JPS60506A - プラント診断装置 - Google Patents
プラント診断装置Info
- Publication number
- JPS60506A JPS60506A JP58108627A JP10862783A JPS60506A JP S60506 A JPS60506 A JP S60506A JP 58108627 A JP58108627 A JP 58108627A JP 10862783 A JP10862783 A JP 10862783A JP S60506 A JPS60506 A JP S60506A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cause
- plant
- node
- diagnostic
- storage device
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0259—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
- G05B23/0267—Fault communication, e.g. human machine interface [HMI]
- G05B23/0272—Presentation of monitored results, e.g. selection of status reports to be displayed; Filtering information to the user
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、大規模プラントの異常事象ｙ ＩＪアル・
タイムで同定し、かつ将来の状態の予測なするプラント
診断装置に関するものである。
タイムで同定し、かつ将来の状態の予測なするプラント
診断装置に関するものである。
従来、この種の装置として、第１図に示すものがあった
。図において、１はアナログ−ディジタル変換器を含み
、図示なしのプロセスのデータＸ１（ｉ＝１．２・−・
Ｎ）を所定の周期で入力し、即ち収集するデータ収集装
置、２はデータＸｉを基準値Ｘａ。
。図において、１はアナログ−ディジタル変換器を含み
、図示なしのプロセスのデータＸ１（ｉ＝１．２・−・
Ｎ）を所定の周期で入力し、即ち収集するデータ収集装
置、２はデータＸｉを基準値Ｘａ。
ｘｂと比較し、許容範囲（Ｘａ −Ｘｂ ）内にあれば
０″、範囲外にあれば１”に変換する棒めの演算処理装
置、３は演算処理装置２が演算処理した結果を格納して
お（記憶装置、４は第２図に示す原因結果ツリー（以下
ＯＣＴと記す）を記憶しておく記憶装置、５は記憶装置
乙に格納しであるプロセス情報と、記憶装置４１Ｃ格納
しであるＣＣＴを用いて、すべてのノードの論理演算値
を算出する演算処理装置、６は演算処理装置５でめた各
ノードの論理演算値（ノードのステータスと事象発生時
刻）ｌ格納する記憶装置、７は記憶装置４のＣＣＴに従
い、記憶装置６からの観測データ及び記憶装置６からの
論理演算値との比較、エフ ） ＩＪ・ノードの変化検
出、原因同定及び予測を行なう診断解析部としての演算
処理装置、８は演算処理装置７の診断結果をブラウン管
上に表示する表示装置である。
０″、範囲外にあれば１”に変換する棒めの演算処理装
置、３は演算処理装置２が演算処理した結果を格納して
お（記憶装置、４は第２図に示す原因結果ツリー（以下
ＯＣＴと記す）を記憶しておく記憶装置、５は記憶装置
乙に格納しであるプロセス情報と、記憶装置４１Ｃ格納
しであるＣＣＴを用いて、すべてのノードの論理演算値
を算出する演算処理装置、６は演算処理装置５でめた各
ノードの論理演算値（ノードのステータスと事象発生時
刻）ｌ格納する記憶装置、７は記憶装置４のＣＣＴに従
い、記憶装置６からの観測データ及び記憶装置６からの
論理演算値との比較、エフ ） ＩＪ・ノードの変化検
出、原因同定及び予測を行なう診断解析部としての演算
処理装置、８は演算処理装置７の診断結果をブラウン管
上に表示する表示装置である。
次に動作について説明する。アナログ量のデータＸｉは
データ収集装置１１Ｃより量子化され、ディジタル量に
変換された後、演算処理装置２に入力される。演算処理
装置２は（１）式に示す処理をし、その結果のステータ
ス５ｉ（ｉ：ｉ、２１・−・、Ｎ）及びステータスＳｉ
が１となった事象発生時刻ｔｅは記憶装置６に格納され
る。
データ収集装置１１Ｃより量子化され、ディジタル量に
変換された後、演算処理装置２に入力される。演算処理
装置２は（１）式に示す処理をし、その結果のステータ
ス５ｉ（ｉ：ｉ、２１・−・、Ｎ）及びステータスＳｉ
が１となった事象発生時刻ｔｅは記憶装置６に格納され
る。
ただし、ｉ＝１．２．・・・、Ｎ
記憶装置４に格納されているＣＣＴの一部を第２図に示
す。第２図において、Ｍ１〜Ｍ８は出力すｔするべき診
断メツセージ、Ｇ１．〜Ｇ、はアンド・ゲート、Ｇ１５
〜ＧＩｆｉはオア・ゲートを示す。ＣＣＴにおいて、ス
テータスＳｉが定義される位置をノード（観測ノード）
、メツセージＭｉがついているだけでデータＸｉのステ
ータスＳｉが決定されないノードな非観測、ノード（例
えばＳｌｌ −Ｓ＋ｓ ）と呼ぶ。ステータスＳ、〜Ｓ
、。（ただしステータス８１１と５ｉ１１を除く）は、
記憶装置６に格納されている。
す。第２図において、Ｍ１〜Ｍ８は出力すｔするべき診
断メツセージ、Ｇ１．〜Ｇ、はアンド・ゲート、Ｇ１５
〜ＧＩｆｉはオア・ゲートを示す。ＣＣＴにおいて、ス
テータスＳｉが定義される位置をノード（観測ノード）
、メツセージＭｉがついているだけでデータＸｉのステ
ータスＳｉが決定されないノードな非観測、ノード（例
えばＳｌｌ −Ｓ＋ｓ ）と呼ぶ。ステータスＳ、〜Ｓ
、。（ただしステータス８１１と５ｉ１１を除く）は、
記憶装置６に格納されている。
ＯＣＴに関連する実行処理は、記憶装置６，４゜６から
の情報を基に診断処理装置５．７で行なわれる。演算処
理装置５は、記憶装置６よりプライマリ・ノードＳ、〜
Ｓ１゜の観測値を入力として、記憶装置４のＣＣＴに従
い、論理演算を毎回サイクリックに実行し、他のすべて
のノードＳ１１〜Ｓ２゜の論理演算値を記憶装置６に格
納する。この演算は、ステータスＳｉの変化にかかわら
ず、サンプリング周期毎にＯＣＴの上位に向けて実行さ
れる。ここで処理するプログラムは、対象のＯＣＴによ
り一意的に決まるから、ＣＣＴ毎にオブジェクト・モジ
ュールが作成される。演算処理装置７は、記憶装置６に
格納された演算処理装置５の解析結果とＯＣＴとにより
診断処理を行なう。このため、解析内容は、エントリ・
ノードの変化検出、原因同定、予測に分けられる。エン
トリーノードとは解析を始める事象として予じめ指定し
であるノードである。エントリ・ノードの変化は、プラ
ントが正常、異常発生、異常事象継続及び異常回復のい
ずれかｔ調べ、サンプリング周期毎に、エントリ・ノー
ドの観測値のステータスを調べることによって検出され
る。
の情報を基に診断処理装置５．７で行なわれる。演算処
理装置５は、記憶装置６よりプライマリ・ノードＳ、〜
Ｓ１゜の観測値を入力として、記憶装置４のＣＣＴに従
い、論理演算を毎回サイクリックに実行し、他のすべて
のノードＳ１１〜Ｓ２゜の論理演算値を記憶装置６に格
納する。この演算は、ステータスＳｉの変化にかかわら
ず、サンプリング周期毎にＯＣＴの上位に向けて実行さ
れる。ここで処理するプログラムは、対象のＯＣＴによ
り一意的に決まるから、ＣＣＴ毎にオブジェクト・モジ
ュールが作成される。演算処理装置７は、記憶装置６に
格納された演算処理装置５の解析結果とＯＣＴとにより
診断処理を行なう。このため、解析内容は、エントリ・
ノードの変化検出、原因同定、予測に分けられる。エン
トリーノードとは解析を始める事象として予じめ指定し
であるノードである。エントリ・ノードの変化は、プラ
ントが正常、異常発生、異常事象継続及び異常回復のい
ずれかｔ調べ、サンプリング周期毎に、エントリ・ノー
ドの観測値のステータスを調べることによって検出され
る。
即ち、記憶装置６に記憶された今回のサンプリングでの
観測結果と前回の観測結果（ステータス・インジケータ
の値）とを比較し、その結果によす、新しいステータス
・インジケータを割り当て、そのインジケータに応じて
原因同定、予測等の診断又は１次のエントリーノードの
検索をする。この動作ン第３図にステータス拳インジケ
ータの例として示す。ステータス・インジケータの値が
ａ（異常発生）のときは、エントリ・ノードの観測値が
１偽”から１真”、ｂ（異常継続〔原因同定成功〕）及
びＣ（異常継続〔原因同定失敗〕）１ム１真”から７真
”へ、ｄ（回復）は１真”から６偽”へ、ｅ（正常）は
、１偽”から１偽”へそれぞれ観測値が変化又は不変化
したことを示している。第３図に示″１″Ａは１回前の
サンプリング時のステータス・インジケータ、Ｂは新し
く設定されたステータス・インジケータである。
観測結果と前回の観測結果（ステータス・インジケータ
の値）とを比較し、その結果によす、新しいステータス
・インジケータを割り当て、そのインジケータに応じて
原因同定、予測等の診断又は１次のエントリーノードの
検索をする。この動作ン第３図にステータス拳インジケ
ータの例として示す。ステータス・インジケータの値が
ａ（異常発生）のときは、エントリ・ノードの観測値が
１偽”から１真”、ｂ（異常継続〔原因同定成功〕）及
びＣ（異常継続〔原因同定失敗〕）１ム１真”から７真
”へ、ｄ（回復）は１真”から６偽”へ、ｅ（正常）は
、１偽”から１偽”へそれぞれ観測値が変化又は不変化
したことを示している。第３図に示″１″Ａは１回前の
サンプリング時のステータス・インジケータ、Ｂは新し
く設定されたステータス・インジケータである。
このとき、新しく設定された各々のステータス・インジ
ケータの値により第４図（示す処理を倍周期毎に行なう
。
ケータの値により第４図（示す処理を倍周期毎に行なう
。
原因同定処理は、エントリ・ノードの観測値が事象発生
を示したときａ及び事象発生が継続していてかつ原因が
不明のときＣに行なわれる。この原因同定処理では、観
測データを格納している記憶装置６、ＣＣＴを格納して
いる記憶装置４及び計算結果を格納している記憶装置６
の各情報に従い、プライマリ・ノードの観測値から計算
した各ノードのステータスＳｉは、そのノードの実際の
観測値により正しいか否かを確認してい（。これにより
、異常の生起が確認されたら、原因事象からエントリ・
ノードまでのパスで正しさが確認されたパスに割り当て
られているメツセージを表示装置８に診断メツセージと
して表示する。
を示したときａ及び事象発生が継続していてかつ原因が
不明のときＣに行なわれる。この原因同定処理では、観
測データを格納している記憶装置６、ＣＣＴを格納して
いる記憶装置４及び計算結果を格納している記憶装置６
の各情報に従い、プライマリ・ノードの観測値から計算
した各ノードのステータスＳｉは、そのノードの実際の
観測値により正しいか否かを確認してい（。これにより
、異常の生起が確認されたら、原因事象からエントリ・
ノードまでのパスで正しさが確認されたパスに割り当て
られているメツセージを表示装置８に診断メツセージと
して表示する。
予測処理では、エントリ・ノードの演算結果が真になっ
ているときは故障が、上位のノードに及ぼす影響を調べ
る。
ているときは故障が、上位のノードに及ぼす影響を調べ
る。
ここでも論理演算の結果と、観測結果との一致を調べ、
エントリ・ノードより上位のノードについて、論理演算
結果と観測結果との一致を調べ、そのノードに割り当て
られたメツセージを同じく表示装置８に、一致しておれ
ば現状メツセージ、不一致であれば予測メツセージとし
て表示する。
エントリ・ノードより上位のノードについて、論理演算
結果と観測結果との一致を調べ、そのノードに割り当て
られたメツセージを同じく表示装置８に、一致しておれ
ば現状メツセージ、不一致であれば予測メツセージとし
て表示する。
このような構成によると、例えば、第２図のＯＣＴにお
いて、エントリｅノードＳ１１で故障Ａ又は（及び）故
障Ｂが発生すれば、各々を原因同定できるが、故障Ａが
発生した後、故障Ｂが発生したときは、原因を同定でき
るがこの逆に、故障Ｂが発生した後、故障Ａが発生した
ときは同じエントリ・ノードの管理下にあるため、原因
の同定が成功し、かつ継続と判断するので、影響予測の
み行なうことになる。それ故、運転員に正しい故障原因
など現在のプラント状態を正しく示す適切なメツセージ
を出力できない。ステータス会インジケータが継続″ｂ
”（原因同定成功）で新しい観測値が真の場合、第３図
に示すように、新しいステータス・インジケータは継続
″′ｂ″となる。このため、第４図に示すように、エン
トリ・ノードの値にかかわらず、原因同定の処理をスキ
ップしていた。
いて、エントリｅノードＳ１１で故障Ａ又は（及び）故
障Ｂが発生すれば、各々を原因同定できるが、故障Ａが
発生した後、故障Ｂが発生したときは、原因を同定でき
るがこの逆に、故障Ｂが発生した後、故障Ａが発生した
ときは同じエントリ・ノードの管理下にあるため、原因
の同定が成功し、かつ継続と判断するので、影響予測の
み行なうことになる。それ故、運転員に正しい故障原因
など現在のプラント状態を正しく示す適切なメツセージ
を出力できない。ステータス会インジケータが継続″ｂ
”（原因同定成功）で新しい観測値が真の場合、第３図
に示すように、新しいステータス・インジケータは継続
″′ｂ″となる。このため、第４図に示すように、エン
トリ・ノードの値にかかわらず、原因同定の処理をスキ
ップしていた。
しかし、一度原因同定が成功しても、ＯＣＴ上の同一エ
ントリ・ノードの下位に新たな原因が発生している可能
性がある。
ントリ・ノードの下位に新たな原因が発生している可能
性がある。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、原因が存在する場合、該当する
エントリ・ノードの論理値が真に〜なることに注目し、
原因同定の成否にかかわらず、各診断サイクル毎に原因
同定を繰り返すことにより、故障が複数発生しても原因
の同定ができるプラント診断装置を提供することを目的
としている。
ためになされたもので、原因が存在する場合、該当する
エントリ・ノードの論理値が真に〜なることに注目し、
原因同定の成否にかかわらず、各診断サイクル毎に原因
同定を繰り返すことにより、故障が複数発生しても原因
の同定ができるプラント診断装置を提供することを目的
としている。
以下、この発明の一実施例〉第５図に示すフローチャー
トについて説明する。第５図は、第４図との対比から明
らかなように、ステータス・インジケータが継続すと判
断され、かつエントリ・ノードの値が真と判断されたと
きも、原因同定の処理を実行する。その他のフローは第
４図に示すものと同じである。
トについて説明する。第５図は、第４図との対比から明
らかなように、ステータス・インジケータが継続すと判
断され、かつエントリ・ノードの値が真と判断されたと
きも、原因同定の処理を実行する。その他のフローは第
４図に示すものと同じである。
なお、上記実施例では、論理演算ン行なう演算処理装置
５と診断処理を行なう演算処理装置７とｔ別々なものと
して表現したが、１つの装置としても上記実施例と同等
の効果を奏する。
５と診断処理を行なう演算処理装置７とｔ別々なものと
して表現したが、１つの装置としても上記実施例と同等
の効果を奏する。
以上のように、プラント診断装置を構成したので、故障
が多重に発生しても、見逃すことなく、診断メツセージ
乞出力することができ、マンマシン・システムとして運
転員に正確な情報ン与えることができるという効果があ
る。
が多重に発生しても、見逃すことなく、診断メツセージ
乞出力することができ、マンマシン・システムとして運
転員に正確な情報ン与えることができるという効果があ
る。
第１図はプラント診断装置ケ示すブロック図、第２図は
プラント診断のためのＣＣＴｇ示す図、第３図、第４図
は従来の装置のフローチャート、第５図は本発明による
装置の動作χ示すフロー・チャート。 １・・・データ収集装置、２．５．７・−・演算処理装
置、３，４．６・・・記憶装置、８川表示装置。 なお、図中、同一符号は同−又は相当部分乞示す。 代理人 大岩増雄 手続補正書（自発］ 昭和５８年１１ 月５ 日 ２、発明の名称 プラント診断装置 ３、補正をする者 代表者片山仁へ部 ４、代理人 ５、補正の対象 （１）明細書の発明の詳細な説明の欄 ＋２１図 面 ６、補正の内容 （１）明細書第３頁第１７行目「Ｇ□□〜Ｇｌｌ」とあ
るのＹｒＧ□□、Ｇ□４」と補正する。 （２１明細書第５頁第１行目「とＣＣＴとに」とあるの
を「と記憶装置３に格納さ′ｎた観測データとＯＣＴと
に」と補正する。 （３１明細書第７頁第１３行目から第２０行目「エント
リ・ノードＳ□２で故障Ａ又は（及び）故障Ｂが発生す
ｎば１名々を原因同足できるが、故障Ａが発生しに後、
故障Ｂが発生し穴ときは、原因乞同足できるがこの逆に
、故障Ｂが発生した後、故障Ａが発生したときは同じエ
ントリ・ノードの管理下にあるため、原因の四足が成功
し、刀１つ継続と判断するので、影響予測のみ行なうこ
とになる。」とあるのな［エントリ・ノードＳ□７の下
位にある故障Ａ又は故障ＢＩＪ″−名々単独久々単独に
発生す扛は、各々を原因同足できるが、故障Ａが発生し
た後、故障Ｂが発生した時は、同じエントリ・ノードの
管理下にあるため、故障Ａのみ同定するがこの逆に、故
障Ｂが発生した後、故障Ａが発生した場合、故障Ｂのみ
同足し、かつ継続と判断するので、後から発生した故障
に対しては原因同定を実施せず釦、該轟エントリ・ノー
ドに従って影響予測のみ行なうことＫなる。」と補正す
る。 １４１明細書第８貞第７行目「の値圧」とあるの？「の
論理演算値に」と補正する。 （５１明細書第９頁第３行目し一ドの値が」とあるのを
１−ドの論理演算値が」と補正する。 １６１別紙の通り第１図な補正する。 ７、 添付書類の目録 補正後の第１図を記した書面 １通 以上
プラント診断のためのＣＣＴｇ示す図、第３図、第４図
は従来の装置のフローチャート、第５図は本発明による
装置の動作χ示すフロー・チャート。 １・・・データ収集装置、２．５．７・−・演算処理装
置、３，４．６・・・記憶装置、８川表示装置。 なお、図中、同一符号は同−又は相当部分乞示す。 代理人 大岩増雄 手続補正書（自発］ 昭和５８年１１ 月５ 日 ２、発明の名称 プラント診断装置 ３、補正をする者 代表者片山仁へ部 ４、代理人 ５、補正の対象 （１）明細書の発明の詳細な説明の欄 ＋２１図 面 ６、補正の内容 （１）明細書第３頁第１７行目「Ｇ□□〜Ｇｌｌ」とあ
るのＹｒＧ□□、Ｇ□４」と補正する。 （２１明細書第５頁第１行目「とＣＣＴとに」とあるの
を「と記憶装置３に格納さ′ｎた観測データとＯＣＴと
に」と補正する。 （３１明細書第７頁第１３行目から第２０行目「エント
リ・ノードＳ□２で故障Ａ又は（及び）故障Ｂが発生す
ｎば１名々を原因同足できるが、故障Ａが発生しに後、
故障Ｂが発生し穴ときは、原因乞同足できるがこの逆に
、故障Ｂが発生した後、故障Ａが発生したときは同じエ
ントリ・ノードの管理下にあるため、原因の四足が成功
し、刀１つ継続と判断するので、影響予測のみ行なうこ
とになる。」とあるのな［エントリ・ノードＳ□７の下
位にある故障Ａ又は故障ＢＩＪ″−名々単独久々単独に
発生す扛は、各々を原因同足できるが、故障Ａが発生し
た後、故障Ｂが発生した時は、同じエントリ・ノードの
管理下にあるため、故障Ａのみ同定するがこの逆に、故
障Ｂが発生した後、故障Ａが発生した場合、故障Ｂのみ
同足し、かつ継続と判断するので、後から発生した故障
に対しては原因同定を実施せず釦、該轟エントリ・ノー
ドに従って影響予測のみ行なうことＫなる。」と補正す
る。 １４１明細書第８貞第７行目「の値圧」とあるの？「の
論理演算値に」と補正する。 （５１明細書第９頁第３行目し一ドの値が」とあるのを
１−ドの論理演算値が」と補正する。 １６１別紙の通り第１図な補正する。 ７、 添付書類の目録 補正後の第１図を記した書面 １通 以上
Claims (1)
- プラントの状態を所定周期でサンプリングしたデータを
逐次入力し、予め上記プラントの特性に対応して設定さ
れ、かつその各種異常事象の伝播シーケンスを模擬する
論理的な原因結果ツリーに従って所定周期で診断処理を
するプロセッサを備え、上記プラントに発生した異常を
検出し、その異常の発生の原因をリアル−タイムで同定
し、かつその異常による将来の予測をし、上記プラント
の運転員の総合判断をサポートするためのメツセージを
出力するプラント診断装置において、上記診断処理の各
実行サイクル毎に上記異常の原因の同定を実行するよう
に上記プロセッサを構成することを特徴としたプラント
診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108627A JPS60506A (ja) | 1983-06-15 | 1983-06-15 | プラント診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108627A JPS60506A (ja) | 1983-06-15 | 1983-06-15 | プラント診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60506A true JPS60506A (ja) | 1985-01-05 |
| JPH0421210B2 JPH0421210B2 (ja) | 1992-04-09 |
Family
ID=14489583
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58108627A Granted JPS60506A (ja) | 1983-06-15 | 1983-06-15 | プラント診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60506A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0261225A (ja) * | 1988-08-27 | 1990-03-01 | Shimizu Corp | 軟弱地盤上の低層構築物 |
-
1983
- 1983-06-15 JP JP58108627A patent/JPS60506A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0261225A (ja) * | 1988-08-27 | 1990-03-01 | Shimizu Corp | 軟弱地盤上の低層構築物 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0421210B2 (ja) | 1992-04-09 |
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