JPS6043544B2 - Main memory error handling method - Google Patents

Main memory error handling method

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Publication number
JPS6043544B2
JPS6043544B2 JP56062150A JP6215081A JPS6043544B2 JP S6043544 B2 JPS6043544 B2 JP S6043544B2 JP 56062150 A JP56062150 A JP 56062150A JP 6215081 A JP6215081 A JP 6215081A JP S6043544 B2 JPS6043544 B2 JP S6043544B2
Authority
JP
Japan
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data
error
main memory
circuit
read data
Prior art date
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Expired
Application number
JP56062150A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS57179995A (en
Inventor
輝隆 立石
実 越野
和之 清水
隆光 槌本
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は主記憶装置とバッファ記憶とを有するシステ
ムにおける主記憶装置からのデータのエラ方式に関する
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an error method for data from main memory in a system having main memory and buffer storage.

従来バッファ記憶へのムーブインデータにエラがあつ
た場合の処理としてはムーブインデータはバッファ記憶
のデータ部に書くがアドレスアレイ部には書かない方式
、またはアドレスアレイ部にも書くがエラだということ
で後から該アドレスアレイ部をクリアする方式がありま
た、データ部にムーブインデータを書くと同時にアドレ
スアレイ部にも書くが但しデータ部に書くとき、ムーブ
インデータのエラだという事でエラのあるバイトだけ後
で読み出した時エラを判断できるある特定のデータパタ
ーンにして書く方式があつた。
Conventionally, when there is an error in the move-in data to the buffer memory, the process is to write the move-in data to the data section of the buffer memory but not to the address array section, or to write it to the address array section but there is an error. Therefore, there is a method to clear the address array section later.Also, when writing move-in data to the data section, it is also written to the address array section at the same time, but when writing to the data section, an error occurs because it is an error in the move-in data. There was a method of writing data in a specific data pattern that allowed errors to be determined when only a certain byte was read later.

第1の方式ではムーブインデータにエラがない事を確
認した後でなければアドレスアレイ部に書けないため処
理時間が長くなり、またエラのないバイトまでバッファ
記憶におけなくなる。
In the first method, the move-in data cannot be written to the address array section until after it has been confirmed that there are no errors, resulting in a long processing time, and even bytes without errors are not stored in the buffer.

第2の方式ではエラがない時は処理時間は早くなるエ
ラがある時はやはり余分な処理時間を必要とするし、エ
ラのないバイトまでバッファ記憶におけないという欠点
は第1の方式と同様である。
In the second method, the processing time is faster when there are no errors, but when there are errors, extra processing time is still required, and the drawbacks of the first method are that bytes with no errors cannot be stored in the buffer. It is.

第3方式では第1、第2の方式の欠点はないがある特
定のデータパターンを後で読み出した時エラと判断出き
るが、それはバツフイ記憶のエラとして認識されてしま
う。その結果リトライ機能や構成制御機能が、バッファ
記憶に障害があるものとして無駄な処理を行つてしまう
ことになる。 本発明の目的は、第3の方式のバッファ
記憶から読み出したデータがある特定のデータパターン
であるという事を判別する回路を設け、ある特定のデー
タパターンであるときにアクセス要求回路へのエラ報告
をバッファ記憶のエラとしてでなく、主記憶装置のエラ
として報告しうる様にすることである。 第1図は本発
明の一実施例の概略を示すもので1は主記憶装置、2は
バッファ記憶、3はアクセス制御回路、4はアクセス要
求回路、をそれぞれ示しまた、5は主記憶、6はムーブ
インデータ回路、7は読み出しデータ送出回路、8はエ
ラ情報報告回路9は処理回路、10はデータ処理回路、
11は特定データパターン判別回路をそれぞれ示す。
The third method does not have the drawbacks of the first and second methods, but when a certain data pattern is later read out, it can be determined that it is an error, but it is recognized as an error in the incomplete memory. As a result, the retry function and configuration control function will perform useless processing assuming that there is a failure in the buffer storage. An object of the present invention is to provide a circuit that determines that data read from the buffer storage of the third method has a certain specific data pattern, and to report an error to an access request circuit when the data is a certain specific data pattern. The purpose is to make it possible to report errors not as buffer storage errors but as main storage errors. FIG. 1 schematically shows an embodiment of the present invention, in which 1 indicates a main memory, 2 a buffer memory, 3 an access control circuit, 4 an access request circuit, and 5 a main memory, and 6 a main memory. is a move-in data circuit, 7 is a read data sending circuit, 8 is an error information reporting circuit, 9 is a processing circuit, 10 is a data processing circuit,
Reference numeral 11 indicates a specific data pattern discrimination circuit.

第2図は本発明の一実施例の詳細を示すものでRO〜4
はレジスタでROはバッファ記憶書き込みデータレジス
タR1はバッファ記憶読み出しデータレジスタ、R2は
主記憶読み出しデータレジスタ、R3は読み出しデータ
送出レジスタ、R4はエラ情報送出レジスタを示す。
FIG. 2 shows details of one embodiment of the present invention.
is a register, RO is a buffer storage write data register, R1 is a buffer storage read data register, R2 is a main memory read data register, R3 is a read data sending register, and R4 is an error information sending register.

また、GO〜G1は否定ゲートを示し、G2〜G7はア
ンドゲートを示し、G8〜Gllはオアゲートを示す。
またCO〜C6は論理回路網でCOは主記憶読み出しデ
ータエラ検出回路、C1はバッファ記憶読み出しデータ
エラ検出回路、C2は特定データパターン判別回路、C
3は特定データパターン生成回路、C4は読み出し制御
回路、C5はバッファ記憶エラ状報生成回路、C6は主
記憶エラ情報生成回路をそれぞれ示す。またDO〜D5
はデータ母線でDO,Dlは主記憶読み出しデータ、D
2はバッファ記憶読み出しデータ、D3,D4は送出デ
ータ、D5はバッファ記憶ムーブインデータをそれぞれ
示す。またSO〜S7は情報線でSOは主記憶読み出し
データエラ信号、S1はバッファ記憶読み出しデータエ
ラ信号、S2は特定データパターン認識信号、S3はツ
フア記憶読み出しデータ送出指令信号、S4は主記憶読
み出しデータ送出指令信号、S5はバッファ記憶エラ情
報生成信号、S6は主記憶エラ情報生成信号、S7は工
.ラ情報をそれぞれ示す。また、葵はバッファ記憶を示
す。アクセス要求回路からアクセス要求によりアクセス
制御回路は、要求に対する記憶情報がバッファ記憶に存
在しない場合、主記憶装置から該記憶!情報を読み出す
Further, GO to G1 indicate negative gates, G2 to G7 indicate AND gates, and G8 to Gll indicate OR gates.
Further, CO to C6 are logic circuit networks, CO is a main memory read data error detection circuit, C1 is a buffer memory read data error detection circuit, C2 is a specific data pattern discrimination circuit, and C
3 is a specific data pattern generation circuit, C4 is a read control circuit, C5 is a buffer storage error status generation circuit, and C6 is a main storage error information generation circuit. Also DO~D5
is the data bus line, DO, Dl is the main memory read data, D
2 represents buffer storage read data, D3 and D4 represent sending data, and D5 represents buffer storage move-in data. Also, SO to S7 are information lines, SO is a main memory read data error signal, S1 is a buffer memory read data error signal, S2 is a specific data pattern recognition signal, S3 is a buffer memory read data sending command signal, and S4 is main memory read data. S5 is a buffer storage error information generation signal, S6 is a main memory error information generation signal, and S7 is an engineering signal. information on each. Aoi also exhibits buffer memory. In response to an access request from the access request circuit, if the storage information corresponding to the request does not exist in the buffer storage, the access control circuit transfers the storage information from the main storage device! Read information.

主記憶読み出しデータDOは主記憶読み出しデータレジ
スタR2を介し、読み出し制御回路C4からの主記憶読
み出しデータ送出指令信号S4によりアンドゲートG7
、オアゲートGlOさらに・読み出しデータ送出レジス
タR3を介してアクセス要求回路へ送出される。
The main memory read data DO is passed through the main memory read data register R2, and is output to the AND gate G7 by the main memory read data sending command signal S4 from the read control circuit C4.
, the OR gate GlO, and the read data sending register R3 to the access request circuit.

と同時に主記憶読み出しデータD1は主記憶読み出しデ
ータエラ検出回路COにより検査され、もしエラでなけ
れば主記憶読み出しデータ信号SOはオフとなり主記憶
読み出しデータD1はアンドゲートG2、オアゲートG
8を介しバッファ記憶ムーブインデータD5となり、バ
ッファ記憶書き込みデータレジスタROを介して、バッ
ファ記憶葵に書き込まれる。また、主記憶読み出しデー
タエラ検出回路COによる検査の結果エラが検出された
ならば主記憶読み出しデータエラ信号SO.はオンとり
、アンドゲートG2は閉じられ、特定データパターン生
成l回路C3が働き、特定データパターンがオアゲート
G8を介し、バッファ記憶ムーブインデータD5となり
ツフア記憶書き込みデータレジスタROを介してバッフ
ァ記憶BSに書き込まれる。この時、主記憶読み出しデ
ータエラ信号SOは、主記憶読み出しデータ送出信号S
4により、アンドゲートG5、オアゲートG9を介して
主記憶エラ情報生成信号S6となり主記憶情報生成回路
C6に供給される、ここで生成された主記憶エラ情報は
オアゲートGll、エラ情報送出レジスタR4を介して
エラ情報S7となリアスセス要求回路へ送出される。以
上がバッファ記憶に記憶情報が存在しない場合の動作で
ある。
At the same time, the main memory read data D1 is checked by the main memory read data error detection circuit CO, and if there is no error, the main memory read data signal SO is turned off, and the main memory read data D1 is checked by the AND gate G2 and the OR gate G.
The data becomes buffer storage move-in data D5 through buffer storage write data register RO, and is written into buffer storage Aoi through buffer storage write data register RO. Further, if an error is detected as a result of the inspection by the main memory read data error detection circuit CO, the main memory read data error signal SO. is turned on, the AND gate G2 is closed, the specific data pattern generation circuit C3 operates, and the specific data pattern passes through the OR gate G8 and becomes buffer memory move-in data D5, and is transferred to the buffer memory BS via the buffer memory write data register RO. written. At this time, the main memory read data error signal SO is the main memory read data sending signal S.
4, the main memory error information generation signal S6 is supplied to the main memory information generation circuit C6 via the AND gate G5 and the OR gate G9.The main memory error information generated here is sent to the OR gate Gll and the error information sending register R4. The error information S7 is sent to the real access request circuit via the error information S7. The above is the operation when there is no stored information in the buffer storage.

バッファ記憶に記憶情報が存在する場合には、バッファ
記憶から該記憶情報を読み出す。
If stored information exists in the buffer storage, the stored information is read from the buffer storage.

バッファ記憶読み出しデータレジスタR1を介して読み
出されたバッファ記憶読み出しデータD2は読み出し制
御回路C4からのバッファ記憶読み出しデータ送出指令
信号S3によりアンドゲートG6、オアゲートGlOさ
らに、読み出しデータ送出レジスタR3を介してアクセ
ス要求回路へ送出されると同時に、ツフア記憶読み出し
データD2は、バッファ記憶読み出しデータエラ検出回
路C1により検査され、もしエラがあればバッファ記憶
読み出しデータエラ信号S1はオンとなる。また同時に
バッファ記憶読み出しデータD2は特定データパターン
判別回路C2で検査され、もし特定データパターンであ
れば特定パターン認識信号S2がオンとなる。ここで、
バッファ記憶読み出しデータエラ信号S1がオンで特定
データパターン認識信号S2がオフの時には、バッファ
記憶読み出しデータエラ信号S1はバッファ記憶読み出
しデータ送出指令信号S3によりアンドゲートG3を介
して、パンファ記憶エラ情報生成信号S5となり、バッ
ファ記憶エラ情報生成回路C5に供給される。
The buffer memory read data D2 read out via the buffer memory read data register R1 is sent to an AND gate G6, an OR gate GlO, and further via a read data output register R3 in response to a buffer memory read data output command signal S3 from a read control circuit C4. At the same time as being sent to the access request circuit, the buffer storage read data D2 is checked by the buffer storage read data error detection circuit C1, and if there is an error, the buffer storage read data error signal S1 is turned on. At the same time, the buffer storage read data D2 is inspected by a specific data pattern discrimination circuit C2, and if it is a specific data pattern, the specific pattern recognition signal S2 is turned on. here,
When the buffer memory read data error signal S1 is on and the specific data pattern recognition signal S2 is off, the buffer memory read data error signal S1 is generated by the buffer memory read data sending command signal S3 via the AND gate G3 to generate breadth memory error information. The signal becomes a signal S5 and is supplied to the buffer storage error information generation circuit C5.

ここで生成されたバッファ記憶エラ情報はオアゲートG
llエラ情報送出レジスタR4を介してエラ情報S7と
なりアクセス要求回路へ送出される。なお、バッファ記
憶読み出しデータエラ信号S1がオンで特定データパタ
ーン認識信号S2がオンの時には、バッファ記憶読み出
しデータ送出指令信号S3により、アンドゲートG4、
アンドゲートG9を介して、主記憶エラ情報生成信号S
6となり主記憶エラ情報生成回路C6に供給される。こ
こで生成された主記憶エラ情報はオアゲートGllエラ
情報送出レジスタR4を介してエラ情報S7となりアク
セス要求回路へ送出される。以上がバッファ記憶に該記
憶情報が存在する場合の動作である。この結果アクセス
要求回路は送出データD4、エラ情報S7を取り込み、
エラ処理並びにデータ処理が正しく行われる。
The buffer storage error information generated here is the OR gate G
The error information S7 is sent to the access request circuit via the error information sending register R4. Note that when the buffer memory read data error signal S1 is on and the specific data pattern recognition signal S2 is on, the AND gate G4,
Main memory error information generation signal S via AND gate G9
6 and is supplied to the main memory error information generation circuit C6. The main memory error information generated here becomes error information S7 via the OR gate Gll error information sending register R4 and is sent to the access request circuit. The above is the operation when the stored information exists in the buffer storage. As a result, the access request circuit takes in the sending data D4 and error information S7,
Error processing and data processing are performed correctly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例概略ブロック図、第2図はそ
の詳細ブロック図である。 図中、1は主記憶装置、2はバッファ記憶、11は特定
データ判別回路、8はエラー情報報告回路である。
FIG. 1 is a schematic block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a detailed block diagram thereof. In the figure, 1 is a main memory, 2 is a buffer memory, 11 is a specific data discrimination circuit, and 8 is an error information reporting circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 主記憶装置とそれに対応するバッファ記憶とそれら
のアクセス制御回路とアクセス要求を発するアクセス要
求回路を有し、アクセス要求回路からのアクセス要求に
対する記憶情報がバッファ記憶に存在しない時、主記記
憶装置から読み出したムーブインデータにエラがあると
、特定のデータパターンをムーブインデータとしてバッ
ファ記憶に登録するシステムにおいて、該データパター
ンをバッファ記憶から読み出した時、バッファ記憶のエ
ラではなく、主記憶装置のエラとしてアクセス要求回路
へ報告する事を特徴とするエラ処理方式。
1 It has a main memory, a buffer memory corresponding to it, an access control circuit for them, and an access request circuit that issues an access request, and when storage information in response to an access request from the access request circuit does not exist in the buffer memory, the main memory If there is an error in the move-in data read from the main memory, in a system that registers a specific data pattern as move-in data in the buffer memory, when the data pattern is read from the buffer memory, there is an error in the main memory rather than an error in the buffer memory. An error processing method characterized by reporting an error to an access request circuit.
JP56062150A 1981-04-24 1981-04-24 Main memory error handling method Expired JPS6043544B2 (en)

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JPS57179995A JPS57179995A (en) 1982-11-05
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0231398Y2 (en) * 1983-09-17 1990-08-24

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0231398Y2 (en) * 1983-09-17 1990-08-24

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JPS57179995A (en) 1982-11-05

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