JPH0147836B2 - - Google Patents

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JPH0147836B2
JPH0147836B2 JP21582281A JP21582281A JPH0147836B2 JP H0147836 B2 JPH0147836 B2 JP H0147836B2 JP 21582281 A JP21582281 A JP 21582281A JP 21582281 A JP21582281 A JP 21582281A JP H0147836 B2 JPH0147836 B2 JP H0147836B2
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JP
Japan
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cause
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cct
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JP21582281A
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JPS58115599A (ja
Inventor
Mitsuhiko Fujii
Yoshuki Mineo
Takamichi Ogino
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS58115599A publication Critical patent/JPS58115599A/ja
Publication of JPH0147836B2 publication Critical patent/JPH0147836B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

Landscapes

  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Alarm Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕 この発明は、大規模プラントの運転信頼性、稼
動率の向上に寄与するために、プラントの異常事
象をオンライン・リアル・タイムで同定し、将来
を予測するプラント診断装置に関するものであ
る。 〔従来の技術〕 従来この種の装置としては、第1図に示すもの
があつた。図において、1はプロセスデータを読
み込むためのデータ収集装置(例えば、アナロ
グ・デイジタル変換器)、2はプロセスデータを
基準値と比較し、許容範囲内にあれば“0”、範
囲外にあれば“1”に変換するための演算処理装
置、3は演算処理装置2が演算処理した結果を格
納しておく記憶装置、4は原因結果ツリー(以下
CCTと記す)を記憶しておく記憶装置、5は記
憶装置3と記憶装置4に格納してあるプロセス情
報とCCTを用いて異常の第一原因を同定し、か
つ将来の予測を行なう診断処理装置、6は診断結
果を表示するためのブラウン管表示装置である。 即ち、データ収集装置1に入力するプロセス・
データをXi(i=1、2、…、N)とする。プロ
セス・データXiはデータ収集装置1により量子
化される。量子化されたデータXiを入力として
演算処理装置2は式に示す処理を施こし、その
結果Si(i=1、2、…、N)及び事象発生時刻
を記憶装置3に格納する。 ここで、Siをxiのステータスと呼ぶ。また、ス
テータスが1となつた時間を事象発生時刻と呼
ぶ。 記憶装置4に格納されているCCTの一部分の
例を第2図に示す。第2図中、M6,M7は診断
メツセージ、τは時間遅れ、G11,G12は論理積
ゲート、G21,G22は論理和ゲートを夫々示す。
CCTにおいて、Siが定義される位置をノードと
呼んでいる。第2図中の各ステータスS1,…,S7
の論理値は記憶装置3に格納されている。異常の
伝播シーケンスを上記各ステータスの論理関係と
して記述したのがCCTであるが、ステータス間
の事象伝播時間が重要な場合は、時間遅れ(第2
図中のτ)を用いることがある。CCT実行処理
は記憶装置3と4からの情報を基に診断処理装置
5で行なわれる。異常の第1原因検索のため以下
の処理が実施される。 まず多数のCCT群の中から検索すべきサブ
CCT部分を抽出するために記憶装置3に格納さ
れているエントリーノード(解析を始めるノード
としてあらかじめ指定)のうちステータスが変化
したものを検出し、そのノードから下位のノード
側への検索が始まる。そして最初のゲートが
ANDゲートかORゲートかを調べる。次に記憶装
置3に書き込まれているプラント観測データの内
そのゲートの各入力の状態及び事象発生時刻の関
係が、記憶装置4に書き込まれているCCTモデ
ルと一致しているか調べる。つまり、CCTで最
初のゲートがANDゲートであるなら、その入力
状態が全て1であるかを記憶装置3に記憶されて
いるデータを検索し、全て1であればロジツク成
立、1つでも0があれば不成立と判断する。ロジ
ツクが成立している場合、更に下位のノードへと
展開するため記憶装置4に格納されているCCT
モデルに従つて次の検索すべきノードを決める。
検索ノードの順番は、エントリー・ノードから始
めて、エントリー・ノードに対して子供に当るノ
ードを全て検索したのち孫に当るノードを全て検
索すると言う順序である。 こうして順番に従つて、エントリー・ノードの
下方に接続されている各ゲート毎に、各ゲートの
入力側のノードの偽(不一致)、真(一致)を判
定し、真なブランチを継ぎあわせていく。そして
展開が進み、最下位のノードであるプライマリ
ー・ノードにまで達すると、このエントリー・ノ
ードのロジツクが成立し、原因同定が成功したと
判定する。CCTの各所に事象間のタイムデイレ
イが設定されているが実際にこれより早く事象が
進行した場合には、それ以下のノードの展開は行
なわない。 すなわち、展開の途中でエントリー・ノードに
対してミニマム・カツト・セツトがない事が判明
した時は、そこで診断を打ち切る。例えばAND
ロジツクの一方が「偽」であれば以下の展開は行
なわない。従つて、診断が打ち切られるか又は終
了すれば、次のエントリー・ノードからの解析が
優先順位を考慮して実行される。以上の処理を第
3図のCCTについて説明する。第3図中、M1
M4,M17,M18は診断メツセージ、G13,G14
G15,G16は論理積ゲート、G23,G24,G25,G26
G27,G28,G29は論理和ゲート、●は可観測ノー
ド、〇は非観測ノードを夫々示す。第3図の
CCTに対応する可観測ノードのステータス例を
第4図に示す。第4図においてEは変数が警報レ
ベル以内にある、Hは変数が高警報レベルを越え
ている、Tは観測ノードが要求条件と一致してい
る。Fは観測ノードが要求条件と不一致であるこ
とを示す。 ノードN6の変数V6が警報レベルを越えた
時、これがどの様な原因によるものであるか検
索を開始する。(N6;エントリー・ノード) 第4図のノード状態はそのノードの条件が満
足された(T;真)か否(F;偽)かを表わし
ている。 真の場合、このプロセス量は警報レベルを越
えていることを表わしている。 ノードN6を起点としてCCTを下方に向けて
展開し、ノードN6の変数V6を真とする集合
(ミニマム・カツト・セツト)を検索する。文
字式で表現すると次の様に記述できる。
【表】 すなわち、上記文字式からも明らかなように、
エントリー・ノードN6が警報レベルを越えた原
因は、ノードN10、N19、及びN21が真であるこ
とによるものであり、これにより原因同定ができ
たことになる。原因同定が成功したエントリー・
ノードN6に対しては、そのエントリー・ノード
N6から上にロジツクをたどつていき、異常の進
行状態の解析を行なう。すなわち、異常が上位方
向にどれだけ拡がつたかチエツクし、更に異常が
拡がると仮定し最上位のアクテイブ・ノード(真
のノード)より上のノードがしばらく後に状態を
変えるかどうかを決めるためにチエツクする。従
つて、まずエントリー・ノードの直ぐ上のゲート
の種類を調べる。次にそのゲートの入力ステータ
スを調べ、その出力ステータスは現在はまだ偽で
あるが時間がたてば真となるかどうか検索する。
(ゲートがない場合、エントリー・ノードの上の
可観測ノードのステータス) 以上の予測処理を第3図のCCTに適用すると
次の様になる。 エントリー・ノードN6を起点としてCCTを
上位に向けて検索して行く。エントリー・ノー
ドN6のすぐ上のゲートG13はANDゲードで
あることを確認する。 ANDゲートG13の出力ノードN4は変数V12
が真により変数V7が真であり、変数V6が真で
あるため真となる。更に上にたどつていくと、
上位のゲートG24,G23がともにORゲー
トであるため、理論的には変数V1は真である
が第4図のようにV1の観測値は時間遅れのた
め真になつていない。 第3図のCCTでの予測処理を文字式で記述す
ると次の様になる。
〔発明の目的〕
この発明は、上記のような従来のものの欠点を
除去するためになされたものであり、CCTの最
下位ノードに対するデータを導入し、サンプリン
グ周期ごとにCCTのロジツクを論理演算し、こ
の論理演算値を記憶更新しておき、エントリー・
ノードの実測データが許容範囲をこえたとき、上
記論理演算値と実測データを比較することで、プ
ラント異常の原因同定及び予測処理を行なうこと
により、処理化を簡素化し、処理効率を向上する
ことを目的としている。 〔発明の実施例〕 以下、この発明の一実施例を図について説明す
る、第5図において、1,2,3,4,5,6は
従来のものと同一型式のものであり、7は記憶装
置3のプロセスデータの内、CCTのプライマ
リ・ノードの観測値のみを入力し、記憶装置4に
格納してあるCCTのロジツクをデータ収集装置
のサンプリング周期毎に演算し、すべてのノード
の論理演算値を導出する演算装置、8は演算処理
装置7で求めた各ノードの論理演算値(ノードの
ステータスと推定事象発生時刻)を格納する記憶
装置、9は記憶装置4から得られるCCTロジツ
クに従つて、記憶装置3からの観測データと記憶
装置8からの論理演算値とを比較し、一致、不一
致によりエントリー・ノードの変化検出、原因同
定及び予測を行なう診断解解析部のための演算処
理装置である。 本発明のCCT実行処理方式を説明する。CCT
実行処理データフローを第5図に示すが、特に診
断処理を論理演算部と診断解析部に分けていると
ころに本発明の特徴がある。論理演算部を分離し
かつサンプリング周期毎に毎回全論理演算を実行
する方式を採用したのは、従来のエントリー・ノ
ードの変化に応じて論理演算を実行するイベント
処理方式よりも計算機の処理時間が短かくなるか
らである。 論理演算を行なう演算処理装置7では、記憶装
置3内のプライマリー・ノードの観測値を入力と
して、記憶装置4のCCTゲートロジツクに従い、
すべての論理演算(各ノードのステータス及び推
定される事象発生時刻の計算)を毎回サイクリツ
クに実行し、記憶装置8に格納する。この演算
は、プライマリー・ノードの観測値のステータス
の値や変化にかかわらずサンプリング周期毎に毎
回ツリーを上方に向けて演算される。ここで処理
するプログラムは対象CCTが決まれば、一意的
に決まるものであるから、CCTモジユール毎に
オブジエクト・モジユールを作成する方式を採用
する。 診断解析を行なう演算処理装置9では、記憶装
置8に格納された論理演算部の解析結果を基に
CCTの診断処理を行なうが、解析内容はエント
リー・ノードの変化検出、原因同定、予測に分け
られる。 エントリー・ノードの変化検出は、プラントが
正常・異常発生・異常事象継続・異常回復かを調
べ、診断処理の必要性を判断するためにサンプリ
ング周期毎にエントリー・ノードのステータスを
調べることによつて実施される。即ち、記憶装置
3から今回のサンプリングでの観測結果及び前回
の観測結果をチエツクし、そのチエツク内容によ
り正常・異常発生・異常事象継続・異常回復のス
テータス・インジケータを割り当て、そのインジ
ケータに応じて原因同定、予測等の診断又は次の
エントリー・ノードの検索をする。 まず、原因同定では、観測データを格納してい
る記憶装置3とCCTモデル4及び論理演算部の
計算結果を格納している記憶装置8からの情報を
もとに、プライマリー・ノードの観測値から計算
された各ノードのステータスの正しさをその上の
ノードの観測値で確認していき、確認できた原因
事象からエントリー・ノードまでのパスについて
はそのパスに割り当てられているメツセージをブ
ラウン管表示装置6に表示する。 予測では、エントリー・ノードの演算結果が
「1」になつている時、それが上位のノードに及
す影響を調べる。ここでも論理演算結果と観測結
果との一致を調べ、その上位ノードに割り当てら
れたメツセージをブラウン管表示装置6に一致し
ておれば状態メツセージ、不一致であれば予測メ
ツセージとして表示する。 診断解析部に必要な情報はCCTモジユール毎
にテーブル(データベース)を作成し、それを
CCTプログラムが上記の一致、不一致を調べる
ことにより、解析を実行する方式を採用する。 第6図により、本発明の方式を説明する。第6
図において、No.1〜No.5は、プラントの初期状態
から異常が発生し、最終状態になるまでの状況を
段階ごとに示したものであり、CCTを簡略的に
示している。●印は可観測ノード、〇印は非観測
ノード、○†ぐ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 プロセスデータをサンプリングするデータ収
    集装置、 このデータ収集装置のサンプリングしたデータ
    が許容範囲のデータか否かを演算する第一の演算
    装置、 この第一の演算装置の演算結果を格納する第一
    の記憶装置、 プラントで生ずる各種異常事象の伝搬シーケン
    スを論理式で記述した原因結果ツリー、及びこの
    原因結果ツリーの所定箇所に設けられる診断メツ
    セージを記憶する第二の記憶装置、 この第二の記憶装置が記憶する原因結果ツリー
    の最下位ノードに対応するデータを上記第一の記
    憶装置から導入し、上記原因結果ツリーの論理演
    算を上記データ収集装置のサンプリング周期ごと
    に実行処理する第二の演算装置、 この第二の演算装置が実行処理した原因結果ツ
    リーの論理演算値を記憶する第三の記憶装置、 上記第一の記憶装置に記憶されたデータのう
    ち、上記第二の記憶装置に記憶された原因結果ツ
    リーに指定した所定ノードに対応するデータが許
    容範囲をこえたとき、上記第三の記憶装置に記憶
    された原因結果ツリーの各所の論理演算値と上記
    第一の記憶装置に記憶された対応するデータとを
    比較し、その論理演算値とデータとの一致関係に
    より、上記診断メツセージを選択して、プラント
    異常の原因同定、及び予測処理を行う第三の演算
    装置、 及びこの第三の演算装置の原因同定、及び予測
    処理結果の診断メツセージを表示する表示装置を
    備えたことを特徴とするプラント診断装置。
JP56215822A 1981-12-28 1981-12-28 プラント診断装置 Granted JPS58115599A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56215822A JPS58115599A (ja) 1981-12-28 1981-12-28 プラント診断装置

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JP56215822A JPS58115599A (ja) 1981-12-28 1981-12-28 プラント診断装置

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Publication Number Publication Date
JPS58115599A JPS58115599A (ja) 1983-07-09
JPH0147836B2 true JPH0147836B2 (ja) 1989-10-17

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ID=16678828

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JP56215822A Granted JPS58115599A (ja) 1981-12-28 1981-12-28 プラント診断装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2601270B2 (ja) * 1987-04-13 1997-04-16 株式会社小松製作所 推論機能を有する制御装置

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JPS58115599A (ja) 1983-07-09

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