JPH0367346A - Address control circuit - Google Patents

Address control circuit

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JPH0367346A
JPH0367346A JP1202532A JP20253289A JPH0367346A JP H0367346 A JPH0367346 A JP H0367346A JP 1202532 A JP1202532 A JP 1202532A JP 20253289 A JP20253289 A JP 20253289A JP H0367346 A JPH0367346 A JP H0367346A
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JP
Japan
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address
memory
read
ram
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP1202532A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiaki Watanabe
利明 渡辺
Tomohiro Shinomiya
知宏 篠宮
Yutaka Ezaki
江崎 裕
Kazuo Iguchi
一雄 井口
Tetsuo Soejima
哲男 副島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH0367346A publication Critical patent/JPH0367346A/en
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Abstract

PURPOSE:To surely control the address of a memory by obtaining a duplex memory address control circuit and applying the read addresses after checking the coincidence/discordance of these addresses together with the parity check. CONSTITUTION:The buffers 12a and 12b and the RAM 14a and 14b are formed into a duplex structure, and the read outputs are selected by selectors 18 and 26. The comparators 24 and 32 check the coincidence/discordance of those read outputs. Furthermore the parity check circuits 22 and 28 check the presence or absence of parity errors. Then the logic circuits LOG 20 and 30 operate the selectors 18 and 26 with the outputs of the comparators 24 and 32 and the circuits 22 and 28 to attain the necessary selecting operations. Thus the addresses read out of a memory 10 are applied or not according to the results of the comparators 24 and 32 and the circuits 22 and 28. As a result, two types of checks are carried out and the error detecting factor is improved. Then the address of the memory 10 is correctly controlled.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の概要〕 ランダムライト/ランダムリード方式のメモリのアドレ
ス制御回路に関し、 ランダムライト/ランダムリード方式のメモリのアドレ
ス制御をより確実に行なうことを目的とし、 データを書込まれまたそれを読出されるメモリと、該メ
モリのライトアドレスを発生するFIFOバッファ及び
該メモリのリードアドレスを発生するRAMを備え、該
ライトアドレスを該RAMへまた該リードアドレスをI
PIFOバッファへ格納する、ランダムライト/ランダ
ムリードのメモリのアドレス制御回路において、該FI
FOバッファと該RAMを2重化し、該2重化したFI
FOバッファとRAMの各読出し出力を選択するセレク
タと、各読出し出力の一致/不一致を検出する比較器と
、各読出し出力のパリティチェック回路と、これらの比
較器およびパリティチェック回路の出力によりセレクタ
を操作する論理回路を設けた構成とする。
[Detailed Description of the Invention] [Summary of the Invention] Regarding an address control circuit for a memory using a random write/random read method, the present invention aims to more reliably control the address of a memory using a random write/random read method. A FIFO buffer that generates a write address of the memory, and a RAM that generates a read address of the memory, and transfers the write address to the RAM and the read address to the I/O buffer.
In the random write/random read memory address control circuit that stores in the PIFO buffer, the FIFO
The FO buffer and the RAM are duplicated, and the duplicated FI
A selector that selects each readout output of the FO buffer and RAM, a comparator that detects coincidence/mismatch of each readout output, a parity check circuit for each readout output, and a selector that uses the outputs of these comparators and parity check circuits. The configuration includes a logic circuit for operation.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、ランダムライト/ランダムリード方式のメモ
リのアドレス制御回路に関する。
The present invention relates to an address control circuit for a random write/random read type memory.

通信装置においては、データを一旦蓄えて必要な時に読
出して出力するのが通常であり、そのデータ蓄積用バッ
ファには各種メモリ(RAM、PIFOなと)が使用さ
れる。本発明は、その中でRAMを使用したランダムラ
イト/ランダムリード方式の蓄積用バッファのアドレス
制御に係る。
In a communication device, data is normally stored once and then read out and output when necessary, and various types of memories (RAM, PIFO, etc.) are used as data storage buffers. The present invention relates to address control of a random write/random read storage buffer using a RAM.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ランダムライト/ランダムリード方式のバッファのアド
レス制御回路の例を第3図に示す、10はメモリ(デー
タ蓄積用バッファRAM)、12はそのライト(書込み
)アドレスを発生するFIFO(First fn f
irst out)メモリ、14はリードアドレスを発
生するR AM (Randos Access Me
mory)である。PIFO12にはアドレス(RAM
14が出力したリードアドレス)が格納され、その格納
順に読出されて、これがメモリ10のライトアドレスに
なる。入力(IN)データはメモリ10の、PIFOL
2が出力するアドレスに書込まれる。
An example of an address control circuit for a random write/random read buffer is shown in FIG. 3. 10 is a memory (data storage buffer RAM), and 12 is a FIFO (First
irst out) memory, and 14 is a RAM (Randos Access Me) that generates a read address.
Mory). PIFO12 has an address (RAM
14 is stored and read out in the order of storage, this becomes the write address of the memory 10. Input (IN) data is in memory 10, PIFOL
2 is written to the output address.

RAM14にもアドレス(これはFIFO12が出力し
たライトアドレス)が書込まれており、これが読出され
てメモリlOのリードアドレスになる。
An address (this is the write address output by the FIFO 12) is also written in the RAM 14, and this is read out and becomes the read address of the memory IO.

このアドレス書込み/読出し制御は制御部16が行なう
。RAM14が出力するアドレスはメモリ10のリード
アドレスになると共に、これはFIFO12へ格納され
てやがて上記ライトアドレスになる。
This address writing/reading control is performed by the control section 16. The address output by the RAM 14 becomes the read address of the memory 10, and is also stored in the FIFO 12 and eventually becomes the write address.

FIPO12に格納されるアドレスはメモリIOのリー
ドアドレスとすると、FIFO12内のアドレスはメモ
リIOの空きアドレス、読出してしまって不要になった
アドレス、であり、メモリ10への新たなデータ書込み
はこの空きアドレスに対して行なわれることになり、こ
れでメモリ10の効率的な利用が図られる。制御部16
はどのデータがメモリlOのどのアドレスに入っている
かを管理しており、所要データが所要タイミングで出力
されるよう制御する。
If the address stored in FIPO 12 is the read address of memory IO, then the address in FIFO 12 is an empty address of memory IO, an address that has been read and is no longer needed, and writing new data to memory 10 is done using this empty address. This is done for the address, which allows efficient use of the memory 10. Control unit 16
manages which data is stored in which address of the memory IO, and controls so that the required data is output at the required timing.

メモリにはシーケンシャルライト/シーケンシャルリー
ド方式もあるが、データ処理順序が不揃いな場合はこの
方式はとれない。不揃いな場合はシーケンシャルライト
してもランダムリードするしかなく、そしてランダムリ
ードしてメモリを有効に使うには、ランダムリードで空
いたアドレスへランダムライトすることになる。
There is also a sequential write/sequential read method for memory, but this method cannot be used if the data processing order is irregular. If they are not aligned, the only option is to perform a random read even if a sequential write is performed, and in order to use the memory effectively by performing a random read, a random write must be performed to the address vacated by the random read.

メモリのアドレス制御には多数の提案がなされており、
特開昭54−78036などもその一例である。
Many proposals have been made for memory address control.
JP-A-54-78036 is also an example.

これはメモリの2重化、そのアドレスの制御などを扱っ
ている。即ちCPUは2重化したメモリと交信し、両メ
モリからのリードデータを照合して使用する。これには
先ずパリティチェックし、エラーのあった方のり一ドデ
ータは不採用とし、両方ともエラーがなければ両リード
データを照合して一致した場合これを採用する。不一致
の場合は再試行などするが、アドレスエラーがあるとこ
れでは不可である。そこでCPUが出力したリードアド
レスをソースアドレスレジスタに蓄えておき、これより
各メモリのアドレスレジスタへ送って各メモリをアクセ
スさせ、データ照合に当ってハソースアドレスレジスタ
の内容と各メモリのアドレスレジスタの内容を比較し、
不一致であった方のリードデータは不採用とする。
This deals with duplication of memory, control of its addresses, etc. That is, the CPU communicates with the duplicated memories, collates and uses read data from both memories. To do this, first, a parity check is performed, and the read data with an error is rejected, and if there is no error in both, the read data are compared, and if they match, the read data is accepted. If there is a mismatch, a retry is performed, but this is not possible if there is an address error. Therefore, the read address output by the CPU is stored in the source address register, and sent from there to the address register of each memory to access each memory. Compare the contents,
Lead data that does not match will be rejected.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

第3図のランダムライト/ランダムリード方式のメモリ
では、ライトアドレスとリードアドレスが1つのループ
になっており、ライトアドレスがやがてリードアドレス
に、リードアドレスがやがてライトアドレスになる。こ
のように1、アドレスが循環使用されると、その循環中
のどこかで生じたビットエラーが、修正されることもな
く、繰り返して使用されることになる。
In the memory of the random write/random read system shown in FIG. 3, the write address and the read address form one loop, and the write address eventually becomes a read address, and the read address eventually becomes a write address. When an address is used cyclically in this way, a bit error that occurs somewhere during the cycle will be used repeatedly without being corrected.

例えばPIFO12内にアドレスがADRO,ADRl
、ADR2,・・・・・・の順で詰まっており、先ずA
DROが出力されてメモリ10のライトアドレスになり
、またこれがRAM14へ送られてリードアドレスとな
るのを待つとき、この転送経路でビットエラーがあって
ADROがADR2になったとすると、RAM14には
アドレスADR2が2つ存在し、アドレスADROは存
在しないので該ADRoのデータは永久に読出せない、
ということになってしまう。また制御部16は上記AD
R2をADROと認識しているからADR2の2度読出
しが行なわれ(一方は誤まり)、これがPIFOI2に
書込まれてADR2への2度書込み(データ破壊)が行
なわれてしまう。
For example, the addresses ADRO and ADRl in PIFO12
, ADR2, ...... are packed in this order, and first A
When DRO is output and becomes the write address of the memory 10, and when waiting for this to be sent to the RAM 14 and become the read address, if there is a bit error in this transfer path and ADRO becomes ADR2, the address will be stored in the RAM 14. Since there are two ADR2s and no address ADRO, the data of ADRo cannot be read forever.
That's what it comes down to. In addition, the control unit 16
Since R2 is recognized as ADRO, ADR2 is read twice (one is erroneous), this is written to PIFOI2, and ADR2 is written twice (data is destroyed).

このような異常状態を避けるために通常考えられるのは
、前記特開昭にもあるパリティチェックであるが、これ
では異常を完全に阻止することはできない。パリティチ
ェック方式では、偶数〜奇数の判断であるから、エラー
検出率は50%である。
In order to avoid such an abnormal state, the parity check described in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-121014 is usually considered, but this cannot completely prevent the abnormality. In the parity check method, the error detection rate is 50% because the judgment is between an even number and an odd number.

本発明はか\る点を改善し、ランダムライト/ランダム
リード方式のメモリのアドレス制御をより確実に行なう
ことを目的とするものである。
It is an object of the present invention to improve the above points and more reliably perform address control of a random write/random read type memory.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図に示すように本発明ではFIFOバッファ12お
よびRAM14を2重化する。12aと12bがその2
重化されたFIFOバッファ、14a、14bは2重化
されたRAMである。
As shown in FIG. 1, in the present invention, the FIFO buffer 12 and RAM 14 are duplicated. 12a and 12b are part 2
The duplicated FIFO buffers 14a and 14b are duplicated RAMs.

これらのFIFOバッファおよびRAMに、その出力ア
ドレスのセレクタ18,26、比較器24゜32、パリ
ティチェック回路22を設け、これらの比較およびパリ
ティチェック結果に従って論理判断し、セレクタ18.
26を制御する論理回路20.30を設ける。
These FIFO buffers and RAM are provided with output address selectors 18 and 26, comparators 24 and 32, and a parity check circuit 22, and logical judgments are made according to the comparison and parity check results.
A logic circuit 20.30 for controlling 26 is provided.

〔作用〕[Effect]

このような構成で前述のビットエラーが部位■で発生し
たとすると(■■■などで発生した場合も同様)、それ
がリードアドレスになったとき、比較器32の比較結果
は不一致となる。この不一致結果は論理回路30へ送ら
れ、またこの論理回路へは回路28からのパリティチェ
ック結果も送られる。論理回路30はこれらの人力より
論理判断してセレクタ26を操作する。本例ではエラー
アドレスはRAM14bの出力アドレスであり、従って
50%の確率でパリティチェック回路28によりエラー
検出される。論理回路30は、比較器32の出力は不一
致、チエツク回路28の出力はパリティエラー、である
からRAM 14 aの出力が正しいと判断し、セレク
タ26にRAM14aの出力を選択させてこれをメモリ
10のリードアドレスとする。またアラームを上げて異
常発生を知らせる。
In such a configuration, if the bit error described above occurs at location (■) (the same applies if it occurs at location (■■■), etc.), when it becomes a read address, the comparison result of comparator 32 will be a mismatch. This mismatch result is sent to logic circuit 30, which also receives the parity check result from circuit 28. The logic circuit 30 operates the selector 26 by making logical judgments based on these human powers. In this example, the error address is the output address of the RAM 14b, and therefore the error will be detected by the parity check circuit 28 with a probability of 50%. Since the output of the comparator 32 is a mismatch and the output of the check circuit 28 is a parity error, the logic circuit 30 determines that the output of the RAM 14a is correct, causes the selector 26 to select the output of the RAM 14a, and stores it in the memory 10. This is the read address. It also raises an alarm to notify you of an abnormality.

比較器32の出力は不一致であるが、パリティチェック
回路28はパリティエラーを検出できなくてパリティ正
常、を出力するときはセレクタ26にどちらの出力も選
択させず、単にアラームを上げる。なおこの場合は、R
AM14a側にもパリティチェック回路を設けておくと
よく、比較結果は不一致、パリティは一方がエラー、他
方は正常なら、論理回路はセレクタにパリティが正常な
方のRAM出力を選択させる。
Although the output of the comparator 32 does not match, when the parity check circuit 28 cannot detect a parity error and outputs that the parity is normal, it does not cause the selector 26 to select either output, but simply raises an alarm. In this case, R
It is preferable to provide a parity check circuit on the AM 14a side as well. If the comparison result is a mismatch, one parity is in error, and the other is normal, the logic circuit causes the selector to select the RAM output with normal parity.

このように単なるパリティチェックでなく、データ比較
も行なって、どちらのRAM出力(リードアドレス)を
採用するかを決定するので、より確実なリードアドレス
の出力が可能になる。また比較器およびパリティチェッ
ク回路のいずれかが異常を示せばアラームを出すので、
これにより例えばRAMまたはFIFOの内容をチエツ
クして異常データを知り、修復することが可能になり、
エラーデータ(アドレス)が循環してしまうのを阻止で
きる。
In this way, not only a simple parity check but also a data comparison is performed to determine which RAM output (read address) to use, making it possible to output a read address more reliably. Also, if either the comparator or parity check circuit shows an abnormality, an alarm will be issued.
This makes it possible, for example, to check the contents of RAM or FIFO to find abnormal data and repair it.
This can prevent error data (addresses) from circulating.

なおRAM、 FIFO内のアドレスはメモリ10の全
アドレスが、順序は不同であるが−通りあるのが正常で
、欠落アドレスがある、同じアドレスがある、のは異常
であるから、異常チエツクはこの原理でできる。
Note that it is normal for the addresses in the RAM and FIFO to have all the addresses in the memory 10, although in different orders, but it is abnormal for there to be missing addresses or the same addresses. It can be done in principle.

〔実施例〕〔Example〕

第2図に本発明の実施例を示す。全図を通してそうであ
るが、他の図と同じ部分には同じ符号が付しである。第
2図(a)では論理回路20をオアゲート20aで構成
する。今、FIFO12bの出力がエラー、PIFOI
 2 aの出力は正常とすると、パリティチェック回路
22の出力がバリティエラー“0”、比較器24の出力
が不一致“O”、オアゲート20aの出力は0”となり
、セレクタ18は0側(FIFOt Z a側)を選択
する。両FIPOI2a、12bの出力が正しいときは
回路22の出力は“1”、比較器24の出力は“1”、
オアゲート20aの出力は“1”で、PIFO12bの
出力が選択される。即ちこの回路では両FIFOが正し
いときはPIFO12bの出力を選択するよう固定され
ている。
FIG. 2 shows an embodiment of the present invention. As in all figures, parts that are the same as in other figures are given the same reference numerals. In FIG. 2(a), the logic circuit 20 is composed of an OR gate 20a. Now, the output of FIFO12b is error, PIFOI
Assuming that the output of 2a is normal, the output of the parity check circuit 22 is a parity error "0", the output of the comparator 24 is a mismatch "O", the output of the OR gate 20a is 0", and the selector 18 is set to the 0 side (FIFOt When the outputs of both FIPOIs 2a and 12b are correct, the output of the circuit 22 is "1", the output of the comparator 24 is "1",
The output of the OR gate 20a is "1" and the output of the PIFO 12b is selected. That is, this circuit is fixed so that when both FIFOs are correct, the output of PIFO 12b is selected.

第2図(b)は両方のPIFOf 2 a、  12 
bにパリティチェック22.26を設けた例を示す。こ
の場合論理回路20は次のような論理判断でセレクタ1
日を操作することができる。即ち、■比較器24の出力
が一致、チエツク回路22.26の出力が共に正常、を
示すとき、FIFOI 2 a、  l 2 bのうち
の一方を選択、■比較器24の出力が不一致、チエツク
回路22.26のうちの一方が正常なら、その正常な方
のFIFOを選択、■比較器24の出力が不一致、チエ
ツク回路22.26の出力は共に正常なら、どちらのF
IFOも選択しない。■比較器24の出力は一致である
が、チエツク回路22゜26の一方または両方がエラー
なら、どちらのPIFOの出力も選択しない。
FIG. 2(b) shows both PIFOf 2 a, 12
An example is shown in which parity checks 22 and 26 are provided in b. In this case, the logic circuit 20 selects the selector 1 based on the following logical judgment.
You can manipulate the day. That is, (1) when the outputs of the comparator 24 match and the outputs of the check circuits 22 and 26 are both normal, one of FIFO I 2 a and l 2 b is selected; (2) when the outputs of the comparator 24 do not match, check If one of the circuits 22 and 26 is normal, select the normal FIFO. ■If the outputs of the comparator 24 do not match, and the outputs of the check circuits 22 and 26 are both normal, which FIFO is selected.
IFO is not selected either. (2) If the output of the comparator 24 is a match, but one or both of the check circuits 22 and 26 are in error, neither PIFO output is selected.

第2図ではFIFO側を示したが、RAM14a。Although FIG. 2 shows the FIFO side, the RAM 14a.

14b側も同様である。The same applies to the 14b side.

セレクタ18.26からRAM14a、14b。Selector 18.26 to RAM 14a, 14b.

FIFOI 2 a、  12 bへのアドレス転送用
信号線はセレクタの出力端から別の信号線とするのがよ
く、これで両経路に同時にノイズがのってビットエラー
を生じるのを可及的に回避することができる。
It is best to use a separate signal line from the output end of the selector for the signal line for address transfer to FIFOI 2a and 12b, to prevent bit errors caused by noise on both paths at the same time. can be avoided.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明では、ランダムライト/ラン
ダムリードのメモリのアドレス制御回路を2重化し、読
出したアドレスの一致/不一致、パリティチェック結果
によりどちらのアドレスを採用するか、どちらも採用し
ないかを決定するので、パリティチェックだけの方式な
どに比べてエラー検出率を向上させ、正しいデータリー
ド/ライトをすることができる。
As explained above, in the present invention, the random write/random read memory address control circuit is duplicated, and depending on the match/mismatch of read addresses and the parity check result, which address is adopted or neither is adopted. , it is possible to improve the error detection rate and read/write data correctly compared to a method using only a parity check.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理図、 第2図は本発明の実施例を示すブロック図、第3図はラ
ンダムライト/ランダムリードメモリの説明図である。 第1図で10はデータを読込み/読出しされるメモリ、
12a、12bはFIFOバッファ、14a。 14bはRAM、18.26はセレクタ、24゜32は
比較器、22.28はパリティチェック回路、20.3
0は論理回路である。
FIG. 1 is a principle diagram of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an explanatory diagram of a random write/random read memory. In FIG. 1, 10 is a memory into which data is read/read;
12a and 12b are FIFO buffers; 14a; 14b is RAM, 18.26 is a selector, 24°32 is a comparator, 22.28 is a parity check circuit, 20.3
0 is a logic circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、データを書込まれまたそれを読出されるメモリ(1
0)と、該メモリのライトアドレスを発生するFIFO
バッファ(12)及び該メモリのリードアドレスを発生
するRAM(14)を備え、該ライトアドレスを該RA
Mへまた該リードアドレスを該FIFOバッファへ格納
する、ランダムライト/ランダムリードのメモリのアド
レス制御回路において、該FIFOバッファと該RAM
を2重化し、該2重化したFIFOバッファとRAMの
各読出し出力を選択するセレクタ(18、26)と、各
読出し出力の一致/不一致を検出する比較器(24、3
2)と、各読出し出力のパリテイチェック回路(22、
28)と、これらの比較器およびパリテイチェック回路
の出力によりセレクタを操作する論理回路(20、30
)を設けたことを特徴とするアドレス制御回路。
1. Memory to which data is written and from which it is read (1)
0) and a FIFO that generates the write address of the memory.
It includes a buffer (12) and a RAM (14) that generates a read address for the memory, and the write address is transmitted to the RAM.
In a random write/random read memory address control circuit that stores the read address in the FIFO buffer, the FIFO buffer and the RAM
selectors (18, 26) that select each readout output of the duplicated FIFO buffer and RAM, and comparators (24, 3) that detect coincidence/mismatch of each readout output.
2) and a parity check circuit (22,
28) and a logic circuit (20, 30) that operates the selector based on the outputs of these comparators and parity check circuits.
).
JP1202532A 1989-08-04 1989-08-04 Address control circuit Pending JPH0367346A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8741786B2 (en) 2011-05-30 2014-06-03 Tokyo Electron Limited Fabrication method of semiconductor device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8741786B2 (en) 2011-05-30 2014-06-03 Tokyo Electron Limited Fabrication method of semiconductor device

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