JPH0145823B2 - - Google Patents
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- JPH0145823B2 JPH0145823B2 JP55078195A JP7819580A JPH0145823B2 JP H0145823 B2 JPH0145823 B2 JP H0145823B2 JP 55078195 A JP55078195 A JP 55078195A JP 7819580 A JP7819580 A JP 7819580A JP H0145823 B2 JPH0145823 B2 JP H0145823B2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 49
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 2
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/30—Reactive power compensation
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、力率改善装置に、この装置自体を
試験する試験装置を内蔵した力率調整装置に関す
るものである。
試験する試験装置を内蔵した力率調整装置に関す
るものである。
［従来の技術］
従来の力率改善装置の構成は、力率を改善しよ
うとする電気回路の無効電力、無効電流あるいは
力率を検出し、この検出値にあらかじめコンデン
サの投入点および遮断点を設定しておいて、この
投入点もしくは遮断点を前記検出値が越えるかも
しくは下まわるとタイマ回路が動作するようにし
ている。
うとする電気回路の無効電力、無効電流あるいは
力率を検出し、この検出値にあらかじめコンデン
サの投入点および遮断点を設定しておいて、この
投入点もしくは遮断点を前記検出値が越えるかも
しくは下まわるとタイマ回路が動作するようにし
ている。
この従来装置の動作は次の通りである。タイマ
回路が所定時間動作している間、前記検出値が投
入点もしくは遮断点を越えるかもしくは下まわつ
た状態が継続していると、コンデンサの投入信号
あるいは遮断信号を出し、電気回路にコンデンサ
の接続あるいは切離しを行つていた。
回路が所定時間動作している間、前記検出値が投
入点もしくは遮断点を越えるかもしくは下まわつ
た状態が継続していると、コンデンサの投入信号
あるいは遮断信号を出し、電気回路にコンデンサ
の接続あるいは切離しを行つていた。
［発明が解決しようとする問題点］
この従来の力率改善装置を試験したい場合に
は、虚負荷試験装置が使われていた。すなわち、
虚負荷試験装置を力率改善装置に接続し、虚負荷
試験装置に無効電力を発生させることにより、電
気回路にコンデンサを接続あるいは切離す投入信
号あるいは遮断信号を発生させていた。しかしな
がら虚負荷試験装置は高価であると共に、大型で
あるため持ち運びが困難であり、力率調整装置の
設置されている処まで虚負荷試験装置を運搬する
ことは実際には不可能であつた。
は、虚負荷試験装置が使われていた。すなわち、
虚負荷試験装置を力率改善装置に接続し、虚負荷
試験装置に無効電力を発生させることにより、電
気回路にコンデンサを接続あるいは切離す投入信
号あるいは遮断信号を発生させていた。しかしな
がら虚負荷試験装置は高価であると共に、大型で
あるため持ち運びが困難であり、力率調整装置の
設置されている処まで虚負荷試験装置を運搬する
ことは実際には不可能であつた。
この発明は、上記のような従来のものの問題点
を解消するためになされたもので、力率改善装置
に、この装置自体を試験する試験装置を内蔵した
力率調整装置を提供することを目的とする。
を解消するためになされたもので、力率改善装置
に、この装置自体を試験する試験装置を内蔵した
力率調整装置を提供することを目的とする。
［問題点を改善するための手段］
この発明に係る力率調整装置は、力率改善装置
と、この力率改善装置に内蔵され、この装置自体
を試験する試験装置とを備えたものである。
と、この力率改善装置に内蔵され、この装置自体
を試験する試験装置とを備えたものである。
［作用］
この発明は、力率改善装置に試験装置を内蔵さ
せて、力率改善装置の試験を行う。
せて、力率改善装置の試験を行う。
［実施例］
以下図面により、この発明の一実施例を説明す
る。
る。
図はこの発明に係る力率調整装置の一実施例を
示す電気結線図である。図において、電気回路１
には計器用変圧器２と計器用変流器３とが接続さ
れ、電気回路１の電圧と電流とが検出されてい
る。無効電力検出装置４は計器用変圧器２からの
電圧と計器用変流器３からの電流とにより電気回
路１の無効電力を検出し、検出した無効電力に比
例した出力を生じるものである。第１の比較回路
５は無効電力検出装置４の出力と投入点設定装置
６の出力とを比較し、無効電力検出装置４の出力
が投入点設定装置６の出力よりも高ければ出力を
生じるものである。第２の比較回路７は無効電力
検出装置４の出力と遮断点設定装置８の出力とを
比較し、無効電力検出装置４の出力が遮断点設定
装置８の出力より低ければ出力を生じるものであ
る。第１のテストスイツチ９は運転状態信号発生
装置（図示せず）である高レベル電源の電圧が印
加される接続端子１０とテスト状態信号発出装置
（図示せず）である低レベル電源の電圧が印加さ
れる接続端子１１とを切替えるものである。第２
のテストスイツチ１２はテスト信号発生装置（図
示せず）の投入端子１３と遮断端子１４とを切替
えるものである。第１、第２のインバータ１５，
１６は０入力の時に１出力を、１入力の時に０出
力を生じるものである。第１のゲート回路１７は
アンドゲート１７ａ，１７ｂ，１７ｃとオアゲー
ト１７ｄとから構成され、アンドゲート１７ａは
第１の比較回路５からの信号の入力時と運転状態
信号発生装置（図示せず）の接続端子１０から印
加される運転信号の入力時とに出力するものであ
る。アンドゲート１７ｂはテスト状態信号発生装
置（図示せず）の接続端子１１から第１のインバ
ータ１５を介して印加されるテスト信号の入力時
と投入端子１３から第２のインバータ１６を介し
て印加される投入信号の入力時とに出力するもの
である。オアゲート１７ｄはアンドゲート１７
ａ，１７ｂの何れか一方からの入力時に出力する
ものである。第２のゲート回路１８はアンドゲー
ト１８ａ，１８ｂ，１８ｃとオアゲート１８ｄと
から構成され、アンドゲート１８ａは第２の比較
回路７からの信号の入力時と運転状態信号発生装
置（図示せず）の接続端子１０から印加される運
転信号の入力時とに出力するものである。アンド
ゲート１８ｂはテスト状態信号発生装置（図示せ
ず）の接続端子１１から第１のインバータ１５を
介して印加されるテスト信号の入力時と遮断端子
１４から印加される遮断信号の入力時とに出力す
るものである。オアゲート１８ｄはアンドゲート
１８ａ，１８ｂの何れか一方の入力時に出力する
ものである。オアゲート１９はオアゲート１７
ｄ，１８ｄの何れか一方からの入力時に出力する
ものである。タイマ回路２０はオアゲート１９か
らの入力時にリセツト状態が解かれ、タイマ設定
装置２１で設定された時間経過後、出力端子２２
に出力を発生してその後再びリセツト状態に戻る
ものである。第１の順序制御回路２３はオアゲー
ト１７ｄからの入力時とタイマ回路２０からの入
力時とに出力するアンドゲート１７ｃの出力によ
つて付勢され、電気回路１に接続するコンデンサ
を第１〜第４のコンデンサから選択するものであ
る。すなわち今、第１、第２のコンデンサが接続
されている場合には、出力端子２３ａ，２３ｂに
出力を生じており、続いて出力端子２３ｃに出力
を生じて第３のコンデンサを選択接続するもので
ある。第２の順序制御回路２４はオアゲート１８
ｄからの入力時とタイマ回路２０からの入力時と
に出力するアンドゲート１８ｃの出力によつて付
勢され、電気回路１から切離すコンデンサを選択
するものである。すなわち今、第１、第２のコン
デンサが接続されている場合には出力端子２４
ａ，２４ｂは無出力、出力端子２４ｃ，２４ｄは
出力を生じており、続いて出力端子２４ａは無出
力、出力端子２４ｂ〜２４ｄは出力を生じて第２
のコンデンサを選択しや断するものである。第１
〜第４のフリツプフロツプ回路２５ａ〜２５ｄは
夫々第１の順序制御回路２３の出力端子２３ａ〜
２３ｄの出力によつてセツトされて出力を生じ、
第２の順序制御回路２４の出力端子２４ａ〜２４
ｄの出力によつてリセツトされて無出力となるも
のである。増幅器２６ａ〜２６ｄは第１〜第４の
フリツプフロツプ回路２５ａ〜２５ｄの出力を増
幅するものである。第１〜第４の継電器コイル２
７ａ〜２７ｄは増幅器２６ａ〜２６ｄで増幅され
た第１〜第４のフリツプフロツプ回路２５ａ〜２
５ｂの出力によつて付勢され、夫々のメイク接点
２８ａ〜２８ｄを閉成して第１〜第４のコンデン
サ（図示せず）を電気回路１に接続するものであ
る。
示す電気結線図である。図において、電気回路１
には計器用変圧器２と計器用変流器３とが接続さ
れ、電気回路１の電圧と電流とが検出されてい
る。無効電力検出装置４は計器用変圧器２からの
電圧と計器用変流器３からの電流とにより電気回
路１の無効電力を検出し、検出した無効電力に比
例した出力を生じるものである。第１の比較回路
５は無効電力検出装置４の出力と投入点設定装置
６の出力とを比較し、無効電力検出装置４の出力
が投入点設定装置６の出力よりも高ければ出力を
生じるものである。第２の比較回路７は無効電力
検出装置４の出力と遮断点設定装置８の出力とを
比較し、無効電力検出装置４の出力が遮断点設定
装置８の出力より低ければ出力を生じるものであ
る。第１のテストスイツチ９は運転状態信号発生
装置（図示せず）である高レベル電源の電圧が印
加される接続端子１０とテスト状態信号発出装置
（図示せず）である低レベル電源の電圧が印加さ
れる接続端子１１とを切替えるものである。第２
のテストスイツチ１２はテスト信号発生装置（図
示せず）の投入端子１３と遮断端子１４とを切替
えるものである。第１、第２のインバータ１５，
１６は０入力の時に１出力を、１入力の時に０出
力を生じるものである。第１のゲート回路１７は
アンドゲート１７ａ，１７ｂ，１７ｃとオアゲー
ト１７ｄとから構成され、アンドゲート１７ａは
第１の比較回路５からの信号の入力時と運転状態
信号発生装置（図示せず）の接続端子１０から印
加される運転信号の入力時とに出力するものであ
る。アンドゲート１７ｂはテスト状態信号発生装
置（図示せず）の接続端子１１から第１のインバ
ータ１５を介して印加されるテスト信号の入力時
と投入端子１３から第２のインバータ１６を介し
て印加される投入信号の入力時とに出力するもの
である。オアゲート１７ｄはアンドゲート１７
ａ，１７ｂの何れか一方からの入力時に出力する
ものである。第２のゲート回路１８はアンドゲー
ト１８ａ，１８ｂ，１８ｃとオアゲート１８ｄと
から構成され、アンドゲート１８ａは第２の比較
回路７からの信号の入力時と運転状態信号発生装
置（図示せず）の接続端子１０から印加される運
転信号の入力時とに出力するものである。アンド
ゲート１８ｂはテスト状態信号発生装置（図示せ
ず）の接続端子１１から第１のインバータ１５を
介して印加されるテスト信号の入力時と遮断端子
１４から印加される遮断信号の入力時とに出力す
るものである。オアゲート１８ｄはアンドゲート
１８ａ，１８ｂの何れか一方の入力時に出力する
ものである。オアゲート１９はオアゲート１７
ｄ，１８ｄの何れか一方からの入力時に出力する
ものである。タイマ回路２０はオアゲート１９か
らの入力時にリセツト状態が解かれ、タイマ設定
装置２１で設定された時間経過後、出力端子２２
に出力を発生してその後再びリセツト状態に戻る
ものである。第１の順序制御回路２３はオアゲー
ト１７ｄからの入力時とタイマ回路２０からの入
力時とに出力するアンドゲート１７ｃの出力によ
つて付勢され、電気回路１に接続するコンデンサ
を第１〜第４のコンデンサから選択するものであ
る。すなわち今、第１、第２のコンデンサが接続
されている場合には、出力端子２３ａ，２３ｂに
出力を生じており、続いて出力端子２３ｃに出力
を生じて第３のコンデンサを選択接続するもので
ある。第２の順序制御回路２４はオアゲート１８
ｄからの入力時とタイマ回路２０からの入力時と
に出力するアンドゲート１８ｃの出力によつて付
勢され、電気回路１から切離すコンデンサを選択
するものである。すなわち今、第１、第２のコン
デンサが接続されている場合には出力端子２４
ａ，２４ｂは無出力、出力端子２４ｃ，２４ｄは
出力を生じており、続いて出力端子２４ａは無出
力、出力端子２４ｂ〜２４ｄは出力を生じて第２
のコンデンサを選択しや断するものである。第１
〜第４のフリツプフロツプ回路２５ａ〜２５ｄは
夫々第１の順序制御回路２３の出力端子２３ａ〜
２３ｄの出力によつてセツトされて出力を生じ、
第２の順序制御回路２４の出力端子２４ａ〜２４
ｄの出力によつてリセツトされて無出力となるも
のである。増幅器２６ａ〜２６ｄは第１〜第４の
フリツプフロツプ回路２５ａ〜２５ｄの出力を増
幅するものである。第１〜第４の継電器コイル２
７ａ〜２７ｄは増幅器２６ａ〜２６ｄで増幅され
た第１〜第４のフリツプフロツプ回路２５ａ〜２
５ｂの出力によつて付勢され、夫々のメイク接点
２８ａ〜２８ｄを閉成して第１〜第４のコンデン
サ（図示せず）を電気回路１に接続するものであ
る。
次にこの動作を説明する。図示の如く第１のテ
ストスイツチ９が運転状態信号発生装置（図示せ
ず）の接続端子１０に接続されているとする。
今、無効電力検出装置４で検出された無効電力
が、投入点設定装置６の出力よりも高ければ、第
１の比較回路５は出力を生じる。このためアンド
ゲート１７ａは第１の比較回路５からと運転状態
信号発生装置（図示せず）とから入力されて出力
をを生じる。この出力はオアゲート１７ｄ，１９
を介してタイマ回路２０に印加される。タイマ回
路２０はリセツト状態が解かれタイマ設定装置２
１で設定された時間経過後、出力端子２２に出力
を生じる。この時点において引続き無効電力が投
入点設定装置６の出力よりも高ければ、オアゲー
ト１７ｄは引続き出力を生じているため、アンド
ゲート１７ｃは出力を生じ第１の順序制御回路２
３を付勢する。このため今第１、第２のコンデン
サが電気回路１に接続されているとすると、第１
の順序制御回路２３の出力端子２３ａ，２３ｂに
は既に出力が生じており、続いて出力端子２３ｃ
に出力が生じる。従つて第１、第２のフリツプフ
ロツプ回路２５ａ，２５ｂに続いて第３のフリツ
プフロツプ回路２５ｃは出力を生じる。このため
第１、第２の継電器コイル２７ａ，２７ｂに続い
て第３の継電器コイル２７ｃが付勢され、そのメ
イク接点２８ｃを閉じて電気回路１に接続する第
３のコンデンサを選択して電気回路１に接続す
る。
ストスイツチ９が運転状態信号発生装置（図示せ
ず）の接続端子１０に接続されているとする。
今、無効電力検出装置４で検出された無効電力
が、投入点設定装置６の出力よりも高ければ、第
１の比較回路５は出力を生じる。このためアンド
ゲート１７ａは第１の比較回路５からと運転状態
信号発生装置（図示せず）とから入力されて出力
をを生じる。この出力はオアゲート１７ｄ，１９
を介してタイマ回路２０に印加される。タイマ回
路２０はリセツト状態が解かれタイマ設定装置２
１で設定された時間経過後、出力端子２２に出力
を生じる。この時点において引続き無効電力が投
入点設定装置６の出力よりも高ければ、オアゲー
ト１７ｄは引続き出力を生じているため、アンド
ゲート１７ｃは出力を生じ第１の順序制御回路２
３を付勢する。このため今第１、第２のコンデン
サが電気回路１に接続されているとすると、第１
の順序制御回路２３の出力端子２３ａ，２３ｂに
は既に出力が生じており、続いて出力端子２３ｃ
に出力が生じる。従つて第１、第２のフリツプフ
ロツプ回路２５ａ，２５ｂに続いて第３のフリツ
プフロツプ回路２５ｃは出力を生じる。このため
第１、第２の継電器コイル２７ａ，２７ｂに続い
て第３の継電器コイル２７ｃが付勢され、そのメ
イク接点２８ｃを閉じて電気回路１に接続する第
３のコンデンサを選択して電気回路１に接続す
る。
次に無効電力検出装置４で検出された無効電力
が、遮断点設定装置８の出力よりも低い場合を説
明する。この場合、第２の比較回路７は出力を生
じるため、アンドゲート１８ａは第２の比較回路
７からと運転状態信号発生装置（図示せず）とか
ら入力されて出力を生じる。この出力はオアゲー
ト１８ｄ，１９を介してタイマ回路２０に印加さ
れる。タイマ回路２０はリセツト状態が解かれタ
イマ設定装置２１で設定された時間経過後、出力
端子２２に出力を生じる。この時点において引き
続き無効電力が遮断点設定装置８の出力よりも低
ければ、オアゲート１８ｄは引続き出力を生じて
いるため、アンドゲート１８ｃは出力を生じて第
２の順序制御回路２４を付勢する。このため、今
第１、第２のコンデンサが電気回路１に接続され
ているとすると、第２の順序制御回路２４の出力
端子２４ａ，２４ｂは無出力、出力端子２４ｃ，
２４ｄは出力を生じている状態から、出力端子２
４ａは無出力、出力端子２４ｂ，２４ｃ，２４ｄ
は出力を生じる状態に変化する。従つて、第２の
フリツプフロツプ回路２５ｂは無出力となり第２
の継電器コイル２７ｂは消勢されて第２のコンデ
ンサを電気回路１から切離す。
が、遮断点設定装置８の出力よりも低い場合を説
明する。この場合、第２の比較回路７は出力を生
じるため、アンドゲート１８ａは第２の比較回路
７からと運転状態信号発生装置（図示せず）とか
ら入力されて出力を生じる。この出力はオアゲー
ト１８ｄ，１９を介してタイマ回路２０に印加さ
れる。タイマ回路２０はリセツト状態が解かれタ
イマ設定装置２１で設定された時間経過後、出力
端子２２に出力を生じる。この時点において引き
続き無効電力が遮断点設定装置８の出力よりも低
ければ、オアゲート１８ｄは引続き出力を生じて
いるため、アンドゲート１８ｃは出力を生じて第
２の順序制御回路２４を付勢する。このため、今
第１、第２のコンデンサが電気回路１に接続され
ているとすると、第２の順序制御回路２４の出力
端子２４ａ，２４ｂは無出力、出力端子２４ｃ，
２４ｄは出力を生じている状態から、出力端子２
４ａは無出力、出力端子２４ｂ，２４ｃ，２４ｄ
は出力を生じる状態に変化する。従つて、第２の
フリツプフロツプ回路２５ｂは無出力となり第２
の継電器コイル２７ｂは消勢されて第２のコンデ
ンサを電気回路１から切離す。
次にコンデンサの投入試験をする場合を説明す
る。この場合は、第１のテストスイツチ９をテス
ト状態信号発生装置（図示せず）の接続端子１１
側に接続し、第２のテストスイツチ１２を投入端
子１３側に接続する。このためアンドゲート１７
ｂはテスト状態信号発生装置（図示せず）の接続
端子１１からとテスト状態信号発生装置（図示せ
ず）の投入端子１３とから入力され出力を継続し
て生じる。この出力はオアゲート１７ｄ，１９を
介してタイマ回路２０に印加される。タイマ回路
２０は所定時間経過後、出力端子２２に出力を生
じるため、アンドゲート１７ｃは出力を生じ第１
の順序制御回路２３を付勢する。このため前述と
同様にして第１の順序制御回路２３は電気回路１
に接続する第１〜第４のコンデンサを順次選択
し、この選択されたコンデンサを電気回路１に順
次接続する。
る。この場合は、第１のテストスイツチ９をテス
ト状態信号発生装置（図示せず）の接続端子１１
側に接続し、第２のテストスイツチ１２を投入端
子１３側に接続する。このためアンドゲート１７
ｂはテスト状態信号発生装置（図示せず）の接続
端子１１からとテスト状態信号発生装置（図示せ
ず）の投入端子１３とから入力され出力を継続し
て生じる。この出力はオアゲート１７ｄ，１９を
介してタイマ回路２０に印加される。タイマ回路
２０は所定時間経過後、出力端子２２に出力を生
じるため、アンドゲート１７ｃは出力を生じ第１
の順序制御回路２３を付勢する。このため前述と
同様にして第１の順序制御回路２３は電気回路１
に接続する第１〜第４のコンデンサを順次選択
し、この選択されたコンデンサを電気回路１に順
次接続する。
次にコンデンサの遮断試験をする場合を説明す
る。この場合は、第１のテストスイツチ９をテス
ト状態信号発生装置（図示せず）の接続端子１１
側に接続し、第２のテストスイツチ１２を遮断端
子１４側に接続する。このためアンドゲート１８
ｂはテスト状態信号発生装置（図示せず）の接続
端子１１からとテスト状態信号発生装置（図示せ
ず）の遮断端子１４とから入力されて出力を継続
して生じる。この出力はオアゲート１８ｄ，１９
を介してタイマ回路２０に印加される。タイマ回
路２０は所定時間経過後出力端子２２に出力を出
じるため、アンドゲート１８ｃは出力を生じ第２
の順序制御回路２４を付勢する。このため前述と
同様に第２の順序制御回路２４は電気回路１から
切離すコンデンサを順次選択して、当該コンデン
サを電気回路１から切離す。
る。この場合は、第１のテストスイツチ９をテス
ト状態信号発生装置（図示せず）の接続端子１１
側に接続し、第２のテストスイツチ１２を遮断端
子１４側に接続する。このためアンドゲート１８
ｂはテスト状態信号発生装置（図示せず）の接続
端子１１からとテスト状態信号発生装置（図示せ
ず）の遮断端子１４とから入力されて出力を継続
して生じる。この出力はオアゲート１８ｄ，１９
を介してタイマ回路２０に印加される。タイマ回
路２０は所定時間経過後出力端子２２に出力を出
じるため、アンドゲート１８ｃは出力を生じ第２
の順序制御回路２４を付勢する。このため前述と
同様に第２の順序制御回路２４は電気回路１から
切離すコンデンサを順次選択して、当該コンデン
サを電気回路１から切離す。
なお、図に示した実施例では電気回路１の無効
電力を検出する場合について述べたが、無効電流
または力率を検出しても同様の効果が得られ、無
効電力、無効電流、力率を総称して無効成分と称
することにする。
電力を検出する場合について述べたが、無効電流
または力率を検出しても同様の効果が得られ、無
効電力、無効電流、力率を総称して無効成分と称
することにする。
［発明の効果］
以上のようにこの発明によれば、力率改善装置
に、この装置自体を試験する簡単な構成の試験装
置を内蔵させて力率調整装置を構成しているた
め、試験に当たつて従来の如く高価で大型の虚負
荷試験装置を運搬してきて接続するという労力を
必要とせず、容易に装置の試験を行うことができ
る効果がある。
に、この装置自体を試験する簡単な構成の試験装
置を内蔵させて力率調整装置を構成しているた
め、試験に当たつて従来の如く高価で大型の虚負
荷試験装置を運搬してきて接続するという労力を
必要とせず、容易に装置の試験を行うことができ
る効果がある。
図はこの発明に係る力率調整装置の一実施例を
示す電気結線図である。 図において、１は電気回路、４は無効電力検出
装置、５は第１の比較回路、６は投入点設定装
置、７は第２の比較回路、８は遮断点設定装置、
９は第１のテストスイツチ、１０は運転状態信号
発生装置の接続端子、１１はテスト状態信号発生
装置の接続端子、１２は第２のテストスイツチ、
１３は投入端子、１４は遮断端子、１７，１８は
第１、第２のゲート回路、２０はタイマ回路、２
３，２４は第１、第２の順序制御回路である。
示す電気結線図である。 図において、１は電気回路、４は無効電力検出
装置、５は第１の比較回路、６は投入点設定装
置、７は第２の比較回路、８は遮断点設定装置、
９は第１のテストスイツチ、１０は運転状態信号
発生装置の接続端子、１１はテスト状態信号発生
装置の接続端子、１２は第２のテストスイツチ、
１３は投入端子、１４は遮断端子、１７，１８は
第１、第２のゲート回路、２０はタイマ回路、２
３，２４は第１、第２の順序制御回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 電気回路の無効成分を検出し前記無効成分に
比例した出力を生じる無効成分検出装置、前記無
効成分検出装置の出力が投入点設定装置の出力よ
りも高ければ出力を生じる第１の比較回路、前記
無効成分検出装置の出力が遮断点設定装置の出力
よりも低ければ出力を生じる第２の比較回路、前
記第１、第２の比較回路の出力が印加されると所
定時間毎に出力パルスを発生するタイマ回路、前
記第１の比較回路の出力と前記タイマ回路の出力
とが印加されるとゲートを開く第１のゲート回
路、前記第２の比較回路の出力と前記タイマ回路
の出力とが印加されるとゲートを開く第２のゲー
ト回路、前記第１のゲート回路を介して前記第１
の比較回路の出力が印加されると前記電気回路に
接続するコンデンサを選択する第１の順序制御回
路、前記第２のゲート回路を介して前記第２の比
較回路の出力が印加されると前記電気回路から切
離すコンデンサを選択する第２の順序制御回路、
及び試験時に前記第１、第２のゲート回路のゲー
トを開き前記第１、第２の順序制御回路に試験信
号発生装置からの試験信号を印加するテストスイ
ツチを備えたことを特徴とする力率調整装置。 ２ 前記テストスイツチはコンデンサの投入試験
時には前記第１のゲート回路を開き、コンデンサ
の遮断試験時には前記第２のゲート回路を開く信
号を前記第１、第２のゲート回路に印加すること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の力率調
整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7819580A JPS573528A (en) | 1980-06-09 | 1980-06-09 | Power factor controller |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7819580A JPS573528A (en) | 1980-06-09 | 1980-06-09 | Power factor controller |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS573528A JPS573528A (en) | 1982-01-09 |
| JPH0145823B2 true JPH0145823B2 (ja) | 1989-10-04 |
Family
ID=13655215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7819580A Granted JPS573528A (en) | 1980-06-09 | 1980-06-09 | Power factor controller |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS573528A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6151221A (ja) * | 1984-08-21 | 1986-03-13 | Asami Denki Kk | 力率改善装置 |
| JPS6197722A (ja) * | 1984-10-18 | 1986-05-16 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | 自動力率制御装置 |
| JPS61157916A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-07-17 | Kyokuto Kaihatsu Kogyo Co Ltd | 高圧進相器接続装置 |
| JP2504780B2 (ja) * | 1987-08-26 | 1996-06-05 | 三菱電機株式会社 | 力率自動調整制御装置 |
-
1980
- 1980-06-09 JP JP7819580A patent/JPS573528A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS573528A (en) | 1982-01-09 |
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