JPS6047823B2 - 力率調整装置 - Google Patents
力率調整装置Info
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- JPS6047823B2 JPS6047823B2 JP54041859A JP4185979A JPS6047823B2 JP S6047823 B2 JPS6047823 B2 JP S6047823B2 JP 54041859 A JP54041859 A JP 54041859A JP 4185979 A JP4185979 A JP 4185979A JP S6047823 B2 JPS6047823 B2 JP S6047823B2
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- Japan
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- gate
- test
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- Supply And Distribution Of Alternating Current (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は電気回路の力率を改善するために、無効電
力、無効電流あるいは力率を検出し、この検出値をもと
に電気回路に力率改善用のコンデンサを、接続あるいは
切離す投入信号あるいは遮断信号を発生すると共に、試
験装置を内蔵した力率調整装置に関するものてある。
力、無効電流あるいは力率を検出し、この検出値をもと
に電気回路に力率改善用のコンデンサを、接続あるいは
切離す投入信号あるいは遮断信号を発生すると共に、試
験装置を内蔵した力率調整装置に関するものてある。
従来の力率改善装置は力率を改善しようとするＪ電気
回路の無効電力、無効電流あるいは力率を検出し、この
検出値にあらかじめコンデンサの投入点および遮断点を
設定しておいて、この投入点もしくは遮断点を前記検出
値を越えるかもしくは下まわるとタイマ回路が動作する
ように構成されてｉいる。
回路の無効電力、無効電流あるいは力率を検出し、この
検出値にあらかじめコンデンサの投入点および遮断点を
設定しておいて、この投入点もしくは遮断点を前記検出
値を越えるかもしくは下まわるとタイマ回路が動作する
ように構成されてｉいる。
このタイマ回路が所定時間動作している間、前記検出値
が投入点もしくは遮断点を越えるかもしくは下まわつた
状態が継続していると、コンデンサの投入信号あるいは
遮断信号を出し、電気回路にコンデンサの接続あるいは
切離しを行つていた。この従来の力率改善装置を試験し
たい場合には、虚負荷試験装置が必要であつた。
が投入点もしくは遮断点を越えるかもしくは下まわつた
状態が継続していると、コンデンサの投入信号あるいは
遮断信号を出し、電気回路にコンデンサの接続あるいは
切離しを行つていた。この従来の力率改善装置を試験し
たい場合には、虚負荷試験装置が必要であつた。
すなわち、虚負荷試験装置を力率改善装置に接続し、虚
負荷試験装置に無効電力を発生させることにより、電気
回路にコンデンサを接続あるいは切離す投入信号あるい
は遮断信号を発生させていた。しかしながら虚負荷試験
装置は高価であると共に、大型であるため持ち運びが困
難であり、力率調整装置の設置されている処まて虚負荷
試験装置を運搬することは実際には不可能であつた。こ
の発明は従来の欠点を改良するためになされたものであ
り、力率改善装置に試験装置を内蔵させた力率調整装置
を構成し、テストスイッチを操作することにより、力率
調整装置に投入信号あるいは遮断信号を発生させるよう
にしたものである。
負荷試験装置に無効電力を発生させることにより、電気
回路にコンデンサを接続あるいは切離す投入信号あるい
は遮断信号を発生させていた。しかしながら虚負荷試験
装置は高価であると共に、大型であるため持ち運びが困
難であり、力率調整装置の設置されている処まて虚負荷
試験装置を運搬することは実際には不可能であつた。こ
の発明は従来の欠点を改良するためになされたものであ
り、力率改善装置に試験装置を内蔵させた力率調整装置
を構成し、テストスイッチを操作することにより、力率
調整装置に投入信号あるいは遮断信号を発生させるよう
にしたものである。
以下図面によりこの発明の一実施例を説明する。図はこ
の発明に係る力率調整装置の一実施例を示す電気結線図
である。
の発明に係る力率調整装置の一実施例を示す電気結線図
である。
図において、電気回路１には計器用変圧器２と計器用変
流器３とが接続され、電気回路１の電圧と電流とが検出
されている。無効電力検出装置４は計器用変圧器２から
の電圧と計器用変流器３からの電流とにより電気回路１
の無効電力を検出し、検出した無効電力に比一例した出
力を生じるものてある。増幅回路５は無効電力検出装置
４の出力を増幅するものである。第１の比較回路６は増
幅回路５の出力と投入点設定装置７の出力とを比較し、
増幅回路５の出力が投入点設定装置７の出力よりも高け
れは出力を生！じるものである。第２の比較回路８は増
幅回路５の出力と遮断点設定装置９の出力とを比較し、
増幅回路の出力が遮断点設定装置９の出力より低けれは
出力を生じるものてある。第１のテストスイッチ１０は
運転状態時信号発生装置１１とテスト状態信号発生装置
１２とを切替えるものである。テスト信号発生装置１３
からのテスト信号は第２のテストスイッチ１４によつて
投入端子１５と遮断端子１６とに切替えて第１，第２の
ゲート回路１７，１８に入力されるものである。第１の
ゲー４卜回路１７はアンドゲート１７ａ，１７ｂ，１７
ｃとオアゲート１７ｄとから構成され、アンドゲート１
７ａは第１の比較回路６からの入力時と運転状態時信号
発生装置１１からの入力時とに出力するものである。ア
ンドゲート１７ｂはテスト状態信号発生装置１２からの
入力時と投入端子１５を介したテスト信号発生装置１３
からの入力時とに出力するものである。オアゲート１７
ｄはアンドゲート１７ａ，１７ｂの何れか方からの入力
時に出力するものである。第２のゲート回路１８はアン
ドゲート１８ａ，１８ｂ，１８ｃとオアゲート１８ｄと
から構成され、アンドゲート１８ａは第２の比較回路８
からの入力時と運転状態信号発フ生装置１１からの入力
時とに出力するものである。アンドゲート１８ｂはテス
ト状態信号発生装置１２からの入力時と遮断端子１６を
介したテスト信号発生装置１３からの入力時とに出力す
るものである。オアゲート１８ｄはアンドゲート１８ａ
，１８ｂの何れか一方からの入力時に出力するものであ
る。オアゲート１９はオアゲート１７ｄ，１８ｄの何れ
か一からの入力時に出力するものである。タイマ回路２
０はオアゲート１９からの入力時にリセット状態が解か
れ、タイマ設定装”置２１で設定された時間経過後、出
力端子２２に出力を発生してその後再びリセット状態に
戻るものである。第１の順序制御回路２３はオアゲート
１７ｄからの入力時とタイマ回路２０からの入力時とに
出力するアンドゲート１７ｃの出力によつて付勢され、
電気回路１に接続するコンデンサを第１〜第ｎのコンデ
ンサから選択するものである。すなわち今、第１、第２
のコンデンサが接続されている場合には、第３のコンデ
ンサを選択するものてある。第２の順序制御回路２４は
オアゲート１８ｄからの入力時とタイマ回路２０からの
入力時とに出力するアンドゲート１８ｃの出力によつて
付勢され、電気回路１から切離すコンデンサを選択する
ものである。すなわち今、第１、第２のコンデンサが接
続されている楊合には、第２のコンデンサを選択するも
のである。リレー回路２５は第１の順序制御回路２３て
選択されたコンデンサに該当するリレーを付勢し第２の
順序制御回路２４で選択されたコンデンサに該当するリ
レーを消勢するものである。リレー接点２６ａ〜２６ｎ
は第１〜第ｎのコンデンサに対応し、リレー回路２５で
付勢もしくは消勢されるリレーの接点である。次にこの
動作を説明する。
流器３とが接続され、電気回路１の電圧と電流とが検出
されている。無効電力検出装置４は計器用変圧器２から
の電圧と計器用変流器３からの電流とにより電気回路１
の無効電力を検出し、検出した無効電力に比一例した出
力を生じるものてある。増幅回路５は無効電力検出装置
４の出力を増幅するものである。第１の比較回路６は増
幅回路５の出力と投入点設定装置７の出力とを比較し、
増幅回路５の出力が投入点設定装置７の出力よりも高け
れは出力を生！じるものである。第２の比較回路８は増
幅回路５の出力と遮断点設定装置９の出力とを比較し、
増幅回路の出力が遮断点設定装置９の出力より低けれは
出力を生じるものてある。第１のテストスイッチ１０は
運転状態時信号発生装置１１とテスト状態信号発生装置
１２とを切替えるものである。テスト信号発生装置１３
からのテスト信号は第２のテストスイッチ１４によつて
投入端子１５と遮断端子１６とに切替えて第１，第２の
ゲート回路１７，１８に入力されるものである。第１の
ゲー４卜回路１７はアンドゲート１７ａ，１７ｂ，１７
ｃとオアゲート１７ｄとから構成され、アンドゲート１
７ａは第１の比較回路６からの入力時と運転状態時信号
発生装置１１からの入力時とに出力するものである。ア
ンドゲート１７ｂはテスト状態信号発生装置１２からの
入力時と投入端子１５を介したテスト信号発生装置１３
からの入力時とに出力するものである。オアゲート１７
ｄはアンドゲート１７ａ，１７ｂの何れか方からの入力
時に出力するものである。第２のゲート回路１８はアン
ドゲート１８ａ，１８ｂ，１８ｃとオアゲート１８ｄと
から構成され、アンドゲート１８ａは第２の比較回路８
からの入力時と運転状態信号発フ生装置１１からの入力
時とに出力するものである。アンドゲート１８ｂはテス
ト状態信号発生装置１２からの入力時と遮断端子１６を
介したテスト信号発生装置１３からの入力時とに出力す
るものである。オアゲート１８ｄはアンドゲート１８ａ
，１８ｂの何れか一方からの入力時に出力するものであ
る。オアゲート１９はオアゲート１７ｄ，１８ｄの何れ
か一からの入力時に出力するものである。タイマ回路２
０はオアゲート１９からの入力時にリセット状態が解か
れ、タイマ設定装”置２１で設定された時間経過後、出
力端子２２に出力を発生してその後再びリセット状態に
戻るものである。第１の順序制御回路２３はオアゲート
１７ｄからの入力時とタイマ回路２０からの入力時とに
出力するアンドゲート１７ｃの出力によつて付勢され、
電気回路１に接続するコンデンサを第１〜第ｎのコンデ
ンサから選択するものである。すなわち今、第１、第２
のコンデンサが接続されている場合には、第３のコンデ
ンサを選択するものてある。第２の順序制御回路２４は
オアゲート１８ｄからの入力時とタイマ回路２０からの
入力時とに出力するアンドゲート１８ｃの出力によつて
付勢され、電気回路１から切離すコンデンサを選択する
ものである。すなわち今、第１、第２のコンデンサが接
続されている楊合には、第２のコンデンサを選択するも
のである。リレー回路２５は第１の順序制御回路２３て
選択されたコンデンサに該当するリレーを付勢し第２の
順序制御回路２４で選択されたコンデンサに該当するリ
レーを消勢するものである。リレー接点２６ａ〜２６ｎ
は第１〜第ｎのコンデンサに対応し、リレー回路２５で
付勢もしくは消勢されるリレーの接点である。次にこの
動作を説明する。
図示の如く第１のスイッチ１０が運転状態信号発生装置
１１に接続されているとする。今、無効電力検出装置４
で検出された無効電力が、投入点設定装置７の出力より
も高けれは、第１の比較回路６は出力を生じる。このた
めアンドゲート１７ａは第１の比較回路６からと運転状
態信号発生装置１１から入力され出力を生じる。この出
力はオアゲート１７ｄ，１９を介してタイマ回路２０に
印加されるタイマ回路２０はリセット状態が解かれタイ
マ設定装置２１て設定された時間経過後、出力端子２２
に出力を生じる。この時点において引続き無効電力が投
入点設定装置７の出力よりも高ければ、オアゲート１７
ｄは出力を生じているため、アンドゲート１７ｃは出力
を生じ第１の順序制御回路２３を付勢する。このため、
今第１、第２のコンデンサが電気回路１に接続されてい
るとすると、第１の順序制御回路２３は電気回路１に接
続する第３のコンデンサを選択し、この選択された第３
のコンデンサに該当するリレーをリレー回路２５におい
て付勢し、その接点２６ｃを閉成することにより、例え
ば電動スイッチ（図示せず）を駆動して第３のコンデン
サを電気回路１に接続する。次に無効電力検出装置４で
検出された無効電力が、遮断点設定装置９の出力よりも
低い場合を説明する。この場合、第２の比較回路８は出
力を生じるため、アンドゲート１８ａは第２の比較回路
８からと運転状態信号発生装置１１からと入力され出力
を生じる。この出力はオアケート１８ｄ，１９を介して
タイマ回路２０に印加される。タイマ回路２０はリセッ
ト状態が解かれタイマ設定装値２１で設定された時間経
過後、出力端子２２に出力を生じる。この時点において
引き続き無効電力が遮断点設定装置９の出力よりも低け
れば、オアゲート１８ｄは出力を生じているため、アン
ドゲート１８ｃは出力を生じ第２の順序制御回路２４を
付勢する。このため、今第１、第２のコンデンサが電気
回路１に接続されているとすると、第２の順序制御回路
２４は、電気回路１から切離す第２のコンデンサを選択
し、この選択された第２のコンデンサに該当するリレー
をリレー回路２５において消勢してその接点２６ｂを開
放することにより、例えは電動スイッチ（図示せす）を
駆動して第２のコンデンサを電気回路１から切離す。次
にコンデンサの投入試験をする場合を説明する。この場
合は、第１のテストスイッチ１０をテスト状態信号発生
装置１２側に接続し、第２のテストスイッチ１４を投入
端子１５側に接続する。このためアンドゲート１７ｂは
テスト状態信号発生装置１２からとテスト信号発生装置
１３から入力され出力を継続して生じる。この出力はオ
アゲート１７ｄ，１９を介してタイマ回路２０に印加さ
れる。タイマ回路２０は所定時間経過後、出力端子２２
に出力を生じるため、アンドゲート１７ｃは出力を生じ
第１の順序制御回路２３を付勢する。このため・第１の
順序制御回路２３は電気回路１に接続する第１〜ｎのコ
ンデンサを順次選択し、この選択されたコンデンサに該
当するリレーをリレ回路２５において付勢し、その接点
２６ａ〜２６ｎを閉成することにより第１〜第ｎのコン
デンサを電気回路１に順次接続する。次にコンデンサの
遮断試験をする場合を説明する。この場合は、第１のテ
ストスイッチ１０をテスト状態信号発生装置１２側に接
続し、第２のテストスイッチ１４を遮断端子１６側に接
続する。このためアンドゲート１８ｂテスト状態信号発
生装置１２からとテスト信号発生装置１３から入力され
出力を継続して生じる。この出力はオアゲート１８ｄ，
１９を介してタイマ回路２０に印加される。タイマ回路
２０は所定時間経過後出力端子２２に出力を生じるため
、アンドゲート１８ｃは出力を生じ第２の順序制御回路
２４を付勢する。このため第２の順序制御回路２４は電
気回路１から切離す第１〜第ｎのコンデンサを順次選択
し、この選択された第１〜第ｎのコンデンサに該当する
リレーをリレー回路２５において消勢し、その接点２６
ａ〜２６ｎを順次開放することにより当該コンデンサを
電気回路１から切離す。なお、図に示した実施例ではテ
スト信号発生装置１３を第１、第２の比較回路６，８の
後段に設置した場合を示したが、第１、第２の比較回路
６，８の前段に設置して、切換えスイッチを介して増幅
回路５の出力の代わりにテスト信号発生装置１３の出力
を第１、第２の比較回路６，８に印加しても同様の効果
が得られる。
１１に接続されているとする。今、無効電力検出装置４
で検出された無効電力が、投入点設定装置７の出力より
も高けれは、第１の比較回路６は出力を生じる。このた
めアンドゲート１７ａは第１の比較回路６からと運転状
態信号発生装置１１から入力され出力を生じる。この出
力はオアゲート１７ｄ，１９を介してタイマ回路２０に
印加されるタイマ回路２０はリセット状態が解かれタイ
マ設定装置２１て設定された時間経過後、出力端子２２
に出力を生じる。この時点において引続き無効電力が投
入点設定装置７の出力よりも高ければ、オアゲート１７
ｄは出力を生じているため、アンドゲート１７ｃは出力
を生じ第１の順序制御回路２３を付勢する。このため、
今第１、第２のコンデンサが電気回路１に接続されてい
るとすると、第１の順序制御回路２３は電気回路１に接
続する第３のコンデンサを選択し、この選択された第３
のコンデンサに該当するリレーをリレー回路２５におい
て付勢し、その接点２６ｃを閉成することにより、例え
ば電動スイッチ（図示せず）を駆動して第３のコンデン
サを電気回路１に接続する。次に無効電力検出装置４で
検出された無効電力が、遮断点設定装置９の出力よりも
低い場合を説明する。この場合、第２の比較回路８は出
力を生じるため、アンドゲート１８ａは第２の比較回路
８からと運転状態信号発生装置１１からと入力され出力
を生じる。この出力はオアケート１８ｄ，１９を介して
タイマ回路２０に印加される。タイマ回路２０はリセッ
ト状態が解かれタイマ設定装値２１で設定された時間経
過後、出力端子２２に出力を生じる。この時点において
引き続き無効電力が遮断点設定装置９の出力よりも低け
れば、オアゲート１８ｄは出力を生じているため、アン
ドゲート１８ｃは出力を生じ第２の順序制御回路２４を
付勢する。このため、今第１、第２のコンデンサが電気
回路１に接続されているとすると、第２の順序制御回路
２４は、電気回路１から切離す第２のコンデンサを選択
し、この選択された第２のコンデンサに該当するリレー
をリレー回路２５において消勢してその接点２６ｂを開
放することにより、例えは電動スイッチ（図示せす）を
駆動して第２のコンデンサを電気回路１から切離す。次
にコンデンサの投入試験をする場合を説明する。この場
合は、第１のテストスイッチ１０をテスト状態信号発生
装置１２側に接続し、第２のテストスイッチ１４を投入
端子１５側に接続する。このためアンドゲート１７ｂは
テスト状態信号発生装置１２からとテスト信号発生装置
１３から入力され出力を継続して生じる。この出力はオ
アゲート１７ｄ，１９を介してタイマ回路２０に印加さ
れる。タイマ回路２０は所定時間経過後、出力端子２２
に出力を生じるため、アンドゲート１７ｃは出力を生じ
第１の順序制御回路２３を付勢する。このため・第１の
順序制御回路２３は電気回路１に接続する第１〜ｎのコ
ンデンサを順次選択し、この選択されたコンデンサに該
当するリレーをリレ回路２５において付勢し、その接点
２６ａ〜２６ｎを閉成することにより第１〜第ｎのコン
デンサを電気回路１に順次接続する。次にコンデンサの
遮断試験をする場合を説明する。この場合は、第１のテ
ストスイッチ１０をテスト状態信号発生装置１２側に接
続し、第２のテストスイッチ１４を遮断端子１６側に接
続する。このためアンドゲート１８ｂテスト状態信号発
生装置１２からとテスト信号発生装置１３から入力され
出力を継続して生じる。この出力はオアゲート１８ｄ，
１９を介してタイマ回路２０に印加される。タイマ回路
２０は所定時間経過後出力端子２２に出力を生じるため
、アンドゲート１８ｃは出力を生じ第２の順序制御回路
２４を付勢する。このため第２の順序制御回路２４は電
気回路１から切離す第１〜第ｎのコンデンサを順次選択
し、この選択された第１〜第ｎのコンデンサに該当する
リレーをリレー回路２５において消勢し、その接点２６
ａ〜２６ｎを順次開放することにより当該コンデンサを
電気回路１から切離す。なお、図に示した実施例ではテ
スト信号発生装置１３を第１、第２の比較回路６，８の
後段に設置した場合を示したが、第１、第２の比較回路
６，８の前段に設置して、切換えスイッチを介して増幅
回路５の出力の代わりにテスト信号発生装置１３の出力
を第１、第２の比較回路６，８に印加しても同様の効果
が得られる。
この場合はアンドゲート１７ｂ，１８ｂ及びオアゲート
１７ｄ，１８ｄは不要となる。また、電気回路１の無効
電力を検出する場合について述べたが、無効電流または
力率を検出しても同様の効果が得られ、無効電力、無効
電力、力率を総称して無効成分と称することにする。以
上のようにこの発明によれば、簡単な構造で力率改善装
置に試験装置を設定した力率調整装置を構成することが
できる。
１７ｄ，１８ｄは不要となる。また、電気回路１の無効
電力を検出する場合について述べたが、無効電流または
力率を検出しても同様の効果が得られ、無効電力、無効
電力、力率を総称して無効成分と称することにする。以
上のようにこの発明によれば、簡単な構造で力率改善装
置に試験装置を設定した力率調整装置を構成することが
できる。
図はこの発明に係る力率調整装置の一実施例を示す電気
結線図である。 図において、１は電気回路、４は無効電力検出装置、６
は第１の比較回路、７は投入点設定装置、８は第２の比
較回路、９は遮断点設定装置、１０は第１のテストスイ
ッチ、１１は運転状態信号発生装置、１２はテスト状態
信号発生装置、１３はテスト信号発生装置、１４は第２
のテストスイッチ、１５は投入端子、１６は遮断端子、
１７，１８は第１、第２のゲート回路、２０はタイマ回
路、２３，２４は第１、第２の順序制御回路である。
結線図である。 図において、１は電気回路、４は無効電力検出装置、６
は第１の比較回路、７は投入点設定装置、８は第２の比
較回路、９は遮断点設定装置、１０は第１のテストスイ
ッチ、１１は運転状態信号発生装置、１２はテスト状態
信号発生装置、１３はテスト信号発生装置、１４は第２
のテストスイッチ、１５は投入端子、１６は遮断端子、
１７，１８は第１、第２のゲート回路、２０はタイマ回
路、２３，２４は第１、第２の順序制御回路である。
Claims (1)
- １ 電気回路の無効成分を検出し前記無効成分に比例
した出力を生じる無効成分検出装置、前記無効成分検出
装置の出力が投入点設定装置の出力よりも高ければ出力
を生じる第１の比較回路、前記無効成分検出装置の出力
が遮断点設定装置の出力よりも低ければ出力を生じる第
２の比較回路、運転状態時には運転状態信号発生装置に
テスト状態時にはテスト状態信号発生装置に切換えて接
続されそれぞれに出力を発生させる第１のテストスイッ
チ、投入テスト時には投入端子に遮断テスト時には遮断
端子に切替えて接続されそれぞれに出力を発生させる第
２のテストスイッチ、運転状態時において前記第１の比
較回路の出力と前記運転状態信号発生装置の出力とがそ
れぞれ所定時間継続印加された場合と、テスト状態時に
おいて前記テスト状態信号発生装置の出力と前記投入端
子の出力とがそれぞれ所定時間継続印加された場合と、
テスト状態時において前記無効成分検出装置の出力の代
わりに前記投入端子の出力が印加された前記第１の比較
回路の出力と前記テスト状態信号発生装置の出力とがそ
れぞれ所定時間継続印加された場合とに、それぞれゲー
トを所定時間開く第１のゲート回路、運転状態時におい
て、前記第２の比較回路の出力と前記運転状態信号発生
装置の出力とがそれぞれ所定時間継続印加された場合と
、テスト状態時において前記テスト状態信号発生装置の
出力と前記遮断端子の出力とがそれぞれ所定時間継続印
加された場合と、テスト状態時において前記無効成分検
出装置の出力の代わりに前記遮断端子の出力が印加され
た前記第２の比較回路の出力と前記テスト状態信号発生
装置の出力とがそれぞれ所定時間継続印加された場合と
に、それぞれゲートを所定時間開く第２のゲート回路、
前記第１のゲート回路のゲート開放時に前記電気回路に
接続するコンデンサを選択する第１の順序制御回路、及
び前記第２のゲート回路のゲート開放時に前記電気回路
から切離すコンデンサを選択する第２の順序制御回路を
備えたことを特徴とする力率調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54041859A JPS6047823B2 (ja) | 1979-04-05 | 1979-04-05 | 力率調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54041859A JPS6047823B2 (ja) | 1979-04-05 | 1979-04-05 | 力率調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55133632A JPS55133632A (en) | 1980-10-17 |
| JPS6047823B2 true JPS6047823B2 (ja) | 1985-10-23 |
Family
ID=12619967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54041859A Expired JPS6047823B2 (ja) | 1979-04-05 | 1979-04-05 | 力率調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6047823B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2504780B2 (ja) * | 1987-08-26 | 1996-06-05 | 三菱電機株式会社 | 力率自動調整制御装置 |
-
1979
- 1979-04-05 JP JP54041859A patent/JPS6047823B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55133632A (en) | 1980-10-17 |
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