JPS6067951A - 感光体 - Google Patents
感光体Info
- Publication number
- JPS6067951A JPS6067951A JP17581983A JP17581983A JPS6067951A JP S6067951 A JPS6067951 A JP S6067951A JP 17581983 A JP17581983 A JP 17581983A JP 17581983 A JP17581983 A JP 17581983A JP S6067951 A JPS6067951 A JP S6067951A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- gas
- overcoat layer
- carbon
- oxygen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は少なくともアモルファスシリコンを含む光導電
層を有−する感光体に関を−る。
層を有−する感光体に関を−る。
従来技術
ここ数年、グロー放電分解法やスバ・ツタリング法によ
って生成されるアモルファスシリコン(amorpho
us 5ilicon、以下a−5iと略す)の感光体
−・の応用が注目されてきている。また同様に長波長領
域の感度を向上して半導体レーザによる作像を可能とす
るアモルファスシリコンーケルマニウム(以下a−5i
:Ge)の応用も注目されている。
って生成されるアモルファスシリコン(amorpho
us 5ilicon、以下a−5iと略す)の感光体
−・の応用が注目されてきている。また同様に長波長領
域の感度を向上して半導体レーザによる作像を可能とす
るアモルファスシリコンーケルマニウム(以下a−5i
:Ge)の応用も注目されている。
これはa−5i、 a−5i :Geが従来17)セL
/7やCdS感光体と比して耐環境汚染性、耐熱性、摩
耗性、光感度特性等において一段と優れているためであ
る。
/7やCdS感光体と比して耐環境汚染性、耐熱性、摩
耗性、光感度特性等において一段と優れているためであ
る。
しかしながら、a−5i、 a−5i :Geは暗抵抗
が不充分に低くそのままでは電荷保持層を兼ねた光導電
層として使用できないという欠点がある。このため、酸
素や窒素を含有させてその暗抵抗を向上させることが提
案されているが、逆に光感度が低下するという欠点があ
り、その含有量も制限が声る。このことより、例えば特
開昭57−11551号公報に示されるようにa−54
光導電層上に多量の炭素を含むa−5i絶絶縁を形成し
て電荷保持の向上を図ることが考えられる。しがしなが
ら、このような感光体にあっては炭素の含有量によって
その電子写真特性がかなり変動する。例えばa−5i絶
絶縁における炭素含有量が比較的少量であるときは高抵
抗化が図れないばかりが光疲労が大きく高湿度の条件下
では画像流れが生じる。一方、炭素含有量を大とすれば
電荷保持率は向上し、また透光性もある程度向上するが
表面硬度が低下するという欠点がある。更に面部の条件
下では膜欠陥による白斑点が画像上に現われる。また長
期使用後高湿条件下では画像流れが生じ易くなる。
が不充分に低くそのままでは電荷保持層を兼ねた光導電
層として使用できないという欠点がある。このため、酸
素や窒素を含有させてその暗抵抗を向上させることが提
案されているが、逆に光感度が低下するという欠点があ
り、その含有量も制限が声る。このことより、例えば特
開昭57−11551号公報に示されるようにa−54
光導電層上に多量の炭素を含むa−5i絶絶縁を形成し
て電荷保持の向上を図ることが考えられる。しがしなが
ら、このような感光体にあっては炭素の含有量によって
その電子写真特性がかなり変動する。例えばa−5i絶
絶縁における炭素含有量が比較的少量であるときは高抵
抗化が図れないばかりが光疲労が大きく高湿度の条件下
では画像流れが生じる。一方、炭素含有量を大とすれば
電荷保持率は向上し、また透光性もある程度向上するが
表面硬度が低下するという欠点がある。更に面部の条件
下では膜欠陥による白斑点が画像上に現われる。また長
期使用後高湿条件下では画像流れが生じ易くなる。
−究理Fと柱尤一
本発明は以上の事実に鑑みて成されたもので、その目的
とするところは、光疲労がなく光感度特性、電荷保持特
性、表面硬度を含む電子写真特性全般に優れ、高湿条件
下乃至は反復複写においても長期に渡り良好な画像を得
ることのできる感光体を提供することにある。
とするところは、光疲労がなく光感度特性、電荷保持特
性、表面硬度を含む電子写真特性全般に優れ、高湿条件
下乃至は反復複写においても長期に渡り良好な画像を得
ることのできる感光体を提供することにある。
且皿且l上
本発明の要旨は、導電性基板上に少なくともアモルファ
スシリコンを含む光導電層と、少なくともアモルファス
シリコン、炭素酸素及びフッ素を含有してなる透光絶縁
性オーバコート層を積層してなる感光体にある。
スシリコンを含む光導電層と、少なくともアモルファス
シリコン、炭素酸素及びフッ素を含有してなる透光絶縁
性オーバコート層を積層してなる感光体にある。
以下、本発明につき詳細に説明する。
第1図は本発明に係る感光体の構成を示し、(1)は導
電性基板で、少なくともa−5iを含む先導78層(2
)キ、少なくともa−5i、炭素、酸素及びフッ素を含
有してなる透光絶縁性のオーバコート層(3)を積層し
てなるものである。
電性基板で、少なくともa−5iを含む先導78層(2
)キ、少なくともa−5i、炭素、酸素及びフッ素を含
有してなる透光絶縁性のオーバコート層(3)を積層し
てなるものである。
基板(1)上に形成されるa−8iを含む光等電層(2
)は例えばグロー放電分解法によって5乃至100ミク
ロン、好ましくは1o乃至60ミクロンに生成される。
)は例えばグロー放電分解法によって5乃至100ミク
ロン、好ましくは1o乃至60ミクロンに生成される。
−例として5iI−b、5izI(6ガス等を112
、Ile 。
、Ile 。
Ar 等をキャリアーガスとして用い減圧可能な反応室
内に送り込み、高周波電力印加の下tζグロー放電を起
こして基板上に水素を含むa−55光導電層であっても
よく、更にはGel−14ガスを並行して送り込み形成
したa−3i:Ge光導電層でもよい。
内に送り込み、高周波電力印加の下tζグロー放電を起
こして基板上に水素を含むa−55光導電層であっても
よく、更にはGel−14ガスを並行して送り込み形成
したa−3i:Ge光導電層でもよい。
もっともこのようにして得られる光導電層は暗抵抗が不
充分に低いので、暗抵抗の向上の目的のために周期律表
$11rA族不純物(好ましくは硼素′)、微量の酸素
、炭素、窒素等を含有させてもよい。
充分に低いので、暗抵抗の向上の目的のために周期律表
$11rA族不純物(好ましくは硼素′)、微量の酸素
、炭素、窒素等を含有させてもよい。
光導電層(21’J:に形成されるオーバコート層(4
)はやはり同様に例えばグロー放電分解法によって厚さ
001 乃至3ミクロンに生成される。このオーバコー
ト層(3)はその抵抗値が光導電層(2)より高(、層
全体を通してその抵抗値が略一定であるか或いは光導電
層(2)との界面より厚さ方向に順次高くなるよう形成
される。具体的に上記オーバコート層(3)は前述した
通りa−5i乃至はa−5i:Ge に炭素と酸素、更
にフッ素を含有してなり、これにより抵抗の向上はもと
より表面硬度、更には光感度特性と耐環境性、耐繰り返
し使用時の安定性を著しく向上している。即ち、a−5
iに炭素のみを含有してなるオーバコート層は炭素含有
量の増大にしたがって表面硬度が次第に低下し長期の反
復の使用にはiさないという欠点がある。また炭素のみ
の含有では充分な高抵抗化が図れず高湿条件の下で画像
上に白斑点模様が発生し画像滲みが生じる。
)はやはり同様に例えばグロー放電分解法によって厚さ
001 乃至3ミクロンに生成される。このオーバコー
ト層(3)はその抵抗値が光導電層(2)より高(、層
全体を通してその抵抗値が略一定であるか或いは光導電
層(2)との界面より厚さ方向に順次高くなるよう形成
される。具体的に上記オーバコート層(3)は前述した
通りa−5i乃至はa−5i:Ge に炭素と酸素、更
にフッ素を含有してなり、これにより抵抗の向上はもと
より表面硬度、更には光感度特性と耐環境性、耐繰り返
し使用時の安定性を著しく向上している。即ち、a−5
iに炭素のみを含有してなるオーバコート層は炭素含有
量の増大にしたがって表面硬度が次第に低下し長期の反
復の使用にはiさないという欠点がある。また炭素のみ
の含有では充分な高抵抗化が図れず高湿条件の下で画像
上に白斑点模様が発生し画像滲みが生じる。
本発明のオーバコート層(3)は炭素に加えて酸素フッ
素を含有せしめることにより上記の問題点を解決したも
のである。酸素、フッ素の含有はオーバコート層(3)
の透光性を著しく改善し、現に実験によればa−5iオ
一バコート層に炭素のみを約40atomic%含有す
るものと、40 atomic%の炭素に加え約5 a
tomic%の酸素、約5 atomic%のフッ素を
含有するオーバコート層の感光体とでは後者の方が光感
度が約1.8倍も高い。また表面硬度も低下はなくむし
ろ向上となっている。更に高温条件下、反復複写におい
ても画像流れや白斑点はな(長期に渡り良好な唾像を形
成することができる。特にフッ素の添加はオーバコート
層の高抵抗化、高透光性を図るとともに高湿条件下にお
いては水分子の吸着をおさえる上で有効で層自体に4死
水性を与え、る。
素を含有せしめることにより上記の問題点を解決したも
のである。酸素、フッ素の含有はオーバコート層(3)
の透光性を著しく改善し、現に実験によればa−5iオ
一バコート層に炭素のみを約40atomic%含有す
るものと、40 atomic%の炭素に加え約5 a
tomic%の酸素、約5 atomic%のフッ素を
含有するオーバコート層の感光体とでは後者の方が光感
度が約1.8倍も高い。また表面硬度も低下はなくむし
ろ向上となっている。更に高温条件下、反復複写におい
ても画像流れや白斑点はな(長期に渡り良好な唾像を形
成することができる。特にフッ素の添加はオーバコート
層の高抵抗化、高透光性を図るとともに高湿条件下にお
いては水分子の吸着をおさえる上で有効で層自体に4死
水性を与え、る。
オーバコート層(3)に含有される炭素、酸素、フッ素
の量はそれらが層全体に渡って略均−に含有される場合
と厚さ方向に勾配をもって含有される場合とで異なるが
、均一に含有するときはa−5iに対し5乃至60 a
tomic%の炭素と微量がら約1゜atomic%の
酸素、微量がら約10 atomic%のフッ素である
ことが望ましい。炭素の含有量を最低でも5 atom
ic%、酸素、フッ素を微量(約Oo1)atomic
%以上とするのはそれ以下ではオーバコート層の高抵抗
化が図れず光疲労も大きく透光性も不充分であるためで
、また最大で約60 atomic%の炭素と10 a
tomic%の酸素、フッ素とするのはそれ以上では画
像流れが生じるためであ、る。更にフッ素の場合1oa
tomic%以上であると膜質が悪くなり欠陥の多い膜
となり、高湿の条件下ではかえって白斑点の多い画像と
なる。一方、厚さ方向に勾配をもって含有するときはオ
ーバコート層の厚さ方向に含有量が徐々に増大するよう
にし、約1乃至60 atomic%の炭素と微量がら
最大的25atomic%の酸素、微量がら最大的10
atomic%のフッ素を含有することができる。尚、
炭素、酸素の含有量を一定としてフッ素含有量を徐々に
増大するようにしオーバコート層の表面近傍で約10a
tomic%のフッ素が含有される構成が好ましい。
の量はそれらが層全体に渡って略均−に含有される場合
と厚さ方向に勾配をもって含有される場合とで異なるが
、均一に含有するときはa−5iに対し5乃至60 a
tomic%の炭素と微量がら約1゜atomic%の
酸素、微量がら約10 atomic%のフッ素である
ことが望ましい。炭素の含有量を最低でも5 atom
ic%、酸素、フッ素を微量(約Oo1)atomic
%以上とするのはそれ以下ではオーバコート層の高抵抗
化が図れず光疲労も大きく透光性も不充分であるためで
、また最大で約60 atomic%の炭素と10 a
tomic%の酸素、フッ素とするのはそれ以上では画
像流れが生じるためであ、る。更にフッ素の場合1oa
tomic%以上であると膜質が悪くなり欠陥の多い膜
となり、高湿の条件下ではかえって白斑点の多い画像と
なる。一方、厚さ方向に勾配をもって含有するときはオ
ーバコート層の厚さ方向に含有量が徐々に増大するよう
にし、約1乃至60 atomic%の炭素と微量がら
最大的25atomic%の酸素、微量がら最大的10
atomic%のフッ素を含有することができる。尚、
炭素、酸素の含有量を一定としてフッ素含有量を徐々に
増大するようにしオーバコート層の表面近傍で約10a
tomic%のフッ素が含有される構成が好ましい。
尚、基板(])と光導電層(2)間に電荷注入防止用の
障壁層を形成してもよい。
障壁層を形成してもよい。
以上において、各層の形成用の原料ガスとして有効に使
用されるのは、a−8iを含むときはSiトr−x ト
ラ構成原子トt ルS iH4,5i2)I6.5i3
)18.5i41−Ito 等のシラン類等水素化硅素
ガス、炭素を含有するときはCとHとを構成原子とする
例えば炭素数1〜5の飽和炭化水素、炭素数1〜5のエ
チレン系炭化水素、炭素数2〜4のアセチレン系炭化水
素等が挙げられる。具体的には飽和炭化水素としてメタ
ン(CH4)、エタン(C2H6)、プロパン(C3H
8)、n−ブタ7 (n = C41−110) エチ
レン系炭化水素としてはエチレン(C2H4)、プロピ
レン(C3n6)、フラ:/ (C4H8)、アセチレ
ン系炭化水素としてはアセチレン(C2H2)、メチル
アセチレン(c3I]4)、ブチーン(C4H6) 等
か挙げられる。更に酸素系の原料ガスとしては、酸素(
02)、オゾン(03)、−酸化炭素(CO)、二酩゛
化炭素(CO2)、−酸化窒素(NO)、二酸化窒素(
NO2)、−二酸化窒素(N20)、三二酸化窒素(N
203)、四三酸化窒素(N204 )、三二酸化窒素
(N205)、二酸化窒素(NOs)等を挙げることが
できる。またフッ素の原料としてHE、 SiF4、S
i2F6、CF4、F2 が使用できる。尚、水素硅素
ガスに加え各層にゲルマニウムを含有してもよいことは
前述した通りで、このときはGel−14、Ge2l−
1r+ ガス等を併用すればよい。
用されるのは、a−8iを含むときはSiトr−x ト
ラ構成原子トt ルS iH4,5i2)I6.5i3
)18.5i41−Ito 等のシラン類等水素化硅素
ガス、炭素を含有するときはCとHとを構成原子とする
例えば炭素数1〜5の飽和炭化水素、炭素数1〜5のエ
チレン系炭化水素、炭素数2〜4のアセチレン系炭化水
素等が挙げられる。具体的には飽和炭化水素としてメタ
ン(CH4)、エタン(C2H6)、プロパン(C3H
8)、n−ブタ7 (n = C41−110) エチ
レン系炭化水素としてはエチレン(C2H4)、プロピ
レン(C3n6)、フラ:/ (C4H8)、アセチレ
ン系炭化水素としてはアセチレン(C2H2)、メチル
アセチレン(c3I]4)、ブチーン(C4H6) 等
か挙げられる。更に酸素系の原料ガスとしては、酸素(
02)、オゾン(03)、−酸化炭素(CO)、二酩゛
化炭素(CO2)、−酸化窒素(NO)、二酸化窒素(
NO2)、−二酸化窒素(N20)、三二酸化窒素(N
203)、四三酸化窒素(N204 )、三二酸化窒素
(N205)、二酸化窒素(NOs)等を挙げることが
できる。またフッ素の原料としてHE、 SiF4、S
i2F6、CF4、F2 が使用できる。尚、水素硅素
ガスに加え各層にゲルマニウムを含有してもよいことは
前述した通りで、このときはGel−14、Ge2l−
1r+ ガス等を併用すればよい。
次に本発明に係る感光体を製造するための容量結合型グ
ロー放電分解装置について説明する。第2図において、
第1、第2、第3、第4、第5、第6タンク(5)、(
6)、(7)、(8)、(9)、(10) には夫々l
−12、Si山、B2116 、C21−14,02ガ
ス、SiF4 が密封されている。ここで第1タンク(
5)のHzガスは3iI(4ガスのキャリアーガスであ
る。但し■−12ガスに代ってAr1tle を用いて
もよい。またB21−16 ガスのキャリアーも水素で
ある。尚各層にゲルマニウムを含むときは別途Gel−
14ガスのタンクを用意する。これら第1〜第6タンク
のガスは第1、第2、第3、第4、第5、第6調整弁(
11)、(12)、(13)、(14)、(15)、(
]C6を開放することにより放出され、その流IBがマ
スフローコントローラ(17)、(18)、(19)、
(20)、(21)、(22)により規制され、第1乃
至第4タンクと第6タンク(5)、(6)、(力、(8
)、(10)からのガスは第1主管(23)へと、また
第5タンク(9)からの酸素ガスは第2主管(24)へ
と送られる。尚、(25)、(26)、(27)、(2
8)、(29)、(30)、(31)、(32)は止め
弁である。
ロー放電分解装置について説明する。第2図において、
第1、第2、第3、第4、第5、第6タンク(5)、(
6)、(7)、(8)、(9)、(10) には夫々l
−12、Si山、B2116 、C21−14,02ガ
ス、SiF4 が密封されている。ここで第1タンク(
5)のHzガスは3iI(4ガスのキャリアーガスであ
る。但し■−12ガスに代ってAr1tle を用いて
もよい。またB21−16 ガスのキャリアーも水素で
ある。尚各層にゲルマニウムを含むときは別途Gel−
14ガスのタンクを用意する。これら第1〜第6タンク
のガスは第1、第2、第3、第4、第5、第6調整弁(
11)、(12)、(13)、(14)、(15)、(
]C6を開放することにより放出され、その流IBがマ
スフローコントローラ(17)、(18)、(19)、
(20)、(21)、(22)により規制され、第1乃
至第4タンクと第6タンク(5)、(6)、(力、(8
)、(10)からのガスは第1主管(23)へと、また
第5タンク(9)からの酸素ガスは第2主管(24)へ
と送られる。尚、(25)、(26)、(27)、(2
8)、(29)、(30)、(31)、(32)は止め
弁である。
第1及び第2主管(23)、(24)を通じて流れるガ
スは反応室(33)において第3主管(34)で合流す
る。
スは反応室(33)において第3主管(34)で合流す
る。
反応室(33)内にはその表面に光導電層(2)が形成
されるアルミニウム、ステンレス、NESA ガラスの
ような導電性基板(35)かモータ(36)により回転
可能であるターンテーブル(37)上に載置されており
、該基板(35)自体は電気的に接地されるとともに適
当な加熱手段により約100乃至400℃、好ましくは
150乃至300℃の温度に均一加熱されている。
されるアルミニウム、ステンレス、NESA ガラスの
ような導電性基板(35)かモータ(36)により回転
可能であるターンテーブル(37)上に載置されており
、該基板(35)自体は電気的に接地されるとともに適
当な加熱手段により約100乃至400℃、好ましくは
150乃至300℃の温度に均一加熱されている。
(38)は導電性基板(35)を包囲する関係に設けら
れだ円筒状の電極板で高周波電源(39)に接続される
とともに、その内部は空洞に形成され外壁部に第3、第
4主管(34)、(40)が接続されている。また電極
板(38)の内壁面には図示しないガス放出孔が形成さ
れ第3主管(34)より導入される生成ガスを導電性基
板(35)表面に噴出させる。噴出孔より放出されたガ
スは分解される一方、やはり内壁面に形成したガス吸引
孔より成用されて第4主管(36)を介して排出される
ようになっている。尚、高周波電源(39)からは電極
板(38)に約0.05乃至15k i l ova
t t sの高周波電力が印加されるようになっており
、その周波数はI乃至5Q M[(z が適当である。
れだ円筒状の電極板で高周波電源(39)に接続される
とともに、その内部は空洞に形成され外壁部に第3、第
4主管(34)、(40)が接続されている。また電極
板(38)の内壁面には図示しないガス放出孔が形成さ
れ第3主管(34)より導入される生成ガスを導電性基
板(35)表面に噴出させる。噴出孔より放出されたガ
スは分解される一方、やはり内壁面に形成したガス吸引
孔より成用されて第4主管(36)を介して排出される
ようになっている。尚、高周波電源(39)からは電極
板(38)に約0.05乃至15k i l ova
t t sの高周波電力が印加されるようになっており
、その周波数はI乃至5Q M[(z が適当である。
更に反応室(33)の内部は障壁層光導電層及びオーバ
コート層形成時に高度の真空状態(放電圧=0.5乃至
20Torr)を必要とすることにより回転ポンプ(4
1)と拡散ポンプ(42)に連結されている。
コート層形成時に高度の真空状態(放電圧=0.5乃至
20Torr)を必要とすることにより回転ポンプ(4
1)と拡散ポンプ(42)に連結されている。
以上の構成の容量結合型グロー放電分解装置において、
まずa−5iを含む光導電層(2)を導電性基板(35
)上に形成するに際しては第1、第2、第3、第5調整
弁(11)、(12)、(13)、(15)を開放して
適当な流量比で第1、第2タンク(5)、(6)より1
−12、Si山ガスを、第3タンク(7)よりB2H6
ガス、第5タンク(9)より02ガスを放出する。放出
量はマスフローコントローラ(17)、(18)、(1
9)、(21)により規制され、L12をキャリアーガ
スとする5il−14ガス、BzllGガス乃至はC2
H4ガスが混合されたガスが第1主管(23)を介して
1またそれとともに5iI(4に対し一定のモル比にあ
る酸素ガスが第2主管(24)を介して送られ、反応室
内部の第3主管(34)で合流し電極板(38)内に送
られる。そしてガス放出孔からガスが均一放出されるこ
とに加えて、反応室(33)内部が0.5乃至2. O
Torr程度の真空状態、基板温度が100乃至400
℃、電極板(38)への高周波電力か0.05乃至15
kilowatts、また周波数が1乃至5Q M[l
z に設定されていることに相俟ってグロー放電が起こ
り、ガスが分解して基板上に少な(ともa−5i、硼素
と酸素を含有した光導電層(2)が形成される。
まずa−5iを含む光導電層(2)を導電性基板(35
)上に形成するに際しては第1、第2、第3、第5調整
弁(11)、(12)、(13)、(15)を開放して
適当な流量比で第1、第2タンク(5)、(6)より1
−12、Si山ガスを、第3タンク(7)よりB2H6
ガス、第5タンク(9)より02ガスを放出する。放出
量はマスフローコントローラ(17)、(18)、(1
9)、(21)により規制され、L12をキャリアーガ
スとする5il−14ガス、BzllGガス乃至はC2
H4ガスが混合されたガスが第1主管(23)を介して
1またそれとともに5iI(4に対し一定のモル比にあ
る酸素ガスが第2主管(24)を介して送られ、反応室
内部の第3主管(34)で合流し電極板(38)内に送
られる。そしてガス放出孔からガスが均一放出されるこ
とに加えて、反応室(33)内部が0.5乃至2. O
Torr程度の真空状態、基板温度が100乃至400
℃、電極板(38)への高周波電力か0.05乃至15
kilowatts、また周波数が1乃至5Q M[l
z に設定されていることに相俟ってグロー放電が起こ
り、ガスが分解して基板上に少な(ともa−5i、硼素
と酸素を含有した光導電層(2)が形成される。
続いてa−8iを含む光導電層(2)上にオーバコート
層(3)を形成する。これは第1と第2タンクおよび第
4乃至第6タンク(5)、(6)、(8)、(91、(
10) よりガスを放出することにより行われるが、第
4、第5、第6タンク(8)、(9)、(10)からは
前述の含有量となるようC2I]4と02. SiF4
ガスを放出する。このとき、オーバコート層にその厚
さ方向均一に−すればよい。また厚さ方向に抵抗を順次
高くなるように形成するときは、3iF4 史、に必要
によりCzH4と02ガスの放出量を次第に増加させる
。
層(3)を形成する。これは第1と第2タンクおよび第
4乃至第6タンク(5)、(6)、(8)、(91、(
10) よりガスを放出することにより行われるが、第
4、第5、第6タンク(8)、(9)、(10)からは
前述の含有量となるようC2I]4と02. SiF4
ガスを放出する。このとき、オーバコート層にその厚
さ方向均一に−すればよい。また厚さ方向に抵抗を順次
高くなるように形成するときは、3iF4 史、に必要
によりCzH4と02ガスの放出量を次第に増加させる
。
】上1ユ
第2図に示すグロー放電分解装置において、まず回転ポ
ンプ(41)を、それに続いて拡散ポンプ(42)を作
動させ反応室(33)の内部を10Torr程度の高真
空にした後、第1乃至第3及び第5調整弁(11)、(
12)、(13)、(15)を開放し、第1タンク(5
)より1−12ガス、第2タンク(6)より1−12で
3端に希釈されたSi夏−14ガス、第3タンク(7)
よりH2で200ρpi11に希釈されたB 2[16
ガス、更に第5タンク(9)より02ガスを出力圧ゲー
ジ1りの下でマスフローコントロー5 (17)、(1
8)、 (19)、 (21)内へ流入させた。そして
各マスフローコントローラの目盛を調整して、■2の流
量を274sccm、 SiH4を30’□ sccm
、 B2H6を25 s c ctn、 02を1se
cmとなるように設定して反応室(33)内へ流入させ
た。夫々の流量が安定した後に、反応室(33)の内圧
が1.QTorrとなるように調整した。一方、導電性
基板(35)としては直径120龍のアルミニウムドラ
ムを用い200℃に予じめ加熱しておき、各ガスの流量
が安定し内圧が安定した状態で高周波電源(39)を投
入し電極板(38)に3oowattsの電力(周波数
13.56 MHz)を印加してグロー放電、を発生さ
せた。このグロー放電を約7時間持続して行い、基本板
(1)上に水素、硼素並びに@債の酸素を含有する厚さ
約20ミクロンのa−5i光導電層(2)を形成した。
ンプ(41)を、それに続いて拡散ポンプ(42)を作
動させ反応室(33)の内部を10Torr程度の高真
空にした後、第1乃至第3及び第5調整弁(11)、(
12)、(13)、(15)を開放し、第1タンク(5
)より1−12ガス、第2タンク(6)より1−12で
3端に希釈されたSi夏−14ガス、第3タンク(7)
よりH2で200ρpi11に希釈されたB 2[16
ガス、更に第5タンク(9)より02ガスを出力圧ゲー
ジ1りの下でマスフローコントロー5 (17)、(1
8)、 (19)、 (21)内へ流入させた。そして
各マスフローコントローラの目盛を調整して、■2の流
量を274sccm、 SiH4を30’□ sccm
、 B2H6を25 s c ctn、 02を1se
cmとなるように設定して反応室(33)内へ流入させ
た。夫々の流量が安定した後に、反応室(33)の内圧
が1.QTorrとなるように調整した。一方、導電性
基板(35)としては直径120龍のアルミニウムドラ
ムを用い200℃に予じめ加熱しておき、各ガスの流量
が安定し内圧が安定した状態で高周波電源(39)を投
入し電極板(38)に3oowattsの電力(周波数
13.56 MHz)を印加してグロー放電、を発生さ
せた。このグロー放電を約7時間持続して行い、基本板
(1)上に水素、硼素並びに@債の酸素を含有する厚さ
約20ミクロンのa−5i光導電層(2)を形成した。
続いて第1タンク(5)より142ガスを400 sc
cm、 fJ32タンク(6)よりH2で沢%に希釈さ
れたS 1l14 ガスを15Q Sec曵第4タンク
(8)よりC2H4ガスを45secm、更に第5タン
ク(9)より02ガスを1 s e cm 反応室内部
に流入させ、内圧を1.0Torr に調整した下で高
周波電源(39)を投入して3oowattsの電力を
印加した。3分間放電を続けこの後第6タンク(1のよ
りSiF4 ガスを3分間で45 secmまで等しく
変化するようにマスフローコントローラ(22)の目盛
をあげF濃度に勾配をもった層を形成し45sccm
になった抜用にそのままの状態で3分間放電を続は約0
1ミクロンのオーバコート層(4)を形成した。尚、こ
のときの炭素含有量は約40 atomic%、フッ素
は表面近傍で約5 atomic%である。
cm、 fJ32タンク(6)よりH2で沢%に希釈さ
れたS 1l14 ガスを15Q Sec曵第4タンク
(8)よりC2H4ガスを45secm、更に第5タン
ク(9)より02ガスを1 s e cm 反応室内部
に流入させ、内圧を1.0Torr に調整した下で高
周波電源(39)を投入して3oowattsの電力を
印加した。3分間放電を続けこの後第6タンク(1のよ
りSiF4 ガスを3分間で45 secmまで等しく
変化するようにマスフローコントローラ(22)の目盛
をあげF濃度に勾配をもった層を形成し45sccm
になった抜用にそのままの状態で3分間放電を続は約0
1ミクロンのオーバコート層(4)を形成した。尚、こ
のときの炭素含有量は約40 atomic%、フッ素
は表面近傍で約5 atomic%である。
こうして得られた感光体をミノルタカメラ(株)製粉像
転写型複写機El)−520にセットしコピーしたとこ
ろ解像力に優れ、階調再現性のよい鮮明な高濃度の画像
が得られた。また20%枚の連続複写を行っても画像特
性の低下は認められず最後まで良好なコピーか得られた
。更に30℃、80%という高温、高湿の条件での複写
でもその電子写真特性、画像特性は室温条件下と何ら変
わることはなかった。
転写型複写機El)−520にセットしコピーしたとこ
ろ解像力に優れ、階調再現性のよい鮮明な高濃度の画像
が得られた。また20%枚の連続複写を行っても画像特
性の低下は認められず最後まで良好なコピーか得られた
。更に30℃、80%という高温、高湿の条件での複写
でもその電子写真特性、画像特性は室温条件下と何ら変
わることはなかった。
比較例1
実験例1においてオーバーコート層を形成する場合、特
に5iF4 ガス流量を9Q 5CCIηにしそれ以外
は同じ条件で感光体を作成しEp−520にセットして
複写したところコピー上に多くの白斑点が発生しまた連
続複写したと−ころ数1000枚目より画像カブリが認
められた。
に5iF4 ガス流量を9Q 5CCIηにしそれ以外
は同じ条件で感光体を作成しEp−520にセットして
複写したところコピー上に多くの白斑点が発生しまた連
続複写したと−ころ数1000枚目より画像カブリが認
められた。
第1図は本発明に係る感光体の構成を示す図、第2図は
本発明の感光体を製造するための容1け結合型グロー放
電分解装置の概略構成を示す図である。 (11(35)・・・導電性基板、(2)・・・光導電
層(3)・・・オーバコート層 (5)・・・l−12ガスを含む第1タンク(6)・・
・5i!−14ガスを含む第2タンク(7)・・・B2
H6ガスを含む第3タンク(8)・・・C2H4ガスを
含む第4タンク(9)・・・02 ガスを含む第5タン
ク(10)・・・SiF4 ガスを含む第6タンク(3
8)・・・電極板、(39)・・・高周波電源出願人
ミノルタカメラ株式会社
本発明の感光体を製造するための容1け結合型グロー放
電分解装置の概略構成を示す図である。 (11(35)・・・導電性基板、(2)・・・光導電
層(3)・・・オーバコート層 (5)・・・l−12ガスを含む第1タンク(6)・・
・5i!−14ガスを含む第2タンク(7)・・・B2
H6ガスを含む第3タンク(8)・・・C2H4ガスを
含む第4タンク(9)・・・02 ガスを含む第5タン
ク(10)・・・SiF4 ガスを含む第6タンク(3
8)・・・電極板、(39)・・・高周波電源出願人
ミノルタカメラ株式会社
Claims (3)
- (1)導電性基板上に、少なくともアモルファスシリコ
ンを含む光導電層と、少なくともアモルファスシリコン
、炭素、酸素及びフッ素を含有してなる透光絶縁性オー
バコート層を積層してなることを゛特徴とする感光体。 - (2)前記オーバコート層は約5乃至60atomic
%の炭素と約10 atomic%までの酸素及び約1
0atomic%までのフッ素を含有し、それらが均一
に含有されていることを特徴とする特許請求範囲第2項
記載の感光体。 - (3) 前記オーバコート層に含有され手いるνり素は
厚さ方向に含有量が増大するように含有されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の感光体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17581983A JPS6067951A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 感光体 |
US06/648,737 US4659639A (en) | 1983-09-22 | 1984-09-10 | Photosensitive member with an amorphous silicon-containing insulating layer |
DE3433867A DE3433867C2 (de) | 1983-09-22 | 1984-09-14 | Elektrofotographisches Aufzeichnungsmaterial |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17581983A JPS6067951A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6067951A true JPS6067951A (ja) | 1985-04-18 |
Family
ID=16002778
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17581983A Pending JPS6067951A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6067951A (ja) |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0531625A1 (en) | 1991-05-30 | 1993-03-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Light-receiving member |
US5284730A (en) * | 1990-10-24 | 1994-02-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic light-receiving member |
EP0718723A2 (en) | 1994-12-07 | 1996-06-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographing apparatus |
US5732313A (en) * | 1995-07-31 | 1998-03-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Charge apparatus and image forming apparatus |
US5738963A (en) * | 1995-08-23 | 1998-04-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Light-receiving member for electrophotography having a photoconductive layer composed of a first layer region and a second layer region having different energy bandgaps and characteristic energies |
US5797072A (en) * | 1995-08-21 | 1998-08-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for contact charging an amorphous silicon photoconductor via a mulipolar magnetic body having a magnetic brush layer |
US5939230A (en) * | 1996-05-23 | 1999-08-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Light receiving member |
US6240269B1 (en) | 1998-05-06 | 2001-05-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus having a photosensitive member of amorphous silicon base and system for exposing and charging the photosensitive member |
US6272301B1 (en) | 1998-09-22 | 2001-08-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus featuring a rotatable electroconductive foam member |
US6285385B1 (en) | 1998-12-25 | 2001-09-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic method and apparatus which employs light beam irradiation to form an electrostatic image on a surface of a photosensitive member |
US6333755B1 (en) | 1999-09-06 | 2001-12-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic apparatus |
US6379852B2 (en) | 1996-09-11 | 2002-04-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic light-receiving member |
US6435130B1 (en) | 1996-08-22 | 2002-08-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Plasma CVD apparatus and plasma processing method |
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US6556233B2 (en) | 1998-09-17 | 2003-04-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic apparatus and electrophotographic method featuring a photosensitive member having a linear EV characteristic |
US6605405B2 (en) | 2000-07-26 | 2003-08-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic method and electrophotographic apparatus |
US6632578B2 (en) | 1995-12-26 | 2003-10-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic light-receiving member and process for its production |
JP2008063629A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Asahi Glass Co Ltd | 低屈折率膜の製膜方法および低屈折率膜を有する物品 |
US7751737B2 (en) | 2006-01-12 | 2010-07-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus which corrects charge potential on an image carrier |
US11756811B2 (en) | 2019-07-02 | 2023-09-12 | International Test Solutions, Llc | Pick and place machine cleaning system and method |
-
1983
- 1983-09-22 JP JP17581983A patent/JPS6067951A/ja active Pending
Cited By (21)
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---|---|---|---|---|
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EP0531625A1 (en) | 1991-05-30 | 1993-03-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Light-receiving member |
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