
も部品点数が大幅に削減されることから組付工数が簡易
となシ、更ｖｃ ｉｔ装置を小型化できる。
第１図はこの発明の一実施例に係る恒温装置の構成を示
す断面図、第２区比〔同装置の温度制御を示フーグロン
ク図、第３図はごの発ゆＪの他側に係る断面図である。 Ａ・・・試薬容器 Ｈ・・・ヒーター ６・・・試薬ピペット ９・・・基準発熱体１１・・・
温度センサ １２・・・制御部特許出願人 日本テクト
ロン株式会社 第 ｌ 憩 璃 ２日
す断面図、第２区比〔同装置の温度制御を示フーグロン
ク図、第３図はごの発ゆＪの他側に係る断面図である。 Ａ・・・試薬容器 Ｈ・・・ヒーター ６・・・試薬ピペット ９・・・基準発熱体１１・・・
温度センサ １２・・・制御部特許出願人 日本テクト
ロン株式会社 第 ｌ 憩 璃 ２日
Claims (1)
- 所要数の反応管が反応管ホルダに保持され、同ホルダが
所定位置に停止したときに、試薬容器よシ測定項目に対
応する試薬が所ｉｔ分注されるべく構成されてなる自動
分析装置の恒温装置であって、該恒温装置は、谷試薬を
所要量夫々吸引する独立した複数の試薬吸引路の夫々に
介装されてなる加熱手段と、同各加熱手段による加熱を
設定温度に保持すべく同加熱手段への通電を制御するコ
ントロール手段とからなり、同コントロール手段による
上記通電制御は、上記設定温度に対応する発熱量が定め
られた基準発熱体の幽該発熱量を検知し、この検知され
た発熱量に基づき上記基準発熱体への通電をオン・オフ
制御することで各加熱手段に対する温度制御が行なわれ
るよう構成されていることを特徴とする自動分析装置の
恒温装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18259983A JPS6073464A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 自動分析装置の試薬恒温装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18259983A JPS6073464A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 自動分析装置の試薬恒温装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6073464A true JPS6073464A (ja) | 1985-04-25 |
| JPH0354308B2 JPH0354308B2 (ja) | 1991-08-19 |
Family
ID=16121099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18259983A Granted JPS6073464A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 自動分析装置の試薬恒温装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6073464A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63205567A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-25 | Nittec Co Ltd | 試薬用ピペツト装置 |
| JPH0237373U (ja) * | 1988-09-05 | 1990-03-12 | ||
| EP0496962A2 (de) * | 1991-01-26 | 1992-08-05 | BEHRINGWERKE Aktiengesellschaft | Pipettierröhrchen mit regelbaren Heizungen |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51108885A (ja) * | 1975-03-20 | 1976-09-27 | Nippon Electron Optics Lab | Kagakubunsekisochi |
| JPS5473094A (en) * | 1977-11-21 | 1979-06-12 | Olympus Optical Co Ltd | Automatic chemical analytical apparatus |
| JPS56137073U (ja) * | 1980-03-17 | 1981-10-17 |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP18259983A patent/JPS6073464A/ja active Granted
Patent Citations (3)
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| JPS51108885A (ja) * | 1975-03-20 | 1976-09-27 | Nippon Electron Optics Lab | Kagakubunsekisochi |
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| JPH0237373U (ja) * | 1988-09-05 | 1990-03-12 | ||
| EP0496962A2 (de) * | 1991-01-26 | 1992-08-05 | BEHRINGWERKE Aktiengesellschaft | Pipettierröhrchen mit regelbaren Heizungen |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0354308B2 (ja) | 1991-08-19 |
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