JPS6042342Y2 - 赤外線放射温度計 - Google Patents
赤外線放射温度計Info
- Publication number
- JPS6042342Y2 JPS6042342Y2 JP1977142420U JP14242077U JPS6042342Y2 JP S6042342 Y2 JPS6042342 Y2 JP S6042342Y2 JP 1977142420 U JP1977142420 U JP 1977142420U JP 14242077 U JP14242077 U JP 14242077U JP S6042342 Y2 JPS6042342 Y2 JP S6042342Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- infrared
- temperature
- black body
- reference black
- infrared radiation
- Prior art date
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は正確に非接触測温を行なうことのできる赤外線
放射温度計に関するものである。
放射温度計に関するものである。
一般に放射率Eなる物体表面は透過率がゼロであれば(
1−t)なる反射率をもっている。
1−t)なる反射率をもっている。
したがって表面条件にあわせて放射率Eを補正しただけ
では反射率の影響が残り真の表面温度を求めることには
ならない。
では反射率の影響が残り真の表面温度を求めることには
ならない。
特に常温付近の温度領域を測定する場合、反射の影響が
顕著に現われ、測定対象が黒体以外では誤差が大きく、
このことが赤外線放射温度を使用した非接触測温におけ
る大きな欠点となっていた。
顕著に現われ、測定対象が黒体以外では誤差が大きく、
このことが赤外線放射温度を使用した非接触測温におけ
る大きな欠点となっていた。
すなわち従来は第1図に示すように、被測定物体10及
び反射による背景物体11からの赤外エネルギーは赤外
用レンズ1で集光され、検出器2に到達する。
び反射による背景物体11からの赤外エネルギーは赤外
用レンズ1で集光され、検出器2に到達する。
モーター2に駆動される鏡面扇形回転セクタ8の働きに
より入射赤外光は基準黒体7と交互に検出器2に入光す
ることにより W1=〔EσTA。
より入射赤外光は基準黒体7と交互に検出器2に入光す
ることにより W1=〔EσTA。
+(1−E)σTBn〕−σTcn
なる信号が得られる。
なおσはステファン・ボルツマン定数である。
周囲の壁温がTB (’K)で一定のとき壁面空間は多
重反射によって黒体とみなせる。
重反射によって黒体とみなせる。
その後同期整流器3で直流信号とし、ローパスフィルタ
4を経て加算器5に入る。
4を経て加算器5に入る。
一方基準黒体7の温度は測温されσTcnなる絶対温度
レベルでの赤外エネルギー相当の直流信号に増幅器9で
変換されて、加算器5に入る。
レベルでの赤外エネルギー相当の直流信号に増幅器9で
変換されて、加算器5に入る。
加算器5によってσTonが加算され、W□に室温補償
が施されると W2 =Wt +cr Tc’ = t ry TA” +(1t ) a TBA”と
なり、その後可変低抗13の操作により放射率補正Em
が行なわれ、次式の如くなり、増幅器6に導かれる。
が施されると W2 =Wt +cr Tc’ = t ry TA” +(1t ) a TBA”と
なり、その後可変低抗13の操作により放射率補正Em
が行なわれ、次式の如くなり、増幅器6に導かれる。
W=Wxj−
2
=σTAn十七二’(7TB”
E
しかしW3のように放射率補正を行っても1−tσ
TBnなる反射の影響が消えず、これが誤差となる。
本発明はこのような欠点を除去するもので、以下にその
実施例について説明する。
実施例について説明する。
同図において1〜13は第1図と同様であり、
W1= EtyTAn+ (1−t)crTnn−aT
c”なる信号がローパスフィルタ4を通過するまでは、
前述した第1図の装置と同じであるが、可変低抗13の
操作による放射率補正を加算器5の前段で行うと、 W’=Wx’ 1 1−E n 1 = a TA’ +ry TB a Tc。
c”なる信号がローパスフィルタ4を通過するまでは、
前述した第1図の装置と同じであるが、可変低抗13の
操作による放射率補正を加算器5の前段で行うと、 W’=Wx’ 1 1−E n 1 = a TA’ +ry TB a Tc。
E E
が加算器5に入力される。
一方基準温度T。は増幅器9でσTonに変換されて加
算器5に入力されると、加算器出力W3′は W3′=W2′+σTcn −t =σTA。
算器5に入力されると、加算器出力W3′は W3′=W2′+σTcn −t =σTA。
+ cr (’rBn’re。)となる。
したがってW3′の誤差成分は第2項の1−tσ(’r
a°−TC”)である。
a°−TC”)である。
基準黒体Tcは背景物体の壁温(周囲の環境温度)に追
従し収束するからTB 隻T cと見なせるので、W3
′はW3′隻σTAn となり正確に被測定物体の温度を求められる。
従し収束するからTB 隻T cと見なせるので、W3
′はW3′隻σTAn となり正確に被測定物体の温度を求められる。
このように本実施例では、放射率補正により確実に誤差
成分を除去でき、正確な測定を行なうことができる。
成分を除去でき、正確な測定を行なうことができる。
また放射率補正は絶対温度レベルで行わなければならな
いが、従来は基準黒体T。
いが、従来は基準黒体T。
もこの放射率補正に含まれるため、第1図に示したEs
Eなる直流バイアス電圧が必要である。
Eなる直流バイアス電圧が必要である。
しかし本発明による放射率補正は、基準黒体T。
の加算を行う前に実施するため、信号はすでに絶対温度
レベルであるからバイアス電圧は不用となる。
レベルであるからバイアス電圧は不用となる。
このことは増幅器のダイナミックレンジを考慮した場合
、電源電圧に対する信号の利用率が向上するのでS/N
が良くなり、結果的に温度計の精度向上につながる。
、電源電圧に対する信号の利用率が向上するのでS/N
が良くなり、結果的に温度計の精度向上につながる。
本考案は上記実施例から明らかなように、鏡面扇形回転
セクタを回転させて、赤外線検出器により測定対象およ
び基準黒体の双方の赤外エネルギーの差のエネルギーを
検出させ、測定対象の放射率補正と基準黒体の室温補償
を行うよう構成したので、反射率の影響を容易に取り除
くことができるという効果を有する。
セクタを回転させて、赤外線検出器により測定対象およ
び基準黒体の双方の赤外エネルギーの差のエネルギーを
検出させ、測定対象の放射率補正と基準黒体の室温補償
を行うよう構成したので、反射率の影響を容易に取り除
くことができるという効果を有する。
第1図は従来の赤外線放射温度計の系統図、第2図は本
考案の一実施例による赤外線放射温度計の系統図である
。 2・・・・・・検出器、5・・・・・・加算器、7・・
・・・・基準黒体、10・・・・・・測定物体、13・
・・・・・可変低抗。
考案の一実施例による赤外線放射温度計の系統図である
。 2・・・・・・検出器、5・・・・・・加算器、7・・
・・・・基準黒体、10・・・・・・測定物体、13・
・・・・・可変低抗。
Claims (1)
- 周囲の環境温度に追従する測定器内の基準黒体と、モー
タの回転により回転し、測定対象からの赤外エネルギー
と測定器内の上記基準黒体からの赤外エネルギーとを交
互に入光させる鏡面扇形回転セクトと、上記測定対象お
よび基準黒体双方の赤外エネルギーの差エネルギーを検
出する赤外線検出器と、この赤外線検出器の出力が印加
され上記測定対象の放射率補正を行なう第1の補正手段
と、この第1の補正手段の出力を、上記基準黒体の温度
信号により室温補正を行う第2の補正手段とを具備し、
上記測定対象の温度を検出することを特徴とする赤外線
放射温度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1977142420U JPS6042342Y2 (ja) | 1977-10-21 | 1977-10-21 | 赤外線放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1977142420U JPS6042342Y2 (ja) | 1977-10-21 | 1977-10-21 | 赤外線放射温度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5470489U JPS5470489U (ja) | 1979-05-19 |
JPS6042342Y2 true JPS6042342Y2 (ja) | 1985-12-26 |
Family
ID=29119140
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1977142420U Expired JPS6042342Y2 (ja) | 1977-10-21 | 1977-10-21 | 赤外線放射温度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6042342Y2 (ja) |
-
1977
- 1977-10-21 JP JP1977142420U patent/JPS6042342Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5470489U (ja) | 1979-05-19 |
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