JPS6037601B2 - サ−メツト抵抗体組成 - Google Patents

サ−メツト抵抗体組成

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JPS6037601B2
JPS6037601B2 JP49052127A JP5212774A JPS6037601B2 JP S6037601 B2 JPS6037601 B2 JP S6037601B2 JP 49052127 A JP49052127 A JP 49052127A JP 5212774 A JP5212774 A JP 5212774A JP S6037601 B2 JPS6037601 B2 JP S6037601B2
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glass phase
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ジヨセフ ピユ−カイト クリフオ−ド
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01C17/06Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base
    • H01C17/065Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base by thick film techniques, e.g. serigraphy
    • H01C17/06506Precursor compositions therefor, e.g. pastes, inks, glass frits
    • H01C17/06513Precursor compositions therefor, e.g. pastes, inks, glass frits characterised by the resistive component
    • H01C17/06533Precursor compositions therefor, e.g. pastes, inks, glass frits characterised by the resistive component composed of oxides
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/06Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material including means to minimise changes in resistance with changes in temperature

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  • Details Of Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は抵抗器の固有抵抗温度係数 (把mperaturecoefficientofr
esistMV)(以下TCRと呼称する)を制御する
ことに関するものである。
さらに詳細には、本発明は、TCRを制御するためにサ
ーメット型抵抗器(cermettyperesist
o岱)に酸化バナジンを利用することに関するものであ
り、この場合、二酸化ルテニウムおよび二酸化イリジウ
ムに関連して特定のガラス・フリツトを用いることによ
って特別の利益が得られる。サーメット抵抗器の熱的安
定性を制御または変更する機構は完全には理解されてい
ない。種々の半導体酸化物がサーメット抵抗器の固有抵
抗の熱応答特性に影響を及ぼしそれらを熱的に一層安定
にすることが認められている。本発明以前においては、
電子産業界で薄膜抵抗器と呼ばれている抵抗器だけが低
いTCRを示すものであった。米国特許第295099
5号、第2950996号および第35169949号
には、貴金属金属化組成に関連して、その金属粒子のア
グロメレーション(aggomeration)を防止
しかつその金属化材料の半田付け性、導電性および(ま
たは)付着性を改善するために酸化バナジンを比較的少
量用いることが示されている。また、五酸化バナジンを
添加することによってそれらの組成の半田付け性を同様
に改善しうろことも米国特許第3440182影こ示さ
れている。米国特許第355310針号‘こは、酸化鉛
80%、酸化ケイ素10%および酸化ホウ素10%より
なるガラス・フリット結着材(バィンダ)を利用したビ
スマス・ルテニウム酸塩型の抵抗組成のTCRを制御す
るために五酸化バナジンを用いることが示されている。
この特許の教示に従ってガラスが調製され、そして本発
明の実施例11に示されているように二酸化ルテニウム
、五酸化バナジンおよび三酸化アルミニウムで構成され
た本発明の抵抗器を製造するために用いられる導電性相
と組合せられた。その結果得られたもののシート固有抵
抗値は.4眺○′sq./mil.であり、TCRは十
25ooと‐55qoとの間で測定した場合が十170
土loppm/qCであり、十25ooと十150こ0
との間で測定した場合が十270±loppmrCであ
った。これらの結果は、本発明においては好ましい材料
である二酸化ルテニウムおよび五酸化バナジンを上記特
定の特許に記載されているガラスに関連して用いても低
いTCRを得ることはできないことを明白に示している
。また、酸化カルシウム11%、酸化鉛44.1%、三
酸化アルミニウム4.0%、三酸化ホウ素5.5%およ
び二酸化シリコン35.4%を含有した市販のガラスを
利用して低TCR抵抗材料を調製する試みもなされた。
このガラス材料は、二酸化ルテニウムを5.2母重量%
含有するルテニウム樹脂酸塩から調製された二酸化ルテ
ニウム5.34重量%と、二酸化イリジウムを6.9聾
重量%含有するイリジウム樹脂酸塩から調製された二酸
化イリジウム7.2重量%と、三酸化ビスマス2.95
重量%と、五酸化バナジン4.1頚重量%と、前述した
ガラス80.41重量%とよりなる導電性材料と結合さ
れた。このようにして調製された抵抗性材料のシート固
有抵抗は240000/sq./mil.であり、TC
Rは十2500と−55q0との間で測定した場合には
一160±1岬pm′qCであり、十2yoと十150
00との間で測定した場合には−50±loppmrC
であったが、これは、本発明の材料を使用する場合より
も劣っていると考えられる。本発明の目的は、固有抵抗
温度係数が広い温度範囲に亘つて狭い正および負の範囲
内に保持される新規な抵抗組成を提供することである。
本発明の他の目的は、酸化バナジンが所定の量の二酸化
ルテニウムおよび二酸化イリジウムと結合されたサーメ
ット材料に低い固有抵抗温度係数を与えることである。
本発明のさらに他の目的は、特定のガラス・フリットに
関連して酸化バナジンを用いることによって実現される
低TCRのサーメット型抵抗器を提供することである。
本発明のさらに他の目的は、現在の製造方法によって製
造されうるとともに、新規な金属酸化物と酸化バナジン
との両方に対して酸化物かあるいは金属性樹脂酸塩先駆
材料を用いることのできる低TCRサーメット抵抗器を
提供することである。本発明の抵抗組成は、二酸化ルテ
ニウムよりなる導電性相が所定の量の酸化バナジウムと
結合されているとともに、特定の組成のガラス・フリッ
トよりなるガラス相と結合されているものであり、これ
によって上述の目的が実現されるとともに、従来技術の
欠点が克服される。
これらの材料はいつしよに焼成され、その結果、広い温
度範囲に百つて予想外に低いTCRを有する独特の抵抗
組成が得られた。あるいはまた、抵抗材料組成に二酸化
イリジウムと二酸化ビスマスと三酸化アルミニウムの中
から選ばれた1種以上の酸化物を加えてもよい。酸化ル
テニウム、酸化イリジウム、酸化ビスマス、酸化アルミ
ニウムおよび酸化バナジンはそれらの酸化物の形でまた
は特定のガラス・フリットと結合された樹脂酸塩先駆材
料の形で供給されうる。以下図面を参照しながら本発明
の実施例について説明しよう。
A表およびB表は本発明の基本的な抵抗材料組成範囲と
ガラス・マトリクスの組成範囲とをそれぞれ示す。
A 表 B 表 本発明のサーメット抵抗組成は、二酸化ルテニウムを、
または二酸化ルテニウムおよび二酸化イリジウムを樹脂
酸塩の形で用いてそれらを最終的に二酸化物に変換せし
めることによりあるいは二酸化ルテニウムおよび(また
は)二酸化イリジウムそれ自体を開始材料として用いる
ことによって調製されうるものである。
まず、ルテニウムおよびイリジウムの樹脂酸塩で調製さ
れたサーメツト抵抗組成についてまず説明する。第m表
の実施例と実施例1819および20で用いられたルテ
ニウムおよびイリジウムの樹脂酸塩は、それらの製造元
であるアメリカ合衆国ニュージャージ州イースト・ネワ
ーク所在のエンゲルハード・インダストリ−ズ・インコ
ーポレィテッド社ハノバ液体金部門によってそれぞれA
−1124およびA−11ねという呼称で呼ばれている
ものである。それはそれぞれルテニウム4.0%または
二酸化ルテニウム5.26%とイリジウム6.0%また
は二酸化イリジウム6.99%を含有した樹脂酸溶液で
ある。樹脂酸塩で調製された組成とガラスとに対する開
始材料の範囲は次の表1及びローこ記載されている。な
お、以下の各表において、各成分の割合は総和が完全に
100パーセントとなるように各表の該当欄に示された
範囲内で選択される。
第1表 第日表 次に実施例1〜10、8、19および20においては、
樹脂酸塩先駆体から酸化物を派生せしめるに当り、当該
分野において標準とされている次の手法があらゆる場合
に用いられた。
樹脂酸塩法 1 成分の重量を所望の配分で計量する。
2 20ミクロン以下の中間粒子寸法を有するガラス・
フリツトの存在下において樹脂酸塩溶液の有機部分を3
0000〜480ooの温度で焼葵する。
3 無機残留物を空気中で400〜60000において
30〜40分間蝦暁する。
4 アルミナ研磨材を用いたボール・ミリングのような
手段によって残留物の粒子寸法を20ミクロン以下に、
好ましくは5±2ミクロンの中間粒子寸法まで減少せし
める。
5 その結果得られた粉末を適当な辰色剤(vehic
le)と混合して所望の欧度(コンシステンシ−)を有
する状態にする。
この場合の簾色剤は、抵抗性粉末と組合せて基板上にス
クリーン印刷、浸染または絵付けするのに通した粘度を
有する1ーェチルー2ーヘキサノールのような任意の数
の高沸点有機液体よりなるものである。6 薄膜電子技
術の分野で一般に行われている方法によってセラミック
絶縁基板上にスクリーン印刷する。
適用可能な基板材料の一例としてはCRL95アルミナ
(グローフ・ユニオン・インコーポレイテツドのセント
ララブ・デイビジヨンによって製造されている)がある
。7 0.5〜3時間焼成サイクルを用いてベルトかま
内において850oo〜950ooで焼成する。
第m表は本発明に従って、開始材料としてルテニウム樹
脂酸塩およびイリジウム樹脂酸塩を用いて調製された新
規な抵抗材料に対する組成および試験結果を示している
。第m 表 * 酸化物組成に基づく 米* フェロ・コーポレイション:Pb044.9重量
多:B20820.1重量%:Si0235.0重量%
*米* 平均シート固有抵抗に対する数値はすべて端数
のない数である。
**** 士3ppm/℃まで測定されたTCR第m表
に見られるように、特に実施例10においては、樹脂酸
塩開始材料を低い抵抗値で利用することによって最も良
い結果が得られた。なお実施例1〜10においてはBj
203を含んでいるが、Bi203は高温になるに従い
伝導度が高くなる性質を有するから、その含有量により
TCRを制御することができる。酸化物実施例について
の説明 第V表における実施例11〜16は、第D表に一般的に
記載されたガラス・フリットと結合される開始材料とし
て酸化ルテニウムを利用した場合を示している。
一連の抵抗材料に対しては、開始材料として酸化物を用
いた場合、次の第W表に記載されている組成が適してい
る。第N表 * 第0表のものと同一組成 指定された組成の基板に健春されて後における量はこの
表および第1表の「重量%(酸化物)」という欄に表示
されているごとくであることを認識すべきである。
したがって、第1表と第N表に表示された材料の好まし
い量は同一である。実施例11〜16のサーメット抵抗
組成のそれぞれを調製する方法は当該技術分野における
標準的なものであり、それは次の通りである。酸化物法 1 成分の重量を所望の配分で計量する。
2 これらの成分をボールミル内でアセトンと混合して
スラリを形成し、そして研磨剤アルミナとともに0.1
〜8.加持間ボールミルにかける。
3 その混合物を70qoで乾燥する。
4 1−エチル−2−へキサノールのような展色剤と混
合してペイントを形成する。
5 その結果得られたペイントを3ロール・ミルで0.
1〜2時間粉砕して確実に分散させるとともに、溶剤を
加えてスクリーン印刷に適するように欧度(コンシステ
ンシー)を調節する。
6 セラミック絶縁基板上にスクリーン印刷する。
7 0.5〜3時間焼成サイクルでベルト型かま内にお
いて850qo〜950℃で焼成する第 V 表 * 第皿表と同じ 米米 (注)平均シート固有抵抗に対する数値はすべて
端数ない数であるo*** 士3ppmイCまで測定さ
れたTCR第V表は、五酸化バナジンに関連してルテニ
ウムの酸化物を用いて全温度範囲に亘る低いTCRが得
られることを示している。
なお第V表の実施例の一部にはAI203が含まれてい
るが、AI203は機械的安定性の向上に役立つ。第m
表および第V表の実施例1〜16に示されているように
、表示された新規な組成のTCRは広い温度範囲に亘つ
て非常に低い値を有している。
本発明による低固有抵抗温度係数の厚膜抵抗材料は樹脂
酸塩以外の導電性相の先駆材からも調製されうる。たと
えば、開始材料としてルテニウム・ハイドレィトを用い
てもよい。これは次の例に示されている。実施例 17 この材料は「酸化物法」という標題下における酸化物開
始材料に対して示されたのと同一方法で処理される。
結果 シート固有抵抗: 200000/sq.′m
il.TCRppm/℃:一55つ○〜250○
−12250○〜1500
0 十47この実
施例17に示されているように、酸化ルテニウムがハイ
ドレィトの形で添加された場合には、TCRは開始材料
が酸化物または樹脂酸塩である場合のようには低くない
次の実施例18は、第瓜表およびV表に示されているガ
ラスFB−19州中に6.4母重量%の五酸化バナジン
をあらかじめ溶解したガラスを使用した場合を示してい
る。
このガラスを実施例18ではFB−19州/V2Qとし
て示している。実施例 18 ガラスFB‐19卵/V205(FB−19州:寮mお
よびV表に示されている) 72.85
これらの材料は「樹脂酸塩法」という標題下における上
述した方法によって処理される。
結果 シート固有抵抗: 約500Q′sq.′mi
l.TCRppm/。
C:一55つ○〜2500
一29±32500〜150q○
一27±3上述した実施例のすべてにおいて、酸
化バナジンは五酸化バナジンが好ましいものとして紹介
された。
三酸化バナジンのようなバナジンの他の酸化物も同様に
用いられうろことを理解すべきである。さらに加えて、
酸化バナジンはバナジン樹脂酸塩先駆材を介して導入さ
れうる。次の実施例19および20はこれらを示すもの
である。実施例 19 ガラスFB−19卵(第mおよびV表に示されている)
67.72これら
の材料は「樹脂酸塩法」という標題下における上述した
方法によって処理される。
結果 シート固有抵抗: 約3300/sq.mil
.TCRppm/qC:−550○〜2500
十13土32500〜15000
十19±3次の実施例20
はバナジン樹脂酸塩として導入された酸化バナジンを利
用した場合を示す。
実施例 20 ガラスFB−19洲(第mおよびV表に示されている)
64.39上記の
材料は「樹脂酸塩法」という標題下における上述した方
法によって処理される。
結果 シート固有抵抗: 2800/sq.mil
.TCRppm′oC:一5500〜2500
十26土32500〜15000
十21±3上述のように、低
い固有抵抗温度係数を実現するための重要な条件は、特
定のガラス組成に対して、二酸化ルテニウム(これは二
酸化イリジウムをも含むことが好ましい)とともに酸化
バナジンを利用することである。
二酸化ルテニウムおよび二酸化イリジウムと同様に、酸
化バナジンは酸化物として利用されうるものであり、あ
るいはそれは樹脂酸塩先駆材から誘導されうる。五酸化
バナジンが好ましいバナジンの酸化物であるが、三酸化
バナジンやバナジン樹脂酸塩を熱分解することによって
得られた酸化物等のような他の酸化物も同様に有利に用
いられうる。かくして、本発明によれば、広い温度範囲
に亘つて一般に20ppm/℃以下の低い固有抵抗温度
係数を有するサーメット抵抗組成が提供されることが解
るであろう。
バナジン酸化物は、二酸化ルテニウムおよび二酸化イリ
ジウムがそうであるように、酸化の種々の段階において
、樹脂酸塩の形で利用されうる。これらの材料は容易に
処理されて抵抗性ペイントになされうる。従釆の組成に
かえて本発明のサーメット抵抗組成を用いるためには、
何ら不加的な設備投資を必要とせず、かつそれら本発明
の組成は、何ら不加的な技術を要することないこ容易に
厚膜抵抗体として製造されうるものである。以上本発明
の特定の実施例について説明したが、本発明はそれらの
実施例に限定されるものではなく、本発明の精神および
特許請求の範囲で可能な種々の変形変更をも包含するも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図は導電性相が金属の樹脂酸塩から調製された本発
明の抵抗組成の固有抵抗温度係数(ppmrC)を−5
5oo〜+150o○の温度範囲についてプロツトした
グラフであり、このプロットされたデータは実施例2、
3および5に従って調製された材料に関するものである
。 第2図は第1図に類似したグラフであるが、これは実施
例11、14および15で説明されている酸化物から調
製された抵抗材料についての同様の特性を示している。
メウ/夕.ノ‐ メウ/G−ク′

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 高温非導電性材料で構成された基板に融着されうる
    ようになされた低固有抵抗温度係数を有するサーメツト
    抵抗体組成であつて、(a) 1.00〜10.00重
    量パーセントの範囲の五酸化バナジンと、(b) 1.
    00〜30.00重量パーセントの範囲の二酸化ルテニ
    ウムとよりなる導電性相を含み、 前記導電性相は60.00〜98.00重量パーセン
    トの範囲のガラス相とともに混合せしめられて前記ガラ
    ス相中に微細に分散せしめられた状態となされ、 前記
    導電性相の各成分および前記ガラス相の割合は、総和が
    完全に100パーセントとなるように上記各範囲内で選
    択され、 前記ガラス相は、35.00〜45.00重
    量パーセントの範囲の一酸化鉛と、15.00〜25.
    00重量パーセントの三酸化ホウ素と、30.00〜4
    0.00重量パーセントの範囲の二酸化ケイ素とよりな
    り、前記ガラス相の前記各成分の割合は、総和が完全に
    100パーセントとなるように上記各範囲内で選択され
    ていることを特徴とするサーメツト抵抗体組成。 2 高温非導電性材料で構成された基板に融着されうる
    ようになされた低固有抵抗温度係数を有するサーメツト
    抵抗体組成であつて、(a) 1.00〜10.00重
    量パーセントの範囲の五酸化バナジンと、(b) 1.
    00〜30.00重量パーセントの範囲の二酸化ルテニ
    ウムと、(c) 15.00重量パーセントを超えない
    二酸化イリジウムと、10.00重量パーセントを超え
    ない三酸化ビスマスと、10.00重量パーセントを超
    えない酸化アルミニウムとよりなる群の中から選択され
    た1種以上の酸化物とよりなる導電性相を含み、 前記導電性相は60.00〜98.00重量パーセン
    トの範囲のガラス相とともに混合せしめられて前記ガラ
    ス相中に微細に分散せしめられた状態となされ、 前記
    導電性相の各成分および前記ガラス相の割合は、総和が
    完全に100パーセントとなるように上記各範囲内で選
    択され、 前記ガラス相は、35.00〜45.00重
    量パーセントの範囲の一酸化鉛と、15.00〜25.
    00重量パーセントの三酸化ホウ素と、30.00〜4
    0.00重量パーセントの範囲の二酸化ケイ素とよりな
    り、前記ガラス相の前記各成分の割合は、総和が完全に
    100パーセントとなるように上記各範囲内で選択され
    ていることを特徴とするサーメツト抵抗体組成。 3 高温非導電性材料で構成された基板に融着されうる
    ようになされた低固有抵抗温度係数を有するサーメツト
    抵抗体組成であつて、(a) 1.00〜10.00重
    量パーセントの範囲の五酸化バナジンと、(b) 1.
    00〜30.00重量パーセントの範囲の二酸化ルテニ
    ウムとよりなる導電性相を含み、 前記導電性相は60.00〜98.00重量パーセン
    トの範囲のガラス相とともに混合せしめられて前記ガラ
    ス相中に微細に分散せしめられた状態となされ、 前記
    導電性相の各成分および前記ガラス相の割合は、総和が
    完全に100パーセントとなるように上記各範囲内で選
    択され、 前記ガラス相は、35.00〜45.00重
    量パーセントの範囲の一酸化鉛と、15.00〜25.
    00重量パーセントの三酸化ホウ素と、30.00〜4
    0.00重量パーセントの範囲の二酸化ケイ素と、2.
    00重量パーセントを超えない酸化カルシウムおよび2
    .00重量パーセントを超えない酸化アルミニウムの中
    から選択された1種以上の酸化物とよりなり、前記ガラ
    ス相の前記各成分の割合は、総和が完全に100パーセ
    ントとなるように上記各範囲内で選択されていることを
    特徴とするサーメツト抵抗体組成。 4 高温非導電性材料で構成された基板に融着されうる
    ようになされた低固有抵抗温度係数を有するサーメツト
    抵抗体組成であつて、(a) 1.00〜10.00重
    量パーセントの範囲の五酸化バナジンと、(b) 1.
    00〜30.00重量パーセントの範囲の二酸化ルテニ
    ウムと、(c) 15.00重量パーセントを超えない
    二酸化イリジウムと、10.00重量パーセントを超え
    ない三酸化ビスマスと、10.00重量パーセントを超
    えない酸化アルミニウムとよりなる群の中から選択され
    た1種以上の酸化物とよりなる導電性相を含み、 前記導電性相は60.00〜98.00重量パーセン
    トの範囲のガラス相とともに混合せしめられて前記ガラ
    ス相中に微細に分散せしめられた状態となされ、 前記
    導電性相の各成分および前記ガラス相の割合は、総和が
    完全に100パーセントとなるように上記各範囲内で選
    択され、 前記ガラス相は、35.00〜45.00重
    量パーセントの範囲の一酸化鉛と、15.00〜25.
    00重量パーセントの三酸化ホウ素と、30.00〜4
    0.00重量パーセントの範囲の二酸化ケイ素と、2.
    00重量パーセントを超えない酸化カルシウムおよび2
    .00重量パーセントを超えない酸化アルミニウムの中
    から選択された1種以上の酸化物とよりなり、前記ガラ
    ス相の前記各成分の割合は、総和が完全に100パーセ
    ントとなるように上記各範囲内で選択されていることを
    特徴とするサーメツト抵抗体組成。
JP49052127A 1973-05-11 1974-05-10 サ−メツト抵抗体組成 Expired JPS6037601B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US359244A US3899449A (en) 1973-05-11 1973-05-11 Low temperature coefficient of resistivity cermet resistors
US359244 1999-07-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5016097A JPS5016097A (ja) 1975-02-20
JPS6037601B2 true JPS6037601B2 (ja) 1985-08-27

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ID=23412973

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP49052127A Expired JPS6037601B2 (ja) 1973-05-11 1974-05-10 サ−メツト抵抗体組成

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AR (1) AR202024A1 (ja)
BR (1) BR7403843D0 (ja)
CA (1) CA1037705A (ja)
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL7800355A (nl) * 1978-01-12 1979-07-16 Philips Nv Weerstandsmateriaal.
US4362656A (en) * 1981-07-24 1982-12-07 E. I. Du Pont De Nemours And Company Thick film resistor compositions
US5250958A (en) * 1987-12-10 1993-10-05 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thermal head and manufacturing method thereof
FR2809388B1 (fr) * 2000-05-23 2002-12-20 Saint Gobain Vitrage Vitrage comprenant au moins une couche a proprietes thermochromes
CN112309606A (zh) * 2019-07-31 2021-02-02 湖北中烟工业有限责任公司 一种复合型金属浆料组合物及其制备方法和用途

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3304199A (en) * 1963-11-12 1967-02-14 Cts Corp Electrical resistance element
DE1646882B1 (de) * 1965-07-29 1970-11-19 Du Pont Edelmetallmasse zum Aufbrennen auf keramische Traeger
NL137152C (ja) * 1966-10-24
CA944938A (en) * 1970-01-16 1974-04-09 Rajnikant B. Amin Critical temperature resistors comprising a selected glass and vanadium dioxide or metal-doped vanadium dioxide

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Publication number Publication date
BR7403843D0 (pt) 1974-12-03
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