KR850000463B1 - 역률 조정장치 - Google Patents

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미쓰비시전기 주식회사
카다야마 히도하지로
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    • G05F1/70Regulating power factor; Regulating reactive current or power
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    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02JCIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J3/00Circuit arrangements for ac mains or ac distribution networks
    • H02J3/18Arrangements for adjusting, eliminating or compensating reactive power in networks
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    • H02J3/1828Arrangements for adjusting, eliminating or compensating reactive power in networks using shunt compensators with stepwise control, the possibility of switching in or out the entire compensating arrangement not being considered as stepwise control

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Abstract

내용 없음.

Description

역률 조정장치
첨부도면은 본 발명에 의한 전기회로의 역률조정장치의 1실시예를 나타낸 전기 결선도이다.
본 발명은 전기회로의 역률을 개선하기 위하여 무효전력, 무효전류 또는 역률을 검출하고, 그 검출치를 바탕으로 하여 전기회로에 역률 개선용 콘덴서를, 접속 또는 이탈시키는 투입신호 또는 차단신호를 발생함과 동시에 시험장치를 내장한 역률 조정장치에 관한 것이다.
종래의 역률 개선장치는 역률을 개선하려고 하는 전기회로의 무효전력, 무효전류 혹은 역률을 검출하고, 이검출치에 미리 콘덴서의 투입점 및 차단점을 설정하여 놓고, 이 투입점 또는 차단점을 상기 검출치가 초과하거나 또는 미달되면 타이머회로가 작동하도록 구성되어 있다.
이 타이머회로가 소정시간 동작하고 있는 동안, 상기검출치가 투입점 또는 차단점을 초과하거나 또는 미달된 상태가 계속되면, 콘덴서의 투입신호 또는 차단신호를 발생시켜 전기회로에 콘덴서를 접속 또는 이탈시켰던 것이다. 위와같은 종류의 역률 개선장치를 시험하고저할 경우에는 허부하(虛負荷)시험장치가 필요하였다. 즉, 허부하 시험장치를 역률개선장치에 접속하고, 허부하 시험장치에 무효전력을 발생시킴으로써 전기회로에 콘덴서를 접속 또는 이탈시키는 투입신호 또는 차단신호를 발생시켰던 것이다. 그러나 허부하시험장치는 고가이며 동시에 대형이므로 운반하기가 곤란하고 역률 조절장치가 설치되어 있는 곳까지 허부하 시험장치를 운반한다는 것을 실제로는 불가능하였다.
본 발명은 종래의 위 결점을 제거하기 위하여 안출된 것으로서, 역률 개선장치에 시험장치를 내장시킨 역률 조정장치를 구성하고, 테스트 스위치를 조작함으로써 역률조정장치에 투입신호 또는 차단신호를 발생하도록 한 것이다.
이하, 도면에 따라 본 발명의 1실시예를 설명한다.
도면은 본 발명에 관한 역률조정장치의 1실시예를 나타낸 전기결선도이다.
도면에서, 전기회로(1)에는 계기용 변합기(2)와 계기용 변류기(3)가 접속되고, 전기회로(1)의 전압과 전류가 검출된다. 무효전력검출장치(4)는 계기용 변압기(2)에서의 전압과 계기용 변류기(3)에서의 전류에 의해 전기회로(1)의 무효전력을 검출하고 무효전력에 비례한 출력을 발생시킨다.
제1의 비교회로(5)는 무효전력 검출장치(4)의 출력과 투입점 설정장치(6)의 출력을 비교하여, 무효전력 검출장치(4)의 출력이 투입점 설정장치(6)의 출력보다도 높으면 출력을 발생시킨다.
제2의 비교회로(7)는 무효 전력 검출장치(4)의 출력과 차단점 설정장치(8)의 출력을 비교하여, 무효전력 검출장치(4)의 출력이 차단점 설정장치(8)의 출력보다 낮으면 출력을 발생시킨다.
제1의 테스트스위치(9)는 운전상태 신호발생장치(도시생략)의 접속단자(10)와 테스트상태 신호발생장치(도시생략)의 접속단자(11)을 절환시킨다.
제2의 테스트스위치(12)는 테스트신호 발생장치(도시생략)의 투입단자(13)와 차단단자(14)를 절환시킨다. 제1, 제2의 인버터(15) (16)는 "0"입력시에 1출력을, 그리고 1입력시에 "0"출력을 발생시킨다.
제1의 케이트회로(17)는 앤드게이트(17a) (17b) (17c)와 오머게이트(17d)로 구성되며, 앤드게이트(17a)는 제1의 비교회로(5)에서의 신호를 입력할때와 운전상태신호 발생장치(도시생략)의 접속단자(10)로 부터 인가된 운전신호를 입력할때에 출력한다.
앤드게이트(17b)는 테스트상태신호 발생장치(도시생략)의 접속단자(11)에서 제1의 인버터(15)를 통하여 인가되는 테스트신호를 입력할때와 투입단자(13)에서 제2의 인버터(16)을 통하여 인가되는 투입신호를 입력할때 출력한다. 오어게이트(17d)는 앤드게이트(17a) (17b)중 어느 한쪽에서 입력이 있을때 출력한다.
제2의 게이트회로(18)는 앤드게이트(18a) (18b) (18c)와 오어게이트(18d)로 구성되고, 앤드게이트(18a)는 제2의 비교회로(7)에서의 신호를 입력할때 운전상태 신호발생장치(도시생략)의 접속단자(10)에서 인가되는 운전신호를 입력할때에 출력된다.
앤드게이트(18b)는 테스트상태 신호발생장치(도시생략)의 접속단자(11)에서 제1의 인버터(15)를 통하여 인가되는 테스트신호가 입력할때 차단단자(14)에서 인가되는 차단신호가 입력할때 출력된다. 오어게이트(18d)는 앤드게이트(18a) (18b)중 어느 한쪽에서 입력이 있을때 출력한다. 오어게이트(19)는 오어게이트(17d) (18d)중 어느 한쪽에서 입력이 있을때 출력한다.
타이머회로(20)은 오어게이트(19)에서 입력이 있을때 리세트상태가 풀려, 타이머설정장치(21)에서 설정된 시간경과후, 출력단자(22)에 출력을 발생시켜 그다음 다시 리세트 상태로 되돌아간다.
제1의 순서 제어회로(23)는 오어게이트(17d)에서 입력이 있을때와 타이머회로(20)에서 입력이 있을때에 출력하는 앤드게이트(17c)의 출력에 의해 작동되며, 전기회로(1)에 접속되는 콘덴서를 제 1-4의 콘덴서에서 선택된다.
즉, 지금 제1, 제2의 콘덴서가 접속되어 있는 경우에는 출력단자(23a) (23b)에 출력을 발생하고 있으며, 계속해서 출력단자(23c)에 출력을 발생시켜 제3의 콘덴서를 선택 접속시킨다.
제2의 순서제어회로(24)는 오어게이트(18d)에서 입력이 있을때 타이머회로(20)에서 입력이 있을때와 타이머회로(20)에서 입력이 있을때 출력하는 앤드게이트(18c)의 출력에 의해 작동되고, 전기회로(1)에서 이탈시키는 콘덴서를 선택한다.
즉, 지금 제1, 제2의 콘덴서가 접속되어 있는 경우에는 출력단자(24a) (24b)는 무출력, 그리고 출력단자(24c) (24d)는 출력을 발생하고 있으며 계속해서 출력단자(24a)는 무출력, 그리고 출력단자(24b) (24c) (24d)는 출력을 발생시켜 제2의 콘덴서를 선택차단시킨다.
제1-제4의 플립플롭회로(25a)(25b)(25c)(25d)는 각각 제1의 순서제어회로(23)의 출력단자(23a)-(23d)의 출력에 의해 세트되어 출력을 발생시키며, 제2의 순서제어회로(24)의 출력단자(24a)-(24d)의 출력에 의해 리세트되어 무출력으로 된다.
증폭기(26a)-(26d)는 제1-제4의 플립플롭회로(25a)-(25d)의 출력을 증폭한다.
제1-제4의 계전기코일(27a)-(27d)는 증폭기(26a)-(26d)에서 증폭된 제1-제4의 플립플롭회로(25a)-(25d)의 출력에 의해 작동되며, 각각의 메이크(make)접점(28a)-(28d)을 폐로되어 제1-제4의 콘덴서(도시생략)를 전기회로(1)에 접속시킨다.
다음에 이동작을 설명한다.
도시한 바와같이 제1의 테스트스위치(9)가 운전상태신호 발생장치(도시생략)의 접속단자(10)에 접속되어 있는 것으로 하면 무효전력 검출장치(4)에서 검출된 무효전력이 투입점 설정장치(6)의 출력보다도 높게 되면 제1의 비교회로(5)는 출력을 발생시킨다. 이때문에 앤드게이트(17a)는 제1의 비교회로(5)에서와 운전상태 신호발생장치(도시생략)에서 입력되어 출력을 발생시킨다.
이 출력은 오어게이트(17d) (19)를 통하여 타이머회로(20)에 인가된다.
타이머회로(20)는 리세트상태가 풀려 타이머 설정장치(21)에서 설정된 시간이 경과한후, 출력단자(22)에 출력을 발생시킨다.
이 시점에서, 계속 무효전력이 투입점 설정장치(6)의 출력보다도 높게되면, 오어게이트(17d)는 계속 출력을 발생하기 때문에 앤드게이트(17c)는 출력을 발생하여 제1의 순서제어회로(23)를 작동한다.
이때문에 제1, 제2의 콘덴서가 전기회로(1)에 접속되어 있으면, 제1의 순서제어회로(23)의 출력단자(23a) (23b)에는 이미 출력이 발생되고, 계속 출력단자(23c)에 출력이 발생한다.
따라서, 제1,2의 플립플롭회로(25a) (25b)에 이어서 제3의 플립플롭회로(25c)는 출력을 발생한다. 이때문에 제1, 제2의 계전기코일(27a) (27b)에 이어서 제3의 계전기코일(27c)이 작동되고, 메이크접점(28c)을 닫치게하여 전기회로(1)에 접속하는 제3의 콘덴서를 선택하여 전기회로(1)에 접속시킨다.
다음에, 무효전력 검출장치(4)에서 검출된 무효전력이 차단점 설정장치(8)의 출력보다 낮은 경우를 설명한다. 이 경우, 제2의 비교회로(7)는 출력을 발생하므로, 앤드게이트(18a)는 제2의 비교회로(7)에서와, 운전상태 신호 발생장치(도시생략)에서 입력되어 출력을 발생한다. 이 출력은 오어게이트(18d) (19)를 통하여 타이머회로(20)에 인가된다.
타이머회로(20)는 리세트상태가 풀려 타이머설정장치(21)에서 설정된 시간이 경과한후, 출력단자(22)에 출력을 발생시킨다.
이 시험에서 계속 무효전력이 차단점 설정장치(8)의 출력보다도 낮게되면, 오어게이트(18d)는 계속출력을 발생하므로, 오어게이트(18c)는 출력을 발생하여 제2의 순서제어회로(24)를 작동시킨다.
이때문에, 제1, 제2의 콘덴서가 전기회로(1)에 접속되어있으면, 제2의 순서제어회로(24)의 출력단자(24a) (24b)는 무출력, 그리고 출력단자(24c) (24d)는 출력을 발생하는 상태에서 출력단자(24a)는 무출력, 그리고 출력단자(24b) (24b) (24d)는 출력을 발생하는 상태로 변환한다.
따라서, 제2의 플립플롭회로(25b)는 무출력으로 되고 제2의 계전기코일(27b)은 소세(消勢)되어 제2의 콘덴서를 전기회로(1)에서 이탈된다.
다음에, 콘덴서의 투입시험을할 경우를 설명한다.
이 경우는 제1의 베스트스위치(9)를 테스트상태 신호발생장치(도시생략)의 접속단자(11)측에 접속하고 제2의 테스트스위치(12)를 투입단자(13)측에 접속한다. 이때문에 앤드게이트(17b)는 테스트상태 신호발생장치(는시생략)의 접속단자(11)에서와 테스트상태 신호발생장치(도시생략)의 투입단자(13)에서 입력되어 출력을 계속하여 발생한다.
이 출력은 오어게이트(17d) (19)를 통하여 타이머회로(20)에 인가된다.
타이머회로(20)는 소정시간 경과후, 출력단자(22)에 출력을 발생시키므로 앤드게이트(17c)는 출력을 발생하여 제1의 순서제어회로(23)를 작동시킨다. 이때문에 위와 마찬가지로 제1의 순서제어회로(23)는 전기회로(1)에 접속되는 제1-제 4의 콘덴서를 차례로 선택하고, 이 선택된 콘덴서를 전기회로(1)에 차례로 접속시킨다.
그다음에 콘덴서의 차단시험을 할 경우를 설명한다.
이 경우는 제1의 테스트스위치(9)를 테스트상태신호 발생장치(도시생략)의 접속단자(11)측에 접속하고, 제2의 테스트 스위치(12)를 차단단자(14)측에 접속시킨다. 이때문에 앤드게이트(18b)는 테스트상태 신호 발생장치(도시생략)의 접속단자(11)에서와 테스트상태신호 발생장치(도시생략)의 차단단자(14)에서 입력되어 출력을 계속 발생시킨다.
이 출력은 오어게이트(18d) (19)를 통하여 타이머회로(20)에 인가된다. 타이머회로(20)는 소정시간이 경과한후 출력단자(22)에 출력을 발생시키므로 앤드게이트(18c)는 출력을 발생하여 제2의 순서제어회로(24)를 작동시킨다. 이때문에 위와 마찬가지로 제2의 순서제어회로(24)는 전기회로(1)에서 이탈되어 콘덴서를 차례로 선택하고 그 콘덴서를 전기회로(1)에 이탈시킨다. 또한 도시한 실시예에서는 전기회로(1)의 무효전력을 검출하는 경우에 대하여 설명하였으나, 무효전류 또는 역률을 검출하여도 동일한 효과가 얻어지며, 무효전력, 무효전류, 역률을 총칭하여 무효성분이라고 칭하게 되는 것이다.
이상과 같이 본 발명에 의하면 간단한 구조로 역률개선장치에 시험장치를 설치한 역률조정 장치를 구성 할수 있다.

Claims (1)

  1. 전기회로의 무효성분을 검출하여 상기 무효성분에 비례한 출력을 발생시키는 무효성분 검출장치와, 상기 무효성분 검출장치의 출력이 투입점 설정장치의 출력보다도 낮게되면 출력을 발생하는 제2의 비교회로와, 상기 제1, 제2의 비교회로의 출력이 인가되면 소정시간마다 출력펄스를 발생하는 타이머회로를 구비한 것에 있어서, 전기 제1의 비교회로의 출력과 타이머회로의 출력이 인가되면 게이트를 열게하는 제1의 게이트회로와, 상기 제2의 비교회로의 출력과 타이머회로의 출력이 인가되면 게이트를 열게하는 제2의 게이트회로와, 제1, 제2의 게이트회로의 게이트를 열어 공지의 제1, 제2의 순서제어회로에 시험신호발생장치에서의 시험신호를 인가하는 테스트 스위치를 구비하여서 됨을 특징으로 한 전기회로의 역률조절장치.
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